CN220347916U - 一种数控转台精度检测结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种数控转台精度检测结构，包括编码器、可沿待测转台的轴向移动的支架及可随待测转台同步转动的连接环，支架及连接环分别位于编码器的相对两侧；编码器具有向外突出的凸耳，支架上设有可与凸耳相吸的定位座；连接环与编码器同轴安装在一起，其远离编码器的侧端面同轴向外延伸有可插置安装在待测转台法兰盘中的第一连接部，连接环具有第一连接部的侧端面上设有用于吸附待测转台法兰盘的磁铁。本实用新型采用编码器检测，可大幅降低检测成本，采用磁铁吸附，可快速实现安装定位，在检测中提高检测效率。

Description

一种数控转台精度检测结构

技术领域

本实用新型涉及机床技术领域，尤其涉及一种数控转台精度检测结构。

背景技术

现有的数控转台定位精度、重复定位精度采用激光干涉仪检测，其测量仪器成本高，对操作人员有较高的要求。同时，现有的采用编码器检测的结构前期定位安装等工作也需要较多时间。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种成本较低、且便于快速定位安装的数控转台精度检测结构。

为解决上述技术问题，本实用新型实施例提供一种数控转台精度检测结构，包括编码器、可沿待测转台的轴向移动的支架及可随待测转台同步转动的连接环，所述支架及连接环分别位于所述编码器的相对两侧；所述编码器具有向外突出的凸耳，所述支架上设有可与所述凸耳相吸的定位座；所述连接环与编码器同轴安装在一起，其远离所述编码器的侧端面同轴向外延伸有可插置安装在待测转台法兰盘中的第一连接部，所述连接环具有所述第一连接部的侧端面上设有用于吸附待测转台法兰盘的磁铁。

进一步地，所述编码器包括编码器外壳、编码器转子、编码器定子、编码器轴承及可随待测转台同步转动的转轴，所述编码器外壳上设有轴承孔，所述编码器轴承位于所述轴承孔中，其轴承内圈紧配所述转轴，其轴承外圈紧配在所述轴承孔中，所述编码器转子固定于所述转轴上，所述编码器定子固定于所述编码器外壳上。

进一步地，所述编码器与连接环之间还设有内圈固定环及外圈固定环，所述内圈固定环与所述编码器同轴，其挡置于所述编码器轴承内圈的外侧，并固定在所述转轴上，所述连接环固定于所述内圈固定环上，所述外圈固定环与所述编码器同轴，其位于所述内圈固定环的外围，挡置于所述编码器轴承外圈的外侧，并固定在所述编码器外壳上。

进一步地，所述连接环与所述第一连接部相对的另一侧端面同轴向外延伸有第二连接部，所述第二连接部插置固定于所述内圈固定环中。

进一步地，所述支架上在竖直方向上设有表示高度的刻度，所述定位座可拆装地安装在所述支架上。

进一步地，所述凸耳为扁平的铁块，所述定位座底部具有可吸附所述凸耳的磁铁。

进一步地，所述编码器两侧靠近中部位置，水平对称设有一对所述的凸耳，所述支架上设有与所述的一对凸耳相配合的一对定位座。

进一步地，所述凸耳顶面中央具有突出的钢珠，所述定位座与所述凸耳通过所述钢珠点接触。

进一步地，每一定位座具有水平的水平板体以及由所述水平板体一侧向下垂直延伸的竖直板体，所述定位座上的磁铁位于所述水平板体的底部。

进一步地，所述待测转台固定安装在一底板上，所述支架可滑动地安装在所述底板上。

与现有技术相比较，本实用新型采用编码器检测，可降低检测仪器成本及操作人员的操作难度，因此可大幅降低检测成本。同时，本实用新型采用磁铁吸附，可快速实现安装定位，在检测中提高检测效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型实施例中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型一较佳实施例的剖视示意图。

图2是图1所示实施例用于检测转台精度时的立体示意图。

图3是图2所示实施例的剖视示意图。

图4是图2所示实施例的另一剖视示意图。

具体实施方式

为了使本领域的人员更好地理解本实用新型实施例中的技术方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型实施例中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型实施例保护的范围。

请参阅图1至图4，是本实用新型的一较佳实施例，该检测结构包括编码器1、可沿待测转台100的轴向移动的支架2及可随待测转台100同步转动的连接环3。支架2及连接环3分别位于编码器1的相对两侧；编码器1具有向外突出的凸耳4，支架2上设有可与凸耳4相吸的定位座5；连接环3与编码器1同轴安装在一起，其远离编码器1的侧端面同轴向外延伸有可插置安装在待测转台100法兰盘101中的第一连接部31，连接环3具有第一连接部31的侧端面上设有用于吸附待测转台100法兰盘101的磁铁6。

具体地，编码器1包括编码器外壳11、编码器转子12、编码器定子13、编码器轴承14及可随待测转台100同步转动的转轴15。编码器外壳11上设有轴承孔，编码器轴承14位于轴承孔中，其轴承内圈141紧配转轴15，其轴承外圈142紧配在轴承孔中，编码器转子12固定于转轴15上，编码器定子13固定于编码器外壳11上。

编码器1与连接环3之间还设有内圈固定环7及外圈固定环8，用于对编码器轴承14进行轴向定位。其中，内圈固定环7与编码器1同轴，其挡置于编码器轴承内圈141的外侧，并固定在转轴15上，连接环3固定于内圈固定环7上。外圈固定环8与编码器1同轴，其位于内圈固定环7的外围，挡置于编码器轴承外圈142的外侧，并固定在编码器外壳11上。

上述连接环3具有圆环状的连接环主体32，第一连接部31亦呈圆环状，与连接环主体32同轴，其外径小于连接环主体32的外径，并且与待测转台100法兰盘101的内径一致，磁铁6位于连接环主体32上，并且位于第一连接部31的外围。连接环3与第一连接部31相对的另一侧端面同轴向外延伸有第二连接部33，第二连接部33插置固定于内圈固定环7中。

凸耳4位于编码器外壳11上，为扁平的铁块，定位座5底部具有可吸附凸耳4的磁铁9。本实施例中，编码器外壳11两侧靠近中部的位置处，水平对称设有一对凸耳4，支架2上设有与一对凸耳4相配合的一对定位座5。支架2上在竖直方向上设有表示高度的刻度，定位座5可拆装地安装在支架2上。本实施例中，定位座5呈“L”形，具有水平的水平板体51以及由水平板体51一侧向下垂直延伸的竖直板体52，磁铁9位于水平板体51的底部。检测时，水平板体51与凸耳4上下平行。为防止定位座5与凸耳4过定位，凸耳4顶面中央具有突出的钢珠41，定位座5与凸耳4通过钢珠41点接触。

检测时，待测转台100固定安装在底板200上，底板200上设有沿待测转台100轴向延伸的滑轨201，支架2底部有滑槽21，支架2通过滑槽21与滑轨201的配合，可滑动地安装在底板200上，并通过键202实现定位。

上述数控转台精度检测结构的安装方法，包括以下步骤：

将支架2安装在待测转台100的一侧，并保证其与待测转台100安装在同一水平面上（本实施例中待测转台100和支架2都安装在底板200上）；

将连接环3的第一连接部31插置于待测转台100法兰盘101中，并使连接环3上的磁铁6吸附在待测转台100法兰盘101上；

将定位座5锁固于支架2上凸耳4的对应高度处；

移动支架2至定位座5与凸耳4相吸的位置，完成二者的定位。

当待测转台100转动指定角度时，编码器1可检测转台100实际转动角度，以此来检测转台100精度。

移动支架2时，将支架2移动至凸耳4上的钢珠41大致位于定位座5上的磁铁9中部，实现定位座5上的磁铁9与钢珠41点接触，达到固定编码器外壳11的效果。

在开始上述安装步骤之前，可先组装编码器1，具体地，将编码器轴承内圈141与转轴15紧配，将编码器轴承14放置于编码器外壳11的轴承孔中，用内圈固定环7和外圈固定环8对编码器轴承14进行轴向定位，将编码器转子12锁固于转轴15上，将编码器定子13锁固于编码器外壳11上。

为解决现有技术中激光干涉仪成本高的问题，本实用新型实施例采用编码器1检测，可降低检测仪器成本及操作人员的操作难度，因此可大幅降低检测成本。同时，为解决现有技术中检测前期安装、定心准备工作量大、操作复杂等问题，本实用新型实施例采用磁铁吸附，可快速实现安装定位，在检测中提高检测效率。

上述实施例仅为本实用新型较佳的实施方式，但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制，其他任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应视为等效的置换方式，都包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种数控转台精度检测结构，包括编码器；其特征在于，所述检测结构还包括可沿待测转台的轴向移动的支架及可随待测转台同步转动的连接环，所述支架及连接环分别位于所述编码器的相对两侧；所述编码器具有向外突出的凸耳，所述支架上设有可与所述凸耳相吸的定位座；所述连接环与编码器同轴安装在一起，其远离所述编码器的侧端面同轴向外延伸有可插置安装在待测转台法兰盘中的第一连接部，所述连接环具有所述第一连接部的侧端面上设有用于吸附待测转台法兰盘的磁铁。

2.如权利要求1所述的数控转台精度检测结构，其特征在于，所述编码器包括编码器外壳、编码器转子、编码器定子、编码器轴承及可随待测转台同步转动的转轴，所述编码器外壳上设有轴承孔，所述编码器轴承位于所述轴承孔中，其轴承内圈紧配所述转轴，其轴承外圈紧配在所述轴承孔中，所述编码器转子固定于所述转轴上，所述编码器定子固定于所述编码器外壳上。

3.如权利要求2所述的数控转台精度检测结构，其特征在于，所述编码器与连接环之间还设有内圈固定环及外圈固定环，所述内圈固定环与所述编码器同轴，其挡置于所述编码器轴承内圈的外侧，并固定在所述转轴上，所述连接环固定于所述内圈固定环上，所述外圈固定环与所述编码器同轴，其位于所述内圈固定环的外围，挡置于所述编码器轴承外圈的外侧，并固定在所述编码器外壳上。

4.如权利要求3所述的数控转台精度检测结构，其特征在于，所述连接环与所述第一连接部相对的另一侧端面同轴向外延伸有第二连接部，所述第二连接部插置固定于所述内圈固定环中。

5.如权利要求1所述的数控转台精度检测结构，其特征在于，所述支架上在竖直方向上设有表示高度的刻度，所述定位座可拆装地安装在所述支架上。

6.如权利要求1所述的数控转台精度检测结构，其特征在于，所述凸耳为扁平的铁块，所述定位座底部具有可吸附所述凸耳的磁铁。

7.如权利要求6所述的数控转台精度检测结构，其特征在于，所述编码器两侧靠近中部位置，水平对称设有一对所述的凸耳，所述支架上设有与所述的一对凸耳相配合的一对定位座。

8.如权利要求6所述的数控转台精度检测结构，其特征在于，所述凸耳顶面中央具有突出的钢珠，所述定位座与所述凸耳通过所述钢珠点接触。

9.如权利要求6所述的数控转台精度检测结构，其特征在于，每一定位座具有水平的水平板体以及由所述水平板体一侧向下垂直延伸的竖直板体，所述定位座上的磁铁位于所述水平板体的底部。

10.如权利要求1所述的数控转台精度检测结构，其特征在于，所述待测转台固定安装在一底板上，所述支架可滑动地安装在所述底板上。