CN220473381U - 一种用于半导体检测的治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于半导体检测的治具，涉及治具技术领域，包括底座，所述底座上安装有活动架，活动架上固设有观察台，观察台的内部设有固定机构，底座上还固接有两个固定柱，两个固定柱之间活动连接有调节板，调节板的内部设有锁定机构，调节板的侧壁上固接有安装架，安装架上安装有光学显微镜，所述活动架包括两个固接在底座上的横向滑轨，此用于半导体检测的治具，区别于现有技术，对拉环一进行先拉后放操作时，可使两个夹杆自动相互靠近并将芯片夹紧，对芯片固定效果好，且操作方便简单，可芯片的每一个位置进行检查工作，检查更加全面，且方便调节光学显微镜的使用高度，以便更好的观察芯片。

Description

一种用于半导体检测的治具

技术领域

本实用新型涉及治具技术领域，具体为一种用于半导体检测的治具。

背景技术

芯片测试的目的是在找出没问题的芯片的同时尽量节约成本，芯片复杂度越来越高,为了保证出厂的芯片质量不出任何问题，需要在出厂前进行检测以确保功能完整性等，其中就包括有对芯片外观的检测，检测通常使用光学显微镜，检查芯片的共面性、表面的印字、器件主体和管脚等，是否符合特定要求，根据IC外观检测的要求，从标签,盘,编带,印字颜色,还有芯片的厚度检查，一般经验比较丰富的，应该容易看出来。

目前，在对芯片外观进行检测时，需要使用到专门的治具，但现有的治具对芯片难以固定，操作不方便，且难以不能对芯片进行全面的检查工作，为此，我们提出一种用于半导体检测的治具。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于半导体检测的治具，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于半导体检测的治具，包括底座，所述底座上安装有活动架，活动架上固设有观察台，观察台的内部设有固定机构，底座上还固接有两个固定柱，两个固定柱之间活动连接有调节板，调节板的内部设有锁定机构，调节板的侧壁上固接有安装架，安装架上安装有光学显微镜。

作为优选，所述活动架包括两个固接在底座上的横向滑轨，两个横向滑轨上均滑动设置有两个横向滑块，四个横向滑块分别固接在两个纵向滑轨的底部，两个纵向滑轨上均滑动设置有纵向滑块，两个纵向滑块均固接在观察台的底部。

作为优选，所述固定机构包括转动连接在观察台内部的转轴，转轴的外壁上固接有齿环，齿环与齿板相啮合，齿板的一端与拉杆一的一端固接，拉杆一的另一端滑动贯穿至观察台的外部并固接有拉环一，拉杆一的外壁上还套设有弹簧一，转轴的外壁上固接有转动板，转动板表面的两侧通过连杆与两个滑动块的底部相铰接，两个滑动块均滑动设置在观察台表面开设的滑动孔内，滑动块上固接有夹杆。

作为优选，所述齿板的侧壁上固接有滑动套，滑动套套设在固定杆上，固定杆固接在观察台内。

作为优选，所述观察台上开设有用于放置芯片的定位槽。

作为优选，所述锁定机构包括活动连接在调节板内部的拉杆二，拉杆二的一端滑动贯穿至调节板的外部并固接有拉环二，拉杆二的另一端固接有压块，拉杆二的外壁上还套设有弹簧二，压块底部的两侧分别与两个锁定块的一端滑动贴合，两个锁定块均滑动设置在固定板内，锁定块靠近固定柱的一端为弧面并与其相贴合。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、通过固定机构的设置，对拉环一进行先拉后放操作时，可使两个夹杆自动相互靠近并将芯片夹紧，对芯片固定效果好，且操作方便简单；

2、通过活动架的设置，方便对芯片的每一个位置进行检查工作，检查更加全面；

3、通过锁定机构的设置，方便调节光学显微镜的使用高度，以便更好的观察芯片。

附图说明

图1为本实用新型整体的结构示意图；

图2为本实用新型调节板剖视后的结构示意图；

图3为本实用新型活动架的结构示意图；

图4为本实用新型观察台剖视的结构示意图。

图中：1、底座；2、活动架；21、横向滑轨；22、横向滑块；23、纵向滑轨；24、纵向滑块；3、观察台；4、固定机构；41、转轴；42、齿环；43、齿板；44、滑动套；45、固定杆；46、拉杆一；47、拉环一；48、弹簧一；49、转动板；410、连杆；411、滑动块；412、夹杆；5、固定柱；6、调节板；7、锁定机构；71、拉杆二；72、拉环二；73、压块；74、弹簧二；75、锁定块；8、安装架；9、光学显微镜。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例一

请参阅图1-4，图示中的一种用于半导体检测的治具，包括底座1，底座1上安装有活动架2，活动架2上固设有观察台3，观察台3的内部设有固定机构4，底座1上还固接有两个固定柱5，两个固定柱5之间活动连接有调节板6，调节板6的内部设有锁定机构7，调节板6的侧壁上固接有安装架8，安装架8上安装有光学显微镜9。

其中，活动架2包括两个固接在底座1上的横向滑轨21，两个横向滑轨21上均滑动设置有两个横向滑块22，四个横向滑块22分别固接在两个纵向滑轨23的底部，两个纵向滑轨23上均滑动设置有纵向滑块24，两个纵向滑块24均固接在观察台3的底部；用于在检查时移动观察台3。

其中，固定机构4包括转动连接在观察台3内部的转轴41，转轴41的外壁上固接有齿环42，齿环42与齿板43相啮合，齿板43的一端与拉杆一46的一端固接，拉杆一46的另一端滑动贯穿至观察台3的外部并固接有拉环一47，拉杆一46的外壁上还套设有弹簧一48，转轴41的外壁上固接有转动板49，转动板49表面的两侧通过连杆410与两个滑动块411的底部相铰接，两个滑动块411均滑动设置在观察台3表面开设的滑动孔内，滑动块411上固接有夹杆412；用于固定芯片。

其中，齿板43的侧壁上固接有滑动套44，滑动套44套设在固定杆45上，固定杆45固接在观察台3内；用于使齿板43在移动时更加稳定，确保齿板43与齿环42的稳定啮合。

其中，观察台3上开设有用于放置芯片的定位槽；便于准确放置芯片。

本实施例中，先通过拉环一47拉动拉杆一46移动，拉杆一46带动齿板43移动，此时弹簧一48被压缩，齿板43通过与齿环42的啮合作用带动转轴41旋转，转轴41带动转动板49旋转，转动板49通过连杆410带动滑动块411移动，滑动块411带动夹杆412移动，从而使两个夹杆412相互远离，然后将芯片放在定位槽内，松开拉环一47后在弹簧一48的弹力作用下使两个夹杆412自动相互靠近并将芯片夹紧，然后检测人员通过光学显微镜9观察芯片表面，在观察过程中，由于横向滑块22和纵向滑块24分别可以在横向滑轨21和纵向滑轨23上自由移动，从而可自动移动观察台3，能够对芯片的每一个位置进行检查工作即可。

实施例二

本实施例二是对实施例一的进一步补充和说明，请参阅图1-图2，图示中的锁定机构7包括活动连接在调节板6内部的拉杆二71，拉杆二71的一端滑动贯穿至调节板6的外部并固接有拉环二72，拉杆二71的另一端固接有压块73，拉杆二71的外壁上还套设有弹簧二74，压块73底部的两侧分别与两个锁定块75的一端滑动贴合，两个锁定块75均滑动设置在固定板内，锁定块75靠近固定柱5的一端为弧面并与其相贴合。

本实施例中，通过拉环二72拉动拉杆二71移动，拉杆二71带动压块73上移，此时弹簧二74被压缩，而压块73不再挤压锁定块75后，锁定块75不对固定柱5产生挤压作用，此时可上下移动调节板6，继而可调节光学显微镜9的使用高度，调节好后，松开拉环二72，在弹簧二74弹力作用下推动压块73下移，压块73通过挤压作用时两个锁定块75对固定柱5产生挤压力，利用二者挤压产生的摩擦力形成固定效果即可。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种用于半导体检测的治具，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上安装有活动架(2)，活动架(2)上固设有观察台(3)，观察台(3)的内部设有固定机构(4)，底座(1)上还固接有两个固定柱(5)，两个固定柱(5)之间活动连接有调节板(6)，调节板(6)的内部设有锁定机构(7)，调节板(6)的侧壁上固接有安装架(8)，安装架(8)上安装有光学显微镜(9)，固定机构(4)包括转动连接在观察台(3)内部的转轴(41)，转轴(41)的外壁上固接有齿环(42)，齿环(42)与齿板(43)相啮合，齿板(43)的一端与拉杆一(46)的一端固接，拉杆一(46)的另一端滑动贯穿至观察台(3)的外部并固接有拉环一(47)，拉杆一(46)的外壁上还套设有弹簧一(48)，转轴(41)的外壁上固接有转动板(49)，转动板(49)表面的两侧通过连杆(410)与两个滑动块(411)的底部相铰接，两个滑动块(411)均滑动设置在观察台(3)表面开设的滑动孔内，滑动块(411)上固接有夹杆(412)。

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体检测的治具，其特征在于：所述活动架(2)包括两个固接在底座(1)上的横向滑轨(21)，两个横向滑轨(21)上均滑动设置有两个横向滑块(22)，四个横向滑块(22)分别固接在两个纵向滑轨(23)的底部，两个纵向滑轨(23)上均滑动设置有纵向滑块(24)，两个纵向滑块(24)均固接在观察台(3)的底部。

3.根据权利要求1所述的一种用于半导体检测的治具，其特征在于：所述齿板(43)的侧壁上固接有滑动套(44)，滑动套(44)套设在固定杆(45)上，固定杆(45)固接在观察台(3)内。

4.根据权利要求1所述的一种用于半导体检测的治具，其特征在于：所述观察台(3)上开设有用于放置芯片的定位槽。

5.根据权利要求1所述的一种用于半导体检测的治具，其特征在于：所述锁定机构(7)包括活动连接在调节板(6)内部的拉杆二(71)，拉杆二(71)的一端滑动贯穿至调节板(6)的外部并固接有拉环二(72)，拉杆二(71)的另一端固接有压块(73)，拉杆二(71)的外壁上还套设有弹簧二(74)，压块(73)底部的两侧分别与两个锁定块(75)的一端滑动贴合，两个锁定块(75)均滑动设置在固定板内，锁定块(75)靠近固定柱(5)的一端为弧面并与其相贴合。