CN216900243U - 一种半导体光学检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及半导体检测技术领域，具体是一种半导体光学检测设备，包括底座，所述底座的顶部活动套接有盖板，盖板的顶部固定连接有放置台，盖板的顶部固定连接有检测仪器本体，检测仪器本体与放置台的位置相适配，底座的底部内壁固定连接有两个固定杆，两个固定杆的顶部均开设有活动槽，活动槽内活动连接有活动杆；本实用新型能够通过转动驱动杆带动螺旋齿轮转动，螺旋齿轮转动带动转动齿轮和其中一个转动杆转动，两个转动杆同步转动带动螺纹杆向上或向下移动，两个螺纹杆带动盖板、放置台和检测仪器本体进行升降，实现了通过螺接机构对装置进行调高或调低，进而提高了装置在升高或降低过程中的稳定性。

Description

一种半导体光学检测设备

技术领域

本实用新型涉及半导体检测技术领域，具体是一种半导体光学检测设备。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，对半导体进行检测时，常常需要光学检测设备。

现有技术中，存在问题如下：

(1)现有的半导体光学检测设备，大多数采用滑动支撑的方式对设备进行升降适应不同身高的人使用，滑动支撑机构的稳定性较差，不利于使用；

(2)大多数半导体检测时，需要人为慢慢将半导体调节至检测镜头的位置，降低了对半导体的检测速度。

实用新型内容

本实用新型的技术方案是：一种半导体光学检测设备，包括底座，所述底座的顶部活动套接有盖板，盖板的顶部固定连接有放置台，盖板的顶部固定连接有检测仪器本体，检测仪器本体与放置台的位置相适配，底座的底部内壁固定连接有两个固定杆，两个固定杆的顶部均开设有活动槽，活动槽内活动连接有活动杆，两个活动杆的顶端固定连接于盖板的顶部内壁，底座上安装有升降机构，放置台上安装有挤压居中机构。

优选的，所述升降机构包括转动连接于底座底部内壁的两个转动杆，转动杆的顶端开设有螺纹槽，螺纹槽内螺接有螺纹杆，两个螺纹杆的顶端固定连接于盖板的顶部内壁，两个转动杆上均固定连接传动轮，两个传动轮上张紧套接有传动带，其中一个转动杆上键连接有转动齿轮，转动齿轮上安装有驱动单元。

优选的，所述驱动单元包括啮合于转动齿轮上的螺旋齿轮，螺旋齿轮的一端固定连接有驱动杆，底座的一侧内壁开设有转动孔，驱动杆的一端贯穿转动孔并固定连接有旋转钮。

优选的，所述底座的两侧均固定连接有限位柱，盖板的两侧内壁均开设有条形孔，两个限位柱分别位于两个条形孔内。

优选的，所述挤压居中机构包括转动连接于放置台底部内壁的转动柱，转动柱上键连接有主齿轮，主齿轮上啮合有齿条，齿条的一端固定连接有拉杆，放置台的一侧内壁开设有滑动孔，拉杆的一端贯穿滑动孔，转动柱的顶端固定连接有摆动杆，摆动杆上安装有滑动复位单元。

优选的，所述放置台的另一侧内壁开设有导向槽，齿条的另一端延伸至导向槽内。

优选的，所述滑动复位单元包括转动连接于摆动杆两端的连接杆，连接杆的一端转动连接有U形块，U形块的一侧固定连接有U形推杆，放置台的两侧均开设有圆孔，两个U形推杆的一端贯穿圆孔并固定连接有挤压板，U形推杆上套接有复位弹簧，复位弹簧的两端分别与U形块和放置台固定连接。

本实用新型通过改进在此提供一种半导体光学检测设备，与现有技术相比，具有如下改进及优点：

其一：本实用新型通过转动驱动杆带动螺旋齿轮转动，螺旋齿轮转动带动转动齿轮和其中一个转动杆转动，其中一个转动杆转动通过传动轮和传动带带动另一个转动杆转动，两个转动杆同步转动带动螺纹杆向上或向下移动，两个螺纹杆带动盖板、放置台和检测仪器本体进行升降，实现了通过螺接机构对装置进行调高或调低，进而提高了装置在升高或降低过程中的稳定性；

其二：本实用新型通过向外拉动拉杆带动齿条进行移动，齿条移动带动主齿轮、转动柱和摆动杆转动，摆动杆通过连接杆带动U形块和U形推杆移动，两个U形推杆移动带动两个挤压板相互靠近将需要检测的半导体进行居中，然后松开拉杆，使得复位弹簧带动两个挤压板进行复位，实现了便于将需要检测的半导体快速居中，进而快速对半导体进行检测。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步解释：

图1是本实用新型的立体结构示意图；

图2是本实用新型的剖面结构示意图；

图3是本实用新型的升降机构剖面立体结构示意图；

图4是本实用新型的挤压居中机构立体结构示意图；

图5是本实用新型的图3中A处立体结构示意图。

附图标记说明：

1、底座；101、盖板；102、放置台；103、检测仪器本体；104、限位柱； 105、活动杆；106、固定杆；2、转动杆；201、螺纹杆；202、转动齿轮； 203、螺旋齿轮；204、驱动杆；205、传动轮；206、传动带；3、转动柱； 301、主齿轮；302、齿条；303、拉杆；304、摆动杆；4、U形推杆；401、挤压板；402、复位弹簧；403、U形块；404、连接杆。

具体实施方式

下面对本实用新型进行详细说明，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型通过改进在此提供一种半导体光学检测设备，本实用新型的技术方案是：

如图1-图5所示，一种半导体光学检测设备，包括底座1，底座1的顶部活动套接有盖板101，盖板101的顶部固定连接有放置台102，盖板101的顶部固定连接有检测仪器本体103，检测仪器本体103与放置台102的位置相适配，底座1的底部内壁固定连接有两个固定杆106，两个固定杆106的顶部均开设有活动槽，活动槽内活动连接有活动杆105，两个活动杆105的顶端固定连接于盖板101的顶部内壁，底座1上安装有升降机构，放置台102上安装有挤压居中机构；借由上述结构，通过固定杆106的设置，实现了对盖板101进行限位，进而提高了盖板101在移动过程中的稳定性。

进一步的，升降机构包括转动连接于底座1底部内壁的两个转动杆2，转动杆2的顶端开设有螺纹槽，螺纹槽内螺接有螺纹杆201，两个螺纹杆201的顶端固定连接于盖板101的顶部内壁，两个转动杆2上均固定连接传动轮205，两个传动轮205上张紧套接有传动带206，其中一个转动杆2上键连接有转动齿轮202，转动齿轮202上安装有驱动单元；借由上述结构，通过传动轮 205和传动带206的设置，实现了两个转动杆2能够同步进行转动。

进一步的，驱动单元包括啮合于转动齿轮202上的螺旋齿轮203，螺旋齿轮203的一端固定连接有驱动杆204，底座1的一侧内壁开设有转动孔，驱动杆204的一端贯穿转动孔并固定连接有旋转钮；借由上述结构，通过螺旋齿轮 203的设置，实现了便于转动转动杆2。

进一步的，底座1的两侧均固定连接有限位柱104，盖板101的两侧内壁均开设有条形孔，两个限位柱104分别位于两个条形孔内；借由上述结构，通过限位柱104的设置，实现了对盖板101上升的高度进行限制，避免盖板101 继续上升后无法使用。

进一步的，挤压居中机构包括转动连接于放置台102底部内壁的转动柱 3，转动柱3上键连接有主齿轮301，主齿轮301上啮合有齿条302，齿条302 的一端固定连接有拉杆303，放置台102的一侧内壁开设有滑动孔，拉杆303 的一端贯穿滑动孔，转动柱3的顶端固定连接有摆动杆304，摆动杆304上安装有滑动复位单元；借由上述结构，通过摆动杆304的设置，实现了带动滑动复位单元相互靠近。

进一步的，放置台102的另一侧内壁开设有导向槽，齿条302的另一端延伸至导向槽内；借由上述结构，通过导向槽的设置，实现了对齿条302进行导向限位。

进一步的，滑动复位单元包括转动连接于摆动杆304两端的连接杆404，连接杆404的一端转动连接有U形块403，U形块403的一侧固定连接有U形推杆4，放置台102的两侧均开设有圆孔，两个U形推杆4的一端贯穿圆孔并固定连接有挤压板401，U形推杆4上套接有复位弹簧402，复位弹簧402的两端分别与U形块403和放置台102固定连接；借由上述结构，通过形杆4的设置，实现了更好的将需要检测的半导体进行居中。

工作原理：转动驱动杆204带动螺旋齿轮203转动，螺旋齿轮203转动带动转动齿轮202和其中一个转动杆2转动，其中一个转动杆2转动通过传动轮205和传动带206带动另一个转动杆2转动，两个转动杆2同步转动带动螺纹杆201向上或向下移动，两个螺纹杆201带动盖板101、放置台102和检测仪器本体103进行升降，实现了通过螺接机构对装置进行调高或调低，进而提高了装置在升高或降低过程中的稳定性。

向外拉动拉杆303带动齿条302进行移动，齿条302移动带动主齿轮301 和转动柱3进行转动，转动柱3转动带动摆动杆304进行摆动，摆动杆304通过连接杆404带动U形块403和U形推杆4移动，U形块403移动带动复位弹簧402移动并发生弹性形变，两个U形推杆4移动带动两个挤压板401相互靠近将需要检测的半导体进行居中，然后松开拉杆303，使得复位弹簧402带动两个挤压板401进行复位，实现了便于将需要检测的半导体快速居中，进而快速对半导体进行检测。

上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (7)

1.一种半导体光学检测设备，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部活动套接有盖板(101)，盖板(101)的顶部固定连接有放置台(102)，盖板(101)的顶部固定连接有检测仪器本体(103)，检测仪器本体(103)与放置台(102)的位置相适配，底座(1)的底部内壁固定连接有两个固定杆(106)，两个固定杆(106)的顶部均开设有活动槽，活动槽内活动连接有活动杆(105)，两个活动杆(105)的顶端固定连接于盖板(101)的顶部内壁，底座(1)上安装有升降机构，放置台(102)上安装有挤压居中机构。

2.根据权利要求1所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于：所述升降机构包括转动连接于底座(1)底部内壁的两个转动杆(2)，转动杆(2)的顶端开设有螺纹槽，螺纹槽内螺接有螺纹杆(201)，两个螺纹杆(201)的顶端固定连接于盖板(101)的顶部内壁，两个转动杆(2)上均固定连接传动轮(205)，两个传动轮(205)上张紧套接有传动带(206)，其中一个转动杆(2)上键连接有转动齿轮(202)，转动齿轮(202)上安装有驱动单元。

3.根据权利要求2所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于：所述驱动单元包括啮合于转动齿轮(202)上的螺旋齿轮(203)，螺旋齿轮(203)的一端固定连接有驱动杆(204)，底座(1)的一侧内壁开设有转动孔，驱动杆(204)的一端贯穿转动孔并固定连接有旋转钮。

4.根据权利要求2所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于：所述底座(1)的两侧均固定连接有限位柱(104)，盖板(101)的两侧内壁均开设有条形孔，两个限位柱(104)分别位于两个条形孔内。

5.根据权利要求4所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于：所述挤压居中机构包括转动连接于放置台(102)底部内壁的转动柱(3)，转动柱(3)上键连接有主齿轮(301)，主齿轮(301)上啮合有齿条(302)，齿条(302)的一端固定连接有拉杆(303)，放置台(102)的一侧内壁开设有滑动孔，拉杆(303)的一端贯穿滑动孔，转动柱(3)的顶端固定连接有摆动杆(304)，摆动杆(304)上安装有滑动复位单元。

6.根据权利要求5所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于：所述放置台(102)的另一侧内壁开设有导向槽，齿条(302)的另一端延伸至导向槽内。

7.根据权利要求5所述的一种半导体光学检测设备，其特征在于：所述滑动复位单元包括转动连接于摆动杆(304)两端的连接杆(404)，连接杆(404)的一端转动连接有U形块(403)，U形块(403)的一侧固定连接有U形推杆(4)，放置台(102)的两侧均开设有圆孔，两个U形推杆(4)的一端贯穿圆孔并固定连接有挤压板(401)，U形推杆(4)上套接有复位弹簧(402)，复位弹簧(402)的两端分别与U形块(403)和放置台(102)固定连接。

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