CN220350975U - 一种用于芯片检测的传送装置 - Google Patents

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孙哲
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Abstract

本实用新型公开了一种用于芯片检测的传送装置,包括第一传送架、第一传送带、检测架、第二传送架和第二传送带,所述第一传送带安装在第一传送架的内部,所述第一传送带两侧的外壁上皆设置有间隔控制机构,所述检测架固定在第一传送架的一侧,且所述检测架两侧的外壁上皆固定有驱动导轨,所述驱动导轨的内部转动安装有丝杆,且所述丝杆的外壁上螺纹连接有活动座,并且所述活动座的一侧固定有夹持臂,所述第二传送架固定在检测架远离第一传送架的一侧,所述第二传送带安装在第二传送架的内部。本实用新型不仅实现了对芯片的翻面功能,可控制每组芯片之间的间隔距离,而且传送和翻面连贯性好、效率高。

Description

一种用于芯片检测的传送装置
技术领域
本实用新型涉及芯片检测技术领域,具体为一种用于芯片检测的传送装置。
背景技术
芯片是集成电路的一种封装形式,它是将电子元器件、电路和系统集成在一个微小的硅片上,用于实现电子设备的功能,芯片是现代科技的重要组成部分,无处不在,影响着人们的生产生活。由于芯片的质量和可靠性关系到整个产品的运行稳定性,为了保证芯片的质量和可靠性,需要对其进行检测,视觉检测是基于计算机视觉技术的全自动检测方案,通过视觉检测,可以检测出芯片表面上的各种缺陷,例如瑕疵、损伤等,在对芯片进行检测时,需要将芯片逐个传送,因此需要使用到传送装置。
传送装置一般只能单一的完成芯片的传送工作,当芯片传送至检测区域时,不便对芯片进行翻面,因此不便同时完成芯片的上下面的检测工作,效率较低,而且不便控制每组芯片之间的间隔距离,因此有待改进。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于芯片检测的传送装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种用于芯片检测的传送装置,包括第一传送架、第一传送带、检测架、第二传送架和第二传送带,所述第一传送带安装在第一传送架的内部,所述第一传送架一端的外壁上安装有第一旋转驱动件,第一旋转驱动件的输出端与第一传送带的驱动端固定连接,所述第一传送带两侧的外壁上皆设置有间隔控制机构,所述检测架固定在第一传送架的一侧,且所述检测架两侧的外壁上皆固定有驱动导轨,所述驱动导轨的内部转动安装有丝杆,且所述丝杆的外壁上螺纹连接有活动座,并且所述活动座的一侧固定有夹持臂,所述夹持臂的一端延伸至检测架的内部并安装有第四旋转驱动件,且所述第四旋转驱动件的输出端安装有夹持座,所述夹持座一侧的外壁上分别设置有第一收纳槽和第二收纳槽,且所述第一收纳槽和第二收纳槽的一侧分别设置有第一夹持片和第二夹持片,所述第二传送架固定在检测架远离第一传送架的一侧,所述第二传送带安装在第二传送架的内部,所述第二传送架一端的外壁上安装有第三旋转驱动件,第三旋转驱动件的输出端与第二传送带的驱动端固定连接。
优选的,所述间隔控制机构包括机箱、第一伸缩驱动件,所述机箱皆固定在第一传送架两侧的外壁上,所述第一伸缩驱动件安装在机箱的外壁上,第一伸缩驱动件的输出端延伸至机箱的内部,便于驱动档杆使其平移。
优选的,所述间隔控制机构还包括档杆,档杆设置在机箱的内部,所述档杆的一端与第一伸缩驱动件的输出端固定连接,档杆的另一端延伸至第一传送带的表面,便于对芯片进行阻挡。
优选的,所述驱动导轨的一端安装有第二旋转驱动件,第二旋转驱动件的输出端延伸至驱动导轨的内部并与丝杆的一端固定连接,便于驱动丝杆使其旋转。
优选的,所述夹持座顶部的外壁上安装有第三伸缩驱动件,第三伸缩驱动件的输出端延伸至第二收纳槽的内部并与第二夹持片的一端固定连接,便于驱动第二夹持片使其平移。
优选的,所述夹持座底部的外壁上安装有第二伸缩驱动件,第二伸缩驱动件的输出端延伸至第一收纳槽的内部并与第一夹持片的一端固定连接,便于驱动第一夹持片使其平移。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:该用于芯片检测的传送装置不仅实现了对芯片的翻面功能,可控制每组芯片之间的间隔距离,而且传送和翻面连贯性好、效率高;
(1)通过设置有驱动导轨、丝杆、第二旋转驱动件、活动座、夹持臂、夹持座、第二伸缩驱动件、第一收纳槽、第一夹持片、第二夹持片、第二收纳槽、第三伸缩驱动件、第四旋转驱动件,当芯片运动至第一传送带的尾端时,芯片顺势落在夹持座之间,第一夹持片对芯片进行承托,第二旋转驱动件驱动丝杆使其转动,使得活动座沿着驱动导轨平移,活动座带动夹持臂同步平移,将芯片移动至检测架内的居中位置处,外部视觉检测设备对芯片进行检测,当芯片的一面检测完毕后,第三伸缩驱动件驱动第二夹持片使其从第二收纳槽内伸出,此时,第一夹持片和第二夹持片紧贴在芯片的表面,而且具有一定的摩擦力,可对芯片进行夹持固定,第四旋转驱动件驱动夹持座使其旋转一百八十度,对芯片进行翻面,使得芯片的另一面朝上,第二伸缩驱动件收缩并驱动第一夹持片收进第一收纳槽内,当芯片的另一面检测完毕后,夹持臂继续将芯片向一侧运送,第三旋转驱动件驱动第二传送带使其运转,夹持臂将芯片移动至第二传送带表面,第二传送带将芯片向下一环节传送,该传送装置实现了对芯片的翻面功能,可同时完成芯片的上下面的检测工作;
(2)通过设置有机箱、第一伸缩驱动件、档杆,第一伸缩驱动件驱动档杆使其从机箱内伸出并伸至第一传送带的表面,对芯片进行阻挡,紧接着,第一伸缩驱动件驱动档杆缩回机箱内,对芯片进行放行,从而可控制每组芯片之间的间隔距离;
(3)通过设置有第一传送架、第一传送带、检测架、第二传送架、第二传送带,将芯片放在第一传送带的表面,第一旋转驱动件驱动第一传送带运转,第一传送带对芯片进行传送,芯片传送至检测架内,进行检测,检测完毕后,第三旋转驱动件驱动第二传送带使其运转,夹持臂将芯片移动至第二传送带表面,第二传送带将芯片向下一环节传送,该装置传送和翻面连贯性好、效率高。
附图说明
图1为本实用新型的俯视结构示意图;
图2为本实用新型的图1中A处放大结构示意图;
图3为本实用新型的夹持臂侧视剖面放大结构示意图;
图4为本实用新型的间隔控制机构放大结构示意图。
图中:1、第一传送架;2、第一传送带;3、第一旋转驱动件;4、间隔控制机构;401、机箱;402、第一伸缩驱动件;403、档杆;5、检测架;6、驱动导轨;7、丝杆;8、第二旋转驱动件;9、第二传送架;10、第二传送带;11、第三旋转驱动件;12、活动座;13、夹持臂;14、夹持座;15、第二伸缩驱动件;16、第一收纳槽;17、第一夹持片;18、第二夹持片;19、第二收纳槽;20、第三伸缩驱动件;21、第四旋转驱动件。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4,本实用新型提供的一种实施例:一种用于芯片检测的传送装置,包括第一传送架1、第一传送带2、检测架5、第二传送架9和第二传送带10,第一传送带2安装在第一传送架1的内部,第一传送架1一端的外壁上安装有第一旋转驱动件3,第一旋转驱动件3的输出端与第一传送带2的驱动端固定连接,第一传送带2两侧的外壁上皆设置有间隔控制机构4;
检测架5固定在第一传送架1的一侧,且检测架5两侧的外壁上皆固定有驱动导轨6,驱动导轨6的内部转动安装有丝杆7,且丝杆7的外壁上螺纹连接有活动座12,并且活动座12的一侧固定有夹持臂13,夹持臂13的一端延伸至检测架5的内部并安装有第四旋转驱动件21,且第四旋转驱动件21的输出端安装有夹持座14,夹持座14一侧的外壁上分别设置有第一收纳槽16和第二收纳槽19,且第一收纳槽16和第二收纳槽19的一侧分别设置有第一夹持片17和第二夹持片18;
第二传送架9固定在检测架5远离第一传送架1的一侧,第二传送带10安装在第二传送架9的内部,第二传送架9一端的外壁上安装有第三旋转驱动件11,第三旋转驱动件11的输出端与第二传送带10的驱动端固定连接;
间隔控制机构4包括机箱401、第一伸缩驱动件402,机箱401皆固定在第一传送架1两侧的外壁上,第一伸缩驱动件402安装在机箱401的外壁上,第一伸缩驱动件402的输出端延伸至机箱401的内部,便于驱动档杆403使其平移;
间隔控制机构4还包括档杆403,档杆403设置在机箱401的内部,档杆403的一端与第一伸缩驱动件402的输出端固定连接,档杆403的另一端延伸至第一传送带2的表面,便于对芯片进行阻挡;
驱动导轨6的一端安装有第二旋转驱动件8,第二旋转驱动件8的输出端延伸至驱动导轨6的内部并与丝杆7的一端固定连接,便于驱动丝杆7使其旋转;
夹持座14顶部的外壁上安装有第三伸缩驱动件20,第三伸缩驱动件20的输出端延伸至第二收纳槽19的内部并与第二夹持片18的一端固定连接,便于驱动第二夹持片18使其平移;
夹持座14底部的外壁上安装有第二伸缩驱动件15,第二伸缩驱动件15的输出端延伸至第一收纳槽16的内部并与第一夹持片17的一端固定连接,便于驱动第一夹持片17使其平移。
本申请实施例在使用时:首先,将芯片放在第一传送带2的表面,此时,第一旋转驱动件3驱动第一传送带2运转,第一传送带2对芯片进行传送,当芯片在第一传送带2的表面运动时,通过操作外部控制设备,启动第一伸缩驱动件402,第一伸缩驱动件402驱动档杆403使其从机箱401内伸出并伸至第一传送带2的表面,对芯片进行阻挡,紧接着,第一伸缩驱动件402驱动档杆403缩回机箱401内,对芯片进行放行,从而可控制每组芯片之间的间隔距离,接着,当芯片运动至第一传送带2的尾端时,芯片顺势落在夹持座14之间,此时,第一夹持片17对芯片进行承托,第二旋转驱动件8驱动丝杆7使其转动,使得活动座12沿着驱动导轨6平移,活动座12带动夹持臂13同步平移,将芯片移动至检测架5内的居中位置处,外部视觉检测设备对芯片进行检测,当芯片的一面检测完毕后,第三伸缩驱动件20驱动第二夹持片18使其从第二收纳槽19内伸出,此时,第一夹持片17和第二夹持片18紧贴在芯片的表面,而且具有一定的摩擦力,可对芯片进行夹持固定,第四旋转驱动件21驱动夹持座14使其旋转一百八十度,对芯片进行翻面,使得芯片的另一面朝上,第二伸缩驱动件15收缩并驱动第一夹持片17收进第一收纳槽16内,当芯片的另一面检测完毕后,夹持臂13继续将芯片向一侧运送,第三旋转驱动件11驱动第二传送带10使其运转,夹持臂13将芯片移动至第二传送带10表面,第二传送带10将芯片向下一环节传送,该传送装置实现了对芯片的翻面功能,可同时完成芯片的上下面的检测工作,传送和翻面连贯,效率高。

Claims (6)

1.一种用于芯片检测的传送装置,其特征在于,包括第一传送架(1)、第一传送带(2)、检测架(5)、第二传送架(9)和第二传送带(10),所述第一传送带(2)安装在第一传送架(1)的内部,所述第一传送架(1)一端的外壁上安装有第一旋转驱动件(3),第一旋转驱动件(3)的输出端与第一传送带(2)的驱动端固定连接,所述第一传送带(2)两侧的外壁上皆设置有间隔控制机构(4),所述检测架(5)固定在第一传送架(1)的一侧,且所述检测架(5)两侧的外壁上皆固定有驱动导轨(6),所述驱动导轨(6)的内部转动安装有丝杆(7),且所述丝杆(7)的外壁上螺纹连接有活动座(12),并且所述活动座(12)的一侧固定有夹持臂(13),所述夹持臂(13)的一端延伸至检测架(5)的内部并安装有第四旋转驱动件(21),且所述第四旋转驱动件(21)的输出端安装有夹持座(14),所述夹持座(14)一侧的外壁上分别设置有第一收纳槽(16)和第二收纳槽(19),且所述第一收纳槽(16)和第二收纳槽(19)的一侧分别设置有第一夹持片(17)和第二夹持片(18),所述第二传送架(9)固定在检测架(5)远离第一传送架(1)的一侧,所述第二传送带(10)安装在第二传送架(9)的内部,所述第二传送架(9)一端的外壁上安装有第三旋转驱动件(11),第三旋转驱动件(11)的输出端与第二传送带(10)的驱动端固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的传送装置,其特征在于:所述间隔控制机构(4)包括机箱(401)、第一伸缩驱动件(402),所述机箱(401)皆固定在第一传送架(1)两侧的外壁上,所述第一伸缩驱动件(402)安装在机箱(401)的外壁上,第一伸缩驱动件(402)的输出端延伸至机箱(401)的内部。
3.根据权利要求2所述的一种用于芯片检测的传送装置,其特征在于:所述间隔控制机构(4)还包括档杆(403),所述档杆(403)设置在机箱(401)的内部,档杆(403)的一端与第一伸缩驱动件(402)的输出端固定连接,档杆(403)的另一端延伸至第一传送带(2)的表面。
4.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的传送装置,其特征在于:所述驱动导轨(6)的一端安装有第二旋转驱动件(8),第二旋转驱动件(8)的输出端延伸至驱动导轨(6)的内部并与丝杆(7)的一端固定连接。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的传送装置,其特征在于:所述夹持座(14)顶部的外壁上安装有第三伸缩驱动件(20),第三伸缩驱动件(20)的输出端延伸至第二收纳槽(19)的内部并与第二夹持片(18)的一端固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的传送装置,其特征在于:所述夹持座(14)底部的外壁上安装有第二伸缩驱动件(15),第二伸缩驱动件(15)的输出端延伸至第一收纳槽(16)的内部并与第一夹持片(17)的一端固定连接。
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