CN218298300U - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种测试装置，包括箱体、设于箱体上侧的导电组件和测试用电路板、托盘、直线导向机构及下压组件，托盘设于箱体上，用于放置被测集成电路；导电组件设于托盘的下侧，用于将被测集成电路与测试用电路板电性连接；下压组件包括安装板、压块及下压件，安装板通过直线导向机构安装在箱体上，使下压组件可以沿直线导向机构在打开取放位置和闭合测试位置之间来回平移，压块可上下浮动地安装在安装板的下侧，通过旋转下压件可以在闭合测试位置下压压块使压块压紧被测集成电路或者松开压块使压块回复到初始位置。本实用新型能够提高测试效率和准确率，并使得测试操作更加方便。

Description

测试装置

技术领域

本实用新型涉及电子测试装置领域，尤其涉及一种用于芯片及电子器件的测试装置。

背景技术

目前市场上在芯片测试中，测试装置的测试座为翻盖下压结构，工作效率低，并且下压过程中不能完全保证平衡，导致误测率高，另外，测试装置大多采用芯片单体测试，导致工作效率更加低下。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种测试装置，旨在提高测试效率和准确率，并使得测试操作更加方便。

为实现上述目的，本实用新型提供一种测试装置，所述测试装置包括箱体、设于所述箱体上侧的导电组件和测试用电路板、托盘、直线导向机构及下压组件，其中：

所述托盘设于所述箱体上，用于放置被测集成电路；

所述导电组件设于所述托盘的下侧，用于将所述被测集成电路与所述测试用电路板电性连接；

所述下压组件包括安装板、压块及下压件，所述安装板通过所述直线导向机构安装在所述箱体上，使所述下压组件可以沿所述直线导向机构在打开取放位置和闭合测试位置之间来回平移，在所述打开取放位置时所述下压组件位于所述托盘的一侧以便于取出被测集成电路，在所述闭合测试位置时所述下压组件位于所述托盘正上方，所述压块可上下浮动地安装在所述安装板的下侧，通过旋转所述下压件可以在所述闭合测试位置下压所述压块使所述压块压紧所述被测集成电路或者松开所述压块使所述压块回复到初始位置。

优选地，所述直线导向机构为直线导轨副，所述直线导轨副包括直线导轨和设置在所述直线导轨上并可沿所述直线导轨滑动的滑块，所述直线导轨固定在所述箱体上，所述滑块固定在所述安装板的下侧。

优选地，所述直线导轨副的数量为两个，两个直线导轨副分别位于所述托盘的相对两侧。

优选地，所述下压件包括压杆、枢接座及连接轴，所述压杆的一端形成有凸轮部，所述枢接座固定在所述安装板，所述凸轮部通过连接轴可转动地安装在所述枢接座上，所述安装板对应所述凸轮部设有供所述凸轮部穿过的开口，通过旋转所述压杆至第一位置时，所述凸轮部下压所述压块使所述压块压紧所述被测集成电路，通过旋转所述压杆至第二位置时，所述凸轮部松开所述压块使所述压块回复到初始位置。

优选地，所述压杆、枢接座及连接轴的数量均为两个，每一个压杆的凸轮部通过一个连接轴可转动地安装在对应的枢接座上，所述下压件还包括操作杆，所述操作杆的两端分别与两个压杆的另一端连接，通过操作所述操作杆同时带动两个压杆旋转。

优选地，所述压块上对应所述凸轮部设有滚轮，所述滚轮可转动地安装在所述压块上，通过旋转所述压杆至第一位置时，所述凸轮部抵压的所述滚轮上。

优选地，所述托盘上设有多个收容部以用于放置多个被测集成电路，所述压块上对应每一个收容部分别设有一个压头，所述导电组件对应每一个收容部设有一组导电体。

优选地，所述直线导向机构的两端分别设在第一定位元件和第二定位元件，通过所述第一定位元件将所述下压组件定位在所述打开取放位置，并通过所述第二定位元件将所述下压组件定位在所述闭合测试位置。

优选地，所述安装板和压块之间设有浮动导向结构和定位结构，通过所述浮动导向结构和定位结构将所述压块可上下浮动地安装在所述所述安装板的下侧。

优选地，所述浮动导向结构包括导向柱、导向孔及压缩弹簧，所述导向柱和导向孔两者其中之一设置在所述安装板上，所述导向柱和导向孔两者其中之另一设置在所述压块上，所述压缩弹簧套设在所述导向柱上并压缩在所述安装板和压块之间，所述定位结构包括定位柱和定位孔，所述定位柱和定位孔两者其中之一设置在所述安装板上，所述定位柱和定位孔两者其中之另一设置在所述压块上。

优选地，所述压块的下侧设有定位块，所述箱体或导电组件上对应设有定位孔，所述下压组件平移至所述闭合测试位置，通过所述定位块和定位孔对所述压块和被测集成电路进行对位。

本实用新型的所述测试装置中，直线导向机构能够保证下压组件的直线平移方向，待下压组件平移至托盘上方的闭合测试位置时，通过旋转所述下压件可以在所述闭合测试位置下压所述压块使所述压块压紧所述被测集成电路可以实现对压块的垂直下压，相对于现有压块的旋转下压方式，下压过程中能够更加地平衡，可以减少误测率，从而提高测试的准确率，并且下压和松开的过程操作都比较方便，从而提高测试效率。

附图说明

图1为本实用新型测试装置一较佳实施例的组装示意图，图中一并示出了被测集成电路。

图2为图1所示测试装置的部分分解图。

图3为图2所示测试装置的下压组件的部分分解图。

图4为图3所示下压组件由另一角度所示的部分分解图。

图5为图2所示测试装置去掉部分部件后的进一步分解图。

图6为图1所示测试装置中，下压组件由打开取放位置平移至闭合测试位置，并且下压组件处于下压状态的结构示意图。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1至图6所示为本实用新型测试装置的一较佳实施例，在本实施例中，测试装置包括箱体1、设于所述箱体1内的导电组件2和测试用电路板3、托盘4、直线导向机构5及下压组件6，其中：

所述托盘4设于所述箱体1上，用于放置被测集成电路7；

所述导电组件2设于所述托盘4的下侧，用于将所述被测集成电路7与所述测试用电路板3电性连接；

所述下压组件6包括安装板61、压块62及下压件63，所述安装板61通过所述直线导向机构5安装在所述箱体1上，使所述下压组件6可以沿所述直线导向机构5在打开取放位置(如图1所示)和闭合测试位置(如图6所示)之间来回平移，在所述打开取放位置时所述下压组件6位于所述托盘4的一侧以便于取出被测集成电路7，在所述闭合测试位置时所述下压组件6位于所述托盘4正上方，所述压块62可上下浮动地安装在所述安装板61的下侧，通过旋转所述下压件63可以在所述闭合测试位置下压所述压块62使所述压块62压紧所述被测集成电路7或者松开所述压块62使所述压块62回复到初始位置。

所述测试装置中，直线导向机构5能够保证下压组件6的直线平移方向，待下压组件6平移至托盘4上方的闭合测试位置时，通过旋转所述下压件63可以在所述闭合测试位置下压所述压块62使所述压块62压紧所述被测集成电路7可以实现对压块62的垂直下压，相对于现有压块的旋转下压方式，下压过程中能够更加地平衡，可以减少误测率，从而提高测试的准确率，并且下压和松开的过程操作都比较方便，从而提高测试效率。

在本实施例中，所述直线导向机构5为直线导轨副，所述直线导轨副包括直线导轨51和设置在所述直线导轨51上并可沿所述直线导轨51滑动的滑块52，所述直线导轨51固定在所述箱体1上，所述滑块52固定在所述安装板61的下侧。在其实实施例中，直线导向机构还可以是采用滚珠丝杆，并通过电机驱动，或者直线导向机构为直线导轨副和滚珠丝杆的组合。

在本实施例中，所述直线导轨副的数量为两个，两个直线导轨副分别位于所述托盘4的相对两侧，这样，可以使下压组件6的平移更加地平稳。

所述下压件63包括压杆631、枢接座632及连接轴633，所述压杆631的一端形成有凸轮部6311，所述枢接座632固定在所述安装板61，所述凸轮部6311通过连接轴633可转动地安装在所述枢接座632上，所述安装板61对应所述凸轮部6311设有供所述凸轮部6311穿过的开口611，通过旋转所述压杆631至第一位置(如图6所示)时，所述凸轮部6311下压所述压块62使所述压块62压紧所述被测集成电路7，通过旋转所述压杆631至第二位置(如图1所示)时，所述凸轮部6311松开所述压块62使所述压块62回复到初始位置。

在本实施例中，所述压杆631、枢接座632及连接轴633的数量均为两个，每一个压杆631的凸轮部6311通过一个连接轴633可转动地安装在对应的枢接座632上，所述下压件63还包括操作杆634，所述操作杆634的两端分别与两个压杆631的另一端连接，通过操作所述操作杆634同时带动两个压杆631旋转。操作杆634不仅用于旋转压杆631转动，还可以通过水平推拉的方式带动整个下压组件6在直线导向机构5上回来平移，即本实施例中，通过手动方式来实现下压组件6的平移。在实施例中，还可以是压杆631连接旋转驱动机构来实施下压组件6自动平移。

所述压块62上对应所述凸轮部6311设有滚轮621，所述滚轮621可转动地安装在所述压块62上，通过旋转所述压杆631至第一位置时，所述凸轮部6311抵压的所述滚轮621上。通过设置滚轮621，使凸轮部6311在下压松开压块62时为与滚轮621之间的滚动接触，这样使得下压或松开过程更加地平稳。

在本实施例中，所述托盘4上设有多个收容部41以用于放置多个被测集成电路7，所述压块62上对应每一个收容部41分别设有一个压头622，所述导电组件2对应每一个收容部41设有一组导电体21，通过导电体21来将被测集成电路7和测试用电路板3电性连接。所述多个收容部41呈阵列排布。这样，一次可以放置多个被测集成电路7进行测试，大大提高测试效率。另外，托盘4可以自箱体1上取下，采用多个托盘4，其中一个托盘4放置多个被测集成电路7在箱体1上进行测试，其余的托盘4可进行装料，缩短测试等待时间，进一步提高测试效率。

在本实施例中，所述直线导向机构5的两端分别设在第一定位元件51和第二定位元件52，通过所述第一定位元件51将所述下压组件6定位在所述打开取放位置(如图1所示)，并通过所述第二定位元件52将所述下压组件6定位在所述闭合测试位置(如图6所示)。

在本实施例中，所述安装板61和压块62之间设有浮动导向结构和定位结构，通过所述浮动导向结构和定位结构将所述压块62可上下浮动地安装在所述所述安装板61的下侧。

所述浮动导向结构包括导向柱81、导向孔82及压缩弹簧(图中未示出)，所述导向柱81和导向孔82两者其中之一设置在所述安装板61上，所述导向柱81和导向孔82两者其中之另一设置在所述压块62上，所述压缩弹簧套设在所述导向柱81上并压缩在所述安装板61和压块62之间，所述定位结构包括定位柱83和定位孔84，所述定位柱83和定位孔84两者其中之一设置在所述安装板61上，所述定位柱83和定位孔84两者其中之另一设置在所述压块62上。

所述压块62的下侧设有定位块85，所述箱体1或导电组件2上对应设有定位孔84，所述下压组件6平移至所述闭合测试位置，通过所述定位块85和定位孔84对所述压块62和被测集成电路7进行对位。在本实施例中，定位孔84设置在箱体1上。

本实用新型并不局限于以上实施方式，在上述实施方式公开的技术内容下，还可以进行各种变化。凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (11)

1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括箱体、设于所述箱体上侧的导电组件和测试用电路板、托盘、直线导向机构及下压组件，其中：

所述托盘设于所述箱体上，用于放置被测集成电路；

所述导电组件设于所述托盘的下侧，用于将所述被测集成电路与所述测试用电路板电性连接；

所述下压组件包括安装板、压块及下压件，所述安装板通过所述直线导向机构安装在所述箱体上，使所述下压组件可以沿所述直线导向机构在打开取放位置和闭合测试位置之间来回平移，在所述打开取放位置时所述下压组件位于所述托盘的一侧以便于取出被测集成电路，在所述闭合测试位置时所述下压组件位于所述托盘正上方，所述压块可上下浮动地安装在所述安装板的下侧，通过旋转所述下压件可以在所述闭合测试位置下压所述压块使所述压块压紧所述被测集成电路或者松开所述压块使所述压块回复到初始位置。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述直线导向机构为直线导轨副，所述直线导轨副包括直线导轨和设置在所述直线导轨上并可沿所述直线导轨滑动的滑块，所述直线导轨固定在所述箱体上，所述滑块固定在所述安装板的下侧。

3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述直线导轨副的数量为两个，两个直线导轨副分别位于所述托盘的相对两侧。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述下压件包括压杆、枢接座及连接轴，所述压杆的一端形成有凸轮部，所述枢接座固定在所述安装板，所述凸轮部通过连接轴可转动地安装在所述枢接座上，所述安装板对应所述凸轮部设有供所述凸轮部穿过的开口，通过旋转所述压杆至第一位置时，所述凸轮部下压所述压块使所述压块压紧所述被测集成电路，通过旋转所述压杆至第二位置时，所述凸轮部松开所述压块使所述压块回复到初始位置。

5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述压杆、枢接座及连接轴的数量均为两个，每一个压杆的凸轮部通过一个连接轴可转动地安装在对应的枢接座上，所述下压件还包括操作杆，所述操作杆的两端分别与两个压杆的另一端连接，通过操作所述操作杆同时带动两个压杆旋转。

6.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述压块上对应所述凸轮部设有滚轮，所述滚轮可转动地安装在所述压块上，通过旋转所述压杆至第一位置时，所述凸轮部抵压的所述滚轮上。

7.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述托盘上设有多个收容部以用于放置多个被测集成电路，所述压块上对应每一个收容部分别设有一个压头，所述导电组件对应每一个收容部设有一组导电体。

8.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述直线导向机构的两端分别设在第一定位元件和第二定位元件，通过所述第一定位元件将所述下压组件定位在所述打开取放位置，并通过所述第二定位元件将所述下压组件定位在所述闭合测试位置。

9.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述安装板和压块之间设有浮动导向结构和定位结构，通过所述浮动导向结构和定位结构将所述压块可上下浮动地安装在所述安装板的下侧。

10.如权利要求9所述的测试装置，其特征在于，所述浮动导向结构包括导向柱、导向孔及压缩弹簧，所述导向柱和导向孔两者其中之一设置在所述安装板上，所述导向柱和导向孔两者其中之另一设置在所述压块上，所述压缩弹簧套设在所述导向柱上并压缩在所述安装板和压块之间，所述定位结构包括定位柱和定位孔，所述定位柱和定位孔两者其中之一设置在所述安装板上，所述定位柱和定位孔两者其中之另一设置在所述压块上。

11.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述压块的下侧设有定位块，所述箱体或导电组件上对应设有定位孔，所述下压组件平移至所述闭合测试位置，通过所述定位块和定位孔对所述压块和被测集成电路进行对位。

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