CN220461384U - 偏光板外观检测装置以及全自动偏光板制板机 - Google Patents
偏光板外观检测装置以及全自动偏光板制板机 Download PDFInfo
- Publication number
- CN220461384U CN220461384U CN202320263776.7U CN202320263776U CN220461384U CN 220461384 U CN220461384 U CN 220461384U CN 202320263776 U CN202320263776 U CN 202320263776U CN 220461384 U CN220461384 U CN 220461384U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- code scanning
- polarizing plate
- plate
- buffer
- optical detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 64
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 60
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 52
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 40
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 15
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 8
- 210000001503 joint Anatomy 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 11
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
本申请提供一种偏光板外观检测装置以及全自动偏光板制板机。上述的偏光板外观检测装置包括滚轮传动机构以及光检组件;光检组件包括依次设置的入料对位件、光学检测件、扫码器以及板件缓存器,入料对位件与滚轮传动机构的对位工位对应,光学检测件与滚轮传动机构的光检工位对应,扫码器与滚轮传动机构的扫码工位对应,板件缓存器与滚轮传动机构的板件分流工位对应。入料对位件对偏光板进行对齐设置,使得在进行光学检测前板件位置统一,扫码器对偏光板进行身份扫描,便于将偏光板的光检结果与产品进行绑定,进而便于板件缓存器对不同光检结果的偏光板进行分别输出,使得对偏光板的外观检测效率提高,有效地降低了偏光板的生产成本。
Description
技术领域
本实用新型涉及偏光板技术领域,特别是涉及一种偏光板外观检测装置以及全自动偏光板制板机。
背景技术
偏光板是一种只允许偏振光透过的光学功能材料,已广泛应用于电脑电视液晶显示器,车载显示器,3D眼镜等领域。偏光板在使用时为片状材料,但在前制程生产时为卷状物料,其从卷料到片料的生产工序如下步骤进行:前制程卷料由多层膜材在无尘室贴合而成,当滚轮或膜材上存在异物时,就有可能存在一定的缺点,如异物,气泡,捏痕和凹凸等,通过自动光学检查机检验出缺点后,再通过喷墨机对该缺点位置进行标记。经过熟成后到后制程用自动裁切机裁切成不同尺寸的片状偏光板,再人工检验被标记的不良品,统计缺点类型和良率。为了实现对不良产品的监控,目前大部分的偏光板企业都会采用在线自动光学检查机,进行缺点检测,自动光学检查机以不同的检测通道(包括直交,反射和穿透等)设定的灰阶阈值检出缺点,并根据分类程式以尺寸,面积和灰阶等属性参数将缺点判定为不同的类型,并用不同的缺点符号表示。
然而,传统的偏光板检测设备是独立的设备,需要操作人员将偏光板转移至对应的检测设备上,不仅容易导致对偏光板的损坏,还容易存在操作不当而导致检测不准确,影响生产效率,造成偏光板的生产成本过高。
实用新型内容
本实用新型的目的是克服现有技术中的不足之处,提供一种有效提高生产效率的偏光板外观检测装置以及全自动偏光板制板机。
本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:
一种偏光板外观检测装置,包括:滚轮传动机构以及光检组件;所述滚轮传动机构用于传送偏光板;所述光检组件包括依次设置的入料对位件、光学检测件、扫码器以及板件缓存器,所述入料对位件与所述滚轮传动机构的对位工位对应,所述入料对位件与所述偏光板的侧边抵接,以使各所述偏光板对齐,所述光学检测件与所述滚轮传动机构的光检工位对应,所述光学检测件的检测探头朝向所述偏光板,所述扫码器与所述滚轮传动机构的扫码工位对应,所述扫码器的扫描端朝向所述偏光板,所述板件缓存器与所述滚轮传动机构的板件分流工位对应,所述板件缓存器用于所述偏光板的光检分流。
在其中一个实施例中,所述滚轮传动机构包括传动基台、传动电机以及多个传动滚轴,所述传动电机设置于所述传动基台上,所述传动电机的输出轴分别与多个所述传动滚轴连接,以转动多个所述传动滚轴,多个所述传动滚轴均匀分布于所述传动基台上,多个所述传动滚轴用于传送所述偏光板。
在其中一个实施例中,所述入料对位件活动设置于所述传动基台上,所述入料对位件穿设于任意两个所述传动滚轴之间。
在其中一个实施例中,所述入料对位件包括多个入料定位杆,各所述入料定位杆均与所述传动基台滑动连接,每一所述入料定位杆传输于两个相邻设置的所述传动滚轴之间,多个所述入料定位杆相互平齐设置。
在其中一个实施例中,所述入料定位杆包括杆体以及缓冲帽,所述杆体与所述传动基台滑动连接,所述缓冲帽套设于所述杆体上,所述缓冲帽与所述偏光板抵接。
在其中一个实施例中,所述扫码器包括扫码支架以及扫码件,所述扫码支架设置于所述滚轮传动机构上,所述扫码件活动设置于所述扫码支架上,所述扫码件朝向所述偏光板设置。
在其中一个实施例中,所述扫码件包括第一扫码滑轨、第二扫码滑轨、第三扫码滑轨以及扫码探头,所述第一扫码滑轨设置于所述扫码支架上,所述第二扫码滑轨滑动设置于所述第一扫码滑轨上,所述第三扫码滑轨滑动设置于所述第二扫码滑轨上,所述扫码探头滑动设置于所述第三扫码滑轨上。
在其中一个实施例中,所述第一扫码滑轨、所述第二扫码滑轨以及所述第三扫码滑轨两两相互垂直设置。
在其中一个实施例中,所述偏光板外观检测装置还包括复检机构以及顶升机构,所述复检机构与所述板件缓存器的第一分流端对应,以接收上层的光检次品的偏光板,所述顶升机构与所述板件缓存器的第二分流端对应,以接收下层的光检合格的偏光板,所述顶升机构用于将下层的偏光板提升并混合。
一种全自动偏光板制板机,包括上述任一实施例所述的偏光板外观检测装置。
与现有技术相比,本实用新型至少具有以下优点:
入料对位件对偏光板进行对齐设置,使得在进行光学检测前板件位置统一,便于光学检测件对偏光板进行指定区域的光学缺陷测试,扫码器对偏光板进行身份扫描,便于对偏光板进行产品身份绑定,从而便于将偏光板的光检结果与产品进行绑定,进而便于板件缓存器对不同光检结果的偏光板进行分别输出,使得对偏光板的外观检测效率提高,有效地降低了偏光板的生产成本。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为一实施例中偏光板外观检测装置的示意图;
图2为图1所示偏光板外观检测装置在A1处的放大示意图;
图3为图1所示偏光板外观检测装置在A2处的放大示意图。
具体实施方式
为了便于理解本实用新型,下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施方式。但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施方式。相反地,提供这些实施方式的目的是使对本实用新型的公开内容理解的更加透彻全面。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
本实用新型涉及一种偏光板外观检测装置。在其中一个实施例中,所述偏光板外观检测装置包括滚轮传动机构以及光检组件。所述滚轮传动机构用于传送偏光板。所述光检组件包括依次设置的入料对位件、光学检测件、扫码器以及板件缓存器。所述入料对位件与所述滚轮传动机构的对位工位对应,所述入料对位件与所述偏光板的侧边抵接,以使各所述偏光板对齐。所述光学检测件与所述滚轮传动机构的光检工位对应,所述光学检测件的检测探头朝向所述偏光板。所述扫码器与所述滚轮传动机构的扫码工位对应,所述扫码器的扫描端朝向所述偏光板。所述板件缓存器与所述滚轮传动机构的板件分流工位对应,所述板件缓存器用于所述偏光板的光检分流。入料对位件对偏光板进行对齐设置,使得在进行光学检测前板件位置统一,便于光学检测件对偏光板进行指定区域的光学缺陷测试,扫码器对偏光板进行身份扫描,便于对偏光板进行产品身份绑定,从而便于将偏光板的光检结果与产品进行绑定,进而便于板件缓存器对不同光检结果的偏光板进行分别输出,使得对偏光板的外观检测效率提高,有效地降低了偏光板的生产成本。
请参阅图1,其为本实用新型一实施例的偏光板外观检测装置的结构示意图。
一实施例的偏光板外观检测装置10包括滚轮传动机构100以及光检组件200。所述滚轮传动机构100用于传送偏光板。所述光检组件200包括依次设置的入料对位件210、光学检测件220、扫码器230以及板件缓存器240。所述入料对位件210与所述滚轮传动机构100的对位工位对应,所述入料对位件210与所述偏光板的侧边抵接,以使各所述偏光板对齐。所述光学检测件220与所述滚轮传动机构100的光检工位对应,所述光学检测件220的检测探头朝向所述偏光板。所述扫码器230与所述滚轮传动机构100的扫码工位对应,所述扫码器230的扫描端朝向所述偏光板。所述板件缓存器240与所述滚轮传动机构100的板件分流工位对应,所述板件缓存器240用于所述偏光板的光检分流。
在本实施例中,入料对位件210对偏光板进行对齐设置,使得在进行光学检测前板件位置统一,便于光学检测件220对偏光板进行指定区域的光学缺陷测试,扫码器230对偏光板进行身份扫描,便于对偏光板进行产品身份绑定,从而便于将偏光板的光检结果与产品进行绑定,进而便于板件缓存器240对不同光检结果的偏光板进行分别输出,使得对偏光板的外观检测效率提高,有效地降低了偏光板的生产成本。
在其中一个实施例中,请参阅图2,所述滚轮传动机构100包括传动基台110、传动电机120以及多个传动滚轴130,所述传动电机120设置于所述传动基台110上,所述传动电机120的输出轴分别与多个所述传动滚轴130连接,以转动多个所述传动滚轴130,多个所述传动滚轴130均匀分布于所述传动基台110上,多个所述传动滚轴130用于传送所述偏光板。在本实施例中,所述传动基台110作为各部件的承载平台,所述传动电机120以及多个所述传动滚轴130均设置于所述传动基台110上,所述传动电机120与各所述传动滚轴130连接,所述传动电机120通过传动方式转动各所述传动滚轴130,使得多个所述传动滚轴130以相同的角速度进行转动,从而使得多个所述传动滚轴130对所述偏光板进行传送。在另一个实施例中,所述光学检测件220、所述扫码器230以及所述板件缓存器240均设置于所述传动基台110上。
进一步地,请参阅图2,所述入料对位件210活动设置于所述传动基台110上,所述入料对位件210穿设于任意两个所述传动滚轴130之间。在本实施例中,所述入料对位件210位于两个所述传动滚轴130之间,所述入料对位件210穿过两个所述传动滚轴130之间的间隙,以对所述传动滚轴130上承载的偏光板进行对位,使得每一个是偏光板在所述滚轮传动机构100上传送时的位置统一,确保了每一个所述偏光板进入所述光检工位时的位置相同,便于对各所述偏光板进行统一的外观检测。
又进一步地,请参阅图2,所述入料对位件210包括多个入料定位杆212,各所述入料定位杆212均与所述传动基台110滑动连接,每一所述入料定位杆212传输于两个相邻设置的所述传动滚轴130之间,多个所述入料定位杆212相互平齐设置。在本实施例中,所述入料定位杆212滑动设置于所述传动基台110上,即所述入料定位杆212与所述传动基台110相对运动,便于所述入料定位杆212在所述传动基台110上移动,从而便于对所述入料定位杆212的位置进行调整,从而便于所述入料定位杆212对所述偏光板进行对位,以提高每一次进行外观检测的偏光板的放置位置的统一性。
更进一步地,请参阅图2,所述入料定位杆212包括杆体2122以及缓冲帽2124,所述杆体2122与所述传动基台110滑动连接,所述缓冲帽2124套设于所述杆体2122上,所述缓冲帽2124与所述偏光板抵接。在本实施例中,所述杆体2122位于所述传动基台110上,通过调整所述杆体2122在所述传动基台110上的位置,以便于将所述偏光板的入料位置进行调整,确保各所述偏光板的入料位置相同。所述缓冲帽2124与所述杆体2122的端部套接,所述缓冲帽2124与所述偏光板接触,在对所述偏光板进行对位时,所述缓冲帽2124与所述偏光板之间的弹性接触,以降低对所述偏光板的破坏几率。
在其中一个实施例中,请参阅图3,所述扫码器230包括扫码支架232以及扫码件234,所述扫码支架232设置于所述滚轮传动机构100上,所述扫码件234活动设置于所述扫码支架232上,所述扫码件234朝向所述偏光板设置。在本实施例中,所述扫码支架232设置在所述滚轮传动机构100上,具体地,所述扫码支架232设置在所述传动基台110上,所述扫码支架232作为所述扫码件234的活动支架,以便于所述扫码件234相对于所述传动基台110发生移动,便于所述扫码件234进行扫码时的位置调整,从而便于所述扫码件234对所述偏光板的指定位置的编码进行扫码。
进一步地,请参阅图3,所述扫码件234包括第一扫码滑轨2342、第二扫码滑轨2344、第三扫码滑轨2346以及扫码探头2348,所述第一扫码滑轨2342设置于所述扫码支架232上,所述第二扫码滑轨2344滑动设置于所述第一扫码滑轨2342上,所述第三扫码滑轨2346滑动设置于所述第二扫码滑轨2344上,所述扫码探头2348滑动设置于所述第三扫码滑轨2346上。在本实施例中,所述第一扫码滑轨2342固定在所述扫码支架232上,所述第一扫码滑轨2342作为所述第二扫码滑轨2344的移动轨道,便于所述第二扫码滑轨2344相对于所述扫码支架232发生移动,所述第二扫码滑轨2344还作为所述第三扫码滑轨2346的移动轨道,便于所述第三扫码滑轨2346相对于所述扫码支架232以及所述第二扫码滑轨2344发生移动,而且,所述扫码探头2348在所述第三扫码滑轨2346上滑动,使得所述扫码探头2348相对于所述第一扫码滑轨2342、所述第二扫码滑轨2344以及所述第三扫码滑轨2346位置可变,从而使得所述扫码探头2348在多个方向上进行移动,以便于所述扫码探头2348对各种所述偏光板进行扫码。在另一个实施例中,所述第一扫码滑轨2342、所述第二扫码滑轨2344以及所述第三扫码滑轨2346两两相互垂直设置,具体地,所述第一扫码滑轨2342、所述第二扫码滑轨2344以及所述第三扫码滑轨2346分别位于三轴系统的三个相互垂直的轴向上,例如,所述第一扫码滑轨2342在X轴上,所述第二扫码滑轨2344在Y轴上,所述第三扫码滑轨2346在Z轴上。
在其中一个实施例中,请参阅图1,所述偏光板外观检测装置10还包括复检机构300以及顶升机构400,所述复检机构300与所述板件缓存器240的第一分流端对应,以接收上层的光检次品的偏光板,所述顶升机构400与所述板件缓存器240的第二分流端对应,以接收下层的光检合格的偏光板,所述顶升机构400用于将下层的偏光板提升并混合。在本实施例中,所述板件缓存器240对经过所述光学检测件220测试的偏光板进行分板,其中不合格的偏光板通过所述第一分流端输出至所述复检机构300中,以便于所述复检机构300进行人工复检,例如,所述第一分流端将光检次品的偏光板通过所述复检机构300的上层传输带传送至复检区域。合格的偏光板通过所述第二分流端输出至所述顶升机构400中,以便于所述顶升机构400进行偏光板的混板工序,例如,所述第二分流端将光检次品的偏光板通过所述复检机构300的下层传输带传送至所述顶升机构400,便于所述顶升机构400将多个偏光板从下层提升至上层并进行合板。在另一个实施例中,所述顶升机构包括第一提升机、第二提升机以及同步提升机,所述第一提升机和所述第二提升机分别将两个位于下层的偏光板提升,以使得两个合格的偏光板上升至所述同步提升机的上层,便于所述同步提升机将两个合格的偏光板进行混合整理,之后再一并传输出去。
在其中一个实施例中,本申请还提供一种全自动偏光板制板机,包括上述任一实施例所述的偏光板外观检测装置。在本实施例中,所述偏光板外观检测装置包括滚轮传动机构以及光检组件。所述滚轮传动机构用于传送偏光板。所述光检组件包括依次设置的入料对位件、光学检测件、扫码器以及板件缓存器。所述入料对位件与所述滚轮传动机构的对位工位对应,所述入料对位件与所述偏光板的侧边抵接,以使各所述偏光板对齐。所述光学检测件与所述滚轮传动机构的光检工位对应,所述光学检测件的检测探头朝向所述偏光板。所述扫码器与所述滚轮传动机构的扫码工位对应,所述扫码器的扫描端朝向所述偏光板。所述板件缓存器与所述滚轮传动机构的板件分流工位对应,所述板件缓存器用于所述偏光板的光检分流。入料对位件对偏光板进行对齐设置,使得在进行光学检测前板件位置统一,便于光学检测件对偏光板进行指定区域的光学缺陷测试,扫码器对偏光板进行身份扫描,便于对偏光板进行产品身份绑定,从而便于将偏光板的光检结果与产品进行绑定,进而便于板件缓存器对不同光检结果的偏光板进行分别输出,使得对偏光板的外观检测效率提高,有效地降低了偏光板的生产成本。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种偏光板外观检测装置,其特征在于,包括:
滚轮传动机构,所述滚轮传动机构用于传送偏光板;
光检组件,所述光检组件包括依次设置的入料对位件、光学检测件、扫码器以及板件缓存器,所述入料对位件与所述滚轮传动机构的对位工位对应,所述入料对位件与所述偏光板的侧边抵接,以使各所述偏光板对齐,所述光学检测件与所述滚轮传动机构的光检工位对应,所述光学检测件的检测探头朝向所述偏光板,所述扫码器与所述滚轮传动机构的扫码工位对应,所述扫码器的扫描端朝向所述偏光板,所述板件缓存器与所述滚轮传动机构的板件分流工位对应,所述板件缓存器用于所述偏光板的光检分流。
2.根据权利要求1所述的偏光板外观检测装置,其特征在于,所述滚轮传动机构包括传动基台、传动电机以及多个传动滚轴,所述传动电机设置于所述传动基台上,所述传动电机的输出轴分别与多个所述传动滚轴连接,以转动多个所述传动滚轴,多个所述传动滚轴均匀分布于所述传动基台上,多个所述传动滚轴用于传送所述偏光板。
3.根据权利要求2所述的偏光板外观检测装置,其特征在于,所述入料对位件活动设置于所述传动基台上,所述入料对位件穿设于任意两个所述传动滚轴之间。
4.根据权利要求2所述的偏光板外观检测装置,其特征在于,所述入料对位件包括多个入料定位杆,各所述入料定位杆均与所述传动基台滑动连接,每一所述入料定位杆传输于两个相邻设置的所述传动滚轴之间,多个所述入料定位杆相互平齐设置。
5.根据权利要求4所述的偏光板外观检测装置,其特征在于,所述入料定位杆包括杆体以及缓冲帽,所述杆体与所述传动基台滑动连接,所述缓冲帽套设于所述杆体上,所述缓冲帽与所述偏光板抵接。
6.根据权利要求1所述的偏光板外观检测装置,其特征在于,所述扫码器包括扫码支架以及扫码件,所述扫码支架设置于所述滚轮传动机构上,所述扫码件活动设置于所述扫码支架上,所述扫码件朝向所述偏光板设置。
7.根据权利要求6所述的偏光板外观检测装置,其特征在于,所述扫码件包括第一扫码滑轨、第二扫码滑轨、第三扫码滑轨以及扫码探头,所述第一扫码滑轨设置于所述扫码支架上,所述第二扫码滑轨滑动设置于所述第一扫码滑轨上,所述第三扫码滑轨滑动设置于所述第二扫码滑轨上,所述扫码探头滑动设置于所述第三扫码滑轨上。
8.根据权利要求7所述的偏光板外观检测装置,其特征在于,所述第一扫码滑轨、所述第二扫码滑轨以及所述第三扫码滑轨两两相互垂直设置。
9.根据权利要求1所述的偏光板外观检测装置,其特征在于,所述偏光板外观检测装置还包括复检机构以及顶升机构,所述复检机构与所述板件缓存器的第一分流端对应,以接收上层的光检次品的偏光板,所述顶升机构与所述板件缓存器的第二分流端对应,以接收下层的光检合格的偏光板,所述顶升机构用于将下层的偏光板提升并混合。
10.一种全自动偏光板制板机,其特征在于,包括如权利要求1至9中任一项所述的偏光板外观检测装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202320263776.7U CN220461384U (zh) | 2023-02-14 | 2023-02-14 | 偏光板外观检测装置以及全自动偏光板制板机 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202320263776.7U CN220461384U (zh) | 2023-02-14 | 2023-02-14 | 偏光板外观检测装置以及全自动偏光板制板机 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN220461384U true CN220461384U (zh) | 2024-02-09 |
Family
ID=89799568
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202320263776.7U Active CN220461384U (zh) | 2023-02-14 | 2023-02-14 | 偏光板外观检测装置以及全自动偏光板制板机 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN220461384U (zh) |
-
2023
- 2023-02-14 CN CN202320263776.7U patent/CN220461384U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101411458B1 (ko) | 샤프트 검사 장치 | |
CN209117604U (zh) | 一种活塞销检测机 | |
WO2008099219A1 (en) | Glazing inspection | |
CN107831175A (zh) | 一种板材表面缺陷双面检测装置及其检测方法 | |
CN107228861A (zh) | 液晶面板的缺陷检测装置 | |
JP2018510338A (ja) | ガラス板取得及び位置決めシステム | |
CN106903069B (zh) | 一种x光检测设备 | |
CN211148402U (zh) | 一种遮光胶尺寸及外观双工位检测机 | |
CN215449031U (zh) | 一种软包电池表面缺陷检测设备 | |
CN214472864U (zh) | 一种偏光片缺陷检测设备及系统 | |
CN110581096A (zh) | 一种led芯片光电性与外观一体化检测设备 | |
CN112362663A (zh) | 一种巡边检测机构及面板边缘巡边检测方法 | |
CN220461384U (zh) | 偏光板外观检测装置以及全自动偏光板制板机 | |
CN206990465U (zh) | 液晶面板的缺陷检测装置 | |
CN112748119B (zh) | 一种aoi光学测试机的扫描检测平台 | |
CN107472601A (zh) | 一种制酒车间灯检装置 | |
CN209707406U (zh) | 一种注塑件缺料影像ccd检测设备 | |
CN116571471A (zh) | 一种屏幕全贴合不良检测装置 | |
CN112666173A (zh) | 一种多工位aoi测试平台 | |
CN114646390A (zh) | 一种颜色光泽检测设备及其检测方法 | |
KR101835104B1 (ko) | 샤프트 검사 장치 | |
CN212449662U (zh) | 液晶面板自动检测系统 | |
CN210098300U (zh) | 橡胶辊轴直线度检测用的细长辊轴分选装置 | |
CN209829618U (zh) | 集成电路芯片缺陷检测装置 | |
TWI291140B (en) | Image inspection method and structure of substrate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |