CN112366147B - 一种先进封装检测设备 - Google Patents
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Abstract
本发明属于检测设备领域，尤其是一种先进封装检测设备，针对现有的检测设备检测效率较低的问题，现提出如下方案，其包括底座，所述底座的顶部固定安装有竖板，竖板的一侧固定安装有电动推杆，电动推杆的输出轴上固定安装有安装板，安装板的底部固定安装有检测头，所述底座上开设有腔体，腔体的顶部开设有转动孔，转动孔内转动安装有转动柱，所述转动柱的外侧设有转动轴，转动轴的顶部固定安装有圆板，圆板的顶部开设有多个插槽，多个插槽的底部内壁上均开设有插孔，本发明便于对半导体进行检测，检测完成后可以将半导体从插槽内推出，且可以适应不同长度的半导体，进而可以提高检测效率，结构简单，使用方便。
Description
技术领域
本发明涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种先进封装检测设备。
背景技术
半导体封装是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到独立芯片的过程。封装过程为：来自晶圆前道工艺的晶圆通过划片工艺后被切割为小的晶片（Die），然后将切割好的晶片用胶水贴装到相应的基板（引线框架）架的小岛上，再利用超细的金属（金锡铜铝）导线或者导电性树脂将晶片的接合焊盘（Bond Pad）连接到基板的相应引脚（Lead）,并构成所要求的电路；然后再对独立的晶片用塑料外壳加以封装保护，塑封之后还要进行一系列操作，封装完成后进行成品测试，通常经过入检Incoming、测试Test和包装Packing等工序，最后入库出货，半导体封装完成后需要进行检测。
现有的检测设备检测效率较低，因此我们提出了一种先进封装检测设备，用来解决上述问题。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在检测设备检测效率较低的缺点，而提出的一种先进封装检测设备。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：
一种先进封装检测设备，包括底座，所述底座的顶部固定安装有竖板，竖板的一侧固定安装有电动推杆，电动推杆的输出轴上固定安装有安装板，安装板的底部固定安装有检测头，所述底座上开设有腔体，腔体的顶部开设有转动孔，转动孔内转动安装有转动柱，所述转动柱的外侧设有转动轴，转动轴的顶部固定安装有圆板，圆板的顶部开设有多个插槽，多个插槽的底部内壁上均开设有插孔，所述腔体内转动安装有横杆，横杆的一端固定安装有第一锥形齿轮，第一锥形齿轮上啮合有第二锥形齿轮，第二锥形齿轮固定套设于转动柱的外侧，横杆的另一端固定安装有棘轮，所述腔体的一侧内壁上转动安装有转动块，转动块的一侧固定安装有圆形安装盒，棘轮位于圆形安装盒内，所述圆形安装盒的内壁转动安装有棘齿，棘齿与棘轮相配合，棘齿的一侧固定安装有弹簧的一端，弹簧的另一端与圆形安装盒的内壁固定连接，圆形安装盒的内壁固定安装有限位块，限位块的一侧与棘齿的另一侧相接触，所述安装板的底部固定安装有齿条，齿条上啮合有第一齿轮和第二齿轮，第二齿轮固定套设于圆形安装盒的外侧。
优选的，所述转动轴的底部开设有滑槽，转动柱的外侧与滑槽的内壁滑动连接，滑槽的内壁开设有导向槽，导向槽内滑动安装有导向块，导向块的一侧与转动柱固定连接。
优选的，所述转动柱的外侧开设有多个调节槽，转动轴上螺纹安装有螺栓，螺栓与对应的调节槽螺纹连接。
优选的，所述竖板的一侧固定安装有第一轴承，第一轴承的内圈固定安装有传动杆，第一齿轮的一侧开设有圆槽，圆槽内设有传动棘轮，传动棘轮固定安装于传动杆的一端，圆槽内转动安装有与传动棘轮相配合的传动棘齿。
优选的，所述传动杆的另一端固定安装有第一连杆的一端，第一连杆的另一端转动安装有第二连杆的一端，第二连杆的另一端转动安装有推动板，推动板的顶部固定安装有推动杆。
优选的，所述底座的顶部固定安装有固定板，固定板的顶部滑动安装有两个圆杆，两个圆杆的顶部均与推动板的底部固定连接。
优选的，所述底座的顶部固定安装有第二轴承，第二轴承的内圈与转动柱的外侧固定连接。
优选的，所述腔体的顶部内壁上固定安装有第三轴承，横杆的外侧与第三轴承的内圈固定连接。
与现有技术相比，本发明的有益效果在于：
本方案使用时，将需要检测的半导体插入多个插槽内，通过电动推杆推动安装板向下移动，安装板带动检测头向下移动，检测头对半导体进行检测，通过安装板的移动带动齿条移动，齿条向下移动带动第二齿轮转动，由于棘爪的设置，此时棘轮不会转动，一个半导体检测完毕后，电动推杆向上移动，此时棘轮带动横杆转动，横杆带动第一锥形齿轮转动，第一锥形齿轮带动第二锥形齿轮转动，第二锥形齿轮带动转动柱转动，转动柱带动转动轴转动，转动轴带动圆板转动，从而将下一个半导体移动到检测头的下方；
本方案通过齿条的移动带动第一齿轮转动，第一齿轮带动传动杆转动，传动杆带动第一连杆转动，第一连杆通过第二连杆带动推动板上下往复运动一次，推动板带动推动杆上下往复运动一次，推动杆插入插孔内，进而将检测后的半导体从插槽内推出；
本方案通过将螺栓拧入不同的调节槽内，可以对圆板的高度进行调整，适应不同长度的半导体；
本发明便于对半导体进行检测，检测完成后可以将半导体从插槽内推出，且可以适应不同长度的半导体，进而可以提高检测效率，结构简单，使用方便。
附图说明
图1为本发明提出的一种先进封装检测设备的结构示意图；
图2为本发明提出的一种先进封装检测设备的部分侧视结构示意图；
图3为本发明提出的一种先进封装检测设备的A部分的结构示意图；
图4为本发明提出的一种先进封装检测设备的B部分的结构示意图；
图5为本发明提出的一种先进封装检测设备的圆板的俯视结构示意图。
图中：1底座、2竖板、3电动推杆、4安装板、5检测头、6圆板、7插槽、8转动轴、9转动柱、10调节槽、11螺栓、12第二锥形齿轮、13第一锥形齿轮、14横杆、15腔体、16齿条、17棘轮、18圆形安装盒、19第二齿轮、20棘齿、21传动杆、22第一齿轮、23第一连杆、24第二连杆、25推动板、26推动杆、27插孔。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
参照图1-5，一种先进封装检测设备，包括底座1，底座1的顶部固定安装有竖板2，竖板2的一侧固定安装有电动推杆3，电动推杆3的输出轴上固定安装有安装板4，安装板4的底部固定安装有检测头5，底座1上开设有腔体15，腔体15的顶部开设有转动孔，转动孔内转动安装有转动柱9，转动柱9的外侧设有转动轴8，转动轴8的顶部固定安装有圆板6，圆板6的顶部开设有多个插槽7，多个插槽7的底部内壁上均开设有插孔27，腔体15内转动安装有横杆14，横杆14的一端固定安装有第一锥形齿轮13，第一锥形齿轮13上啮合有第二锥形齿轮12，第二锥形齿轮12固定套设于转动柱9的外侧，横杆14的另一端固定安装有棘轮17，腔体15的一侧内壁上转动安装有转动块，转动块的一侧固定安装有圆形安装盒18，棘轮17位于圆形安装盒18内，圆形安装盒18的内壁转动安装有棘齿20，棘齿20与棘轮17相配合，棘齿20的一侧固定安装有弹簧的一端，弹簧的另一端与圆形安装盒18的内壁固定连接，圆形安装盒18的内壁固定安装有限位块，限位块的一侧与棘齿20的另一侧相接触，安装板4的底部固定安装有齿条16，齿条16上啮合有第一齿轮22和第二齿轮19，第二齿轮19固定套设于圆形安装盒18的外侧。
本发明中，转动轴8的底部开设有滑槽，转动柱9的外侧与滑槽的内壁滑动连接，滑槽的内壁开设有导向槽，导向槽内滑动安装有导向块，导向块的一侧与转动柱9固定连接，导向块与导向槽的设置使转动柱9只能在滑槽内滑动。
本发明中，转动柱9的外侧开设有多个调节槽10，转动轴8上螺纹安装有螺栓11，螺栓11与对应的调节槽10螺纹连接，螺栓11配合调节槽10对转动柱9进行固定。
本发明中，竖板2的一侧固定安装有第一轴承，第一轴承的内圈固定安装有传动杆21，第一齿轮22的一侧开设有圆槽，圆槽内设有传动棘轮，传动棘轮固定安装于传动杆21的一端，圆槽内转动安装有与传动棘轮相配合的传动棘齿，传动棘齿与传动棘轮的设置使传动杆21也只能单向转动。
本发明中，传动杆21的另一端固定安装有第一连杆23的一端，第一连杆23的另一端转动安装有第二连杆24的一端，第二连杆24的另一端转动安装有推动板25，推动板25的顶部固定安装有推动杆26，推动板25带动推动杆26运动。
本发明中，底座1的顶部固定安装有固定板，固定板的顶部滑动安装有两个圆杆，两个圆杆的顶部均与推动板25的底部固定连接。
本发明中，底座1的顶部固定安装有第二轴承，第二轴承的内圈与转动柱9的外侧固定连接。
本发明中，腔体15的顶部内壁上固定安装有第三轴承，横杆14的外侧与第三轴承的内圈固定连接。
本发明中，使用时，将需要检测的半导体插入多个插槽7内，通过电动推杆3推动安装板4向下移动，安装板4带动检测头5向下移动，检测头5对半导体进行检测，通过安装板4的移动带动齿条16移动，齿条16向下移动带动第二齿轮19转动，由于棘齿20的设置，此时棘轮17不会转动，一个半导体检测完毕后，电动推杆3向上移动，此时棘轮17带动横杆14转动，横杆14带动第一锥形齿轮13转动，第一锥形齿轮13带动第二锥形齿轮12转动，第二锥形齿轮12带动转动柱9转动，转动柱9带动转动轴8转动，转动轴8带动圆板6转动，从而将下一个半导体移动到检测头5的下方，通过齿条16的移动带动第一齿轮22转动，传动棘齿与传动棘轮的设置使传动杆21也只能单向转动，传动杆21带动第一连杆23转动，第一连杆23通过第二连杆24带动推动板25上下往复运动一次，推动板25带动推动杆26上下往复运动一次，推动杆26插入插孔27内，进而将检测后的半导体从插槽7内推出，通过将螺栓11拧入不同的调节槽10内，可以对圆板6的高度进行调整，适应不同长度的半导体。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种先进封装检测设备，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)的顶部固定安装有竖板(2)，竖板(2)的一侧固定安装有电动推杆(3)，电动推杆(3)的输出轴上固定安装有安装板(4)，安装板(4)的底部固定安装有检测头(5)，所述底座(1)上开设有腔体(15)，腔体(15)的顶部开设有转动孔，转动孔内转动安装有转动柱(9)，所述转动柱(9)的外侧设有转动轴(8)，转动轴(8)的顶部固定安装有圆板(6)，圆板(6)的顶部开设有多个插槽(7)，多个插槽(7)的底部内壁上均开设有插孔(27)，所述腔体(15)内转动安装有横杆(14)，横杆(14)的一端固定安装有第一锥形齿轮(13)，第一锥形齿轮(13)上啮合有第二锥形齿轮(12)，第二锥形齿轮(12)固定套设于转动柱(9)的外侧，横杆(14)的另一端固定安装有棘轮(17)，所述腔体(15)的一侧内壁上转动安装有转动块，转动块的一侧固定安装有圆形安装盒(18)，棘轮(17)位于圆形安装盒(18)内，所述圆形安装盒(18)的内壁转动安装有棘齿(20)，棘齿(20)与棘轮(17)相配合，棘齿(20)的一侧固定安装有弹簧的一端，弹簧的另一端与圆形安装盒(18)的内壁固定连接，圆形安装盒(18)的内壁固定安装有限位块，限位块的一侧与棘齿(20)的另一侧相接触，所述安装板(4)的底部固定安装有齿条(16)，齿条(16)上啮合有第一齿轮(22)和第二齿轮(19)，第二齿轮(19)固定套设于圆形安装盒(18)的外侧；
所述转动轴(8)的底部开设有滑槽，转动柱(9)的外侧与滑槽的内壁滑动连接，滑槽的内壁开设有导向槽，导向槽内滑动安装有导向块，导向块的一侧与转动柱(9)固定连接；
所述转动柱(9)的外侧开设有多个调节槽(10)，转动轴(8)上螺纹安装有螺栓(11)，螺栓(11)与对应的调节槽(10)螺纹连接；
所述竖板(2)的一侧固定安装有第一轴承，第一轴承的内圈固定安装有传动杆(21)，第一齿轮(22)的一侧开设有圆槽，圆槽内设有传动棘轮，传动棘轮固定安装于传动杆(21)的一端，圆槽内转动安装有与传动棘轮相配合的传动棘齿。
2.根据权利要求1所述的一种先进封装检测设备，其特征在于，所述传动杆(21)的另一端固定安装有第一连杆(23)的一端，第一连杆(23)的另一端转动安装有第二连杆(24)的一端，第二连杆(24)的另一端转动安装有推动板(25)，推动板(25)的顶部固定安装有推动杆(26)。
3.根据权利要求1所述的一种先进封装检测设备，其特征在于，所述底座(1)的顶部固定安装有固定板，固定板的顶部滑动安装有两个圆杆，两个圆杆的顶部均与推动板(25)的底部固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种先进封装检测设备，其特征在于，所述底座(1)的顶部固定安装有第二轴承，第二轴承的内圈与转动柱(9)的外侧固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种先进封装检测设备，其特征在于，所述腔体(15)的顶部内壁上固定安装有第三轴承，横杆(14)的外侧与第三轴承的内圈固定连接。
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