CN220641603U - 一种芯片老化板测试物料上料装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片老化板测试物料上料装置，包括料仓组件、移管组件、推管组件、轨道组件、挡料组件、分料组件以及机架；所述移管组件设置于机架上，移管组件的两端设置有料仓组件，料仓组件的旁侧设置有推管组件；所述轨道组件上设置有进料口以及出料口，移管组件用于将料管运送至轨道组件的出料口；所述轨道组件上沿进料口往出料口方向上依次设置有挡料组件以及分料组件。本实用新型的有益效果是：该装置能够对半导体中的料管进行批量上料，能够有效解决在上料过程中需要人工协助并且效率低下的问题。

Description

一种芯片老化板测试物料上料装置

技术领域

本实用新型涉及老化测试领域，具体的说涉及到一种芯片老化板测试物料上料装置。

背景技术

半导体行业中对老化板测试物料上料是很常见的一个步骤，在现有技术下为了实现管装自动进料，通常会采用人工将物料管送至上料位，并由上料机构将管内产品推出逐一单个上料；然而，物料管的分料工作仍需人工协助完成，同时当测试设备需求多个同时测试时，由于上料机构的逐一单个上料，极大影响了机器效率。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种芯片老化板测试物料上料装置，该装置能够对半导体中的料管进行批量上料，能够有效解决在上料过程中需要人工协助并且效率低下的问题。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种芯片老化板测试物料上料装置，包括料仓组件、移管组件、推管组件、轨道组件、挡料组件、分料组件以及机架；所述移管组件设置于机架上，移管组件的两端设置有料仓组件，料仓组件的旁侧设置有推管组件；所述轨道组件上设置有进料口以及出料口，移管组件用于将料管运送至轨道组件的出料口；所述轨道组件上沿进料口往出料口方向上依次设置有挡料组件以及分料组件。

在上述的结构中，所述料仓组件包括第一料仓调整板以及第二料仓调整板，所述第一料仓调整板以及第二料仓调整板相对设置；所述第一料仓调整板以及第二料仓调整板之间设置有移管组件。

在上述的结构中，所述移管组件包括滑轨、输送板、移管卡板以及移管电机；所述机架上设置有滑轨，输送板设置于滑轨上，输送板上设置有移管卡板，移管卡板设置于靠近第一料仓调整板一侧；所述移管电机的输出端与输送板连接，移管电机用于驱动输送板机架横向方向滑动；所述移管卡板上设置有槽口。

在上述的结构中，所述推管组件包括料管推块、推管电机以及推管滑块；所述推管电机连接在机架上，推管电机的输出端与推管滑块连接，推管滑块与料管推块连接；所述料管推块与移管卡板上的槽口相啮合。

在上述的结构中，所述挡料组件包括挡料片、挡料气缸以及挡料底座；所述挡料底座固定在轨道上，挡料底座上设置有用挡料气缸驱动的挡料片，挡料气缸驱动挡料片朝着进料口的方向移动或者远离。

在上述的结构中，所述分料组件包括挡料手指、压料块、挡料气缸以及挡料固定座；所述挡料固定座设置于轨道上，挡料固定座上设置有挡料气缸，挡料气缸上连接有挡料手指以及压料块；所述轨道上设置有一个通孔，挡料手指以及压料块可以通过通孔伸入至轨道内。

在上述的结构中，所述芯片老化板测试物料上料装置还包括翻转组件，翻转组件设置出料口的一侧；所述翻转组件包括翻转轨道、翻转电机、翻转底座、翻转吹气装置以及翻转吸气装置；翻转轨道设置于机架上，翻转轨道上设置有翻转轨道以及翻转电机，翻转电机能够驱动翻转轨道进行旋转；所述翻转轨道的一侧设置有翻转吹气装置，翻转轨道的另一侧设置有翻转吸气装置。

在上述的结构中，所述芯片老化板测试物料上料装置还包括顶升吹料组件，所述顶升吹料组件设置于轨道出料口的底部；所述顶升吹料组件包括吹气筒、顶升气缸以及气筒锁紧座；顶升气缸与吹气筒以及气筒锁紧座连接。

在上述的结构中，所述芯片老化板测试物料上料装置还包括翻管组件，所述翻管组件包括翻管底座、翻管转动轴、连接块、翻管架、翻管气缸以及翻管压块；所述翻管底座固定连接在机架上，翻管转动轴的一端与翻管底座连接，翻管转动轴的另一端通过连接块与翻管架连接，翻管架顶部设置有翻管气缸,翻管架上还设置有翻管压块，翻管气缸的输出端可以朝着翻管压块方向移动。

在上述的结构中，所述轨道组件的出料口处设置有感应组件。

本实用新型的有益效果是：该装置能够对半导体中的料管进行批量上料，能够有效解决在上料过程中需要人工协助并且效率低下的问题。

附图说明

图1为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

图2为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

图3为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

图4为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

图5为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

图6为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

图7为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

图8为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

图9为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

图10为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

图11为本实用新型一种芯片老化板测试物料上料装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

以下将结合实施例和附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本实用新型的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本实用新型的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本实用新型保护的范围。另外，专利中涉及到的所有联接/连接关系，并非单指构件直接相接，而是指可根据具体实施情况，通过添加或减少联接辅件，来组成更优的联接结构。本实用新型创造中的各个技术特征，在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。

参照图1至图11所示，本实用新型揭示了一种芯片老化板测试物料上料装置，具体的，该装置包括料仓组件10、移管组件20、推管组件30、翻管组件40、敲管组件50、轨道组件60、挡料组件70、分料组件80、辅助吹气组件90、翻料组件100、空管回收组件110、顶升吹料组件120以及机架130。

机架120上设置有移管组件20，在移管组件20的两端设置有料仓组件10，将物料的料管批量放入料仓组件10中，通过移管组件20将料管送出。料仓组件10为包括第一料仓调整板101以及第二料仓调整板102，第一料仓调整板101以及第二料仓调整板102相对设置，定义第一料仓调整板101与第二料仓调整板102之间连线方向为纵向，横向即为与纵向垂直的方向，并且第一料仓调整板101以及第二料仓调整板102的一端还连接在机架130上。第一料仓调整板101位于该装置的首端，即放入物料的那一端。

在第一料仓调整板101以及第二料仓调整板102之间设置有移管组件20，移管组件20包括滑轨201、输送板202、移管卡板203以及移管电机204；机架130上设置有滑轨201，输送板202设置于滑轨201上，输送板202上设置有移管卡板203，并且移管卡板203设置在靠近第一料仓调整板101那一侧。移管电机204的输出端与输送板202连接，因为滑轨201设置的方向为横向，因此在移管电机204的驱动下可以驱动输送板202在横向的方向上进行滑动。移管卡板203上设置有一个槽口2031，该槽口2031的初始位置位于第一料仓调整板101的下方，由于移管卡板203上设置有槽口2031，在移管卡板203的配合下保证只有一个料管被送出。

推管组件30设置第一料仓调整板101的旁侧，推管组件30能够将移管组件20中的料管推出。具体的，推管组件30包括料管推块301、推管电机302以及推管滑块303；推管电机301连接在机架130上。推管电机301的输出端与推管滑块303连接，推管滑块303与料管推块301连接，在推管电机301的驱动下驱动推管滑块303滑动并带动料管推块301朝着料管的方向运动，并且因为料管推块301刚好可以跟移管卡板203上的槽口2031啮合，当输送板202在横向的方向上进行滑动至推管组件30的方向时，料管推块301将料管推出，然后料管进入到下一步。

当料管被推出后会到达轨道组件60处，具体的，轨道组件60包括料管移动挡板601、轨道支架602以及轨道固定底座603；轨道组件60设置在第二料仓调整板102的一侧，轨道组件60的一端设置有进料口，轨道组件60的另一端设置有出料口，轨道组件60设置有进料口的这一端位于第二料仓调整板102的一侧。进料口处设置有料管移动挡板601，在料管移动挡板601的底端设置有轨道支架602，轨道支架602与轨道固定底座603连接，在轨道支架602与轨道固定底座603的上设置有轨道，轨道用于运送料管。在本实施例中轨道支架602的高度高于轨道固定底座603的高度，因此会形成一条高度逐渐降低的轨道。轨道包括上轨道板604以及下轨道板605，上轨道板604以及下轨道板605之间有用于料管通过的空腔。上轨道板604以及下轨道板605靠近第二料仓调整板102的一端即为轨道口。其中下轨道板605与轨道支架602以及轨道固定底座603连接。

当料管到达轨道组件60的料管移动挡板601处时，设置于进料口底部的翻管组件40会将料管压住。具体的，翻管组件40包括翻管底座、翻管转动轴、连接块403、翻管架404、翻管气缸405以及翻管压块406，翻管底座固定连接在机架上，翻管转动轴的一端与翻管底座连接，翻管转动轴的另一端通过连接块403与翻管架404连接，翻管架404顶部设置有翻管气缸405,翻管架404上还设置有翻管压块406，翻管气缸405的输出端可以朝着翻管压块406方向移动，当料管推至轨道组件60的料管移动挡板601边缘时，翻管组件40会将料管压住。

当料管被翻管组件40压住时，推管组件30会回缩，此时挡料组件70处于将轨道组件60的进料口挡住状态。当料管即将进入轨道组件60的进料口时，因为在轨道组件60的两侧设置有感应开关，在感应开关的作用下，挡料组件70会回缩，进料口处于打开状态。挡料组件70设置于轨道组件60的进料口处，即上轨道板604上，能将轨道组件60的进料口挡住。具体的，挡料组件70包括挡料片701、挡料气缸702以及挡料底座703，挡料底座703固定在上轨道板604上，挡料底座703上设置有用挡料气缸702驱动的挡料片701，挡料气缸702驱动挡料片701朝着进料口的方向移动或者远离，实现对进料口的遮挡或者打开。

当挡料组件70回缩后，料管由于自身重力会在轨道中下滑。因为分料组件80设置在挡料组件70的一侧并靠近轨道出口处，在料管下滑过程中分料组件80会对料管进行分料。具体的，分料组件80包括挡料手指801、压料块802、挡料气缸803以及挡料固定座804；挡料固定座804设置于上轨道板604上，挡料固定座804上设置有挡料气缸803，挡料气缸803上连接有挡料手指801以及压料块802。在上轨道板上还设置有一个通孔，该通孔能够使挡料手指801以及压料块802伸入至运输料管的空腔内，对料管实现分组。挡料手指801伸入通孔时位于靠近出料口的那一侧，压料块802伸入通孔使位于靠近进料口的那一侧。料管在重力的作用下会从轨道的进料口往出料口滑动，挡料手指801在料管下滑的过程中可以将料管卡住，敲管组件50会对被挡料手指801卡住的料管进行敲击，将料管内的物料震出，使其不会残留物料。然后挡料手指801伸出，被敲击的料管会滑动至出料口，此时后续的料管也会进入至轨道中，在挡料手指801伸出时，压料块802会伸入至运输料管的空腔内，将后续的料管挡住。

具体的,敲管组件50包括敲管连接板501以及敲管气缸502，敲管连接板501的一端与敲管气缸502连接，敲管连接板501的另一端连接至翻管架404，敲管气缸502的输出端可以朝着料管的方向移动，实现对料管的敲击。

在轨道组件60的出料口处设置有感应组件，当料管到达出料口时辅助吹气组件90通过压缩轨道内的气体将料管吹至翻转组件100的翻转轨道1001中。此时分料组件80会一直反复工作，被分料的料管会一直被辅助吹气组件90吹至翻转组件100的翻转轨道1001中，当翻转组件100的翻转轨道1001中的料管达到设定值时翻转组件100转动，此时顶升吹料组件120将轨道中所有的料管吹至指定位置，然后将料管取走，此时空料管也会被推入至空管回收组件110。然后当料管内料管全部滑出后，翻管组件40将会回到原来位置，同时移管组件20也回到原来位置；进一步地，翻管组件40中的压管卡板401回缩，移管组件20重复之前动作在带入料管的同时把空料管推至空管回收组件110，此时一个循环完成。

具体的，翻转组件100设置出料口的一侧，翻转组件100包括翻转轨道1001、翻转电机1002、翻转底座1003、翻转吹气装置1004以及翻转吸气装置1005；翻转轨道1001设置于机架130上，翻转轨道1001上设置有翻转轨道1001以及翻转电机1002，翻转电机1002能够驱动翻转轨道1001进行旋转。在翻转轨道1001的一侧设置有翻转吹气装置1004，翻转轨道1001的另一侧设置有翻转吸气装置1005。

顶升吹料组件120设置于轨道出料口的底部，当料管到达出料口时，顶升吹料组件120顶出，将料管推至翻转组件100的翻转轨道1001中。顶升吹料组件120包括吹气筒1201、顶升气缸1202以及气筒锁紧座1203；顶升气缸1202与吹气筒1201以及气筒锁紧座1203连接，在吹气筒1201、顶升气缸1202以及气筒锁紧座1203的作用下能够对料管进行顶升，使其到达对应的位置。

将设备通电后，在料仓组件10、移管组件20、推管组件30、翻管组件40、敲管组件50、轨道组件60、挡料组件70、分料组件80、辅助吹气组件90、翻料组件100以及顶升吹料组件120的共同作用以及配合下，能够对半导体中的料管进行批量上料，能够有效的解决在上料过程中需要人工协助并且人工协助效率低下的问题。

以上是对本实用新型的较佳实施进行了具体说明，但本实用新型创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可做出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。

Claims (10)

1.一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，包括料仓组件、移管组件、推管组件、轨道组件、挡料组件、分料组件以及机架；

所述移管组件设置于机架上，移管组件的两端设置有料仓组件，料仓组件的旁侧设置有推管组件；

所述轨道组件上设置有进料口以及出料口，移管组件用于将料管运送至轨道组件的出料口；所述轨道组件上沿进料口往出料口方向上依次设置有挡料组件以及分料组件。

2.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，所述料仓组件包括第一料仓调整板以及第二料仓调整板，所述第一料仓调整板以及第二料仓调整板相对设置；

所述第一料仓调整板以及第二料仓调整板之间设置有移管组件。

3.根据权利要求2所述的一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，所述移管组件包括滑轨、输送板、移管卡板以及移管电机；

所述机架上设置有滑轨，输送板设置于滑轨上，输送板上设置有移管卡板，移管卡板设置于靠近第一料仓调整板一侧；所述移管电机的输出端与输送板连接，移管电机用于驱动输送板机架横向方向滑动；所述移管卡板上设置有槽口。

4.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，所述推管组件包括料管推块、推管电机以及推管滑块；

所述推管电机连接在机架上，推管电机的输出端与推管滑块连接，推管滑块与料管推块连接；所述料管推块与移管卡板上的槽口相啮合。

5.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，所述挡料组件包括挡料片、挡料气缸以及挡料底座；

所述挡料底座固定在轨道上，挡料底座上设置有用挡料气缸驱动的挡料片，挡料气缸驱动挡料片朝着进料口的方向移动或者远离。

6.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，所述分料组件包括挡料手指、压料块、挡料气缸以及挡料固定座；

所述挡料固定座设置于轨道上，挡料固定座上设置有挡料气缸，挡料气缸上连接有挡料手指以及压料块；

所述轨道上设置有一个通孔，挡料手指以及压料块可以通过通孔伸入至轨道内。

7.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，所述芯片老化板测试物料上料装置还包括翻转组件，翻转组件设置出料口的一侧；

所述翻转组件包括翻转轨道、翻转电机、翻转底座、翻转吹气装置以及翻转吸气装置；翻转轨道设置于机架上，翻转轨道上设置有翻转轨道以及翻转电机，翻转电机能够驱动翻转轨道进行旋转；

所述翻转轨道的一侧设置有翻转吹气装置，翻转轨道的另一侧设置有翻转吸气装置。

8.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，所述芯片老化板测试物料上料装置还包括顶升吹料组件，所述顶升吹料组件设置于轨道出料口的底部；

所述顶升吹料组件包括吹气筒、顶升气缸以及气筒锁紧座；顶升气缸与吹气筒以及气筒锁紧座连接。

9.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，所述芯片老化板测试物料上料装置还包括翻管组件，所述翻管组件包括翻管底座、翻管转动轴、连接块、翻管架、翻管气缸以及翻管压块；

所述翻管底座固定连接在机架上，翻管转动轴的一端与翻管底座连接，翻管转动轴的另一端通过连接块与翻管架连接，翻管架顶部设置有翻管气缸,翻管架上还设置有翻管压块，翻管气缸的输出端可以朝着翻管压块方向移动。

10.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料上料装置，其特征在于，所述轨道组件的出料口处设置有感应组件。