CN101604499B - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试装置，包括承载板、移动基座、探针板、至少一弹性件、盖板以及推动件。承载板具有至少一定位孔，探针板的第一部分具有至少一定位销，探针板的第二部分具有朝下方延伸的至少一探针。推动件具有至少一抵靠部，此抵靠部适于抵靠于探针板的至少一抵靠壁。推动件适于通过抵靠部推动探针板，以将移动基座推动至测试位置。当移动基座被推力推动至测试位置后，定位销伸入定位孔中，而继续施加的推力更推使推动件的抵靠部沿探针板的抵靠壁移动至抵靠壁上方，以将探针板下压一段距离。

Description

测试装置

技术领域

本发明涉及一种测试装置，且尤其涉及一种用于电性测试的测试装置。

背景技术

图1为现有一种测试装置的示意图。请参照图1，现有测试装置100包括基板110以及探针板120，其中探针板120是通过枢轴130而枢接于基板110。探针板120可掀起或盖上，图1为探针板120处于盖上的状态。此外，基板110具有用以承载液晶显示面板50的承载部112。探针板120具有用以测试液晶显示面板50的探针122，以及暴露出液晶显示面板50的开口124。

现有测试装置100的测试方法是先掀起探针板120，以将液晶显示面板50放置于承载部112。之后，再盖上探针板120，以使探针板120的探针122接触液晶显示面板50的测试线路52，进而对液晶显示面板50进行电性测试。此外，除了对液晶显示面板50进行电性测试外，测试人员也会对液晶显示面板50进行目视检测。

然而，现有技术是用转动探针板120的方式将探针板120盖上，以使探针122接触测试线路52。由于此方式容易导致探针122刮到测试线路52，所以测试线路52容易受损，并因此而影响测试结果。而且，由于探针122较长，所以此方式容易导致探针122被折断。此外，有些探针122虽未被折断，但却会被折弯而与相邻的探针122接触，如此将产生短路的现象，导致用于测试的电路板损坏。

另外，虽然探针板120的开口124可供测试人员对液晶显示面板50进行目视检测，但在某些检测角度下，探针板120会挡住测试人员的视线，导致液晶显示面板50的部分缺陷不易被检测出。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种测试装置，以避免探针及待测物在测试时受损。

为实现上述目的，本发明提出一种测试装置，其包括承载板、移动基座、探针板、至少一弹性件、盖板以及推动件。承载板具有至少一定位孔，移动基座配置于承载板的承载面上，且移动基座适于移动于原始位置与测试位置之间。探针板具有固定于移动基座的第一部分以及从第一部分延伸至移动基座外的第二部分。第一部分具有朝下方延伸并穿过移动基座的至少一定位销，而第二部分具有朝下方延伸的至少一探针。弹性件抵靠于探针板的第一部分与移动基座之间，而盖板固定于移动基座上，且位于探针板的第一部分上方。推动件可移动地配置于探针板的第一部分与盖板之间。推动件具有至少一抵靠部，而此抵靠部适于抵靠于探针板的至少一抵靠壁。推动件适于通过抵靠部推动探针板，以将移动基座推动至测试位置。当推动件受推力推动而将移动基座推动至测试位置后，定位销伸入定位孔中，而继续施加的推力更推使推动件的抵靠部沿探针板的抵靠壁移动至抵靠壁上方，以将探针板下压一段距离。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置更包括施力件，其可移动地配置于盖板上。盖板具有滑槽，而施力件具有穿过滑槽并连接至推动件的连接部。当移动基座位于原始位置时，施力件的连接部位于滑槽的第一端，而当移动基座位于测试位置且探针板被推动件下压时，施力件的连接部位于滑槽的第二端，且第一端与第二端相对。

在本发明的一实施例中，上述的移动基座具有至少一固定销，其穿过探针板的第一部分，而盖板固定于固定销。

在本发明的一实施例中，上述的弹性件包括至少一弹簧，其套设于固定销及定位销两者至少其中之一。

在本发明的一实施例中，上述的移动基座还具有至少一支撑柱，其位于探针板的第一部分旁，而盖板更承靠于支撑柱。

在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括二导轨件，其配置于承载板上，且位于移动基座的相对两侧，而移动基座适于沿导轨件的导轨移动。

在本发明的一实施例中，上述的移动基座具有向上延伸的侧壁，且当移动基座位于测试位置时，移动基座的侧壁抵靠于导轨件。

在本发明的一实施例中，上述的承载板的承载面设有二第一磁铁，而移动基座的底面设有第二磁铁。移动基座的底面与承载板的承载面相对，而第一磁铁的磁性与第二磁铁的磁性相反。当移动基座位于原始位置时，第二磁铁与第一磁铁其中之一相吸。当移动基座位于测试位置时，第二磁铁与第一磁铁其中另一相吸。

在本发明的一实施例中，上述的探针板的抵靠壁是第一部分的背对第二部分的侧壁，而推动件的抵靠部是朝下方延伸至探针板的抵靠壁旁。

在本发明的一实施例中，上述的探针板的第一部分与第二部分的连接处具有凸出部，而探针板的抵靠壁是凸出部的面对推动件的侧壁，而推动件的邻近凸出部的一端为推动件的抵靠部。

在本发明的一实施例中，上述的探针板的第一部分与第二部分的连接处具有凸出部，推动件的抵靠部及探针板的抵靠壁的数量分别为二，探针板的抵靠壁分别为第一部分的背对第二部分的侧壁以及凸出部的面对推动件的侧壁。推动件的抵靠部其中之一朝下方延伸至第一部分的抵靠壁旁，推动件的抵靠部其中另一为推动件的邻近凸出部的一端。

在本发明的一实施例中，上述的推动件的抵靠部设有导角。

在本发明的一实施例中，上述的探针板的抵靠壁设有导角。

在本发明的一实施例中，上述的第一部分与承载板之间的距离大于第二部分与承载板之间的距离。

由于本发明的测试装置是先通过推动件将移动基座推动至测试位置后，再通过推动件将位于移动基座上的探针板下压一段距离，使探针板的探针接触待测物的测试线路，所以可避免探针及待测物在测试时受损。

为让本发明的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

图1是现有一种测试装置的示意图；

图2是本发明一实施例的一种测试装置的侧视示意图；

图3A是图2的测试装置的分解图；

图3B是图2的测试装置的局部分解图；

图3C是图2中探针板、弹性件及移动基座的局部剖面示意图；

图4A与图4B是图2的测试装置的探针板移动至不同位置的示意图；

图5是图2的测试装置用于测试待测物的示意图；

图6是本发明另一实施例的测试装置的承载板及移动基座的示意图。

其中，附图标记：

50：液晶显示面板          52、72：测试线路

60、110：基板             62、112：承载部

70：待测物                100、200：测试装置

120：探针板               122：探针

124：开口                 130：枢轴

210、210’：承载板        212：定位孔

214：承载面               216、218：第一磁铁

220、220’：移动基座      221：背面

222：固定销               223：第二磁铁

224：支撑柱               226：贯孔

228：侧壁                 230：探针板

232：第一部分             233：定位销

234：第二部分             235：探针

237、238：抵靠壁          239：凸出部

240：弹性件               250：盖板

252：滑槽                 253：第一端

255：第二端               260：推动件

262、264：抵靠部          270：施力件

272：连接部               280：导轨件

282：导轨                 F1、F2：推力

具体实施方式

图2是本发明一实施例的一种测试装置的侧视示意图，图3A是图2的测试装置的分解图，而图3B是图2的测试装置的局部分解图，图3C是图2的探针板的探针伸入承载板的定位孔中的剖面示意图。请参照图2、图3A至图3C，本实施例的测试装置200适于对待测物进行电性测试，其中待测物可为显示面板，但不以此为限。此测试装置200包括承载板210、移动基座220、探针板230、至少一弹性件240(在本实施例中是以多个弹性件240为例)、盖板250以及推动件260。承载板210具有至少一定位孔212，移动基座220配置于承载板210的承载面214上。探针板230具有固定于移动基座220的第一部分232以及从第一部分232延伸至移动基座220外的第二部分234。第一部分232具有朝下方延伸并穿过移动基座220的至少一定位销233(在本实施例中是以一个定位销233为例)，而第二部分234具有朝下方延伸的至少一探针235(在本实施例中是以多个探针235为例)。弹性件240抵靠于探针板230的第一部分232与移动基座220之间，而盖板250固定于移动基座220上，且位于探针板230的第一部分232上方。

推动件260可移动地配置于探针板230的第一部分232与盖板250之间。推动件260具有至少一抵靠部，而此抵靠部适于抵靠于探针板230的至少一抵靠壁。在本实施例中是以两个抵靠部262、264及两个抵靠壁237、238为例，其中抵靠部262适于抵靠于抵靠壁237，而抵靠部264适于抵靠于抵靠壁238。

上述的测试装置200中，移动基座220例如具有至少一固定销222，而在本实施例中是以两个固定销222为例。固定销222穿过探针板230的第一部分232，而盖板250固定于固定销222。本实施例例如是通过螺丝或其它锁固件将盖板250锁固于固定销222上。然而，本发明并不限定盖板250固定于固定销222的方式。此外，移动基座220可还具有至少一支撑柱224，而在本实施例中是以两个支撑柱224为例。支撑柱224位于探针板230的第一部分232旁，而盖板250更承靠于支撑柱224。在本实施例中，也可通过螺丝锁固或其它固定方式将盖板250固定于支撑柱224。另外，移动基座220具有至少一贯孔226，而上述的定位销233是经由贯孔226而穿过移动基座220。

上述的弹性件240例如是弹簧，其例如是套设于固定销222及定位销233两者至少其中之一。在本实施例中，弹性件240是分别套设于固定销222与定位销233。

上述的探针板230的第一部分232与承载板210之间的距离例如是大于第二部分234与承载板210之间的距离。也即，第一部分232相对于承载板210的高度大于第二部分234相对于承载板210的高度。此外，探针板230的第一部分232与第二部分234的连接处例如具有凸出部239。上述的探针板230的抵靠壁237为第一部分232背对第二部分234的侧壁，而抵靠壁238为凸出部239面对推动件260的侧壁。另外，推动件260的抵靠部262朝下方延伸至第一部分232的抵靠壁237旁，推动件260的抵靠部238为推动件260的邻近凸出部239的一端。

在本实施例中，上述的测试装置200可还包括施力件270，其可移动地配置于盖板250上。具体而言，盖板250具有滑槽252，而施力件270具有穿过滑槽252并连接至推动件260的连接部272。此连接部272例如是通过锁固或其它固定方式而固定于推动件260。此外，滑槽252具有相对的第一端253与第二端255。

上述的测试装置200可还包括二导轨件280，其配置于承载板210上，且位于移动基座220的相对两侧。移动基座220适于沿导轨件280的导轨282移动。

图4A与图4B是图2的测试装置的探针板移动至不同位置的示意图。请先参照图2、图3A与图4A，本实施例的测试装置200的移动基座220适于移动于原始位置(如图2所示)与测试位置(如图4A所示)之间。而且，当移动基座220位于原始位置时，施力件270的连接部272例如位于滑槽252的第一端253。            

当欲进行测试时，可施加推力F1至施力件270以推动施力件270。由于施力件270固定于推动件260，所以推动件260会随着施力件270移动，而推动件260适于通过抵靠部262、264推动探针板230，以将移动基座220推动至测试位置(如图4A所示)。此外，当推动件260受推力F1推动而将移动基座220推动至测试位置后，定位销233伸入定位孔212中(如图3C所示)。此时，施力件270的连接部272是位于滑槽252的第一端253与第二端255之间，且施力件270的连接部272并未抵靠于滑槽252的第二端255。因此，继续施加的推力F1可推使施力件270继续移动。此时，由于探针板230的定位销233已伸入承载板210的定位孔212中，所以探针板230与移动基座220的位置已被限制而不会移动。然而，继续移动的施力件270会使推动件260随之移动，而推动件260的抵靠部262、264会沿探针板230的抵靠壁237、238移动至抵靠壁237、238上方，以将探针板230下压一段距离(如图3B所示)，进而使探针235接触到待测物(图未示)的测试线路。

在本实施例中，当移动基座220位于测试位置且探针板230被推动件260下压时，施力件270的连接部272例如是位于滑槽250的第二端255。此外，移动基座220可具有向上延伸的侧壁228，且当移动基座220位于测试位置(如图4A所示)时，移动基座220的侧壁228是抵靠于导轨件280。换言之，当移动基座220位于测试位置时，除了可通过定位销233来限制移动基座220的位置外，也可通过导轨件280来限制移动基座220的位置。另外，推动件260的抵靠部262、264可设有导角，而探针板230的抵靠壁237、238可设有导角，以使抵靠部262、264较容易沿探针板230的抵靠壁237、238移动至抵靠壁237、238上方。

请参照图3A与图4B，当测试完成后，可施加推力F2至施力件270以将抵靠壁237、238上方的抵靠部262、264移动至抵靠壁237、238旁，此时被压缩的弹性件240的弹性恢复力会使探针板230向上移动至图4A所示的位置。之后，继续施加的推力F2会使移动基座220移动至图2所示的原始位置。

图5是图2的测试装置用于测试待测物的示意图。请参照图5，本实施例的测试装置200可放置于基板60上，而基板60具有用以承载待测物70的承载部62。当通过推动件下压探针板230，使探针板230的探针235接触待测物的测试线路72时，因为探针235在基板60上方时仅垂直作动(如图4A以及图4B所示)，故探针235不会刮到待测物70的测试线路72。如此，不仅可避免待测物70的测试线路72受损，以提升测试的准确性，还可避免探针235被折断。此外，本实施例所使用的探针235较短，所以可进一步避免相邻的探针235彼此接触而发生短路现象，进而防止损坏用于测试的电路板。另外，在待测物70为显示面板的实施例中，当测试人员欲对待测物70进行目视检测时，本实施例的测试装置200较不会挡住测试人员的视线，所以能提高目视检测的准确性。

需注意的是，在图2所示的实施例中是以两个抵靠壁237、238以及两个抵靠部262、264为例，但在其它实施例中，抵靠壁及抵靠部的数量可分别为一个。举例来说，在其它实施例中可仅有抵靠壁237与抵靠部262，或是仅有抵靠壁238与抵靠部264。

图6是本发明另一实施例的测试装置的承载板及移动基座的示意图。请参照图6，本实施例的承载板210’的承载面214设有二第一磁铁216、218，而移动基座220’的底面221设有第二磁铁223。移动基座220’的底面221设置的位置是与承载板210’的承载面214相对，且第一磁铁216、218的磁性与第二磁铁223的磁性相反。此承载板210’及移动基座220’可用于图2的测试装置200。当测试装置的移动基座220’位于原始位置时，第二磁铁223与第一磁铁218相吸。当移动基座220’位于测试位置时，第二磁铁223与第一磁铁216相吸。

由于承载板210’的承载面214设有第一磁铁216、218，而移动基座220’的底面221设有第二磁铁223，在施力将移动基座220’从原始位置推动至测试位置的过程中，当第二磁铁223靠近第一磁铁216时，第一磁铁216与第二磁铁223之间的吸引力会自动将移动基座220’移动至测试位置。反之，在施力将移动基座220’从测试位置推动至原始位置的过程中，当第二磁铁223靠近第一磁铁218时，第一磁铁218与第二磁铁223之间的吸引力会自动将移动基座220’移动至原始位置。

综上所述，本发明的测试装置至少具有下列优点：

1.本发明的测试装置是先通过推动件将移动基座推动至测试位置后，再通过推动件将位于移动基座上的探针板下压一段距离，使探针板的探针接触待测物的测试线路，如此可避免探针及待测物在测试时受损。

2.当测试人员欲对待测物进行目测检视时，本发明的测试装置不易挡住到测试人员的视线，所以可提升目视检测的准确性。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (11)

1.一种测试装置，其特征在于，包括：

一承载板，具有至少一定位孔；

一移动基座，配置于该承载板的一承载面上，且该移动基座适于移动于一原始位置与一测试位置之间；

一探针板，具有固定于该移动基座的一第一部分以及从该第一部分延伸至该移动基座外的一第二部分，该第一部分具有朝下方延伸并穿过该移动基座的至少一定位销，该第二部分具有朝下方延伸的至少一探针，并且，使探针板的探针接触待测物的测试线路，且探针在基板上方时仅垂直动作；

至少一弹性件，抵靠于该探针板的该第一部分与该移动基座之间；

一盖板，固定于该移动基座上，且位于该探针板的该第一部分上方；

一推动件，可移动地配置于该探针板的该第一部分与该盖板之间，该推动件具有至少一抵靠部，适于抵靠于该探针板的至少一抵靠壁，该推动件适于通过该抵靠部推动该探针板，以将该移动基座推动至该测试位置，当该推动件受一推力推动将该移动基座推动至该测试位置后，该定位销伸入该定位孔中，并且继续施加的该推力更推使该推动件的该抵靠部沿该探针板的该抵靠壁移动至该抵靠壁上方，以将该探针板下压一距离，该推动件的该抵靠部设有导角，该探针板的该抵靠壁设有导角；以及

二导轨件，配置于该承载板上，且位于该移动基座的相对两侧，该移动基座适于沿该些导轨件的导轨移动。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括一施力件，可移动地配置于该盖板上，该盖板具有一滑槽，该施力件具有穿过该滑槽并连接至该推动件的一连接部，其中当该移动基座位于该原始位置时，该施力件的该连接部位于该滑槽的一第一端，当该移动基座位于该测试位置且该探针板被该推动件下压时，该施力件的该连接部位于该滑槽的一第二端，且第一端与第二端相对。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该移动基座具有至少一固定销，穿过该探针板的该第一部分，该盖板固定于该固定销。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，该弹性件包括至少一弹簧，套设于该固定销及该定位销两者至少其中之一。

5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，该移动基座还具有至少一支撑柱，位于该探针板的该第一部分旁，该盖板更承靠于该支撑柱。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该移动基座具有向上延伸的一侧壁，且当该移动基座位于该测试位置时，该移动基座的该侧壁抵靠于该些导轨件。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该承载板的该承载面设有二第一磁铁，该移动基座的一底面设有一第二磁铁，该移动基座的该底面与该承载板的该承载面相对，该些第一磁铁的磁性与该第二磁铁的磁性相反，且当该移动基座位于该原始位置时，该第二磁铁与该些第一磁铁其中之一相吸，当该移动基座位于该测试位置时，该第二磁铁与该些第一磁铁其中另一相吸。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该探针板的该抵靠壁是该第一部分背对该第二部分的一侧壁，该推动件的该抵靠部是朝下方延伸至该探针板的该抵靠壁旁。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该探针板的该第一部分与该第二部分的连接处具有一凸出部，该探针板的该抵靠壁是该凸出部面对该推动件的一侧壁，该推动件的邻近该凸出部的一端为该推动件的该抵靠部。

10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该探针板的该第一部分与该第二部分的连接处具有一凸出部，该推动件的该抵靠部及该探针板的该抵靠壁的数量分别为二，该探针板的该些抵靠壁分别为该第一部分背对该第二部分的一侧壁以及该凸出部面对该推动件的一侧壁，该推动件的该些抵靠部其中之一朝下方延伸至该第一部分的该抵靠壁旁，该推动件的该些抵靠部其中另一为该推动件邻近该凸出部的一端。

11.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，该第一部分与该承载板之间的距离大于该第二部分与该承载板之间的距离。

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