CN220894359U - 一种半导体探针测试台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体探针测试台,涉及探针测试台技术领域;而本实用新型包括测试箱,测试箱的内部固定安装有支撑板,支撑板的上方固定设有固定圆盘,固定圆盘的底端固定安装有均匀分布的支撑杆,支撑杆的底端和支撑板的顶端固定安装,支撑板的中部转动贯穿有转动杆,转动杆贯穿固定圆盘,转动杆的底端和测试箱的内壁下表面转动安装,转动杆的底部固定安装有齿轮,齿轮的外侧啮合连接有半面齿轮,半面齿轮的中部固定安装有固定轴,转动杆的的顶部固定安装有固定环;本实用新型通过驱动转动杆进行转动,能够带动测试台进行转动,使得其他放置槽中的半导体能够旋转至工作人员容易观察的方向,提高了工作人员的使用体验。
Description
技术领域
本实用新型涉及探针测试台技术领域,具体为一种半导体探针测试台。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,如二极管就是采用半导体制作的器件,无论从科技或是经济发展的角度来看,半导体的重要性都是非常巨大的,大部分的电子产品,如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联,常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等,硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种,半导体片在生产完成后需要进行抽样测试;
现有技术中的半导体探针测试台使用时存在下述问题;
现有技术中的半导体探针测试台在使用时探针台需要人工进行旋转,导致难以使半导体旋转到使用者所需的朝向,操作不方便,影响了工作人员的使用体验;
针对上述问题,发明人提出一种半导体探针测试台用于解决上述问题。
实用新型内容
为了解决半导体探针测试台在使用时探针台需要人工进行旋转,导致难以使半导体旋转到使用者所需的朝向的问题;本实用新型的目的在于提供一种半导体探针测试台。
为解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案:一种半导体探针测试台,包括测试箱,所述测试箱的内部固定安装有支撑板,所述支撑板的上方固定设有固定圆盘,所述固定圆盘的底端固定安装有均匀分布的支撑杆,所述支撑杆的底端和支撑板的顶端固定安装,所述支撑板的中部转动贯穿有转动杆,所述转动杆贯穿固定圆盘,所述转动杆的底端和测试箱的内壁下表面转动安装,所述转动杆的底部固定安装有齿轮,所述齿轮的外侧啮合连接有半面齿轮,所述半面齿轮的中部固定安装有固定轴,所述转动杆的的顶部固定安装有固定环,所述固定环的外侧固定安装有均匀分布的连接板,所述连接板的数量为六个,多个所述连接板底端远离转动杆的一侧设置有固定杆,所述固定杆的底端设置有固定块,所述固定杆固定安装在连接板底端远离转动杆的一侧,所述固定块固定安装在固定杆的底端,所述固定圆盘的顶端固定安装有连接环,所述连接环的中部开设有第一滑槽,所述固定块活动卡设在第一滑槽中,多个所述连接板的顶端固定安装有连接杆,所述连接杆的顶端固定安装有旋转柱,所述旋转柱的顶部贯穿测试箱,所述旋转柱的顶端固定安装有测试台,所述测试台上开设有四个均匀分布的放置槽,所述测试箱的顶端一侧固定安装有固定箱,所述固定箱靠近测试台的一侧滑动设置有滑动箱,所述滑动箱底端靠近测试台的一侧固定设有探针。
优选地,所述固定箱的中部转动安装有螺杆,所述螺杆的外侧螺纹套设有移动板,所述移动板靠近探针的一侧固定安装有连接块,所述连接块和滑动箱固定安装,所述固定箱靠近滑动箱的一侧开设有移动槽,所述连接块贯穿移动槽,所述移动板远离连接块的一侧固定安装有对称分布的限位块,所述固定箱内壁靠近限位块的两侧开设有第二滑槽,所述限位块活动卡设在第二滑槽中。
优选地,所述测试箱的内壁下表面固定安装有第一电机,所述第一电机的输出端和固定轴同轴固定安装,所述固定箱的顶端固定安装有第二电机,所述第二电机的输出端和螺杆同轴固定安装,测试箱内壁靠近齿轮的一侧固定安装有防护板,所述固定轴转动贯穿防护板。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于:
1、通过驱动转动杆进行转动,能够带动测试台进行转动,使得其他放置槽中的半导体能够旋转至工作人员容易观察的方向,提高了工作人员的使用体验;
2、通过驱动螺杆进行转动,能够带动滑动箱和探针进行下移,使得探针可以对半导体进行测试,从而方便工作人员使用,提升了工作效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型结构示意图。
图2为本实用新型中转动杆的结构示意图。
图3为本实用新型中连接板的结构示意图。
图4为本实用新型中螺杆的结构示意图。
图中:1、测试箱;11、支撑板;12、固定圆盘;13、转动杆;131、齿轮;132、半面齿轮;133、固定轴;14、固定环;15、连接板;16、固定杆;17、固定块;18、连接环;19、第一滑槽;191、连接杆;192、旋转柱;1921、测试台;1922、放置槽;193、固定箱;194、滑动箱;195、探针;2、螺杆;21、移动板;22、连接块;23、移动槽;3、限位块;31、第二滑槽;4、支撑杆;5、第一电机;51、第二电机;6、防护板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
实施例:如图1-4所示,本实用新型提供了一种半导体探针测试台,包括测试箱1,测试箱1的内部固定安装有支撑板11,支撑板11的上方固定设有固定圆盘12,支撑板11的中部转动贯穿有转动杆13,转动杆13贯穿固定圆盘12,转动杆13的底端和测试箱1的内壁下表面转动安装,转动杆13的底部固定安装有齿轮131,齿轮131的外侧啮合连接有半面齿轮132,半面齿轮132的中部固定安装有固定轴133,转动杆13的的顶部固定安装有固定环14,固定环14的外侧固定安装有均匀分布的连接板15,多个连接板15底端远离转动杆13的一侧设置有固定杆16,固定杆16的底端设置有固定块17,固定圆盘12的顶端固定安装有连接环18,连接环18的中部开设有第一滑槽19,固定块17活动卡设在第一滑槽19中,多个连接板15的顶端固定安装有连接杆191,连接杆191的顶端固定安装有旋转柱192,旋转柱192的顶部贯穿测试箱1,旋转柱192的顶端固定安装有测试台1921,测试台1921上开设有四个均匀分布的放置槽1922,测试箱1的顶端一侧固定安装有固定箱193,固定箱193靠近测试台1921的一侧滑动设置有滑动箱194,滑动箱194底端靠近测试台1921的一侧固定设有探针195,首先将半导体放置在测试台1921上,当想要对半导体进行旋转方便观察时,通过驱动转动杆13进行转动,带动固定环14和连接板15进行转动,此时固定杆16带动固定块17在第一滑槽19中进行转动,提升了连接板15转动的稳定性,当连接板15进行转动时,带动连接杆191和旋转柱192进行转动,从而带动测试台1921进行转动,使得半导体可以旋转至工作人员容易观察的方向,提高了工作人员的使用体验。
固定箱193的中部转动安装有螺杆2,螺杆2的外侧螺纹套设有移动板21,移动板21靠近探针195的一侧固定安装有连接块22,连接块22和滑动箱194固定安装,固定箱193靠近滑动箱194的一侧开设有移动槽23,连接块22贯穿移动槽23。
通过采用上述技术方案,通过驱动螺杆2进行转动,带动螺纹套设在螺杆2上的移动板21进行下移,从而带动连接块22在移动槽23中进行下移,进而带动滑动箱194和探针195进行下移,使得探针195可以对半导体进行测试,从而方便工作人员使用,提升了工作效率。
固定杆16固定安装在连接板15底端远离转动杆13的一侧,固定块17固定安装在固定杆16的底端。
通过采用上述技术方案,通过固定杆16和固定块17的固定安装,使得连接板15在进行转动时可以提高稳定性,从而在对半导体进行旋转时不会出现晃动。
移动板21远离连接块22的一侧固定安装有对称分布的限位块3,固定箱193内壁靠近限位块3的两侧开设有第二滑槽31,限位块3活动卡设在第二滑槽31中。
通过采用上述技术方案,通过设置限位块3和第二滑槽31,使得移动板21在进行下降时能够更加稳定,从而提高了探针195对半导体测试的效率。
连接板15的数量为六个。
通过采用上述技术方案,通过将连接板15的数量设置为六个,使得连接板15能够平稳的进行转动。
固定圆盘12的底端固定安装有均匀分布的支撑杆4,支撑杆4的底端和支撑板11的顶端固定安装。
通过采用上述技术方案,通过设置支撑杆4,使得固定圆盘12能够进行固定,从而让测试台1921稳定的进行转动。
测试箱1的内壁下表面固定安装有第一电机5,第一电机5的输出端和固定轴133同轴固定安装,固定箱193的顶端固定安装有第二电机51,第二电机51的输出端和螺杆2同轴固定安装。
通过采用上述技术方案,通过设置第一电机5,使得固定轴133能够进行转动,从而让半导体能够旋转至工作人员方便观察的方向,通过设置第二电机51,使得螺杆2能够进行转动,从而带动探针195进行下降,方便对半导体进行测试。
测试箱1内壁靠近齿轮131的一侧固定安装有防护板6,固定轴133转动贯穿防护板6。
通过采用上述技术方案,通过设置防护板6,能够对固定轴133进行支撑。
工作原理:首先将半导体放置在测试台1921中的放置槽1922上,当想要对半导体进行旋转方便观察时,通过驱动固定轴133进行转动,带动半面齿轮132进行转动,当半面齿轮132上的齿和齿轮131啮合时能够带动齿轮131进行转动,当半面齿轮132上的齿脱离齿轮131时,齿轮131停止转动,从而带动齿轮131进行间歇转动,随后带动转动杆13进行间歇转动,进而带动固定环14和连接板15进行间歇转动,此时固定杆16带动固定块17在第一滑槽19中进行转动,提升了连接板15转动的稳定性,当连接板15进行间歇转动时,带动连接杆191和旋转柱192进行间歇转动,从而带动测试台1921进行间歇转动,使得其他放置槽1922中的半导体能够旋转至工作人员容易观察的方向,提高了工作人员的使用体验;
随后,通过驱动螺杆2进行转动,带动螺纹套设在螺杆2上的移动板21进行下移,从而带动连接块22在移动槽23中进行下移,进而带动滑动箱194和探针195进行下移,使得探针195可以对半导体进行测试,从而方便工作人员使用,提升了工作效率;
最后,通过设置限位块3和第二滑槽31,使得移动板21在进行下降时能够更加稳定,从而提高了探针195对半导体测试的效率。
显然,本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样,倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内,则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (8)
1.一种半导体探针测试台,包括测试箱(1),其特征在于:所述测试箱(1)的内部固定安装有支撑板(11),所述支撑板(11)的上方固定设有固定圆盘(12),所述支撑板(11)的中部转动贯穿有转动杆(13),所述转动杆(13)贯穿固定圆盘(12),所述转动杆(13)的底端和测试箱(1)的内壁下表面转动安装,所述转动杆(13)的底部固定安装有齿轮(131),所述齿轮(131)的外侧啮合连接有半面齿轮(132),所述半面齿轮(132)的中部固定安装有固定轴(133),所述转动杆(13)的顶部固定安装有固定环(14),所述固定环(14)的外侧固定安装有均匀分布的连接板(15),多个所述连接板(15)底端远离转动杆(13)的一侧设置有固定杆(16),所述固定杆(16)的底端设置有固定块(17),所述固定圆盘(12)的顶端固定安装有连接环(18),所述连接环(18)的中部开设有第一滑槽(19),所述固定块(17)活动卡设在第一滑槽(19)中,多个所述连接板(15)的顶端固定安装有连接杆(191),所述连接杆(191)的顶端固定安装有旋转柱(192),所述旋转柱(192)的顶部贯穿测试箱(1),所述旋转柱(192)的顶端固定安装有测试台(1921),所述测试台(1921)上开设有四个均匀分布的放置槽(1922),所述测试箱(1)的顶端一侧固定安装有固定箱(193),所述固定箱(193)靠近测试台(1921)的一侧滑动设置有滑动箱(194),所述滑动箱(194)底端靠近测试台(1921)的一侧固定设有探针(195)。
2.如权利要求1所述的一种半导体探针测试台,其特征在于,所述固定箱(193)的中部转动安装有螺杆(2),所述螺杆(2)的外侧螺纹套设有移动板(21),所述移动板(21)靠近探针(195)的一侧固定安装有连接块(22),所述连接块(22)和滑动箱(194)固定安装,所述固定箱(193)靠近滑动箱(194)的一侧开设有移动槽(23),所述连接块(22)贯穿移动槽(23)。
3.如权利要求1所述的一种半导体探针测试台,其特征在于,所述固定杆(16)固定安装在连接板(15)底端远离转动杆(13)的一侧,所述固定块(17)固定安装在固定杆(16)的底端。
4.如权利要求2所述的一种半导体探针测试台,其特征在于,所述移动板(21)远离连接块(22)的一侧固定安装有对称分布的限位块(3),所述固定箱(193)内壁靠近限位块(3)的两侧开设有第二滑槽(31),所述限位块(3)活动卡设在第二滑槽(31)中。
5.如权利要求3所述的一种半导体探针测试台,其特征在于,所述连接板(15)的数量为六个。
6.如权利要求1所述的一种半导体探针测试台,其特征在于,所述固定圆盘(12)的底端固定安装有均匀分布的支撑杆(4),所述支撑杆(4)的底端和支撑板(11)的顶端固定安装。
7.如权利要求6所述的一种半导体探针测试台,其特征在于,所述测试箱(1)的内壁下表面固定安装有第一电机(5),所述第一电机(5)的输出端和固定轴(133)同轴固定安装,所述固定箱(193)的顶端固定安装有第二电机(51),所述第二电机(51)的输出端和螺杆(2)同轴固定安装。
8.如权利要求7所述的一种半导体探针测试台,其特征在于,所述测试箱(1)内壁靠近齿轮(131)的一侧固定安装有防护板(6),所述固定轴(133)转动贯穿防护板(6)。
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