CN221303489U - 一种集成电路封装测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种集成电路封装测试装置，涉及集成电路技术领域。包括底板，所述底板的顶部中间安装有放置机构，所述底板的顶部四周分别固定连接有固定柱，所述固定柱的顶部固定连接有顶板，所述顶板的底部设置有固定机构，同侧的两间距较短的所述固定柱内部中间安装有侧板，所述侧板内部安装有测试机构。本实用新型通过电机工作带动主动轮和从动轮转动，通过从动轮转动带动双向螺纹杆进行转动，通过双向螺纹杆转动带动测量板移动和第一斜齿轮转动，通过第一斜齿轮转动带动第二斜齿轮进行转动，通过第二斜齿轮转动带动螺纹柱转动，通过螺纹柱转动带动固定板移动，在测量板对引脚进行检测的同时通过固定板对集成电路芯片进行固定。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路封装测试装置。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，在对集成电路的引脚完成焊接后，需要使用测试装置进行检测。
公告号为CN218445814U的一种集成电路封装测试装置，其在使用中暴露出以下缺陷：
上述集成电路封装测试装置无法快速有效的对集成电路的引脚进行检测，导致一些虚焊或焊接不稳定的引脚无法被检测出来，从而对集成电路后期的安装造成一定的影响，因此需要设计一种可以快速有效的对集成电路引脚进行检测的集成电路封装测试装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集成电路封装测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路封装测试装置，包括底板，所述底板的顶部中间安装有放置机构，所述底板的顶部四周分别固定连接有固定柱，所述固定柱的顶部固定连接有顶板，所述顶板的底部设置有固定机构，同侧的两间距较短的所述固定柱内部中间安装有侧板，所述侧板内部安装有测试机构，所述侧板外壁安装有驱动机构，所述测试机构包括第一轴承，所述第一轴承设置有若干个且分别固定连接在两所述侧板的内侧两端，两相对的第一轴承内环内壁之间分别固定连接有双向螺纹杆，两所述双向螺纹杆的外壁螺纹连接有测量板，所述测量板的两端滑动连接有第一滑动柱，两所述第一滑动柱和所述侧板相固定，两所述第一滑动柱位于两所述双向螺纹杆之间。
优选的，所述驱动机构包括电机，所述电机固定连接在其中一个所述侧板的外壁一侧中间，所述电机的输出端固定连接有两主动轮，位于所述电机一侧的侧板外壁两端分别固定连接有连接柱，两所述连接柱的一端贯穿所述侧板内壁和所述双向螺纹杆相固定，两所述连接柱的另一端固定连接有从动轮，所述从动轮与相对的主动轮之间安装有皮带。
优选的，所述放置机构包括支撑柱，所述支撑柱固定连接在所述底板的顶部中间，所述支撑柱的顶部固定连接有放置槽，所述放置槽的内部安装有相适配的集成电路芯片。
优选的，所述固定机构，所述固定机构包括第二轴承，所述第二轴承设置有两个，两所述第二轴承分别固定连接在所述顶板的底部两端中间，两所述第二轴承的内环内壁固定连接有螺纹柱，两所述螺纹柱的外部螺纹连接有固定板，所述固定板的两端滑动连接有第二滑动柱，所述第二滑动柱贯穿所述第一滑动柱和底板的顶部相固定，两所述第二滑动柱位于两所述螺纹柱之间。
优选的，两所述螺纹柱的外壁底端固定连接有第二斜齿轮，两所述双向螺纹杆外壁中间固定连接有第一斜齿轮，所述第一斜齿轮和第二斜齿轮相齿接，所述底板的底部分别固定连接有若干均匀分布的底座。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
该集成电路封装测试装置，通过电机工作带动主动轮和从动轮转动，通过从动轮转动带动双向螺纹杆进行转动，通过双向螺纹杆转动带动测量板移动和第一斜齿轮转动，通过第一斜齿轮转动带动第二斜齿轮进行转动，通过第二斜齿轮转动带动螺纹柱转动，通过螺纹柱转动带动固定板移动，在测量板对引脚进行检测的同时通过固定板对集成电路芯片进行固定。
附图说明
图1为本实用新型集成电路封装测试装置轴侧的结构示意图；
图2为本实用新型驱动机构的结构示意图；
图3为本实用新型固定机构的结构示意图；
图4为本实用新型放置机构的结构示意图；
图5为本实用新型测试机构的结构示意图。
图中：1、底板；2、放置机构；201、支撑柱；202、放置槽；203、集成电路芯片；3、底座；4、固定柱；5、顶板；6、侧板；7、测试机构；701、第一轴承；702、双向螺纹杆；703、第一斜齿轮；704、测量板；705、第一滑动柱；8、固定机构；801、第二轴承；802、螺纹柱；803、第二斜齿轮；804、第二滑动柱；805、固定板；9、驱动机构；901、电机；902、连接柱；903、从动轮；904、主动轮；905、皮带。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，在对集成电路的引脚完成焊接后，需要使用测试装置进行检测，本申请通过电机工作带动主动轮和从动轮转动，通过从动轮转动带动双向螺纹杆进行转动，通过双向螺纹杆转动带动测量板移动和第一斜齿轮转动，通过第一斜齿轮转动带动第二斜齿轮进行转动，通过第二斜齿轮转动带动螺纹柱转动，通过螺纹柱转动带动固定板移动，在测量板对引脚进行检测的同时通过固定板对集成电路芯片进行固定，通过在底板的顶部中间固定连接支撑柱，在支撑柱的顶部固定连接放置槽，通过放置槽可以将集成电路芯片进行放置从而方便对其引脚进行检测，通过在底板的底部安装底座，从而可以提高该装置的稳定性。
如图1-图5所示，本实用新型提供一种技术方案：一种集成电路封装测试装置，包括底板1，底板1的顶部中间安装有放置机构2，底板1的顶部四周分别固定连接有固定柱4，固定柱4的顶部固定连接有顶板5，顶板5的底部设置有固定机构8，同侧的两间距较短的固定柱4内部中间安装有侧板6，侧板6内部安装有测试机构7，侧板6外壁安装有驱动机构9，测试机构7包括第一轴承701，第一轴承701设置有若干个且分别固定连接在两侧板6的内侧两端，两相对的第一轴承701内环内壁之间分别固定连接有双向螺纹杆702，两双向螺纹杆702的外壁螺纹连接有测量板704，测量板704的两端滑动连接有第一滑动柱705，两第一滑动柱705和侧板6相固定，两第一滑动柱705位于两双向螺纹杆702之间，通过电机901工作带动主动轮904和从动轮903转动，通过从动轮903转动带动双向螺纹杆702进行转动，通过双向螺纹杆702转动带动测量板704移动和第一斜齿轮703转动，通过第一斜齿轮703转动带动第二斜齿轮803进行转动，通过第二斜齿轮803转动带动螺纹柱802转动，通过螺纹柱802转动带动固定板805移动，在测量板704对引脚进行检测的同时通过固定板805对集成电路芯片203进行固定。
驱动机构9包括电机901，电机901固定连接在其中一个侧板6的外壁一侧中间，电机901的输出端固定连接有两主动轮904，位于电机901一侧的侧板6外壁两端分别固定连接有连接柱902，两连接柱902的一端贯穿侧板6内壁和双向螺纹杆702相固定，两连接柱902的另一端固定连接有从动轮903，从动轮903与相对的主动轮904之间安装有皮带905。
放置机构2包括支撑柱201，支撑柱201固定连接在底板1的顶部中间，支撑柱201的顶部固定连接有放置槽202，放置槽202的内部安装有相适配的集成电路芯片203，通过在底板1的顶部中间固定连接支撑柱201，在支撑柱201的顶部固定连接放置槽202，通过放置槽202可以将集成电路芯片203进行放置从而方便对其引脚进行检测。
固定机构8，固定机构8包括第二轴承801，第二轴承801设置有两个，两第二轴承801分别固定连接在顶板5的底部两端中间，两第二轴承801的内环内壁固定连接有螺纹柱802，两螺纹柱802的外部螺纹连接有固定板805，固定板805的两端滑动连接有第二滑动柱804，第二滑动柱804贯穿第一滑动柱705和底板1的顶部相固定，两第二滑动柱804位于两螺纹柱802之间。
两螺纹柱802的外壁底端固定连接有第二斜齿轮803，两双向螺纹杆702外壁中间固定连接有第一斜齿轮703，第一斜齿轮703和第二斜齿轮803相齿接，底板1的底部分别固定连接有若干均匀分布的底座3，通过在底板1的底部安装底座3，从而可以提高该装置的稳定性。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附实施例及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种集成电路封装测试装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)的顶部中间安装有放置机构(2)，所述底板(1)的顶部四周分别固定连接有固定柱(4)，所述固定柱(4)的顶部固定连接有顶板(5)，所述顶板(5)的底部设置有固定机构(8)，同侧的两间距较短的所述固定柱(4)内部中间安装有侧板(6)，所述侧板(6)内部安装有测试机构(7)，所述侧板(6)外壁安装有驱动机构(9)，所述测试机构(7)包括第一轴承(701)，所述第一轴承(701)设置有若干个且分别固定连接在两所述侧板(6)的内侧两端，两相对的第一轴承(701)内环内壁之间分别固定连接有双向螺纹杆(702)，两所述双向螺纹杆(702)的外壁螺纹连接有测量板(704)，所述测量板(704)的两端滑动连接有第一滑动柱(705)，两所述第一滑动柱(705)和所述侧板(6)相固定，两所述第一滑动柱(705)位于两所述双向螺纹杆(702)之间。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路封装测试装置，其特征在于：所述驱动机构(9)包括电机(901)，所述电机(901)固定连接在其中一个所述侧板(6)的外壁一侧中间，所述电机(901)的输出端固定连接有两主动轮(904)，位于所述电机(901)一侧的侧板(6)外壁两端分别固定连接有连接柱(902)，两所述连接柱(902)的一端贯穿所述侧板(6)内壁和所述双向螺纹杆(702)相固定，两所述连接柱(902)的另一端固定连接有从动轮(903)，所述从动轮(903)与相对的主动轮(904)之间安装有皮带(905)。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路封装测试装置，其特征在于：所述放置机构(2)包括支撑柱(201)，所述支撑柱(201)固定连接在所述底板(1)的顶部中间，所述支撑柱(201)的顶部固定连接有放置槽(202)，所述放置槽(202)的内部安装有相适配的集成电路芯片(203)。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路封装测试装置，其特征在于：所述固定机构(8)，所述固定机构(8)包括第二轴承(801)，所述第二轴承(801)设置有两个，两所述第二轴承(801)分别固定连接在所述顶板(5)的底部两端中间，两所述第二轴承(801)的内环内壁固定连接有螺纹柱(802)，两所述螺纹柱(802)的外部螺纹连接有固定板(805)，所述固定板(805)的两端滑动连接有第二滑动柱(804)，所述第二滑动柱(804)贯穿所述第一滑动柱(705)和底板(1)的顶部相固定，两所述第二滑动柱(804)位于两所述螺纹柱(802)之间。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路封装测试装置，其特征在于：两所述螺纹柱(802)的外壁底端固定连接有第二斜齿轮(803)，两所述双向螺纹杆(702)外壁中间固定连接有第一斜齿轮(703)，所述第一斜齿轮(703)和第二斜齿轮(803)相齿接，所述底板(1)的底部分别固定连接有若干均匀分布的底座(3)。
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2023
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| GR01 | Patent grant |