CN220489929U - 一种内径测量检具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种内径测量检具,包括校准环规和圆环形测量支架,圆环形测量支架设有第一测头、第二测头和千分表,第一测头、第二测头和千分表的探头分别沿圆环形测量支架径向方向朝向圆环形测量支架外侧设置,第一测头、第二测头和千分表的探头在圆周方向上均分分布在圆环形测量支架上,圆环形测量支架外侧还设有三爪定位卡板,三爪定位卡板将圆环形测量支架划分为3个空间,第一测头、第二测头和千分表的探头分别位于3个空间内,校准环规与所述圆环形测量支架配合使用。有益效果:测量难度低,测量精度高。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量技术领域,具体涉及一种内径测量检具。
背景技术
在加工制造领域,圆孔或圆环结构是常见的加工构件,甚至有些孔结构的尺寸精度要求在0.001nm量级,一旦产品加工精度达不到其尺寸精度的要求,则可能会导致其工作寿命短,甚至无法使用。例如,轴承室是用来保证轴承外圈与轴承座或机械外壳孔构成过渡配合,起支承作用。轴承的工作寿命,既取决于本身的制造精度,也与其配合件即外壳孔、传动轴轴颈的尺寸精度等因素有关。
目前,多使用接杆式内径千分表进行内径测量,例如,专利CN112648906A公开了一种用于大直径里孔的便携简易直径量具,在基座的两端分别设置了指针式千分表和支撑杆,测量时分别将千分表的测头和支撑杆的支撑头接触里孔,然后通过上下或左右移动千分表测头的位置,综合分析多次测量结构,最终得出测量结果。这种结构在测量内径的过程中难以保证千分表精确通过内径的圆心,而且测量时也难以保证接杆式内径千分表两端的测量触头位于与测量孔的横截面平行的同一平面内,会导致测量工件内径的难度和误差增大,因此需要测量人员进行多次操作,综合多次操作的结果才能得出测量结果,这种方式对人工操作的依赖性大,一旦测量人员操作不当,就会导致较大的测量误差。
实用新型内容
本实用新型的目的克服现有技术的不足,提供一种内径测量检具,测量难度低,测量精度高。
本实用新型的目的是通过以下技术措施达到的:一种内径测量检具,包括校准环规和圆环形测量支架,所述圆环形测量支架设有第一测头、第二测头和千分表,所述第一测头、第二测头和千分表的探头分别沿圆环形测量支架径向方向朝向圆环形测量支架外侧设置,所述第一测头、第二测头和千分表的探头在圆周方向上均分分布在所述圆环形测量支架上,所述圆环形测量支架外侧还设有三爪定位卡板,所述三爪定位卡板将圆环形测量支架划分为3个空间,所述第一测头、第二测头和千分表的探头分别位于3个空间内,所述校准环规与所述圆环形测量支架配合使用。
进一步地,所述三爪定位卡板的3个爪的交汇点与所述圆环形测量支架的中轴线重合,所述三爪定位卡板中相邻2个爪之间的夹角为120°。
进一步地,所述第一测头、第二测头和千分表探头与其相邻的2个爪之间的夹角均相同。
进一步地,所述圆环形测量支架、第一测头、第二测头和三爪定位卡板均为碳素工具钢材质。
进一步地,所述第一测头、第二测头和千分表均与圆环形测量支架可拆卸连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:所述内径测量检具,通过将第一测头、第二测头和千分表的探头均分分布在圆环形测量支架上,使其两两之间的圆弧弧度均为120°,第一测头、第二测头和千分表的探头形成一个等边三角形,以确保千分表探头的中轴线必然穿过圆环形测量支架的圆心,并通过校准环规对其进行校准,同时,还通过三爪定位卡板定位第一测头、第二测头以及千分表的探头与待测孔或环内壁的垂直度,而且三爪定位卡板的设置还可便于圆环形测量支架的拿取,便于内径测量检具的使用,大大减少了测量工件内径的难度和误差,提高了测量精度。
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作详细说明。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是圆环形测量支架的结构示意图。
其中,1、校准环规,2、圆环形测量支架,3、三爪定位卡板,4、第一测头,5、第二测头,6、千分表。
具体实施方式
如图1至2所示,一种内径测量检具,包括校准环规1和圆环形测量支架2,所述校准环规1为标准内径尺寸(即满足待测孔或环的内径尺寸及其精度要求)的圆环。所述圆环形测量支架2设有第一测头4、第二测头5和千分表6,所述第一测头4、第二测头5和千分表6的探头分别沿圆环形测量支架2径向方向朝向圆环形测量支架2外侧设置,所述第一测头4、第二测头5和千分表6的探头在圆周方向上均分分布在所述圆环形测量支架2上,通过将第一测头4、第二测头5和千分表6的探头均分分布在环形测量支架2上,使其两两之间的圆弧弧度均为120°,第一测头4、第二测头5和千分表6的探头形成一个等边三角形,以确保千分表6探头的中轴线必然穿过圆环形测量支架2的圆心。所述圆环形测量支架2外侧还设有三爪定位卡板3,所述三爪定位卡板3用于定位第一测头4、第二测头5以及千分表6的探头与待测孔或环内壁的垂直度。所述三爪定位卡板3将圆环形测量支架2划分为3个空间,所述第一测头4、第二测头5和千分表6的探头分别位于3个空间内,所述校准环规1与所述圆环形测量支架2配合使用,所述校准环规1用于校准内径测量检具。
具体地,当需要用内径测量检具对待测孔进行内径测量时,首先将圆环形测量支架2放入待测孔,使第一测头4、第二测头5和千分表6的探头均与待测孔的内壁接触,使圆环形测量支架2与待测孔同心,同时,三爪定位卡板3的三爪贴在待测孔的侧壁上,使第一测头4、第二测头5及千分表6的探头均与待测孔的内壁垂直,确保第一测头4、第二测头5和千分表6的探头位于与测量孔的横截面平行的同一平面内,以减少测量工件内径的难度和误差。然后,转动圆环形测量支架2使千分表6的探头转动120°以上,读取千分表6的刻度,以测量待测孔的内径尺寸。
当然,在内径测量检具进行内径测量之前,还应该对内径测量检具进行校准,具体地,校准方法如下:选择与待测孔内径尺寸相匹配的校准环规1,将圆环形测量支架2放入校准环规1,使第一测头4、第二测头5和千分表6的探头均与校准环规1的内壁接触,圆环形测量支架2与校准环规1同心,同时,三爪定位卡板3的三爪贴在校准环规1的侧壁上,使第一测头4、第二测头5及千分表6的探头均与待测孔的内壁垂直,转动圆环形测量支架2使千分表6的探头转动120°以上,调整千分表6,使千分表6的指针处于零点刻度处,对千分表6进行零点校准。
所述三爪定位卡板3的3个爪的交汇点与所述圆环形测量支架2的中轴线重合,所述交汇点与圆环形测量支架2的圆心在同一中轴线上,测量人员可通过交汇点直观的判断圆环形测量支架2的圆心位置。所述三爪定位卡板3中相邻2个爪之间的夹角为120°。进一步地,所述第一测头4、第二测头5和千分表6的探头与其相邻的2个爪之间的夹角均相同。三爪定位卡板3的3个爪将第一测头4、第二测头5和千分表6探头居中等间距均分,可进一步确保第一测头4、第二测头5和千分表6探头的垂直度,提高测量精度。
所述圆环形测量支架2、第一测头4、第二测头5和三爪定位卡板3均为碳素工具钢材质。碳素工具钢热处理后表面可得到较高的硬度和耐磨性,还具有较高的韧性,退火硬度低,加工性能良好,适合长期使用。
所述第一测头4、第二测头5和千分表6均与圆环形测量支架2可拆卸连接。具体地,所述第一测头4、第二测头5及千分表6均通过螺钉固定。
进一步地,所述校准环规1可包括多种尺寸规格,可通过调整第一测头4、第二测头5及千分表6探头与圆环形测量支架2间的距离,使内径测量检具满足不同尺寸规格的校准环规1,以提高内径测量检具的适用性。
本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (5)
1.一种内径测量检具,其特征在于:包括校准环规和圆环形测量支架,所述圆环形测量支架设有第一测头、第二测头和千分表,所述第一测头、第二测头和千分表的探头分别沿圆环形测量支架径向方向朝向圆环形测量支架外侧设置,所述第一测头、第二测头和千分表的探头在圆周方向上均分分布在所述圆环形测量支架上,所述圆环形测量支架外侧还设有三爪定位卡板,所述三爪定位卡板将圆环形测量支架划分为3个空间,所述第一测头、第二测头和千分表的探头分别位于3个空间内,所述校准环规与所述圆环形测量支架配合使用。
2.根据权利要求1所述的内径测量检具,其特征在于:所述三爪定位卡板的3个爪的交汇点与所述圆环形测量支架的中轴线重合,所述三爪定位卡板中相邻2个爪之间的夹角为120°。
3.根据权利要求2所述的内径测量检具,其特征在于:所述第一测头、第二测头和千分表探头与其相邻的2个爪之间的夹角均相同。
4.根据权利要求1所述的内径测量检具,其特征在于:所述圆环形测量支架、第一测头、第二测头和三爪定位卡板均为碳素工具钢材质。
5.根据权利要求1所述的内径测量检具,其特征在于:所述第一测头、第二测头和千分表均与圆环形测量支架可拆卸连接。
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