CN220188631U - 电性能自动测试装置 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 108
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 27
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims abstract description 16
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 19
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 15
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 7
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010951 brass Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
本实用新型属于滤波器调试技术领域，具体涉及一种电性能自动测试装置，用于测试滤波器，滤波器包括介质块，电性能自动测试装置包括：测试电路板；屏蔽装置，屏蔽装置包括屏蔽部和接触部；屏蔽驱动机构，与屏蔽装置连接，用于带动屏蔽装置移动至介质块，并使屏蔽部与开路面间隔相对设置，并且接触部与测试电路板电连接；压头，包括下压面；压头驱动机构，与压头连接，压头驱动机构带动压头移动，下压面将介质块压住固定在测试电路板上，并介质块与测试电路板电连接；和测试仪表，与测试电路板电连接；测试仪表进行测试，实现了对介质块电性能的自动测试，效率高。
Description
技术领域
本实用新型属于滤波器调试技术领域，具体涉及一种电性能自动测试装置。
背景技术
滤波器的种类繁多，不同的种类应用的频率范围及场合不同。介质滤波器是通过介质谐振器之间的耦合构成。介质谐振器滤波器的Q值高、插入损耗低、尺寸小、重量轻，被广泛应用在无线基站、卫星通信、导航系统、电子对抗等系统中。
介质滤波器使用陶瓷烧结成型、端面图案精细，为保证出货质量，在生产过程中，需对其进行性能测试，若不合格则要人工打磨银层对其进行调试，达到合格后，再出货。
但是目前，一般人工使用工装对介质滤波器进行性能测试和调试，效率低。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种能够自动测试滤波器电性能的装置。
为实现上述目的，本实用新型提供一种电性能自动测试装置，用于测试滤波器，所述滤波器包括介质块，所述介质块包括相对设置的开路面和短路面，电性能自动测试装置包括：
测试电路板；
屏蔽装置，所述屏蔽装置包括屏蔽部和接触部；
屏蔽驱动机构，与所述屏蔽装置连接，用于带动所述屏蔽装置移动至所述介质块，并使所述屏蔽部与所述开路面间隔相对设置，并且所述接触部与所述测试电路板电连接；
压头，包括下压面；
压头驱动机构，与所述压头连接，所述压头驱动机构带动所述压头移动，所述下压面将所述介质块压住固定在所述测试电路板上，并所述介质块与所述测试电路板电连接；和
测试仪表，与所述测试电路板电连接。
在一些实施方式中，所述压头由金属材料制成，所述下压面还用于屏蔽所述介质块的磁场。
在一些实施方式中，所述屏蔽装置呈金属块状并侧面构成为所述屏蔽部；
所述压头呈块状并还包括侧表面，所述侧表面与所述屏蔽部相对设置并能够发生相对滑动。
在一些实施方式中，所述下压面和所述屏蔽部构成L型。
在一些实施方式中，电性能自动测试装置还包括限位块，所述屏蔽装置位于所述压头和所述限位块之间。
在一些实施方式中，所述屏蔽装置和/或所述压头由黄铜材料制成。
在一些实施方式中，所述介质块还包括相对设置的上表面和下表面，所述下表面上设有输入电极和输出电极；
所述测试电路板上设有待测件第一连接区、待测件第二连接区和屏蔽连接区，所述输入电极与所述待测件第一连接区电连接，所述输出电极与所述待测件第二连接区电连接，所述接触部与所述屏蔽连接区电连接。
在一些实施方式中，所述待测件第一连接区上设有第一探针，所述输入电极通过所述第一探针与所述待测件第一连接区电连接；
所述待测件第二连接区上设有第二探针，所述输出电极通过所述第二探针与所述待测件第二连接区电连接。
在一些实施方式中，所述屏蔽装置由金属薄片材料制成，和/或所述压头由非金属材料制成。
在一些实施方式中，电性能自动测试装置还包括：
压头压力反馈单元，检测压头的压力并进行反馈；和
屏蔽压力反馈单元，检测屏蔽装置的压力并进行反馈。
在一些实施方式中，所述屏蔽驱动机构和所述压头驱动机构分别为气缸。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
本申请提供的电性能自动测试装置设置了：测试电路板；屏蔽装置，屏蔽装置包括屏蔽部和接触部；屏蔽驱动机构，与屏蔽装置连接，用于带动屏蔽装置移动至介质块，并使屏蔽部与开路面间隔相对设置，并且接触部与测试电路板电连接；压头，包括下压面；压头驱动机构，与压头连接，压头驱动机构带动压头移动，下压面将介质块压住固定在测试电路板上，并介质块与测试电路板电连接；和测试仪表，与测试电路板电连接；测试仪表进行测试，实现了介质块电性能的自动测试，效率高，节省了人工成本。
附图说明
图1至图3为滤波器的结构示意图；
图4为本申请一实施例提供的电性能自动测试装置的结构示意图；
图5为图4中区域A的放大图；
图6为本申请一实施例提供的电性能自动测试装置的原理图；
图7为本申请一实施例提供的屏蔽装置的结构示意图；
图8为本申请一实施例提供的测试电路板的结构示意图；
图9为本申请一实施例提供的测试电路板的结构示意图；
图10为本申请另一实施例提供的电性能自动测试装置的结构示意图。
图中：
100、滤波器；10、介质块；11、开路面；12、短路面；13、谐振孔；14、上表面；15、下表面；151、输入电极；152、输出电极；200、电性能自动测试装置；201、屏蔽装置；2011、屏蔽部；2012、接触部；2014、安装面；2015、通孔；202、屏蔽驱动机构；203、测试电路板；2031a、待测件第一连接区；2031b、待测件第二连接区；2032、屏蔽连接区；2033、第一探针；2034、第二探针；204、测试仪表；205、压头；2051、侧表面；2052、下压面；206、压头驱动机构；207、限位块；208、压头压力反馈单元；209、屏蔽压力反馈单元。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
本申请提供一种测试滤波器的电性能自动测试装置。
图1至图3为滤波器的结构示意图。
如图1所示，滤波器100包括介质块10和金属屏蔽罩20。
如图2和图3所示，介质块10包括相对设置的开路面11和短路面12以及贯穿开路面11和短路面12的谐振孔13。
开路面11和短路面12上分别设有金属层，谐振孔13内部涂敷导电金属层，导电金属层分别与开路面11上和短路面12上的金属层电连接。
介质块10还包括相对设置的上表面14和下表面15，下表面15上设有输入电极151和输出电极152。
在本申请中，滤波器100为介质滤波器。本领域技术人员容易得知，其他类型的滤波器100也应当在本申请的保护范围内。
实施例1
图4为本申请一实施例提供的电性能自动测试装置的结构示意图，图5为图4中区域A的放大图，图6为本申请一实施例提供的电性能自动测试装置的原理图。
如图4至图6所示，本实施例提供一种电性能自动测试装置200，包括：
测试电路板203；
屏蔽装置201，屏蔽装置201包括屏蔽部2011和接触部2012；
屏蔽驱动机构202，与屏蔽装置201连接，用于带动屏蔽装置201移动至介质块10，并使屏蔽部2011与开路面11间隔相对设置以屏蔽介质块10的磁场，并且接触部2012与测试电路板203电连接以接地；
压头205，包括下压面2052；
压头驱动机构206，与压头205连接，压头驱动机构206带动压头205移动，下压面2052将介质块10压住固定在测试电路板203上，并介质块10与测试电路板203电连接；和
测试仪表204，与测试电路板203电连接。
改变开路面11和短路面12上的金属层，能够调试滤波器100的电性能。为了便于改变介质块10上的金属层，需要在未安装金属屏蔽罩20时对介质块10进行调试。
在调试前需测试其电性能参数以判断需不需要调试，该如何调试，以及调试后是否合格。故需对介质块10临时加装屏蔽装置201以模拟加上金属屏蔽罩20的滤波器100整体的电性能。
故，本申请提供的电性能自动测试装置200的工作过程如下：
将介质块10放置在测试电路板203上，压头驱动机构206带动压头205移动，下压面2052将介质块10压住固定在测试电路板203上，并介质块10与测试电路板203电连接。屏蔽驱动机构202带动屏蔽装置201移动至介质块10，并使屏蔽部2011与开路面11间隔相对设置以屏蔽介质块10的磁场，并且接触部2012与测试电路板203电连接以接地。
测试仪表204测试介质块10的电性能，若测试结果不合格，屏蔽驱动机构202带动屏蔽装置201移动离开介质块10，便于对介质块10进行调试。调试后，屏蔽驱动机构202带动屏蔽装置201移动至介质块10再次进行屏蔽，测试仪表204再次测试，如此反复循环直至调试合格。
本实施例提供的电性能自动测试装置能够实现对介质块自动测试，效率高。
在本实施例中，测试电路板203为PCB(Printed Circuit Board)板。
在本实施例中，测试仪表204为矢量网络分析仪，通过测试散射参数来反应介质块10的电性能。
在本实施例中，如图5所示，压头205由金属材料制成，下压面2052还用于屏蔽介质块10的磁场。
本实施例提供的屏蔽装置201结构简单，节省材料，且拆装方便，屏蔽效果又好。
在本实施例中，如图5所示，屏蔽装置201呈金属块状并侧面构成为屏蔽部2011，压头205呈金属块状并还包括侧表面2051，侧表面2051与屏蔽部2011相对设置并能够发生相对滑动。本实施例提供的屏蔽装置2011下压测试电路板203时，不易弯折和损坏，使得测试准确。
在本实施例中，下压面2052和屏蔽部2011下压时构成L型，即下压面2052压住介质块10，屏蔽部2011与开路面11间隔相对设置时。
在本实施例中，屏蔽装置201和压头205由黄铜材料制成。本领域技术人员容易得知，在其他实施例中，压头205由非金属材料制成也应当在本申请的保护范围内。
在本实施例中，电性能自动测试装置200还包括限位块207，屏蔽装置201位于压头205和限位块207之间。限位块207用于限位屏蔽装置201的移动轨迹，使得下落屏蔽装置201的位置更准确，屏蔽效果更好。
在本实施例中，屏蔽驱动机构202和压头驱动机构206分别为气缸，进而屏蔽驱动机构202带动屏蔽装置201做上下往复直线运动，压头驱动机构206带动压头205做上下往复直线运动，移动轨迹简单，能够使介质块10与测试电路板203电连接的。
图7为本申请一实施例提供的屏蔽装置的结构示意图。
在一个实施例中，接触部2012为屏蔽装置2011的下表面凸起的结构。
图8为本申请一实施例提供的测试电路板的结构示意图。
在本实施例中，如图8所示，测试电路板203上设有待测件第一连接区2031a、待测件第二连接区2031b和屏蔽连接区2032，输入电极151与待测件第一连接区2031a电连接，输出电极152与待测件第二连接区2031b电连接，接触部2012与屏蔽连接区2032电连接，测试效果好。
图9为本申请一实施例提供的测试电路板的结构示意图。
在另一实施例中，如图9所示，待测件第一连接区2031a上设有第一探针2033，输入电极151通过第一探针2033与待测件第一连接区2031a电连接；
待测件第二连接区2031b上设有第二探针2034，输出电极152通过第二探针2034与待测件第二连接区2031b电连接。本实施例提供的电性能自动测试装置，介质块10的输入电极151和输出电极152通过探针(第一探针2033/第二探针2034)与测试电路板203电连接，对介质块10的位置要求不高，更易连接，可以根据实际需要增加或减少探针数量,方便地改变介质块10与测试电路板203之间的连接方式,以达到最佳的信号传输效果。探针作为过渡连接结构,可以在一定程度上起到缓冲和隔离作用,防止测试电路板203回路或其他部件对介质块10产生电干扰,确保其稳定性能。若发生故障，便于检修和更换。且有利于激光调试。
实施例2
图10为本申请另一实施例提供的电性能自动测试装置的结构示意图。
如图10所示，在本实施例中，屏蔽装置201由金属薄片材料制成，即屏蔽装置201的屏蔽部2011和接触部2012由金属薄片弯折后构成。屏蔽装置201还包括安装面2014，安装面2014上开设通孔2015，压头205能够在通孔2015内相对移动。
在本实施例中，压头205由非金属材料制成，避免干扰测试结果。本领域技术人员容易得知，在其他实施例中，压头205由金属材料制成也应当在本申请的保护范围内。
在本实施例中，压头205呈圆台状。
实施例3
在本实施例中，如图6所示，电性能自动测试装置200，还包括：
压头压力反馈单元208，检测压头205的压力并进行反馈；和
屏蔽压力反馈单元209，检测屏蔽装置201的压力并进行反馈。
压头205下压介质块10，压头压力反馈单元208获取压力值并将压力值反馈，压头205驱动装置根据反馈的压力值控制下压力度，避免对介质块10和/或测试电路板203造成损伤。同理屏蔽压力反馈单元209能够避免屏蔽装置201对测试电路板203造成损伤。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (10)
1.一种电性能自动测试装置，用于测试滤波器，所述滤波器包括介质块，所述介质块包括相对设置的开路面和短路面，其特征在于，包括：
测试电路板；
屏蔽装置，所述屏蔽装置包括屏蔽部和接触部；
屏蔽驱动机构，与所述屏蔽装置连接，用于带动所述屏蔽装置移动至所述介质块，并使所述屏蔽部与所述开路面间隔相对设置，并且所述接触部与所述测试电路板电连接；
压头，包括下压面；
压头驱动机构，与所述压头连接，所述压头驱动机构带动所述压头移动，所述下压面将所述介质块压住固定在所述测试电路板上，并所述介质块与所述测试电路板电连接；和
测试仪表，与所述测试电路板电连接。
2.根据权利要求1所述的电性能自动测试装置，其特征在于，所述压头由金属材料制成，所述下压面还用于屏蔽所述介质块的磁场。
3.根据权利要求2所述的电性能自动测试装置，其特征在于，所述屏蔽装置呈金属块状并侧面构成为所述屏蔽部；
所述压头呈块状并还包括侧表面，所述侧表面与所述屏蔽部相对设置并能够发生相对滑动。
4.根据权利要求3所述的电性能自动测试装置，其特征在于，所述下压面和所述屏蔽部下压时构成L型。
5.根据权利要求3所述的电性能自动测试装置，其特征在于，还包括限位块，所述屏蔽装置位于所述压头和所述限位块之间。
6.根据权利要求3所述的电性能自动测试装置，其特征在于，所述屏蔽装置和/或所述压头由黄铜材料制成。
7.根据权利要求1所述的电性能自动测试装置，其特征在于，所述介质块还包括相对设置的上表面和下表面，所述下表面上设有输入电极和输出电极；
所述测试电路板上设有待测件第一连接区、待测件第二连接区和屏蔽连接区，所述输入电极与所述待测件第一连接区电连接，所述输出电极与所述待测件第二连接区电连接，所述接触部与所述屏蔽连接区电连接。
8.根据权利要求7所述的电性能自动测试装置，其特征在于，所述待测件第一连接区上设有第一探针，所述输入电极通过所述第一探针与所述待测件第一连接区电连接；
所述待测件第二连接区上设有第二探针，所述输出电极通过所述第二探针与所述待测件第二连接区电连接。
9.根据权利要求1所述的电性能自动测试装置，其特征在于，所述屏蔽装置由金属薄片材料制成，和/或所述压头由非金属材料制成。
10.根据权利要求1所述的电性能自动测试装置，其特征在于，还包括：
压头压力反馈单元，检测压头的压力并进行反馈；和
屏蔽压力反馈单元，检测屏蔽装置的压力并进行反馈。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321422136.2U CN220188631U (zh) | 2023-06-06 | 2023-06-06 | 电性能自动测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321422136.2U CN220188631U (zh) | 2023-06-06 | 2023-06-06 | 电性能自动测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN220188631U true CN220188631U (zh) | 2023-12-15 |
Family
ID=89108131
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202321422136.2U Active CN220188631U (zh) | 2023-06-06 | 2023-06-06 | 电性能自动测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN220188631U (zh) |
-
2023
- 2023-06-06 CN CN202321422136.2U patent/CN220188631U/zh active Active
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| GR01 | Patent grant | ||
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