CN221572718U - 一种电路板的测试针床 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电路测试技术领域，具体涉及一种电路板的测试针床，包括：底座和测试装置，电路板倒置于底座上以使得电路板的焊点朝上设置，测试装置的下表面对应于焊点的位置分布有多个探针；底座上分布有第一对位装置，测试装置的下表面设置有第二对位装置；当底座与测试装置合拢时，第一对位装置与第二装置配合形成约束空间，约束空间中固定有电路板，探针与焊点接触。有益效果在于：当电路板放置在第一对位装置上时，其可能出现倾斜、旋转的情况，此时，通过第一对位装置和第二对位装置合拢，并形成特定的约束空间来推动电路板，实现了电路板与探针的自动对齐，不需要对平整度进行检测或人工调整，提高了电路板质检的效率。

Description

一种电路板的测试针床

技术领域

本实用新型涉及电路测试技术领域，具体涉及一种电路板的测试针床。

背景技术

测试针床，指电路板在质检过程中用到的测试设备。当电路板生产完成后，为验证其是否符合相应的性能指标、能够用于执行特定的功能，通常会采用探针等方式与电路板上特定的接口、测试点位等进行电性连接，并给入特定的电平信号或数据信号，同时，观察测试点位的电平或信号变化来判断电路板产品是否符合设计预期。测试针床即是为实现上述检测过程设计的测试设备，其通常能在电路板放置后，自动接入探针并进行测试。

现有技术中，为实现较好的质检效率，已存在有基于测试针床实现对电路板进行检测的技术方案。比如，中国专利申请文件CN202110207633.X公开了一种ICT测试针床及ICT测试针床的测试方法，包括：针床主体，其具有PCBA安装位，供安装PCBA；平整度检测组件，所述平整度检测组件用于检测所述PCBA安装位上的所述PCBA的平整度。其能够检测PCBA的放置状态，有效解决由于PCBA放置不到位的情况而引起的组件应变带来的潜在损伤。具体来说，为实现对PCBA放置的检测，其通过非接触式测距传感器检测PCBA上各点的高度从而确定其放置的平整度，当不符合平整度要求时，报警并停止测试。

但是，在实际实施过程中，实用新型人发现，上述方案由于需要通过轨道移动非接触式测距传感器来对多个点位进行检测，检测后再依照各点位的高度判别平整度，以及，当不平整时需要人工进行调整。上述检测过程相对繁琐且仍需要由人工进行调整，生产效率较低。

实用新型内容

针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种电路板的测试针床。

具体技术方案如下：

一种电路板的测试针床，包括底座和测试装置，所述电路板倒置于所述底座上以使得所述电路板的焊点朝上设置，所述测试装置的下表面对应于所述焊点的位置分布有多个探针；

所述底座上分布有第一对位装置，所述测试装置的下表面设置有第二对位装置；

当所述底座与所述测试装置合拢时，第一对位装置与所述第二对位装置配合形成约束空间，所述约束空间中固定有所述电路板，所述探针与所述焊点接触。

另一方面，所述电路板的外轮廓于俯视方向上呈矩形，多个所述第一对位装置于俯视方向上分布于所述电路板的外轮廓的第一边、第二边和第三边；

所述第二对位装置于俯视方向上设置于所述电路板的外轮廓的第四边。

另一方面，所述第一对位装置呈立方体状，所述第一对位装置的上表面的第一边设置有第一斜向切口，所述第一斜向切口自所述第一对位装置的上表面延伸至所述第一对位装置的第一侧面；

当所述第一对位装置分布于所述底座上时，所述第一斜向切口指向预定要形成所述约束空间的区域；

所述第二对位装置的侧面呈直角三角形，所述第二对位装置的第一直角边安装于所述测试装置的下底面，所述第二对位装置的第二直角边竖直设置，所述第二对位装置的斜边指向预定要形成所述约束空间的区域。

另一方面，所述第二对位装置的长度长于所述探针且短于所述测试装置闭合时，所述测试装置与所述底座的间距。

另一方面，所述第一对位装置的上表面还设置有二次对齐孔位；

所述测试装置的下表面对应于所述二次对齐孔位的区域设置有二次对齐立柱；

所述二次对齐立柱的长度短于所述第二对位装置的长度且长于所述探针的长度。

另一方面，所述底座的四角上分布有导向孔，所述测试装置上对应于所述导向孔的位置设置有导向柱。

另一方面，所述底座的上表面对应于所述约束空间的区域，分布有器件孔洞；

当所述电路板设置于所述约束空间中时，所述电路板表面的器件通过所述器件孔洞避免与所述底座发生干涉。

另一方面，所述测试装置的上方设置有升降装置。

上述技术方案具有如下优点或有益效果：

针对现有技术中的测试针床在检测电路板平整度时，本实用新型中，通过在底座和测试装置上分别设置了相互匹配的第一对位装置和第二对位装置；当电路板放置在第一对位装置上时，其可能出现倾斜、旋转的情况，此时，通过第一对位装置和第二对位装置合拢，并形成特定的约束空间来推动电路板，实现了电路板与探针的自动对齐，不需要对平整度进行检测或人工调整，提高了电路板质检的效率。

附图说明

参考所附附图，以更加充分的描述本实用新型的实施例。然而，所附附图仅用于说明和阐述，并不构成对本实用新型范围的限制。

图1为本实用新型实施例的正视图；

图2为本实用新型实施例的底座俯视图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，但不作为本实用新型的限定。

本实用新型包括：

一种电路板的测试针床，如图1所示，包括底座1和测试装置2，电路板倒置于底座1上以使得电路板的焊点朝上设置，测试装置2的下表面对应于焊点的位置分布有多个探针3；

底座1上分布有第一对位装置4，测试装置2的下表面设置有第二对位装置5；

当底座1与测试装置2合拢时，第一对位装置4与第二对位装置5配合形成约束空间，约束空间中固定有电路板，探针3与焊点接触。

具体地，针对现有技术中的测试针床对平整度的检测、调整过程相对繁琐的问题，本实施例中，在用于放置电路板的底座1和连接有探针3、测试电路的测试装置2的基础之上，分别在底座1上设置了第一对位装置4，以及在测试装置2的下表面设置第二对位装置2。其中，测试装置2能够在竖直方向上改变高度，当需要放置或移除电路板时，测试装置2上升以使得探针3与电路板的测试区域分离，由人工或机械手将电路板取出。当需要开始测试时，测试装置2下降以使得第一对位装置4与第二对位装置5合拢，形成约束空间。在测试装置2下降的过程中，该约束空间的尺寸会逐渐减小，直至缩小至与电路板的外部轮廓吻合。当电路板存在水平面上的倾斜，或投影方向上的旋转等问题时，其会与第一对位装置4、第二对位装置5接触，并随着第二对位装置5的下降被逐渐推入约束空间中，直至完全对齐约束空间，实现对约束空间的自对准，探针3可以准确与焊点接触开始测试。

在实施过程中，底座1为整个测试针床的底座，底座1的上方或侧面还设计有支架结构6，该支架结构6用于固定上方的测试装置2。测试装置2的上表面采用升降装置7与支架结构6连接固定。该升降装置7可采用现有的直线运动机构实现，比如气缸与导轨、直线电机、液压装置等，只要能够实现在竖直方向上对测试装置2的高度进行控制且满足安装需求即可。测试装置2内设置有相应的线路，其通过特定规格的线束与探针3电性连接，并通过相应的通信电路与测试用的计算机设备信号连接，在计算机设备的控制下完成对应的测试，比如背景技术中所说的ICT测试。其具体的测试过程、采用的探针类型、线束、测试流程等本身可在现有技术中任意进行替换。

在一个实施例中，如图2所示，电路板的外轮廓于俯视方向上呈矩形，多个第一对位装置4于俯视方向上分布于电路板的外轮廓的第一边、第二边和第三边；

第二对位装置5于俯视方向上设置于电路板的外轮廓的第四边。

具体地，为实现较好的自对准效果，本实施例中，针对外轮廓呈矩形的电路板，将第一对位装置4围绕电路板外轮廓的三边进行设置，而第二对位装置5在合拢时可以以固定的方向对电路板的第四边进行推动，使得电路板能够实现对约束空间的自动对准。

在一个实施例中，第一对位装置4呈立方体状，第一对位装置4的上表面的第一边设置有第一斜向切口41，第一斜向切口41自第一对位装置4的上表面延伸至第一对位装置4的第一侧面；

当第一对位装置4分布于底座上时，第一斜向切口41指向预定要形成约束空间的区域；

第二对位装置5的侧面呈直角三角形，第二对位装置5的第一直角边安装于测试装置的下底面，第二对位装置的第二直角边竖直设置，第二对位装置的斜边指向预定要形成约束空间的区域；

第二对位装置5的长度长于探针3且短于测试装置2闭合时，测试装置2与底座1的间距。

具体地，为实现对电路板较好的自对准效果，本实施例中，还在环绕电路板三边的第一对位装置4的内侧加工得到了一圈第一斜向切口41，该第一斜向切口41的上沿合围的区域大于电路板的外轮廓，而下沿合围的区域小于电路板的外轮廓。当质检员将电路板放置在第一对位装置4上时，电路板能够在重力作用下落入到第一斜向切口41的区域，相对于平面夹具实现了预先对准。但是，此时的电路板在水平面上可能存在一定的倾斜和旋转，针对该问题，本实施例中还引入了呈三角立方体状的第二对位装置5，该第二对位装置5的斜边在下降过程中，能够持续推动电路板靠向约束空间，同时使得电路板在斜边、第一斜向切口41和重力的共同作用下，在探针3接触到焊点之前实现较好的自动对准效果。

在一个实施例中，第一对位装置4的上表面还设置有二次对齐孔位42；

测试装置2的下表面对应于二次对齐孔位42的区域设置有二次对齐立柱21；

二次对齐立柱21的长度短于第二对位装置5的长度且长于探针3的长度。

具体地，考虑到升降装置7在长期使用过程中，由于机械磨损可能导致测试装置2本身在水平方向上产生偏移，进而导致第二对位装置5与第一对位装置4合拢时无法形成预期的约束空间。针对该问题，本实施例中，还进一步在第一对位装置4的上表面设置二次对齐孔位42，在测试装置2的下表面对应于二次对齐孔位42的区域设置有二次对齐立柱21，并控制二次对齐立柱21的长度短于第二对位装置5的长度且长于探针3的长度。当第二对位装置5下降开始与电路板接触后，二次对齐立柱21随着测试装置2的下降插入二次对齐孔位42中，从而约束测试装置2能够沿二次对齐孔位42的方向进行下降，直至形成约束空间。

在一个实施例中，底座1的四角上分布有导向孔11，测试装置2上对应于导向孔11的位置设置有导向柱22。

具体地，为实现较好的对准效果，本实施例中，还在底座1的四角以及测试装置2上设置了成对的导向孔11和导向柱22，通过导向孔11和导向柱22的配合来控制测试装置2的移动，进而实现了较为准确的对准效果。

在一个实施例中，底座1的上表面对应于约束空间的区域，分布有器件孔洞12；

当电路板设置于约束空间中时，电路板表面的器件通过器件孔洞12避免与底座1发生干涉。

具体地，考虑到部分分立电路表面的器件尺寸较大，在倒装测试时器件可能接触底座1导致损伤的问题，本实施例中，在底座1的上表面开设了对应的器件孔洞12，以使得该类器件能够通过器件孔洞12避免与底座1接触。

以上仅为本实用新型较佳的实施例，并非因此限制本实用新型的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本实用新型说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本实用新型的保护范围内。

Claims (8)

1.一种电路板的测试针床，其特征在于，包括底座和测试装置，所述电路板倒置于所述底座上以使得所述电路板的焊点朝上设置，所述测试装置的下表面对应于所述焊点的位置分布有多个探针；

所述底座上分布有第一对位装置，所述测试装置的下表面设置有第二对位装置；

当所述底座与所述测试装置合拢时，第一对位装置与所述第二对位装置配合形成约束空间，所述约束空间中固定有所述电路板，所述探针与所述焊点接触。

2.根据权利要求1所述的测试针床，其特征在于，所述电路板的外轮廓于俯视方向上呈矩形，多个所述第一对位装置于俯视方向上分布于所述电路板的外轮廓的第一边、第二边和第三边；

所述第二对位装置于俯视方向上设置于所述电路板的外轮廓的第四边。

3.根据权利要求1所述的测试针床，其特征在于，所述第一对位装置呈立方体状，所述第一对位装置的上表面的第一边设置有第一斜向切口，所述第一斜向切口自所述第一对位装置的上表面延伸至所述第一对位装置的第一侧面；

当所述第一对位装置分布于所述底座上时，所述第一斜向切口指向预定要形成所述约束空间的区域；

所述第二对位装置的侧面呈直角三角形，所述第二对位装置的第一直角边安装于所述测试装置的下底面，所述第二对位装置的第二直角边竖直设置，所述第二对位装置的斜边指向预定要形成所述约束空间的区域。

4.根据权利要求3所述的测试针床，其特征在于，所述第二对位装置的长度长于所述探针且短于所述测试装置闭合时，所述测试装置与所述底座的间距。

5.根据权利要求3所述的测试针床，其特征在于，所述第一对位装置的上表面还设置有二次对齐孔位；

所述测试装置的下表面对应于所述二次对齐孔位的区域设置有二次对齐立柱；

所述二次对齐立柱的长度短于所述第二对位装置的长度且长于所述探针的长度。

6.根据权利要求1所述的测试针床，其特征在于，所述底座的四角上分布有导向孔，所述测试装置上对应于所述导向孔的位置设置有导向柱。

7.根据权利要求1所述的测试针床，其特征在于，所述底座的上表面对应于所述约束空间的区域，分布有器件孔洞；

当所述电路板设置于所述约束空间中时，所述电路板表面的器件通过所述器件孔洞避免与所述底座发生干涉。

8.根据权利要求1所述的测试针床，其特征在于，所述测试装置的上方设置有升降装置。