CN220543599U - 一种测试电路板和测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试电路板和测试装置，测试电路板包括测试公板、桥接芯片和拨码开关模块，桥接芯片和拨码开关模块集成设置在测试公板上；测试电路板还包括外部信号接口，外部信号接口一端与桥接芯片连接，另一端与外部设备连接，测试公板上还设有信号连接器和电源连接器信号连接器的第一输入端与电源连接器连接，信号连接器的第二输入端与桥接芯片连接，信号连接器的第三输入端与拨码开关模块连接；拨码开关模块用于调节输入输出接口配置，以输入不同的信号至信号连接器实现不同存储芯片的信号测试。本申请通过测试电路板的拨码开关模块调节不同的输入输出接口配置，从而达到一个测试公板适配所有的主控和存储芯片的测试，以提高测试效率。

Description

一种测试电路板和测试装置

技术领域

本申请涉及存储芯片测试领域，尤其涉及一种测试电路板和测试装置。

背景技术

随着智能技术的高速发展，存储芯片在其中有着十分重要的作用。在存储芯片的开发过程中，需要对存储芯片进行测试，在测试通过之后才能进行实际的投产，对存储芯片进行模拟测试，达到测试结果接近存储芯片的真实性能结果。

随着半导体行业的快速发展，存储芯片种类繁多，涉及的主控搭配方案各不同，同时存储芯片需要进行高温老化分选等级，导致需要大批量进行高温稳定性测试，测试前后都需要进行开卡测试,进行测试前需要获取产品ID，常规设计采用的一个主控只支持一个flash，现需要设计一个可以兼容各种主控方案需求，以提高测试效率，实现多平台测试。

实用新型内容

本申请的目的是提供一种能够适配所有主控方案和存储芯片的测试，提高测试效率的测试电路板和测试装置。

本申请公开了一种测试电路板，所述测试电路板包括测试公板、桥接芯片和拨码开关模块，所述桥接芯片和所述拨码开关模块集成设置在所述测试公板上；所述测试电路板还包括外部信号接口，所述外部信号接口一端与所述桥接芯片连接，另一端与外部设备连接，所述测试公板上还设有信号连接器和电源连接器，所述信号连接器的第一输入端与所述电源连接器连接，所述信号连接器的第二输入端与所述桥接芯片连接，所述信号连接器的第三输入端与所述拨码开关模块连接；其中，所述拨码开关模块用于调节输入输出接口配置，以输入不同的信号至所述信号连接器实现不同存储芯片的信号测试。

可选的，所述外部信号接口为USB接口。

可选的，所述信号连接器设有两个，分别为第一信号连接器和第二信号连接器，所述拨码开关的第一输出端与所述第一信号连接器的第一输入端连接，所述拨码开关的第二输出端与所述第二信号连接器的第一输入端连接；所述桥接芯片的输出端分别与所述第一信号连接器的第二输入端以及所述第二信号连接器的第二输入端连接；所述第一信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第一输入端，所述第二信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第二输入端。

可选的，所述电源连接器设有两个，分别为第一电源连接器和第二电源连接器，所述第一信号连接器的输出端连接所述第一电源连接器，所述第二信号连接器的输出端连接所述第二电源连接器，所述第一信号连接器与所述第一电源连接器平行且相对设置，所述第二信号连接器与所述第二电源连接器平行且相对设置。

可选的，所述第一信号连接器与所述拨码开关模块的距离小于所述第一电源连接器与所述拨码开关模块的距离；所述第二信号连接器与所述拨码开关模块的距离小于所述第二电源连接器与所述拨码开关模块的距离。

可选的，所述第一信号连接器包括第一连接座子，所述第二信号连接器包括第二连接座子，所述第一电源连接器包括第三连接座子，所述第二电源连接器包括第四连接座子，所述第一连接座子与所述第二连接座子为同一型号的连接座子，所述第三连接座子与所述第四连接座子为同一型号的连接座子，所述第一连接座子和所述第三连接座子为不同类型的连接座子。

可选的，所述第一信号连接器的第一输入端连接所述第二电源连接器，所述第二信号连接器的第一输入端连接所述第一电源连接器。

可选的，所述信号连接器设有两个，分别为第一信号连接器和第二信号连接器，所述拨码开关的第一输出端与所述第一信号连接器的第一输入端连接，所述拨码开关的第二输出端与所述第二信号连接器的第一输入端连接；所述桥接芯片的输出端分别与所述第一信号连接器的第二输入端以及所述第二信号连接器的第二输入端连接；所述第一信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第一输入端，所述第二信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第二输入端。

可选的，所述第一信号连接器与所述第二信号连接器在所述测试公板上垂直分布，所述第一电源连接器与所述第一信号连接器，以及所述第二信号连接器呈门字型分布。

可选的，所述信号连接器设置在所述电源连接器与所述拨码开关模块之间，所述桥接芯片与所述拨码开关模块平行设置，所述桥接芯片设置在所述测试公板的第一面，所述拨码开关模块设置在所述测试公板与所述第一面相对的第二面，所述拨码开关模块与所述桥接芯片设置在所述USB接口与所述信号连接器之间。

本申请还公开了一种测试装置，所述测试装置包括上位机以及如上任一所述的测试电路板，所述上位机与所述测试电路板的外部信号接口连接。

相对于现有的测试电路板来说，本申请的测试电路板采用一个测试公板设置，信号连接器和电源连接器连接到待测试的存储芯片，通过拨码开关模块可以调节不同的输入输出接口(IO)配置，达到支持多种主控方案和存储芯片；提升产品兼容性，减少备板库存，因为使用该测试公板，测试数据可以达到更好的对比效果，同时提高测试效率，节约成本，达到生产测试需求，待测试的存储芯片的主控有很多ID，拨码开关模块根据需求进行灵活配置，任意组合以实现不同产品对应的不同主控的测试，以提高测试效率。

附图说明

所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本申请的第一实施例的一种测试电路板的结构示意图；

图2是本申请的第二实施例的测试电路板的结构示意图；

图3是本申请的第三实施例的测试电路板的结构示意图；

图4是本申请的第四实施例的测试装置结构示意图。

其中，100、测试电路板；110、测试公板；120、桥接芯片；130、拨码开关模块；140、外部信号接口；141、USB接口；150、信号连接器；151、第一信号连接器；1511、第一连接座子；152、第二信号连接器；1521、第二连接座子；160、电源连接器；161、第一电源连接器；1611、第三连接座子；162、第二电源连接器；1621、第四连接座子；200、存储芯片；300、测试装置；310、上位机。

具体实施方式

需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。

在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明。

如图1所示，作为本申请的一实施例，公开了一种测试电路板100，测试电路板100对存储芯片进行测试，测试电路板100包括测试公板110、桥接芯片120和拨码开关模块130，桥接芯片120和拨码开关模块130集成设置在测试公板110上；测试电路板100还包括外部信号接口140，外部信号接口140一端接收外部信号，另一端与桥接芯片120连接，测试公板110上还设有信号连接器150和电源连接器160，信号连接器150的第一输入端与电源连接器160连接，信号连接器150的第二输入端与桥接芯片120连接，信号连接器150的第三输入端与拨码开关模块130连接；其中，拨码开关模块130调节不同的输入输出接口配置，以输入不同的信号至信号连接器150实现不同存储芯片的信号测试。

外部信号接口140的一端与桥接芯片120连接，另一端连接外部设备，外部设备输出外部信号至桥接芯片120，桥接芯片120接收外部信号，并传输至信号连接器150，信号传输至信号连接器150之后，外部设备与信号连接器150进行通信，外部信号一般包括电源信号、通讯信号等数据信号，以形成外部设备与测试装置之间的数据通路；将待测试的存储芯片放置在信号连接器150上实现电连接，由于待测试的存储芯片具有输入输出配置，通过待测试的存储芯片的输入输出配置波动对应拨码开关的组合，即可开始存储芯片的测试；待测试的存储芯片不同，主控不同，拨码开关模块130包括多个拨码开关可以任意组合，调节不同的IO(输入输出接口)配置，获得对应的主控的ID，从而达到支持多种主控方案和存储芯片的目的；信号连接器150可以连接不同的存储芯片进行测试，在测试前获取存储芯片的主控ID，拨码开关模块130内的拨码开关根据主控ID组合获得对应的测试信号，打破了一个主控只能支持一种存储芯片测试的现状，进而实现多平台的测试。

一般的，外部信号接口140为USB接口141，在需要进行测试的时候，可以直接插入外接的上位机310(PC端)，测试结束后可以拔出，通过USB接口141这种插拔式的方式，可以将测试电路板100插入到不同的上位机310或者其他PC端，实现不同性能的测试。

另外，还需要说明的是，信号连接器150设置在电源连接器160与拨码开关模块130之间，桥接芯片120与拨码开关模块130平行设置，桥接芯片120设置在测试公板110的第一面，拨码开关模块130设置在测试公板110与第一面相对的第二面，拨码开关模块130与桥接芯片120设置在USB接口141与信号连接器150之间，电源连接器160和USB结构分别设置在测试公板110的两侧，一边接入电源，一边接入信号，避免两者之间相互干扰。

作为本申请的第二实施例，是对上述第一实施例的进一步的细化，参考图2所示，信号连接器150设有两个，分别为第一信号连接器151和第二信号连接器152，所述拨码开关130的第一输出端与所述第一信号连接器151的第一输入端连接，所述拨码开关130的第二输出端与所述第二信号连接器152的第一输入端连接；所述桥接芯片120的输出端分别与所述第一信号连接器151的第二输入端以及所述第二信号连接器152的第二输入端连接；所述第一信号连接器151的输出端连接至所述电源连接器160的第一输入端，所述第二信号连接器152的输出端连接至所述电源连接器160的第二输入端，两个连接器分别与电源连接器160连接，可以交替使用，增长使用寿命。

进一步的，电源连接器160设有两个，分别第一电源连接器161和第二电源连接器162，第一信号连接器151与第一电源连接器161平行且相对设置，第二信号连接器152与第二电源连接器162平行且相对设置；第一信号连接器151与第二信号连接器152在测试公板110上垂直分布，第一电源连接器161与第二电源连接器162在测试公板110上垂直分布，所述第一信号连接器151的输出端连接所述第一电源连接器161，所述第二信号连接器152的输出端连接所述第二电源连接器162；第一信号连接器151、第二信号连接器152、第一电源连接器161和第二电源连接器162呈矩形设置，设置多个信号连接器150和电源连接器160可以实现多个存储芯片的测试，提高测试效率。

为了减少，连接器与拨码开关模块130之间的走线长度，第一信号连接器151与拨码开关模块130的距离小于第一电源连接器161与拨码开关模块130的距离；第二信号连接器152与拨码开关模块130的距离小于第二电源连接器162与拨码开关模块130的距离。

进一步的，第一信号连接器151包括第一连接座子1511，第二信号连接器152包括第二连接座子1521，第一电源连接器161包括第三连接座子1611，第二电源连接器162包括第四连接座子1621，第一连接座子1511与第二连接座子1521为同一型号的连接座子，第三连接座子1611与第四连接座子1621为同一型号的连接座子，第一连接座子1511和第三连接座子1611为不同类型的连接座子，可以选择不同尺寸大小的存储芯片进行测试；第三连接座子1611的pin脚数量比第一连接座子1511的pin脚数量至少多一个，将两个连接座1611子设置为不同的pin脚数量有利于对两个连接座子1611进行快速识别，在安装的时候可以快速找出所需的连接座子进行安装，且pin脚多的连接座子可以连接更多的信号，完成不同种类的信号测试。第一信号连接器151的第一输入端连接第二电源连接器162，第二信号连接器152的第一输入端连接第一电源连接器161，对应每个信号连接器150设有一个电源连接器160，电源连接器160可以同时接入电源，也可以分时接入电源，即可以一个电源连接器160给一个信号连接器150进行供电的时候，另一个电源连接器160不进行供电和存储芯片的信号测试。

如图3所示，作为本申请的第三实施例，是与上述第二实施例不同的是，信号连接器150设有两个，分别为第一信号连接器151和第二信号连接器152，电源连接器160包括第一电源连接器161，第一信号连接器151的第一输入端以及第二信号连接器152的第一输入端分别连接至第一电源连接器161；第一电源连接器161可以分别对第一信号连接器151和第二信号连接器152进行分时供电，交替使用，避免其中一个信号连接器150长期工作导致使用寿命降低，或者出现故障导致测试不准。

第一信号连接器151与第二信号连接器152在测试公板110上垂直分布，第一电源连接器161与第一信号连接器151，以及第二信号连接器152呈门字型分布，可以减少电源连接器160与信号连接器150之间的走线的长度，在保证测试公板110能够正常实现测试的同时有利于缩小连接器的整体面积，避免连接器的数量过多占用测试公板110的面积过大，不利于其他走线的排布。

如图4所示，作为本申请的第四实施例，本申请还公开了一种测试装置300，测试装置300包括上位机310以及如上任一实施例的测试电路板100，上位机310与测试电路板100的外部信号接口140连接，测试电路板100的测试连接器上放置存储芯片200，不同的存储芯片200对应的主控不同，主控的ID也不同，拨码开关130通过不同的组合获得对应主控ID实现不同存储芯片200的测试。

需要说明的是,本申请的发明构思可以形成非常多的实施例，但是申请文件的篇幅有限，无法一一列出，因而，在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例，各实施例或技术特征组合之后，将会增强原有的技术效果。

以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种测试电路板，其特征在于，所述测试电路板包括测试公板、桥接芯片和拨码开关模块，所述桥接芯片和所述拨码开关模块集成设置在所述测试公板上；

所述测试电路板还包括外部信号接口，所述外部信号接口一端与所述桥接芯片连接，另一端与外部设备连接，所述测试公板上还设有信号连接器和电源连接器，所述信号连接器的第一输入端与所述电源连接器连接，所述信号连接器的第二输入端与所述桥接芯片连接，所述信号连接器的第三输入端与所述拨码开关模块连接；

其中，所述拨码开关模块用于调节输入输出接口配置，以输入不同的信号至所述信号连接器实现不同存储芯片的信号测试。

2.如权利要求1所述的测试电路板，其特征在于，所述外部信号接口为USB接口。

3.如权利要求1所述的测试电路板，其特征在于，所述信号连接器设有两个，分别为第一信号连接器和第二信号连接器，所述拨码开关的第一输出端与所述第一信号连接器的第一输入端连接，所述拨码开关的第二输出端与所述第二信号连接器的第一输入端连接；所述桥接芯片的输出端分别与所述第一信号连接器的第二输入端以及所述第二信号连接器的第二输入端连接；所述第一信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第一输入端，所述第二信号连接器的输出端连接至所述电源连接器的第二输入端。

4.如权利要求3所述的测试电路板，其特征在于，所述电源连接器设有两个，分别为第一电源连接器和第二电源连接器，所述第一信号连接器的输出端连接所述第一电源连接器，所述第二信号连接器的输出端连接所述第二电源连接器，所述第一信号连接器与所述第一电源连接器平行且相对设置，所述第二信号连接器与所述第二电源连接器平行且相对设置。

5.如权利要求4所述的测试电路板，其特征在于，所述第一信号连接器与所述拨码开关模块的距离小于所述第一电源连接器与所述拨码开关模块的距离；所述第二信号连接器与所述拨码开关模块的距离小于所述第二电源连接器与所述拨码开关模块的距离。

6.如权利要求4所述的测试电路板，其特征在于，所述第一信号连接器包括第一连接座子，所述第二信号连接器包括第二连接座子，所述第一电源连接器包括第三连接座子，所述第二电源连接器包括第四连接座子，所述第一连接座子与所述第二连接座子为同一型号的连接座子，所述第三连接座子与所述第四连接座子为同一型号的连接座子，所述第一连接座子和所述第三连接座子为不同类型的连接座子。

7.如权利要求5所述的测试电路板，其特征在于，所述第一信号连接器的第一输入端连接所述第二电源连接器，所述第二信号连接器的第一输入端连接所述第一电源连接器。

8.如权利要求4所述的测试电路板，其特征在于，所述第一信号连接器与所述第二信号连接器在所述测试公板上垂直分布，所述第一电源连接器与所述第一信号连接器，以及所述第二信号连接器呈门字型分布。

9.如权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，所述信号连接器设置在所述电源连接器与所述拨码开关模块之间，所述桥接芯片与所述拨码开关模块平行设置，所述桥接芯片设置在所述测试公板的第一面，所述拨码开关模块设置在所述测试公板与所述第一面相对的第二面，所述拨码开关模块与所述桥接芯片设置在所述USB接口与所述信号连接器之间。

10.一种测试装置，其特征在于，包括上位机以及如权利要求1-9任意一项所述的测试电路板，所述上位机与所述测试电路板的外部信号接口连接。