CN220933006U - 翻盖摇杆平行下压测试座 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了翻盖摇杆平行下压测试座，包括下压组件，所述下压组件包括两个推板、两个滑槽、四个限位柱、两个摇杆、两个下拉柱、把手、上盖、两个定位孔、压块、卡扣、四个弹簧和两个凹槽；两个所述下拉柱对称固定连接于两个所述摇杆的相邻面。本实用新型通过把手带动摇杆，摇杆通过限位柱转动，同时摇杆通过下拉柱带动上盖转动，压块靠近芯片，进而当压块接近芯片时，通过下拉柱和定位孔可以使上盖垂直下压，上盖通过压块对芯片施加压力，通过弹簧可以避免压块压坏芯片，同时在弹簧的推动下，压块压紧芯片，进而可以保证芯片测试时的稳定性，而摇杆通过前后拉动的方式带动下拉柱，使用时更省力。

Description

翻盖摇杆平行下压测试座

技术领域

本实用新型涉及一种测试座，具体为翻盖摇杆平行下压测试座，属于测试治具技术领域。

背景技术

测试座是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备，主要用于检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点，ICT测试治具可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高，对每种单板需制作专用的针床。

目前标准的翻盖下压测试座，其上盖组装有弹性压块，当上盖盖合后，弹性压块回缩，通过压块压紧芯片即可进行测试，然而，现有的翻盖下压测试座在使用时，当测试芯片测试点多于200PIN后，上盖难以扣合，而且上盖扣合时，弹性压块绕着旋转轴和上盖一起下压，导致压块靠近旋转轴一端会先接触芯片，芯片会存在晃动，降低了芯片测试时的稳定性，为此，提出翻盖摇杆平行下压测试座。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供翻盖摇杆平行下压测试座，以解决或缓解现有技术中存在的技术问题，至少提供一种有益的选择。

本实用新型实施例的技术方案是这样实现的：翻盖摇杆平行下压测试座，包括下压组件，所述下压组件包括两个推板、两个滑槽、四个限位柱、两个摇杆、两个下拉柱、把手、上盖、两个定位孔、压块、卡扣、四个弹簧和两个凹槽；

两个所述下拉柱对称固定连接于两个所述摇杆的相邻面，两个所述滑槽对称开设于所述推板的内部，两个所述限位柱滑动连接于两个所述滑槽的内侧壁，所述摇杆的底端转动连接于位于后方的一个所述限位柱的外侧壁，两个所述定位孔对称开设于所述上盖的两侧中心，四个所述弹簧的底端对称固定连接于所述压块的上表面，所述卡扣安装于所述上盖的前表面，所述把手的两端转动连接于两个所述摇杆的相邻面，两个所述凹槽对称开设于两个所述推板的相远离面。

进一步优选的，所述压块滑动连接于所述上盖的内侧壁，所述弹簧的顶端固定连接于所述上盖的内顶壁。

进一步优选的，所述下拉柱转动连接于所述定位孔的内侧壁。

进一步优选的，所述凹槽的位置与位于后方的一个所述滑槽的位置相对应，所述摇杆的底端位于所述凹槽的内部。

进一步优选的，所述推板的下表面对称开设有两个避让槽。

进一步优选的，所述上盖的下表面安装有限位组件，所述限位组件包括底框、卡座、两个限位轴和转动座；

所述上盖的下表面贴合于所述底框的上表面，所述卡座和转动座通过两个所述限位轴嵌接于所述卡座的上表面前部和上表面后部，所述避让槽的位置与所述限位轴的位置相对应。

进一步优选的，所述上盖通过所述转动座与所述底框转动连接，两个所述推板的相邻面对称滑动连接于所述底框的两侧。

进一步优选的，四个所述限位柱对称固定连接于所述底框的两侧，所述卡扣与所述卡座卡接。

本实用新型实施例由于采用以上技术方案，其具有以下优点：本实用新型通过把手带动摇杆，摇杆通过限位柱转动，同时摇杆通过下拉柱带动上盖转动，上盖转动时带动压块，随着上盖的转动，压块靠近芯片，由于定位孔位于上盖的中心位置，进而当压块接近芯片时，通过下拉柱和定位孔可以使上盖垂直下压，上盖通过压块对芯片施加压力，通过弹簧可以避免压块压坏芯片，同时在弹簧的推动下，压块压紧芯片，进而可以保证芯片测试时的稳定性，而摇杆通过前后拉动的方式带动下拉柱，使用时更省力。

上述概述仅仅是为了说明书的目的，并不意图以任何方式进行限制。除上述描述的示意性的方面、实施方式和特征之外，通过参考附图和以下的详细描述，本实用新型进一步的方面、实施方式和特征将会是容易明白的。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的结构图；

图2为本实用新型的限位组件结构图；

图3为本实用新型的推板结构图；

图4为本实用新型的压块结构图；

图5为本实用新型的下压组件结构图。

附图标记：101、下压组件；11、推板；12、滑槽；13、限位柱；14、摇杆；15、下拉柱；16、把手；17、上盖；18、定位孔；21、压块；22、卡扣；23、弹簧；24、避让槽；25、凹槽；301、限位组件；31、底框；32、卡座；33、限位轴；34、转动座。

具体实施方式

在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。

下面结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明。

如图1-5所示，本实用新型实施例提供了翻盖摇杆平行下压测试座，包括下压组件101，下压组件101包括两个推板11、两个滑槽12、四个限位柱13、两个摇杆14、两个下拉柱15、把手16、上盖17、两个定位孔18、压块21、卡扣22、四个弹簧23和两个凹槽25；

两个下拉柱15对称固定连接于两个摇杆14的相邻面，两个滑槽12对称开设于推板11的内部，两个限位柱13滑动连接于两个滑槽12的内侧壁，摇杆14的底端转动连接于位于后方的一个限位柱13的外侧壁，两个定位孔18对称开设于上盖17的两侧中心，四个弹簧23的底端对称固定连接于压块21的上表面，卡扣22安装于上盖17的前表面，把手16的两端转动连接于两个摇杆14的相邻面，两个凹槽25对称开设于两个推板11的相远离面。

在一个实施例中，压块21滑动连接于上盖17的内侧壁，弹簧23的顶端固定连接于上盖17的内顶壁，进而当上盖17翻转对芯片进行压紧时，压块21受到芯片的反向推力，在弹簧23的推动下，可以使压块21压紧芯片。

在一个实施例中，下拉柱15转动连接于定位孔18的内侧壁，凹槽25的位置与位于后方的一个滑槽12的位置相对应，摇杆14的底端位于凹槽25的内部，进而当拉动把手16时，把手16带动两个摇杆14，摇杆14通过下拉柱15带动上盖17转动，进而可以实现上盖17的打开和闭合。

在一个实施例中，上盖17的下表面安装有限位组件301，限位组件301包括底框31、卡座32、两个限位轴33和转动座34；

上盖17的下表面贴合于底框31的上表面，卡座32和转动座34通过两个限位轴33嵌接于卡座32的上表面前部和上表面后部，推板11的下表面对称开设有两个避让槽24，避让槽24的位置与限位轴33的位置相对应，当推板11移动时，通过避让槽24对限位轴33进行避让，不会影响推板11的移动。

在一个实施例中，上盖17通过转动座34与底框31转动连接，两个推板11的相邻面对称滑动连接于底框31的两侧，四个限位柱13对称固定连接于底框31的两侧，卡扣22与卡座32卡接，当通过把手16拉动摇杆14时，摇杆14通过限位柱13转动，同时摇杆14通过下拉柱15带动上盖17与底框31贴合，由于定位孔18位于上盖17的中心位置，进而当压块21贴合芯片时，通过下拉柱15和定位孔18可以使上盖17垂直下压，进而保证了芯片测试时的稳定性。

本实用新型在工作时：向前方拉动把手16，把手16带动摇杆14，摇杆14通过限位柱13转动，摇杆14在转动时，摇杆14的底部推动推板11沿着限位柱13滑动，同时摇杆14通过下拉柱15带动上盖17，上盖17通过转动座34转动，上盖17转动时带动压块21，随着上盖17的转动，压块21靠近芯片，由于定位孔18位于上盖17的中心位置，进而当压块21接近芯片时，通过下拉柱15和定位孔18可以使上盖17垂直下压，上盖17通过压块21对芯片施加向下的压力，由于芯片的位置固定，因此芯片对压块21施加反向力，弹簧23受力压缩，此时在弹簧23的推动下，压块21压紧芯片，进而可以保证芯片的测试时的稳定性，通过卡座32与卡扣22的配合，可以使上盖17与底框31保持贴合。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到其各种变化或替换，这些都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (8)

1.翻盖摇杆平行下压测试座，包括下压组件（101），其特征在于：所述下压组件（101）包括两个推板（11）、两个滑槽（12）、四个限位柱（13）、两个摇杆（14）、两个下拉柱（15）、把手（16）、上盖（17）、两个定位孔（18）、压块（21）、卡扣（22）、四个弹簧（23）和两个凹槽（25）；

两个所述下拉柱（15）对称固定连接于两个所述摇杆（14）的相邻面，两个所述滑槽（12）对称开设于所述推板（11）的内部，两个所述限位柱（13）滑动连接于两个所述滑槽（12）的内侧壁，所述摇杆（14）的底端转动连接于位于后方的一个所述限位柱（13）的外侧壁，两个所述定位孔（18）对称开设于所述上盖（17）的两侧中心，四个所述弹簧（23）的底端对称固定连接于所述压块（21）的上表面，所述卡扣（22）安装于所述上盖（17）的前表面，所述把手（16）的两端转动连接于两个所述摇杆（14）的相邻面，两个所述凹槽（25）对称开设于两个所述推板（11）的相远离面。

2.根据权利要求1所述的翻盖摇杆平行下压测试座，其特征在于：所述压块（21）滑动连接于所述上盖（17）的内侧壁，所述弹簧（23）的顶端固定连接于所述上盖（17）的内顶壁。

3.根据权利要求1所述的翻盖摇杆平行下压测试座，其特征在于：所述下拉柱（15）转动连接于所述定位孔（18）的内侧壁。

4.根据权利要求1所述的翻盖摇杆平行下压测试座，其特征在于：所述凹槽（25）的位置与位于后方的一个所述滑槽（12）的位置相对应，所述摇杆（14）的底端位于所述凹槽（25）的内部。

5.根据权利要求1所述的翻盖摇杆平行下压测试座，其特征在于：所述推板（11）的下表面对称开设有两个避让槽（24）。

6.根据权利要求5所述的翻盖摇杆平行下压测试座，其特征在于：所述上盖（17）的下表面安装有限位组件（301），所述限位组件（301）包括底框（31）、卡座（32）、两个限位轴（33）和转动座（34）；

所述上盖（17）的下表面贴合于所述底框（31）的上表面，所述卡座（32）和转动座（34）通过两个所述限位轴（33）嵌接于所述卡座（32）的上表面前部和上表面后部，所述避让槽（24）的位置与所述限位轴（33）的位置相对应。

7.根据权利要求6所述的翻盖摇杆平行下压测试座，其特征在于：所述上盖（17）通过所述转动座（34）与所述底框（31）转动连接，两个所述推板（11）的相邻面对称滑动连接于所述底框（31）的两侧。

8.根据权利要求7所述的翻盖摇杆平行下压测试座，其特征在于：四个所述限位柱（13）对称固定连接于所述底框（31）的两侧，所述卡扣（22）与所述卡座（32）卡接。