CN220466796U - 一种芯片老化板测试物料批量送料装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片老化板测试物料批量送料装置，涉及老化测试技术领域，包括底座，翻转组件和收料组件，所述翻转组件包括位于底座上方的固定板，所述固定板的上方设有夹持轨道，所述夹持轨道的底部设有与所述固定板连接的翻转臂，所述夹持轨道的一侧设置有吹气嘴和吸气嘴，所述夹持轨道上夹持多个测试物料，所述固定板的一侧还设有电机；所述收料组件包括第一支撑板，第二支撑板，导轨，移管板和推管板，所述导轨位于第一支撑板和夹持轨道之间，所述移管板位于第一支撑板和第二支撑板之间，所述推管板位于第二支撑板的下方。本实用新型所述的一种芯片老化板测试物料批量送料装置，解决了在收料的过程中单个收料导致效率低的问题。

Description

一种芯片老化板测试物料批量送料装置

技术领域

本实用新型涉及老化测试技术领域，具体涉及一种芯片老化板测试物料批量送料装置。

背景技术

在现有技术中，对于带垂直引脚的半导体器件在老化测试后批量取放回收难度过高，造成半导体器件管装回收的生产效率很低。

传统的管出装置，半导体产品进行批量老化测试后只能通过压缩气体以及倾斜轨道进行单个收料，效率低。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种芯片老化板测试物料批量送料装置，通过设置夹持轨道，且夹持轨道上设有吹气嘴和吸气嘴，加上翻转臂的配合，同时将多个测试物料运送到导轨内，使得物料有序进入料管中进行回收，解决了在收料的过程中单个收料导致效率低的问题。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种芯片老化板测试物料批量送料装置，包括底座，翻转组件和收料组件，所述翻转组件包括位于底座上方的固定板，所述固定板的上方设有夹持轨道，所述夹持轨道的底部设有与所述固定板连接的翻转臂，所述夹持轨道的一侧设置有吹气嘴和吸气嘴，所述夹持轨道上夹持多个测试物料，所述固定板的一侧还设有电机；

所述收料组件包括第一支撑板，第二支撑板，导轨，移管板和推管板，所述导轨位于第一支撑板和夹持轨道之间，所述移管板位于第一支撑板和第二支撑板之间，所述推管板位于第二支撑板的下方。

所述固定板上设有第一凹槽，所述翻转臂活动连接于所述第一凹槽。

所述吹气嘴与所述吸气嘴位于同一直线上。

所述夹持轨道上夹持四个测试物料。

所述第一支撑板和第二支撑板上均设置有四块挡板，所述挡板的下方设有卡块和第二凹槽，所述第二凹槽上设有用于顶住所述卡块的螺丝，穿过所述卡块并与所述挡板连接设有固定销。

所述挡板的一侧设有固定连接的顶板，所述顶板的底部设有滑动连接的侧推气缸，所述侧推气缸的一端设有位于挡板下方的压制板。

所述移管板上还设有移管气缸，所述移管气缸与所述挡板之间设有顶管板，所述顶管板的下方设有第三气缸。

所述导轨的下方设有与所述第一支撑板连接的分料计数组件，所述分料计数组件包括第一气缸和第二气缸。

所述底座上设有滑轨，所述移管板滑动连接于所述滑轨上，还设有位于所述移管板两侧的卡板。

所述推管板上设有后撑板和用于推动后撑板的推管气缸。

本实用新型的有益效果是：提供一种芯片老化板测试物料批量送料装置，通过设置夹持轨道，且夹持轨道上设有吹气嘴和吸气嘴，加上翻转臂的配合，同时将多个测试物料运送到导轨内，使得物料有序进入料管中进行回收，提高了收料的效率。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型装配示意图；

图2是本实用新型翻转组件的结构示意图；

图3是本实用新型去掉翻转组件的结构示意图；

图4是本实用新型卡块与挡板连接的结构示意图；

图5是本实用新型推管板与第二支撑板连接的结构示意图；

图6是本实用新型侧推板与挡板连接的结构示意图。

其中：1-底座，2-翻转组件，3-收料组件，5-测试物料，6-导轨，7-分料计数组件，11-第一支撑板，12-第二支撑板，13-挡板，14-卡块，15-第二凹槽，16-螺丝，17-固定销，21-夹持轨道，22-固定板，23-电机，24-翻转臂，25-第一凹槽，211-吹气嘴，212-吸气嘴，31-移管板，32-移管气缸，33-顶管板，34-第三气缸，35-滑轨，36-卡板，41-推管板，42-后撑板，43-推管气缸，51-顶板，52-侧推气缸，53-压制板，71-第一气缸，72-第二气缸。

具体实施方式

以下将结合实施例和附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本实用新型的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本实用新型的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本实用新型保护的范围。另外，专利中涉及到的所有联接/连接关系，并非单指构件直接相接，而是指可根据具体实施情况，通过添加或减少联接辅件，来组成更优的联接结构。本实用新型创造中的各个技术特征，在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。

本实用新型提供了一种芯片老化板测试物料批量送料装置，在一个实施例中，如图1所示，包括底座1，翻转组件2和收料组件3，所述翻转组件2包括位于底座1上方的固定板22，所述固定板22的上方设有夹持轨道21，所述夹持轨道21的底部设有与所述固定板22连接的翻转臂24，如图2所示，所述夹持轨道21的一侧设置有吹气嘴211和吸气嘴212，所述夹持轨道21上夹持多个测试物料5，所述固定板22的一侧还设有电机23，在本实施例中，所述吹气嘴211与所述吸气嘴212位于同一直线上，所述夹持轨道21上夹持四个测试物料5，所述固定板22上设有第一凹槽25，所述翻转臂24活动连接于所述第一凹槽25。通过设置吹气嘴211，吸气嘴212和夹持轨道21与翻转臂24的配合，可以一次性夹持四个测试物料5运送到导轨6后进行回收，加快收料的速度提高了效率。

在一个实施例中，如图3所示，所述收料组件3包括第一支撑板11，第二支撑板12，导轨6，移管板31和推管板41，所述导轨6位于第一支撑板11和夹持轨道21之间，所述导轨6的下方设有与所述第一支撑板11连接的分料计数组件7，如图1所示，所述分料计数组件7包括第一气缸71和第二气缸72，此时，一号气缸71处于升起状态的同时二号气缸72处于回缩状态，通过翻转组件里的吹气嘴211将测试物料5吹入导轨6内，由于导轨6是倾斜布置的，在吹入的压缩气体提供的初速度和本身的重力下移动至分料计数组件7内，在本实施例中，第一气缸71与第二气缸72为同一电磁阀控制，且在两个气缸中间设有用于计数的光电开关，接收反馈信号第一气缸71会回缩且第二气缸72会升起，这样的往复运动能将测试物料5有序地送入空管内。

在一个实施例中，所述第一支撑板11和第二支撑板12上均设置有四块挡板13，如图4所示，所述挡板13与所述第一支撑板11和第二支撑板12之间围成了空料管仓和收料管仓，所述挡板13的下方设有卡块14和第二凹槽15，所述第二凹槽15上设有用于顶住所述卡块14的螺丝16，穿过所述卡块14并与所述挡板13连接设有固定销17，所述固定销17与所述挡板13之间有间隙，当有料管从卡块14的下方被顶起时，此时卡块14被推动绕固定销17旋转，且当卡块14的顶部与螺丝16接触后，卡块14不再向后旋转，避免了由于在操作时不可控因素导致旋转过位。

在一个实施例中，如图3所示，所述移管板31位于第一支撑板11和第二支撑板12之间，所述移管板31上还设有移管气缸32，所述移管气缸32与所述挡板13之间设有顶管板33，所述顶管板33的下方设有第三气缸34，所述底座1上设有滑轨35，所述移管板31滑动连接于所述滑轨35上，还设有位于所述移管板31两侧的卡板36。

在一个实施例中，如图5所示，所述推管板41位于第二支撑板12的下方，所述推管板41上设有后撑板42和用于推动后撑板42的推管气缸43，如图6所示，所述挡板13的一侧设有固定连接的顶板51，所述顶板51的底部设有滑动连接的侧推气缸52，所述侧推气缸52的一端设有位于挡板13下方的压制板53，通过所述推管气缸43推动推管板41将空管推至导轨6的边缘，侧推气缸52推动压制板53对空管的位置进行修正并压制空管，再加上卡板36的配合，保证空管不会晃动与翘起，使得多个测试物料5更好地进入空管内。

工作原理：通过将翻转组件2与主机连接，处于水平的翻转臂24在第一凹槽25内逆时针进行翻转90度，接收由主机吸嘴放入的测试物料5，同时开启吸气嘴212，将四个测试物料5吸附在夹持轨道21上，待主机吸嘴离开后，翻转臂24顺时针翻转90度回至原来的位置并与导轨6相连，开启吹气嘴211将测试物料5吹入导轨6内，测试物料5被吹入导轨6后送至分料计数组件7升起的气缸里，将若干空管放置于空料管仓内后，卡板36配合移管气缸32将空管移至收料管仓下方，移管气缸32保持不动，推管气缸43推动推管板41将空管推至导轨6的边缘，此时通过侧推气缸52推动压制板53对空管的位置进行修正并压制空管，通过分料计数组件7里的第一气缸71回缩和第二气缸72升起的往复运动将测试物料5送入管内并记录，当记录值达到设定值时，料管至收料管仓的一边，推管气缸43从收料管仓回缩至空料管仓下方，同时顶管板33将料管顶起，料管推动卡块14，使得卡块14绕固定销17旋转，当卡块14的顶部与挡板13上的螺丝16接触时，卡块14不再向后旋转，当顶管板33顶升超过卡块14的这段时间，卡块14的下方重力大于上方重力，使卡块14回到初始位置，第三气缸34进行回缩，料管会被卡块14所撑住，不会跟随顶管板33下降，同时移管气缸32回缩至空料管仓下方，又将新的空料管从空料管仓移到收料管仓下方，如此往复装好测试物料5的料管将会由于顶管板33与卡块14的配合自动整齐有序的堆叠起来，当收料管仓达到满仓时，只需要人工一次性取走即可，能满足多个测试物料5同时输送至管内。

以上是对本实用新型的较佳实施进行了具体说明，但本实用新型创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可做出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。

Claims (10)

1.一种芯片老化板测试物料批量送料装置，其特征在于，包括底座，翻转组件和收料组件，所述翻转组件包括位于底座上方的固定板，所述固定板的上方设有夹持轨道，所述夹持轨道的底部设有与所述固定板连接的翻转臂，所述夹持轨道的一侧设有吹气嘴和吸气嘴，所述夹持轨道上夹持多个测试物料，所述固定板的一侧还设有电机；

所述收料组件包括第一支撑板，第二支撑板，导轨，移管板和推管板，所述导轨位于第一支撑板和夹持轨道之间，所述移管板位于第一支撑板和第二支撑板之间，所述推管板位于第二支撑板的下方。

2.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料批量送料装置，其特征在于，所述固定板上设有第一凹槽，所述翻转臂活动连接于所述第一凹槽。

3.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料批量送料装置，其特征在于，所述吹气嘴与所述吸气嘴位于同一直线上。

4.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料批量送料装置，其特征在于，所述夹持轨道上夹持四个测试物料。

5.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料批量送料装置，其特征在于，所述第一支撑板和第二支撑板上均设置有四块挡板，所述挡板的下方设有卡块和第二凹槽，所述第二凹槽上设有用于顶住所述卡块的螺丝，穿过所述卡块并与所述挡板连接设有固定销。

6.根据权利要求5所述的一种芯片老化板测试物料批量送料装置，其特征在于，所述挡板的一侧设有固定连接的顶板，所述顶板的底部设有滑动连接的侧推气缸，所述侧推气缸的一端设有位于挡板下方的压制板。

7.根据权利要求5所述的一种芯片老化板测试物料批量送料装置，其特征在于，所述移管板上还设有移管气缸，所述移管气缸与所述挡板之间设有顶管板，所述顶管板的下方设有第三气缸。

8.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料批量送料装置，其特征在于，所述导轨的下方设有与所述第一支撑板连接的分料计数组件，所述分料计数组件包括第一气缸和第二气缸。

9.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料批量送料装置，其特征在于，所述底座上设有滑轨，所述移管板滑动连接于所述滑轨上，还设有位于所述移管板两侧的卡板。

10.根据权利要求1所述的一种芯片老化板测试物料批量送料装置，其特征在于，所述推管板上设有后撑板和用于推动后撑板的推管气缸。