CN113092985A - 一种集成电路多工位测试平台及集成电路测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种集成电路多工位测试平台，包括工作台，所述工作台的中部安装有传送带。通过工作台、传送带、测试装置和转动装置的配合，使得在该装置使用时，以及直角杆与测试装置的固定连接关系，带动直角杆和测试装置进行转动，进而使检测装置通过外界信号对集成电路进行多角度检测，使检测装置对集成电路检测的结果更准确无误，大大提升检测装置对的精确性，通过第一圆板与第二圆板的抵紧关系，以及第一圆杆与套筒的间隙配合，从而通过外界单元模块对第二电机进行操控，进而通过第二电机输出轴的转动带动第二圆板转动，第二圆板的椭圆形设置，以此使第一圆板进行升高和降低，增大适测试装置的测试范围。

Description

一种集成电路多工位测试平台及集成电路测试方法

技术领域

本发明涉及集成电路多工位测试平台技术领域，具体为一种集成电路多工位测试平台。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管晶体管、电阻电阻、电容电容和电感电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体半导体晶片或介质介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；而制作完成后需要对集成电路进行测试，故需要一种集成电路多工位测试平台。

现有技术中的集成电路多工位测试平台，其检测装置无法通过外界信号对集成电路进行多角度检测，导致检测装置对集成电路检测后，检测结果存在一定偏差，同时，检测装置的高度无法进行一定范围的调节，适用性下降，并且，无法通过传送带的配合，进行多工位的同时检测，从而工作效率下降，而且其装置无法对集成电路进行固定，当检测装置对集成电路检测时，由于集成电路的紧密属性，轻微的偏差易造成检测结果发生改变，进而检测结果，适用性大大降低，不方便人们的使用。

发明内容

本发明的目的在于提供一种集成电路多工位测试平台，以解决上述背景技术中其检测装置无法通过外界信号对集成电路进行多角度检测，导致检测装置对集成电路检测后，检测结果存在一定偏差的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案一种集成电路多工位测试平台，包括工作台，所述工作台的中部安装有传送带，所述工作台的顶部设有测试装置，所述工作台的正端面设有多个转动装置；

所述转动装置包括圆球、弯杆、第一圆台、圆柱、直角杆、圆形环、定位键、方块和第一电机；

所述圆球设置于工作台的正端面前端，所述圆球的外部设有圆形环，所述圆球的外壁与圆形环的内壁间隙配合，所述圆球的外端设有弯杆，所述弯杆的一端与圆球的外壁固定连接，所述弯杆的另一端固接有第一圆台，所述第一圆台的右端固接有直角杆，所述直角杆的右端安装有测试装置，所述第一圆台的内壁固接有圆柱，所述圆柱的底部固接有方块，所述方块的内壁间隙配合有定位键，所述定位键的下方设有第一电机，所述第一电机的输出轴与定位键的后端面固定连接。

优选的，所述工作台的正端面设有多个升降组件；

所述升降组件包括底板、第一圆板、第二电机、第二圆台、套筒、第一圆杆和第二圆板；

所述底板的底部固接于工作台的正端面，所述底板的顶部设有第二圆台，所述第二圆台的底部与底板的顶部固定连接，所述第二圆台的顶部通过支架与第一电机的两端固定连接，所述第二圆台的两端内部设有多个第一圆杆，多个所述第一圆杆的外壁与第二圆台的内壁固定连接，多个所述第一圆杆的下方外部设有多个套筒，多个所述套筒的内壁与多个第一圆杆的外壁间隙配合，多个所述套筒的底部与底板的顶部固定连接，所述第二圆台的前端设有第二电机，所述第二电机的后端通过支架与第二圆台的前端固定连接，所述第二电机的输出端固接有第二圆板，所述第二圆板的外壁与第一圆板的底部相抵紧。

优选的，多个所述第一圆杆与套筒构成滑动结构。

优选的，所述第二圆板呈椭圆形设置。

优选的，所述工作台的正端面下方设有固定组件；

所述固定组件包括第三电机、支块、第二圆杆、涡轮、第一齿轮、第二齿轮、蜗杆、第一短柄、第二短柄和竖块；

所述支块的后端面固接于工作台的正端面，两个所述支块的内部安装有第三电机，所述第三电机的输出端的末端固接有第一齿轮，所述第一齿轮的上端设有第二齿轮，所述第二齿轮的外壁与第一齿轮的外壁啮合连接，所述第二齿轮的内部设有蜗杆，所述蜗杆的下端外壁与第二齿轮的内部外壁固定连接，所述蜗杆的左右两端设有涡轮，所述涡杆的外壁分别与两侧涡轮的外壁啮合连接，所述涡轮的内壁转动连接有第二圆杆，多个所述第二圆杆的后端面与工作台的正端面固定连接，所述涡轮的正端面固接有第一短柄，左侧的所述第一短柄的下端与左侧下方的第二圆杆的转动连接，两个所述第一短柄的上端内部转动连接有第二短柄，两个所述第二短柄的内端固接有竖块。

优选的，所述竖块的以蜗杆为轴呈轴对称分布。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：该集成电路多工位测试平台，通过工作台、传送带、测试装置和转动装置的配合，使得在该装置使用时，通过圆球与圆形环的间隙配合，以及直角杆与测试装置的固定连接关系，以此可通过第一电机带动第一圆台的转动，带动直角杆和测试装置进行转动，进而使检测装置通过外界信号对集成电路进行多角度检测，使检测装置对集成电路检测的结果更准确无误，大大提升检测装置对的精确性。

通过工作台、传送带、转动装置、测试装置和升降组件的配合，使得该装置在使用时，通过第一圆板与第二圆板的抵紧关系，以及第一圆杆与套筒的间隙配合，从而通过外界单元模块对第二电机进行操控，进而通过第二电机输出轴的转动带动第二圆板转动，第二圆板的椭圆形设置，以此使第一圆板进行升高和降低，增大适测试装置的测试范围。

通过工作台、传送带、转动装置和测试装置的配合，使得该装置在使用时，通过多个组件同时配合，传送带对集成电路的传输，以此使得对多个集成电路同时进行检测，从而对外界单元模块对测试装置进行信号传输，对集成电路进行测试，提高产量与效能，增高工作效率。

通过工作台、传送带、固定组件和测试装置的配合，使得该装置在使用时，通过涡轮与蜗杆的配合，以及第一齿轮与第二齿轮的啮合连接关系，从而通过涡轮的转动，第一短柄与第二短柄同时转动，使两个竖块同时对内移动，对集成电路进行夹紧，进而使测试装置对集成电路进行测试，使测试装置对精密的集成电路检测结果更精准，更好的服务于人们。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为图1中第一圆台、圆柱和直角杆的结构示意图；

图3为图1中第二齿轮、蜗杆和第一短柄的结构示意图；

图4为图1中第二电机、第二圆台和套筒的结构示意图；

图5为图1中蜗杆、第一短柄和第二短柄的结构示意图；

图6为图1中圆球、弯杆和第一圆台的结构示意图。

图中：1、工作台，2、传送带，3、转动装置、301、圆球，302、弯杆，303、第一圆台，304、圆柱，305、直角杆，306、圆形环，307、定位键，308、方块，309、第一电机，4、测试装置，5、固定组件、501、第三电机，502、支块、503、第二圆杆，504、涡轮，505、第一齿轮，506、第二齿轮，507、蜗杆，508、第一短柄，509、第二短柄，510、竖块，6、升降组件，601、底板，602、第一圆板，603、第二电机，604、第二圆台，605、套筒，606、第一圆杆，607、第二圆板。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-6，本发明提供一种技术方案一种集成电路多工位测试平台，包括工作台1，工作台1的中部安装有传送带2，传送带2用于对集成电路传输，为流动皮带，工作台1的顶部设有测试装置4，测试装置4可对集成电路进行测试，工作台1的正端面设有多个转动装置3。

转动装置3包括圆球301、弯杆302、第一圆台303、圆柱304、直角杆305、圆形环306、定位键307、方块308和第一电机309，圆球301设置于工作台1的正端面前端，圆球301的外部设有圆形环306，圆球301的外壁与圆形环306的内壁间隙配合，圆球301可在圆形环306内滑动，圆球301的外端设有弯杆302，弯杆302的一端与圆球301的外壁固定连接，弯杆302的另一端固接有第一圆台303，第一圆台303的右端固接有直角杆305，直角杆305的右端安装有测试装置4，第一圆台303的内壁固接有圆柱304，圆柱304的底部固接有方块308，方块308的内壁间隙配合有定位键307，定位键307的下方设有第一电机309，第一电机309的输出轴与定位键307的后端面固定连接；

通过工作台、传送带、测试装置和转动装置的配合，使得在该装置使用时，通过圆球与圆形环的间隙配合，以及直角杆与测试装置的固定连接关系，以此可通过第一电机带动第一圆台的转动，带动直角杆和测试装置进行转动，进而使检测装置通过外界信号对集成电路进行多角度检测，使检测装置对集成电路检测的结果更准确无误，大大提升检测装置对的精确性；

通过工作台、传送带、转动装置和测试装置的配合，使得该装置在使用时，通过多个组件同时配合，传送带对集成电路的传输，以此使得对多个集成电路同时进行检测，从而对外界单元模块对测试装置进行信号传输，对集成电路进行测试，提高产量与效能，增高工作效率。

工作台1的正端面设有多个升降组件6，升降组件6包括底板601、第一圆板602、第二电机603、第二圆台604、套筒605、第一圆杆606和第二圆板607，底板601的底部固接于工作台1的正端面，底板601的顶部设有第二圆台604，第二圆台604的底部与底板601的顶部固定连接，第二圆台604的顶部通过支架与第一电机309的两端固定连接，第一电机309的型号为ECMA-E11320RS，第二圆台604的两端内部设有多个第一圆杆606，多个第一圆杆606的外壁与第二圆台604的内壁固定连接，多个第一圆杆606的下方外部设有多个套筒605，多个套筒605的内壁与多个第一圆杆606的外壁间隙配合，多个套筒605的底部与底板601的顶部固定连接，多个第一圆杆606与套筒605构成滑动结构，套筒605对第一圆杆606进行限位，第一圆杆606可在套筒605内上下滑动，第二圆台604的前端设有第二电机603，第二电机603的后端通过支架与第二圆台604的前端固定连接，第二电机603的输出端固接有第二圆板607，第二圆板607呈椭圆形设置，通过椭圆形的转动，可使第一圆板602上下滑动，第二圆板607的外壁与第一圆板602的底部相抵紧；

通过工作台、传送带、转动装置、测试装置和升降组件的配合，使得该装置在使用时，通过第一圆板与第二圆板的抵紧关系，以及第一圆杆与套筒的间隙配合，从而通过外界单元模块对第二电机进行操控，进而通过第二电机输出轴的转动带动第二圆板转动，第二圆板的椭圆形设置，以此使第一圆板进行升高和降低，增大适测试装置的测试范围。

工作台1的正端面下方设有固定组件5，固定组件5包括第三电机501、支块502、第二圆杆503、涡轮504、第一齿轮505、第二齿轮506、蜗杆507、第一短柄508、第二短柄509和竖块510，支块502的后端面固接于工作台1的正端面，两个支块502的内部安装有第三电机501，第三电机501的型号为SM80-D601930，第三电机501的输出端的末端固接有第一齿轮505，第一齿轮505的上端设有第二齿轮506，第一齿轮505的转动，可同时带动第二齿轮506进行转动，第二齿轮506的外壁与第一齿轮505的外壁啮合连接，第二齿轮506的内部设有蜗杆507，蜗杆507的下端外壁与第二齿轮506的内部外壁固定连接，蜗杆507的左右两端设有涡轮504，涡杆507的外壁分别与两侧涡轮504的外壁啮合连接，涡轮504的内壁转动连接有第二圆杆503，多个第二圆杆503的后端面与工作台1的正端面固定连接，竖块510的以蜗杆507为轴呈轴对称分布，两个竖块510可同时向内对集成电路夹紧，涡轮504的正端面固接有第一短柄508，左侧的第一短柄508的下端与左侧下方的第二圆杆503的转动连接，两个第一短柄508的上端内部转动连接有第二短柄509，两个第二短柄509的内端固接有竖块510；

通过工作台、传送带、固定组件和测试装置的配合，使得该装置在使用时，通过涡轮与蜗杆的配合，以及第一齿轮与第二齿轮的啮合连接关系，从而通过涡轮的转动，第一短柄与第二短柄同时转动，使两个竖块同时对内移动，对集成电路进行夹紧，进而使测试装置对集成电路进行测试，使测试装置对精密的集成电路检测结果更精准，更好的服务于人们。

在本实施例中，当使用该集成电路多工位测试平台时，首先通过传送带2的表面传输集成电路，然后开始调试升降组件6，通过第一圆板602与第二圆板607的抵紧关系，以及第一圆杆606与套筒605的间隙配合，从而通过外界单元模块对第二电机603进行操控，进而通过第二电机603输出轴的转动带动第二圆板607转动，第二圆板607的椭圆形设置，然后通过第一圆板602与第二圆板607的抵紧关系，以及第一圆杆606与套筒605的间隙配合，从而通过外界单元模块对第二电机603进行操控，进而通过第二电机603输出轴的转动带动第二圆板607转动，第二圆板607的椭圆形设置，以此使第一圆板602进行升高和降低，同时，通过圆球301与圆形环306的间隙配合，以及直角杆305与测试装置的固定连接关系，以此可通过第一电机309带动第一圆台602的转动，带动直角杆305和测试装置4进行转动，进而使测试装置4通过外界信号对集成电路进行多角度检测。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“同轴”、“底部”、“一端” 、 “顶部”、“中部”、“另一端”、“上”、“一侧”、“顶部”、“内”、“前部”、“中央”、“两端”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明中， 除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置”、 “连接”、“固定”、“旋接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种集成电路多工位测试平台，包括工作台（1），其特征在于：所述工作台（1）的中部安装有传送带（2），所述工作台（1）的顶部设有测试装置（4），所述工作台（1）的正端面设有多个转动装置（3）。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路多工位测试平台，其特征在于：

所述转动装置（3）包括圆球（301）、弯杆（302）、第一圆台（303）、圆柱（304）、直角杆（305）、圆形环（306）、定位键（307）、方块（308）和第一电机（309）；

所述圆球（301）设置于工作台（1）的正端面前端，所述圆球（301）的外部设有圆形环（306），所述圆球（301）的外壁与圆形环（306）的内壁间隙配合，所述圆球（301）的外端设有弯杆（302），所述弯杆（302）的一端与圆球（301）的外壁固定连接，所述弯杆（302）的另一端固接有第一圆台（303），所述第一圆台（303）的右端固接有直角杆（305），所述直角杆（305）的右端安装有测试装置（4），所述第一圆台（303）的内壁固接有圆柱（304），所述圆柱（304）的底部固接有方块（308），所述方块（308）的内壁间隙配合有定位键（307），所述定位键（307）的下方设有第一电机（309），所述第一电机（309）的输出轴与定位键（307）的后端面固定连接；

所述工作台（1）的正端面设有多个升降组件（6）；

所述升降组件（6）包括底板（601）、第一圆板（602）、第二电机（603）、第二圆台（604）、套筒（605）、第一圆杆（606）和第二圆板（607）；

所述底板（601）的底部固接于工作台（1）的正端面，所述底板（601）的顶部设有第二圆台（604），所述第二圆台（604）的底部与底板（601）的顶部固定连接，所述第二圆台（604）的顶部通过支架与第一电机（309）的两端固定连接，所述第二圆台（604）的两端内部设有多个第一圆杆（606），多个所述第一圆杆（606）的外壁与第二圆台（604）的内壁固定连接，多个所述第一圆杆（606）的下方外部设有多个套筒（605），多个所述套筒（605）的内壁与多个第一圆杆（606）的外壁间隙配合，多个所述套筒（605）的底部与底板（601）的顶部固定连接，所述第二圆台（604）的前端设有第二电机（603），所述第二电机（603）的后端通过支架与第二圆台（604）的前端固定连接，所述第二电机（603）的输出端固接有第二圆板（607），所述第二圆板（607）的外壁与第一圆板（602）的底部相抵紧；

所述工作台（1）的正端面下方设有固定组件（5）；

所述固定组件（5）包括第三电机（501）、支块（502）、第二圆杆（503）、涡轮（504）、第一齿轮（505）、第二齿轮（506）、蜗杆（507）、第一短柄（508）、第二短柄（509）和竖块（510）；

所述支块（502）的后端面固接于工作台（1）的正端面，两个所述支块（502）的内部安装有第三电机（501），所述第三电机（501）的输出端的末端固接有第一齿轮（505），所述第一齿轮（505）的上端设有第二齿轮（506），所述第二齿轮（506）的外壁与第一齿轮（505）的外壁啮合连接，所述第二齿轮（506）的内部设有蜗杆（507），所述蜗杆（507）的下端外壁与第二齿轮（506）的内部外壁固定连接，所述蜗杆（507）的左右两端设有涡轮（504），所述涡杆（507）的外壁分别与两侧涡轮（504）的外壁啮合连接，所述涡轮（504）的内壁转动连接有第二圆杆（503），多个所述第二圆杆（503）的后端面与工作台（1）的正端面固定连接，所述涡轮（504）的正端面固接有第一短柄（508），左侧的所述第一短柄（508）的下端与左侧下方的第二圆杆（503）的转动连接，两个所述第一短柄（508）的上端内部转动连接有第二短柄（509），两个所述第二短柄（509）的内端固接有竖块（510）。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路多工位测试平台，其特征在于：多个所述第一圆杆（606）与套筒（605）构成滑动结构。

4.根据权利要求2所述的一种集成电路多工位测试平台，其特征在于：所述第二圆板（607）呈椭圆形设置。

5.根据权利要求2所述的一种集成电路多工位测试平台，其特征在于：所述竖块（510）的以蜗杆（507）为轴呈轴对称分布。

6.一种集成电路多工位测试方法，其特征在于：当使用该集成电路多工位测试平台时，首先通过传送带2的表面传输集成电路，然后开始调试升降组件6，通过第一圆板602与第二圆板607的抵紧关系，以及第一圆杆606与套筒605的间隙配合，从而通过外界单元模块对第二电机603进行操控，进而通过第二电机603输出轴的转动带动第二圆板607转动，第二圆板607的椭圆形设置，然后通过第一圆板602与第二圆板607的抵紧关系，以及第一圆杆606与套筒605的间隙配合，从而通过外界单元模块对第二电机603进行操控，进而通过第二电机603输出轴的转动带动第二圆板607转动，第二圆板607的椭圆形设置，以此使第一圆板602进行升高和降低，同时，通过圆球301与圆形环306的间隙配合，以及直角杆305与测试装置的固定连接关系，以此可通过第一电机309带动第一圆台602的转动，带动直角杆305和测试装置4进行转动，进而使测试装置4通过外界信号对集成电路进行多角度检测。

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