CN212301640U - 探针倒挂式测试机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电子设备测试技术领域，具体公开一种探针倒挂式测试机构，包括：固定定位块，所述固定定位块设有用于放置待测零件的产品槽，所述产品槽的槽底设有若干上下贯通的探针孔；探针组件，所述探针组件包括针载板和固定于所述针载板上的若干金属探针；所述金属探针位于所述探针孔中并可沿所述探针孔上下滑动；驱动装置，所述驱动装置的驱动端与所述探针组件连接，用于驱动所述探针组件往上运动以使所述金属探针往上顶紧所述待测零件。本实用新型提供一种探针倒挂式测试机构，能解决传统探针式测试机构的金属探针容易出现弯折的问题。

Description

探针倒挂式测试机构

技术领域

本实用新型涉及电子设备测试技术领域，尤其涉及一种探针倒挂式测试机构。

背景技术

参见图1，传统的测试设备都包括固定设置的探针组件1、用于固定待测零件2的浮动定位块3以及用于驱动所述浮动定位块3上下运动的驱动装置4。

具体的测试步骤如下：

①将待测零件2固定于浮动定位块3的固定槽中；

②驱动装置4驱动浮动定位块3往下运动，使得待测零件2底部的测试触点与探针组件1接触；

③启动测试程序，进行测试。

在上述过程中，当待测零件2往下运动时，如果下降的距离过小，探针组件1无法实现与待测零件2的紧密接触，容易导致接触不良。为了防止接触不良，一般均会使待测零件2紧压探针组件1。探针组件1上的金属探针101属于裸露状态，经常承受较大的下压力，容易出现弯折。因此，目前的探针式测试机构上的探针组件1寿命较低，一般只能使用2万次左右。

综上，需要对现有的探针式测试机构进行改进，以解决其金属探针容易出现弯折的问题。

实用新型内容

本实用新型的一个目的在于，提供一种探针倒挂式测试机构，能解决传统探针式测试机构的金属探针容易出现弯折的问题。

为达以上目的，本实用新型提供一种探针倒挂式测试机构，包括：

固定定位块，所述固定定位块设有用于放置待测零件的产品槽，所述产品槽的槽底设有若干上下贯通的探针孔；

探针组件，所述探针组件包括位于所述固定定位块下方的针载板和固定于所述针载板上的若干金属探针；所述金属探针位于所述探针孔中并可沿所述探针孔上下滑动；

驱动装置，所述驱动装置的驱动端与所述探针组件连接，用于驱动所述探针组件往上运动以使所述金属探针往上顶紧所述待测零件。

优选的，还包括：

安装板，所述固定定位块相对所述安装板固定设置，所述安装板上设有安装槽，所述探针组件位于所述安装槽中，所述安装槽的槽底的中央位置设有可供所述驱动装置的驱动端通过的贯穿槽。

优选的，还包括：

复位弹簧，所述复位弹簧位于所述固定定位块的下方，用于驱动所述探针组件相对所述固定定位块往下运动。

优选的，还包括：

底板，所述底板位于所述针载板的下方并与所述针载板固接，所述底板的顶部设有容置盲槽，所述复位弹簧的下端插入所述容置盲槽中。

优选的，还包括：

调节螺栓，所述调节螺栓的一端与所述底板螺纹连接，另一端位于所述安装槽的槽底的边沿位置的上方。

优选的，还包括：

导柱，所述导柱的上端与所述固定定位块固接，下端与所述针载板上下滑动连接；

测试电路板，所述测试电路板位于所述针载板和底板之间，其中央位置设有与所述金属探针电连接的连接触点，边沿位置设有可供所述复位弹簧穿过的过簧孔。

优选的，还包括压件组件，所示压件组件包括：

定位板，所述定位板的一端与所述安装板固接，另一端与所述固定定位块固接，其设有横向滑槽；

压件滑块，所述压件滑块的一端位于所述横向滑槽中并与所述横向滑槽滑动连接；当所述压件滑块沿所述横向滑槽滑动至一极限位置时，其另一端位于所述待测零件的上方以阻挡所述待测零件往上运动；当所述压件滑块沿所述横向滑槽滑动至另一极限位置时，其另一端离开所述待测零件的上方以便所述待测零件往上运动；

压件弹簧，所述压件弹簧位于所述横向滑槽中，用于推动所述压件滑块以阻挡所述待测零件往上运动。

优选的，还包括压块组件，所述压块组件包括：

固定转轴，所述固定转轴位于所述定位板上；

压盖板，所述压盖板的一端与所述固定转轴转动连接，另一端可绕所述固定转轴转动至所述固定定位块的上方；

压板滑块，所述安装板设有纵向滑槽，所述压板滑块的一端位于所述纵向滑槽中并与所述纵向滑槽滑动连接；当所述压板滑块沿所述纵向滑槽滑动至一极限位置时，其另一端位于所述压盖板的上方以阻挡所述压盖板往上转动；当所述压板滑块沿所述纵向滑槽滑动至另一极限位置时，其另一端离开所述压盖板的上方以便所述压盖板往上转动；

压板弹簧，所述压板弹簧位于所述纵向滑槽中，用于推动所述压板滑块以阻挡所述压盖板往上转动。

优选的，所述压块组件还包括：

扭簧，所述扭簧套设于所述固定转轴上，用于驱动所述压盖板往远离所述固定定位块的方向转动。

优选的，所述压件滑块的顶部设有推动部，所述压盖板对应的位置设有供所述推动部通过的让位通槽。

本实用新型的有益效果在于：提供一种探针倒挂式测试机构，开始时，金属探针位于探针孔中，金属探针的顶部不伸入产品槽的槽底；将待测零件固定于产品槽中后，驱动装置驱动探针组件往上运动，金属探针沿探针孔往上滑动并顶紧待测零件底部的测试触点，以便进行后续的测试操作。可以理解的是，在金属探针的运动过程中，金属探针的外部被探针孔的孔壁保护，不容易发生弯折的情况，而且，由于探针孔与测试触点对齐，金属探针只能沿探针孔运动，故金属探针与测试触点的对齐率也大大提高。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为背景技术提供的现有探针式测试机构的结构示意图；

图2为实施例提供的探针倒挂式测试机构的顶部结构示意图；

图3为实施例提供的压件滑块和压板滑块的顶部结构示意图；

图4为实施例提供的探针倒挂式测试机构的底部结构示意图；

图5为实施例提供的固定定位块的顶部结构示意图；

图6为实施例提供的安装板的结构示意图；

图7为实施例提供的探针组件的结构示意图。

图中：

1、探针组件；101、金属探针；102、针载板；

2、待测零件；

3、浮动定位块；

4、驱动装置；

5、固定定位块；501、产品槽；502、探针孔；

6、安装板；601、安装槽；602、贯穿槽；603、纵向滑槽；

7、复位弹簧；

8、底板；

9、调节螺栓；

10、导柱；

11、测试电路板；

1201、定位板；1202、压件滑块；1203、压件弹簧；1204、推动部；

1301、固定转轴；1302、压盖板；1303、压板滑块；1304、压板弹簧；1305、扭簧；1306、斜面结构。

具体实施方式

为使得本实用新型的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而非全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。

此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本实用新型，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此特定的方位、以特定的方位构造进行操作，以此不能理解为本实用新型的限制。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

参见图2～图7，本实施例提供一种探针倒挂式测试机构，包括固定定位块5、探针组件1和驱动装置。所述固定定位块5设有用于放置待测零件2的产品槽501，所述产品槽501的槽底设有若干上下贯通的探针孔502。所述探针组件1包括位于固定定位块5下方的针载板102和固定于所述针载板102上的若干金属探针101；所述金属探针101位于所述探针孔502中并可沿所述探针孔502上下滑动。所述驱动装置的驱动端与所述探针组件1连接，用于驱动所述探针组件1往上运动以使所述金属探针101往上顶紧所述待测零件2。

可选的，所述驱动装置可以为气缸或者由电机和丝杠等组成的直线驱动装置等。

可选的，金属探针101为Pogo pin。具体地，Pogo pin是一种由针轴、弹簧、针管三个基本部件通过精密仪器铆压预压之后形成的弹簧式探针，其内部有一个精密的弹簧结构。

需要说明的是，探针孔502的位置与待测零件2底部的测试触点相对应。

开始时，金属探针101位于探针孔502中，金属探针101的顶部不伸入产品槽501的槽底；将待测零件2固定于产品槽501中后，驱动装置驱动探针组件1往上运动，金属探针101沿探针孔502往上滑动并顶紧待测零件2底部的测试触点，以便进行后续的测试操作。

可以理解的是，在金属探针101的运动过程中，金属探针101的外部被探针孔502的孔壁保护，不容易发生弯折的情况，而且，由于探针孔502与测试触点对齐，金属探针101只能沿探针孔502运动，故金属探针101与测试触点的对齐率也大大提高。

探针倒挂式测试机构还包括安装板6，所述固定定位块5相对所述安装板6固定设置，所述安装板6上设有安装槽601，所述探针组件1位于所述安装槽601中，所述安装槽601的槽底的中央位置设有可供所述驱动装置的驱动端通过的贯穿槽602。可选的，驱动装置固定于贯穿槽602的正下方。

可选的，安装板6上设有若干固定孔等，方便将固定板转移至各种测试设备的测试台面上，也可以方便实现驱动装置的壳体与安装板6的固接等。

进一步地，探针倒挂式测试机构还包括复位弹簧7，所述复位弹簧7位于所述固定定位块5的下方，用于驱动所述探针组件1相对所述固定定位块5往下运动。探针倒挂式测试机构还包括底板8，所述底板8位于所述针载板102的下方并与所述针载板102固接，所述底板8的顶部设有容置盲槽，所述复位弹簧7的下端插入所述容置盲槽中。

本实施例中，复位弹簧7主要用于实现探针组件1的自动下滑，使得金属探针101收纳于探针孔502中。在一些其它实施例中，即便没有复位弹簧7，也可以依靠探针组件1的重力实现金属探针101的自动下滑。可以理解的是，增设复位弹簧7可以减少对重力的依赖，减轻产品的质量。可以理解的是，复位弹簧7还可以起缓冲作用。

可选的，探针倒挂式测试机构还包括调节螺栓9，所述调节螺栓9的一端与所述底板8螺纹连接，另一端位于所述安装槽601的槽底的边沿位置的上方。

可以理解的是，拧动调节螺栓9就可以控制针载板102与安装槽601的槽底之间的距离。当金属探针101比较长，初始状态下其顶部就已经伸入产品槽501中时，可以正向拧动调节螺栓9，调节螺栓9相对针载板102往上运动，复位弹簧7可以推动针载板102往下运动，进而使得金属探针101的头部落入探针孔502中；反之，当金属探针101比较短，初始状态下其顶部距离产品槽501的槽底过远时，可以反向拧动调节螺栓9，针载板102相对调节螺栓9往上运动，进而使得金属探针101的头部靠近产品槽501的槽底。

本实施例中，探针倒挂式测试机构还包括导柱10和测试电路板11。所述导柱10的上端与所述固定定位块5固接，下端与所述针载板102上下滑动连接。所述测试电路板11位于所述针载板102和底板8之间，其中央位置设有与所述金属探针101电连接的连接触点，边沿位置设有可供所述复位弹簧7穿过的过簧孔。具体地，导柱10可以起导向作用，保证探针组件1的上下滑动保持流畅。

探针倒挂式测试机构还包括压件组件。所示压件组件包括定位板1201、压件滑块1202和压件弹簧1203。所述定位板1201的一端与所述安装板6固接，另一端与所述固定定位块5固接，其设有横向滑槽。所述压件滑块1202的一端位于所述横向滑槽中并与所述横向滑槽滑动连接；当所述压件滑块1202沿所述横向滑槽滑动至一极限位置时，其另一端位于所述待测零件2的上方以阻挡所述待测零件2往上运动；当所述压件滑块1202沿所述横向滑槽滑动至另一极限位置时，其另一端离开所述待测零件2的上方以便所述待测零件2往上运动。所述压件弹簧1203位于所述横向滑槽中，用于推动所述压件滑块1202以阻挡所述待测零件2往上运动。

可选的，所述固定定位块5固定于所述定位板1201的上方，所述复位弹簧7的顶部与定位板1201的底部相抵持。

具体地，开始时，将压件滑块1202滑动至所述另一极限位置，将待测零件2放入产品槽501中后，再将压件滑块1202滑动至所述一极限位置，这样就可以从竖直方向压紧待测零件2，避免待测零件2发生竖直方向位移。可以理解的是，水平方向的限位由的产品槽501的槽壁完成。

进一步地，探针倒挂式测试机构还包括压块组件。所述压块组件包括固定转轴1301、压盖板1302、压板滑块1303和压板弹簧1304。所述固定转轴1301位于所述定位板1201上。所述压盖板1302的一端与所述固定转轴1301转动连接，另一端可绕所述固定转轴1301转动至所述固定定位块5的上方。所述安装板6设有纵向滑槽603，所述压板滑块1303的一端位于所述纵向滑槽603中并与所述纵向滑槽603滑动连接；当所述压板滑块1303沿所述纵向滑槽603滑动至一极限位置时，其另一端位于所述压盖板1302的上方以阻挡所述压盖板1302往上转动；当所述压板滑块1303沿所述纵向滑槽603滑动至另一极限位置时，其另一端离开所述压盖板1302的上方以便所述压盖板1302往上转动。所述压板弹簧1304位于所述纵向滑槽603中，用于推动所述压板滑块1303以阻挡所述压盖板1302往上转动。

需要说明的是，压盖板1302可以压紧压件滑块1202，同时也可以压紧固定定位块5，为压件滑块1202和固定定位块5受到的驱动装置的冲击提供保护，避免驱动装置驱动探针组件1往上运动时所产生的冲击力过大导致装置损坏。

可选的，所述压板滑块1303的另一端的顶部设有朝压板滑块1303倾斜向下的斜面结构1306。在压板弹簧1304的驱动下，压板滑块1303一般均处于其另一极限位置处，若要将压盖板1302转动至压紧固定定位块5，则需要手动将压板滑块1303滑动至其一极限位置，然后，设置斜面结构1306后可以直接将压盖板1302压在压板滑块1303上，往下施力后，由于斜面结构1306的存在，压盖板1302可以使得压板滑块1303自动往后滑动，直至压盖板1302转动至与固定定位块5贴合后，压板滑块1303又会在压板弹簧1304的作用下自动往前滑，完成对压盖板1302的锁止操作。

优选的，所述压块组件还包括扭簧1305，所述扭簧1305套设于所述固定转轴1301上，用于驱动所述压盖板1302往远离所述固定定位块5的方向转动。具体地，当将压板滑块1303滑动至其另一极限位置时，扭簧1305就可以使压盖板1302自动弹起。

本实施例中，所述压件滑块1202的顶部设有推动部1204，所述压盖板1302对应的位置设有供所述推动部1204通过的让位通槽。

可以理解的是，一般状态下，在压件弹簧1203的作用下，压件滑块1202是滑动至待测零件2上方的，故需要取下待测零件2时，就需要手动拨动推动部1204以使得压件滑块1202往后滑动。让位通槽可以避免压件滑块1202与压板滑块1303产生干涉。

本实施例提供的探针倒挂式测试机构具备以下优点：

①使用本实施例提供的探针倒挂式测试机构后，能有效提升测试的稳定性，提高生产效率；减少耗材的更换频率，节约生产成本和维护成本；

②将原本市场直通率平均水平94％拉高到99.5％以上，探针组件的寿命由2万次提升到5万次；

③采用独特的倒挂式单侧浮动结构，4颗紧固螺丝把固定定位板5锁紧在定位板1201上，针载板102在导柱10的导向作用下实现上下精准运动，使金属探针101与待测零件2接触稳定性得到保障。探针组件1初始状态下金属探针101是不露出产品槽501内的，为待测零件2提供一个安全可靠的上下料环境；金属探针101的下浮脱离行程由调节螺栓9来控制，倒挂式浮动设计相对于传统的上悬式浮动设计有更大受力均匀稳定性，实现复位弹簧7的同步压缩和伸展，接触稳定性大大提高；另一方面，有着相对更加集中的受力(上下)稳定，也是本结构设计超高直通率的保证。同时稳定性的提高也变相的提高了金属探针的使用寿命，降低了生产成本，提高生产效率。待测零件在取放时的安全性是现有方案无法提供的，使待测零件在测试时得到更加有效的安全保障。

以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种探针倒挂式测试机构，其特征在于，包括：

固定定位块，所述固定定位块设有用于放置待测零件的产品槽，所述产品槽的槽底设有若干上下贯通的探针孔；

探针组件，所述探针组件包括位于所述固定定位块下方的针载板和固定于所述针载板上的若干金属探针；所述金属探针位于所述探针孔中并可沿所述探针孔上下滑动；

驱动装置，所述驱动装置的驱动端与所述探针组件连接，用于驱动所述探针组件往上运动以使所述金属探针往上顶紧所述待测零件。

2.根据权利要求1所述的探针倒挂式测试机构，其特征在于，还包括：

安装板，所述固定定位块相对所述安装板固定设置，所述安装板上设有安装槽，所述探针组件位于所述安装槽中，所述安装槽的槽底的中央位置设有可供所述驱动装置的驱动端通过的贯穿槽。

3.根据权利要求2所述的探针倒挂式测试机构，其特征在于，还包括：

复位弹簧，所述复位弹簧位于所述固定定位块的下方，用于驱动所述探针组件相对所述固定定位块往下运动。

4.根据权利要求3所述的探针倒挂式测试机构，其特征在于，还包括：

底板，所述底板位于所述针载板的下方并与所述针载板固接，所述底板的顶部设有容置盲槽，所述复位弹簧的下端插入所述容置盲槽中。

5.根据权利要求4所述的探针倒挂式测试机构，其特征在于，还包括：

调节螺栓，所述调节螺栓的一端与所述底板螺纹连接，另一端位于所述安装槽的槽底的边沿位置的上方。

6.根据权利要求4所述的探针倒挂式测试机构，其特征在于，还包括：

导柱，所述导柱的上端与所述固定定位块固接，下端与所述针载板上下滑动连接；

测试电路板，所述测试电路板位于所述针载板和底板之间，其中央位置设有与所述金属探针电连接的连接触点，边沿位置设有可供所述复位弹簧穿过的过簧孔。

7.根据权利要求2所述的探针倒挂式测试机构，其特征在于，还包括压件组件，所示压件组件包括：

定位板，所述定位板的一端与所述安装板固接，另一端与所述固定定位块固接，其设有横向滑槽；

压件滑块，所述压件滑块的一端位于所述横向滑槽中并与所述横向滑槽滑动连接；当所述压件滑块沿所述横向滑槽滑动至一极限位置时，其另一端位于所述待测零件的上方以阻挡所述待测零件往上运动；当所述压件滑块沿所述横向滑槽滑动至另一极限位置时，其另一端离开所述待测零件的上方以便所述待测零件往上运动；

压件弹簧，所述压件弹簧位于所述横向滑槽中，用于推动所述压件滑块以阻挡所述待测零件往上运动。

8.根据权利要求7所述的探针倒挂式测试机构，其特征在于，还包括压块组件，所述压块组件包括：

固定转轴，所述固定转轴位于所述定位板上；

压盖板，所述压盖板的一端与所述固定转轴转动连接，另一端可绕所述固定转轴转动至所述固定定位块的上方；

压板滑块，所述安装板设有纵向滑槽，所述压板滑块的一端位于所述纵向滑槽中并与所述纵向滑槽滑动连接；当所述压板滑块沿所述纵向滑槽滑动至一极限位置时，其另一端位于所述压盖板的上方以阻挡所述压盖板往上转动；当所述压板滑块沿所述纵向滑槽滑动至另一极限位置时，其另一端离开所述压盖板的上方以便所述压盖板往上转动；

压板弹簧，所述压板弹簧位于所述纵向滑槽中，用于推动所述压板滑块以阻挡所述压盖板往上转动。

9.根据权利要求8所述的探针倒挂式测试机构，其特征在于，所述压块组件还包括：

扭簧，所述扭簧套设于所述固定转轴上，用于驱动所述压盖板往远离所述固定定位块的方向转动。

10.根据权利要求8所述的探针倒挂式测试机构，其特征在于，所述压件滑块的顶部设有推动部，所述压盖板对应的位置设有供所述推动部通过的让位通槽。

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