CN220399931U - eDP信号测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及电子技术领域，公开了eDP信号测试治具，包括：第一测试治具板与第二测试治具板：第一测试治具板为双层印制电路板，具有第一eDP接口插座与若干高速信号接口，第一eDP接口插座与第一待测电子设备相连，高速信号接口与高速示波器相连，用于对第一待测电子设备的eDP信号质量进行测试；第二测试治具板为双层印制电路板，具有第二eDP接口插座与若干高速信号接口，第二eDP接口插座与第一待测电子设备相连，高速信号接口与高速示波器相连，用于对第一待测电子设备的eDP信号质量进行测试；第一eDP接口插座的尺寸与第二eDP接口插座的尺寸不同，满足笔记本电脑的eDP信号测试，减少测试时间，降低测试难度。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子技术领域，具体涉及eDP信号测试治具。
背景技术
随着科技的不断发展，笔记本电脑设备更新迅速，OLED屏幕是一种新型的显示技术，它具有高对比度、高亮度、低功耗等优点，很多笔记本电脑也逐渐配备OLED屏。eDP(Embedded DisplayPort)是一种通信接口方式，即内部DP(DisplayPort)接口，它有强大的传输高分辨率、抗EMI能力，且接口简单，逐渐成为笔记本电脑显示屏接口选用的主流。笔记本电脑主板端eDP接口通过cable线与OLED屏幕相连，信号交流后，适配相应的分辨率。
相关技术中，在信号测试时，由于OLED屏的eDP接口引脚定义和笔记本主板端接口定义不同，且现有的eDP测试治具引脚定义和OLED屏eDP接口引脚定义不同，无法满足对OLED屏笔记本主板及cable线的EDP信号质量进行全面、简单、便捷的检测，测试难度大。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型提供了eDP信号测试治具，以解决现有对OLED屏笔记本主板及cable线的EDP信号测试难度大的问题。
第一方面，本实用新型提供了一种eDP信号测试治具，eDP信号测试治具包括：第一测试治具板与第二测试治具板：
第一测试治具板为双层印制电路板，具有第一eDP接口插座与若干高速信号接口，第一eDP接口插座与第一待测电子设备相连，高速信号接口与高速示波器相连，用于对第一待测电子设备的eDP信号质量进行测试；
第二测试治具板为双层印制电路板，具有第二eDP接口插座与若干高速信号接口，第二eDP接口插座与第一待测电子设备相连，高速信号接口与高速示波器相连，用于对第一待测电子设备的eDP信号质量进行测试；
第一eDP接口插座的尺寸与第二eDP接口插座的尺寸不同。
在本实用新型中，eDP信号测试治具能满足OLED屏笔记本电脑的eDP信号测试，无需工程师自己焊线，连接简单；通过使用eDP信号测试治具进行笔记本电脑的eDP信号测试，既可以减少测试时间，降低测试难度，又能避免焊线造成的测试损耗误差，大大方便了研发人员的eDP信号Debug验证及测试人员进行的eDP信号功能验证。由于两块治具板均为双层电路板，造价便宜，且两块治具板均为拼板设计，可按一个电路板进行加工，从而进一步减少了制作成本。
在一种可选的实施方式中，第一待测电子设备为OLED屏笔记本电脑。
在该方式中，测试治具可以实现对OLED屏笔记本电脑的eDP信号进行测试，满足对OLED屏笔记本主板及cable线的EDP信号质量进行全面、简单、便捷的检测。
在一种可选的实施方式中，第一eDP接口插座的尺寸为0.4pitch 40Pin；
第二eDP接口插座的尺寸为0.5pitch 40Pin。
在该方式中，通过为测试治具板设计了0.4pitch和0.5pitch两种尺寸，兼顾了如今笔记本市场常用的eDP接口尺寸，更加全面可靠。
在一种可选的实施方式中，高速信号接口，包括：Lan0正负信号接口、Lan1正负信号接口、Lan2正负信号接口、Lan3正负信号接口与AUX正负信号接口；
高速信号接口均通过电路板表层走线引至印制板上的SMA接口，形成微带线，微带线两端均为通孔形式的接地孔。
在该方式中，高速信号接口分别与eDP插座的PIN脚进行对应，分别引出至电路板周围的10个SMA接口，微带线的阻抗易于控制，且线宽较宽，能减小损耗；高速信号线旁边为接地孔，保证了信号线之间的信号隔离，屏蔽效果，且接地孔为通孔设计，通孔相对于盲孔或者埋孔来说，能降低印制电路板加工难度和成本，从而达到在确保信号线的屏蔽效果，减少干扰和损耗的情况下，减少成本和难度。
在一种可选的实施方式中，第一测试治具板，还包括：若干第一eDP低速信号接口与第一排针区，第一eDP低速信号接口通过第一eDP接口插座引至第一排针区；
第二测试治具板，还包括：若干第二eDP低速信号接口与第二排针区，第二eDP低速信号接口通过第二eDP接口插座引至第二排针区。
在该方式中，将剩余低速信号引至排针区，进一步降低干扰，以保证屏蔽效果。
在一种可选的实施方式中，eDP信号测试治具，还包括：第一eDP插座转接器与第二eDP插座转接器：
第一eDP插座转接器包括第一插头与第一插座，第一插座与第二待测电子设备相连，第一插头与第一eDP接口插座相连，第一插头与第一插座的尺寸与第一eDP接口插座的尺寸相同；
第二eDP插座转接器包括第二插头与第二插座，第二插座与第二待测电子设备相连，第二插头与第二eDP接口插座相连，第二插头与第二插座与第二eDP接口插座的尺寸相同。
在该方式中，在支持OLED屏笔记本的eDP信号测试的基础上，设计转换器，转换器将OLED的高速信号pin脚顺序转换为LCD的高速信号pin脚顺序，从而兼顾LCD屏笔记本的eDP信号测试，提高了测试治具的泛用性，同时进一步降低了测试成本。
在一种可选的实施方式中，第二待测电子设备为LCD屏笔记本电脑。
在该方式中，通过为治具板增加插座转接器，更为便捷地实现了对LCD屏笔记本电脑的测试，无需更换测试治具板即可实现，提高了测试治具的泛用性和普适性。
在一种可选的实施方式中，第一eDP插座转接器为0.4pitch 40pin插头转40pin插座转接器，第一插头为0.4pitch 40pin插头，第一插座为0.4pitch 40pin插座；
第二eDP插座转接器为0.5pitch40pin插头转40pin插座转接器，第二插头为0.5pitch 40pin插头，第二插座为0.5pitch 40pin插座。
在该方式中，通过设计了0.4pitch和0.5pitch两种尺寸的插座转接器，兼顾了如今笔记本市场常用的eDP接口尺寸，使得测试更加全面可靠。
在一种可选的实施方式中，第一插头的pin脚与第一插座的pin脚一对一直连，第一插头与第一插座通过外表包有绝缘屏蔽类材料的软外壳的柔性电路板或线缆连接；
第二插头的pin脚与第二插座的pin脚一对一直连，第二插头与第二插座通过外表包有绝缘屏蔽类材料的软外壳的柔性电路板或线缆连接。
在该方式中，通过将插头的PIN脚与插座的PIN脚进行一对一直连，实现了将OLED的高速信号pin脚顺序转换为LCD的高速信号pin脚顺序，在直连的柔性电路板或线缆之间，在外表包有绝缘屏蔽类材料的软外壳，进一步降低了干扰和损耗。
在一种可选的实施方式中，第一插头的pin脚与第一插座的pin脚的对应关系为第一插头的第12引脚、第13引脚、第15引脚、第16引脚、第18引脚、第19引脚、第21引脚、第22引脚、第10引脚及第9引脚分别与第一插座的第13引脚、第12引脚、第10引脚、第9引脚、第7引脚、第6引脚、第4引脚、第3引脚、第15引脚及第16引脚一对一直连；
第二插头的pin脚与第二插座的pin脚的对应关系为第二插头的第12引脚、第13引脚、第15引脚、第16引脚、第18引脚、第19引脚、第21引脚、第22引脚、第10引脚及第9引脚分别与第二插座的第13引脚、第12引脚、第10引脚、第9引脚、第7引脚、第6引脚、第4引脚、第3引脚、第15引脚及第16引脚一对一直连。
在该方式中，通过将插头与插座之间对应的PIN脚进行一一对应，实现了将OLED的高速信号pin脚顺序转换为LCD的高速信号pin脚顺序，进而使得测试治具可以在实现对OLED屏笔记本电脑的测试，且可以实现对LCD屏笔记本电脑的测试，节省了更换测试治具的成本。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本实用新型实施例的eDP信号测试治具的结构示意图。
图2a是根据本实用新型实施例的使用第一eDP信号测试治具进行测试的连接关系示意图。
图2b是根据本实用新型实施例的使用第二eDP信号测试治具进行测试的连接关系示意图。
图3是根据本实用新型实施例的eDP信号测试治具的布线示意图。
图4是根据本实用新型实施例的测试治具板设计的示意图。
图5是根据本实用新型实施例的进行OLED屏笔记本电脑的eDP信号测试的连接关系示意图。
图6a是根据本实用新型实施例的第一eDP插座转接器的结构示意图及进行测试的连接关系示意图。
图6b是根据本实用新型实施例的第二eDP插座转接器的结构示意图及进行测试的连接关系示意图。
图7a是根据本实用新型实施例的第一eDP插座转接器的结构示意图。
图7b是根据本实用新型实施例的第二eDP插座转接器的结构示意图。
图8a是根据本实用新型实施例的0.4pitch 40pin插头转40pin插座转接器的结构示意图。
图8b是根据本实用新型实施例的0.5pitch 40pin插头转40pin插座转接器的结构示意图。
图9是根据本实用新型实施例的进行LCD屏笔记本电脑的eDP信号测试的连接关系示意图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
相关技术中，在信号测试时，由于OLED屏的eDP接口引脚定义和笔记本主板端接口定义不同，且现有的eDP测试治具引脚定义和OLED屏eDP接口引脚定义不同，无法满足对OLED屏笔记本主板及cable线的EDP信号质量进行全面、简单、便捷的检测，测试难度大。
为解决上述问题，本实用新型实施例中提供一种eDP信号测试治具，适用于对笔记本主板及cable线的EDP信号质量进行检测的使用场景。通过本实用新型提供eDP信号测试治具，eDP信号测试治具能满足OLED屏笔记本电脑的eDP信号测试，无需工程师自己焊线，连接简单；通过使用eDP信号测试治具进行笔记本电脑的eDP信号测试，既可以减少测试时间，降低测试难度，又能避免焊线造成的测试损耗误差，大大方便了研发人员的eDP信号Debug验证及测试人员进行的eDP信号功能验证。由于两块治具板均为双层电路板，造价便宜，且两块治具板均为拼板设计，可按一个电路板进行加工，从而进一步减少了制作成本。
在本实施例中提供了一种eDP信号测试治具，图1是根据本实用新型实施例的eDP信号测试治具的结构示意图，图2a是根据本实用新型实施例的使用第一eDP信号测试治具进行测试的连接关系示意图，图2b是根据本实用新型实施例的使用第二eDP信号测试治具进行测试的连接关系示意图，如图1及图2a所示，eDP信号测试治具包括：第一测试治具板100与第二测试治具板200：第一测试治具板100为双层印制电路板，具有第一eDP接口插座101与若干高速信号接口102，第一eDP接口插座101与第一待测电子设备300相连，高速信号接口102与高速示波器400相连，用于对第一待测电子设备300的eDP信号质量进行测试；如图1及图2b所示，第二测试治具板200为双层印制电路板，具有第二eDP接口插座201与若干高速信号接口202，第二eDP接口插座201与第一待测电子设备300相连，高速信号接口202与高速示波器400相连，用于对第一待测电子设备300的eDP信号质量进行测试；第一eDP接口插座101的尺寸与第二eDP接口插座201的尺寸不同。
在本实用新型实施例中，第一待测电子设备300为OLED屏笔记本电脑。
在该方式中，测试治具可以实现对OLED屏笔记本电脑的eDP信号进行测试，满足对OLED屏笔记本主板及cable线的EDP信号质量进行全面、简单、便捷的检测。
在本实用新型实施例中，第一eDP接口插座101的尺寸为0.4pitch 40Pin；
第二eDP接口插座201的尺寸为0.5pitch 40Pin。
在该方式中，通过为测试治具板设计了0.4pitch和0.5pitch两种尺寸，兼顾了如今笔记本市场常用的eDP接口尺寸，更加全面可靠。
在一种可选的实施方式中，高速信号接口，包括：Lan0正负信号接口、Lan1正负信号接口、Lan2正负信号接口、Lan3正负信号接口与AUX正负信号接口；
高速信号接口均通过电路板表层走线引至印制板上的SMA接口，形成微带线，微带线两端均为通孔形式的接地孔。
在一示例中，图3是根据本实用新型实施例的eDP信号测试治具的布线示意图。线条为印制板上接至SMA的布线，两侧的圆孔即为通孔接地孔。
在该方式中，高速信号接口分别与eDP插座的PIN脚进行对应，分别引出至电路板周围的10个SMA接口，微带线的阻抗易于控制，且线宽较宽，能减小损耗；高速信号线旁边为接地孔，保证了信号线之间的信号隔离，屏蔽效果，且接地孔为通孔设计，通孔相对于盲孔或者埋孔来说，能降低印制电路板加工难度和成本，从而达到在确保信号线的屏蔽效果，减少干扰和损耗的情况下，减少成本和难度。
在本实用新型实施例中，第一测试治具板100，还包括：若干第一eDP低速信号接口与第一排针区103，第一eDP低速信号接口通过第一eDP接口插座引至第一排针区103；
第二测试治具板200，还包括：若干第二eDP低速信号接口与第二排针区203，第二eDP低速信号接口通过第二eDP接口插座引至第二排针区203。
在该方式中，将剩余低速信号引至排针区，进一步降低干扰，以保证屏蔽效果。
在一示例中，图4是根据本实用新型实施例的测试治具板设计的示意图。如图3所示，测试治具板1主体为一个双层印制电路板，电路板上一侧为0.4pitch(相邻引脚的间距)40Pin的eDP接口插座，其中的Lan0正负、Lan1正负、Lan2正负、Lan3正负、AUX正负这10个高速信号(对应的Pin脚分别为12，13，15，16，18，19，21，22，10，9)通过Top层走线引至印制板上的SMA(母头)接口，Top层即电路板表层，形成微带线，微带线的阻抗易于控制，且线宽较宽，能减小损耗。以上走线两边均为设计为通孔形式的接地孔，以保证屏蔽效果，减少损耗和干扰。其他eDP低速信号(如HPD、PWR、VCC、GND等)分别从40Pin eDP接口插座端引至两侧的2.54mm排针上。
测试治具板2主体跟治具板1类似，为一个双层印刷电路板，仅eDP接口插座尺寸由0.4pitch 40Pin改为0.5pitch 40Pin。电路板上一侧为0.5pitch(相邻引脚的间距)40Pin的eDP接口插座，其中的Lan0正负、Lan1正负、Lan2正负、Lan3正负、AUX正负这10个高速信号(对应的Pin脚分别为12，13，15，16，18，19，21，22，10，9)通过Top层走线引至印制板上的SMA(母头)接口，Top层即电路板表层，形成微带线，微带线的阻抗易于控制，且线宽较宽，能减小损耗。以上走线两边均为设计为通孔形式的接地孔，以保证屏蔽效果，减少损耗和干扰。其他eDP低速信号(如HPD、PWR、VCC、GND等)分别从40Pin eDP接口插座端引至两侧的2.54mm排针上。
测试治具板1和测试治具板2除eDP接口插座尺寸不同外，电路板材质、层数等均相同。故在印制电路板设计和生产时，可按一个电路板进行拼板设计和加工，从而减少成本。
图5是根据本实用新型实施例的进行OLED屏笔记本电脑的eDP信号测试的连接关系示意图。如图5所示，当测试OLED屏笔记本电脑的eDP信号时，将需测试的eDP cable线一端连在待测的OLED屏笔记本主板上，另一端连在测试治具板1或治具板2上(根据所测的笔记本屏幕eDP接口尺寸选择：0.4pitch用测试治具板1，0.5pitch用测试治具板2)。测试治具板上另一端印有Lan0正负、Lan1正负、Lan2正负、Lan3正负的SMA母头，通过SMA cable接到高速示波器上。即可测试OLED屏笔记本eDP信号质量。SMA cable的具体连接关系与测试需求相关，在测试哪个信号时，就将该信号对应的SMA接口通过SMA cable连到高速示波器通道上即可。
本实施例提供的eDP信号测试治具，能满足OLED屏笔记本电脑的eDP信号测试，无需工程师自己焊线，连接简单；通过使用eDP信号测试治具进行笔记本电脑的eDP信号测试，既可以减少测试时间，降低测试难度，又能避免焊线造成的测试损耗误差，大大方便了研发人员的eDP信号Debug验证及测试人员进行的eDP信号功能验证。由于两块治具板均为双层电路板，造价便宜，且两块治具板均为拼板设计，可按一个电路板进行加工，从而进一步减少了制作成本。
在另一实施场景中，eDP信号测试治具，还包括：第一eDP插座转接器500与第二eDP插座转接器600：图6a是根据本实用新型实施例的第一eDP插座转接器的结构示意图及进行测试的连接关系示意图，图6b是根据本实用新型实施例的第二eDP插座转接器的结构示意图及进行测试的连接关系示意图，如图6a所示，第一eDP插座转接器500包括第一插头501与第一插座502，第一插座502与第二待测电子设备700相连，第一插头501与第一eDP接口插座101相连，第一插头501与第一插座502的尺寸与第一eDP接口插座101的尺寸相同；
如图6b所示，第二eDP插座转接器600包括第二插头601与第二插座602，第二插座602与第二待测电子设备700相连，第二插头601与第二eDP接口插座201相连，第二插头601与第二插座602与第二eDP接口插座201的尺寸相同。
在该方式中，在支持OLED屏笔记本的eDP信号测试的基础上，设计转换器，转换器将OLED的高速信号pin脚顺序转换为LCD的高速信号pin脚顺序，从而兼顾LCD屏笔记本的eDP信号测试，提高了测试治具的泛用性，同时进一步降低了测试成本。
在本实用新型实施例中，第二待测电子设备700为LCD屏笔记本电脑。
在该方式中，通过为治具板增加插座转接器，更为便捷地实现了对LCD屏笔记本电脑的测试，无需更换测试治具板即可实现，提高了测试治具的泛用性和普适性。
在本实用新型实施例中，第一eDP插座转接器500为0.4pitch 40pin插头转40pin插座转接器，第一插头501为0.4pitch 40pin插头，第一插座502为0.4pitch40pin插座；
第二eDP插座转接器600为0.5pitch 40pin插头转40pin插座转接器，第二插头601为0.5pitch 40pin插头，第二插座602为0.5pitch 40pin插座。
在该方式中，通过设计了0.4pitch和0.5pitch两种尺寸的插座转接器，兼顾了如今笔记本市场常用的eDP接口尺寸，使得测试更加全面可靠。
在本实用新型实施例中，图7a是根据本实用新型实施例的第一eDP插座转接器的结构示意图，图7b是根据本实用新型实施例的第二eDP插座转接器的结构示意图。
如图7a所示，第一插头501的pin脚与第一插座502的pin脚一对一直连，第一插头501与第一插座502通过外表包有绝缘屏蔽类材料的软外壳的柔性电路板或线缆连接；
如图7b所示，第二插头601的pin脚与第二插座602的pin脚一对一直连，第二插头601与第二插座602通过外表包有绝缘屏蔽类材料的软外壳的柔性电路板或线缆连接。
在该方式中，通过将插头的PIN脚与插座的PIN脚进行一对一直连，实现了将OLED的高速信号pin脚顺序转换为LCD的高速信号pin脚顺序，在直连的柔性电路板或线缆之间，在外表包有绝缘屏蔽类材料的软外壳，进一步降低了干扰和损耗。
在本实用新型实施例中，第一插头501的pin脚与第一插座502的pin脚的对应关系为第一插头的第12引脚、第13引脚、第15引脚、第16引脚、第18引脚、第19引脚、第21引脚、第22引脚、第10引脚及第9引脚分别与第一插座502的第13引脚、第12引脚、第10引脚、第9引脚、第7引脚、第6引脚、第4引脚、第3引脚、第15引脚及第16引脚一对一直连；
第二插头601的pin脚与第二插座602的pin脚的对应关系为第二插头601的第12引脚、第13引脚、第15引脚、第16引脚、第18引脚、第19引脚、第21引脚、第22引脚、第10引脚及第9引脚分别与第二插座602的第13引脚、第12引脚、第10引脚、第9引脚、第7引脚、第6引脚、第4引脚、第3引脚、第15引脚及第16引脚一对一直连。
在该方式中，通过将插头与插座之间对应的PIN脚进行一一对应，实现了将OLED的高速信号pin脚顺序转换为LCD的高速信号pin脚顺序，进而使得测试治具可以在实现对OLED屏笔记本电脑的测试，且可以实现对LCD屏笔记本电脑的测试，节省了更换测试治具的成本。
在一示例中，图8a是根据本实用新型实施例的0.4pitch 40pin插头转40pin插座转接器的结构示意图。如图8a所示，0.4pitch 40pin插头转40pin插座转接器一端为0.4pitch 40pin插头，其上Pin脚(12，13，15，16，18，19，21，22，10，9)，与转换器另一端的0.4pitch 40pin插座的pin脚(13，12，10，9，7，6，4，3，15，16)一对一直连。连接方式可为柔性电路板或线缆，外表包有绝缘屏蔽类材料的软外壳。
图8b是根据本实用新型实施例的0.5pitch 40pin插头转40pin插座转接器的结构示意图。如图8b所示，eDP 0.5pitch 40pin插头转40pin插座转接器：该转换器一端为0.5pitch 40pin插头，其上Pin脚(12，13，15，16，18，19，21，22，10，9)，与转换器另一端的0.5pitch 40pin插座的pin脚(13，12，10，9，7，6，4，3，15，16)一对一直连。连接方式可为柔性电路板或线缆，外表包有绝缘屏蔽类材料的软外壳。
在另一实施场景中，图9是根据本实用新型实施例的进行LCD屏笔记本电脑的eDP信号测试的连接关系示意图，如图9所示，当测试普通LCD屏笔记本电脑的eDP信号时，将需测试的eDP cable线一端连在待测笔记本主板上，另一端连在eDP 40pin插头转40pin插座转接器的插座一端，转换器的插头一端再接至测试治具板1或治具板2上(根据所测的笔记本屏幕eDP接口尺寸选择：0.4pitch用测试治具板1，0.5pitch用测试治具板2)。测试治具板上另一端印有Lan0正负、Lan1正负、Lan2正负、Lan3正负的SMA母头通过SMA cable接到高速示波器上。即可测试普通LCD屏笔记本eDP信号质量。
本实施例提供的eDP插座转接器，在支持OLED屏笔记本的eDP信号测试的基础上，设计转换器，转换器将OLED的高速信号pin脚顺序转换为LCD的高速信号pin脚顺序，从而兼顾LCD屏笔记本的eDP信号测试，提高了测试治具的泛用性，同时进一步降低了测试成本。
虽然结合附图描述了本实用新型的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下做出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。
Claims (10)
1.一种eDP信号测试治具，其特征在于，所述eDP信号测试治具包括：第一测试治具板与第二测试治具板：
所述第一测试治具板为双层印制电路板，具有第一eDP接口插座与若干高速信号接口，所述第一eDP接口插座与第一待测电子设备相连，所述高速信号接口与高速示波器相连，用于对所述第一待测电子设备的eDP信号质量进行测试；
所述第二测试治具板为双层印制电路板，具有第二eDP接口插座与若干高速信号接口，所述第二eDP接口插座与所述第一待测电子设备相连，所述高速信号接口与高速示波器相连，用于对所述第一待测电子设备的eDP信号质量进行测试；
所述第一eDP接口插座的尺寸与所述第二eDP接口插座的尺寸不同。
2.根据权利要求1所述的eDP信号测试治具，其特征在于，所述第一待测电子设备为OLED屏笔记本电脑。
3.根据权利要求1所述的eDP信号测试治具，其特征在于，所述第一eDP接口插座的尺寸为0.4pitch 40Pin；
所述第二eDP接口插座的尺寸为0.5pitch 40Pin。
4.根据权利要求1所述的eDP信号测试治具，其特征在于，所述高速信号接口，包括：Lan0正负信号接口、Lan1正负信号接口、Lan2正负信号接口、Lan3正负信号接口与AUX正负信号接口；
所述高速信号接口均通过电路板表层走线引至印制板上的SMA接口，形成微带线，所述微带线两端均为通孔形式的接地孔。
5.根据权利要求1所述的eDP信号测试治具，其特征在于，所述第一测试治具板，还包括：若干第一eDP低速信号接口与第一排针区，所述第一eDP低速信号接口通过所述第一eDP接口插座引至所述第一排针区；
所述第二测试治具板，还包括：若干第二eDP低速信号接口与第二排针区，所述第二eDP低速信号接口通过所述第二eDP接口插座引至所述第二排针区。
6.根据权利要求1-5任一项所述的eDP信号测试治具，其特征在于，所述eDP信号测试治具，还包括：第一eDP插座转接器与第二eDP插座转接器：
所述第一eDP插座转接器包括第一插头与第一插座，所述第一插座与第二待测电子设备相连，所述第一插头与所述第一eDP接口插座相连，所述第一插头与第一插座的尺寸与所述第一eDP接口插座的尺寸相同；
所述第二eDP插座转接器包括第二插头与第二插座，所述第二插座与第二待测电子设备相连，所述第二插头与所述第二eDP接口插座相连，所述第二插头与第二插座与所述第二eDP接口插座的尺寸相同。
7.根据权利要求6所述的eDP信号测试治具，其特征在于，所述第二待测电子设备为LCD屏笔记本电脑。
8.根据权利要求6所述的eDP信号测试治具，其特征在于，所述第一eDP插座转接器为0.4pitch 40pin插头转40pin插座转接器，所述第一插头为0.4pitch40pin插头，所述第一插座为0.4pitch 40pin插座；
所述第二eDP插座转接器为0.5pitch 40pin插头转40pin插座转接器，所述第二插头为0.5pitch 40pin插头，所述第二插座为0.5pitch 40pin插座。
9.根据权利要求8所述的eDP信号测试治具，其特征在于，所述第一插头的pin脚与所述第一插座的pin脚一对一直连，所述第一插头与所述第一插座通过外表包有绝缘屏蔽类材料的软外壳的柔性电路板或线缆连接；
所述第二插头的pin脚与所述第二插座的pin脚一对一直连，所述第二插头与所述第二插座通过外表包有绝缘屏蔽类材料的软外壳的柔性电路板或线缆连接。
10.根据权利要求9所述的eDP信号测试治具，其特征在于，所述第一插头的pin脚与所述第一插座的pin脚的对应关系为所述第一插头的第12引脚、第13引脚、第15引脚、第16引脚、第18引脚、第19引脚、第21引脚、第22引脚、第10引脚及第9引脚分别与所述第一插座的第13引脚、第12引脚、第10引脚、第9引脚、第7引脚、第6引脚、第4引脚、第3引脚、第15引脚及第16引脚一对一直连；
所述第二插头的pin脚与所述第二插座的pin脚的对应关系为所述第二插头的第12引脚、第13引脚、第15引脚、第16引脚、第18引脚、第19引脚、第21引脚、第22引脚、第10引脚及第9引脚分别与所述第二插座的第13引脚、第12引脚、第10引脚、第9引脚、第7引脚、第6引脚、第4引脚、第3引脚、第15引脚及第16引脚一对一直连。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202322080734.2U CN220399931U (zh) | 2023-08-02 | 2023-08-02 | eDP信号测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN220399931U true CN220399931U (zh) | 2024-01-26 |
Family
ID=89606931
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202322080734.2U Active CN220399931U (zh) | 2023-08-02 | 2023-08-02 | eDP信号测试治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN220399931U (zh) |
-
2023
- 2023-08-02 CN CN202322080734.2U patent/CN220399931U/zh active Active
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|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
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