CN217359997U - 一种滤波器损耗测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种滤波器损耗测试夹具，包括测试盒、测试电路以及底座，底座顶面开设有卡槽，测试电路设于卡槽内，测试盒也设于卡槽内且位于测试电路上方；测试盒和底座均为金属材质，且测试盒上开设有供滤波器的引脚穿透与测试电路连接的通孔。本实用新型中在测试盒内开设有供滤波器的引脚穿透与测试电路连接的通孔，即引脚之间通过金属测试盒之间隔离，确保引脚之间的辐射传导被隔离，而且保证引脚不会受到损伤。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子元件测试装置技术领域，尤其涉及一种滤波器损耗测试夹具。
背景技术
EMI滤波器的插入损耗值是衡量滤波器性能的关键指标，但行业内并没有一个统一的测量标准。随着越来越多的客户定制滤波器，以及为应对复杂电磁环境的高频滤波器，现有的测试夹具不能满足高频状态下插入损耗的测试需求。在高频状态下，滤波器的引脚就像天线，不断发射和接收高频信号，导致信号耦合，使得测试结果严重偏离真实值。另外，对于插针类滤波器，常用的测试夹具即锯齿夹，会对滤波器引脚造成划伤，损坏引脚表面镀层，较细的引脚更是会被夹弯，成为不合格产品。
基于此，研究一种准确、便捷，并且不会对滤波器造成损伤的测试夹具具有重要意义。
实用新型内容
针对上述问题中存在的不足之处，本实用新型提供一种滤波器损耗测试夹具，包括测试盒、测试电路以及底座，所述底座顶面开设有卡槽，所述测试电路设于所述卡槽内，所述测试盒也设于所述卡槽内且位于所述测试电路上方；
其中，所述测试盒和所述底座均为金属材质，且所述测试盒上开设有供滤波器的引脚穿透与所述测试电路连接的通孔。
优选的是，所述测试电路包括PCB电路板、RE射频连接头以及弹簧探针，所述弹簧探针设于所述PCB电路板的顶面且与所述滤波器的引脚一一对应，所述PCB电路板的相对两侧均设有所述RE射频连接头。
优选的是，所述测试盒顶面向内凹陷形成供所述滤波器放置的第一凹槽，所述通孔位于所述第一凹槽内。
优选的是，所述弹簧探针位于所述通孔内。
优选的是，所述测试盒底面向内凹陷形成供所述弹簧探针放置的第二凹槽。
优选的是，所述测试盒的相对两侧均开设有一第一缺口，所述底座的相对两侧也均开设有一第二缺口，且所述第一缺口与所述第二缺口形成放置所述RE射频连接头的缺槽。
优选的是，还包括用于屏蔽所述滤波器的屏蔽盖，所述屏蔽盖可拆卸设于所述测试盒的顶端。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：
本实用新型中在测试盒内开设有供滤波器的引脚穿透与测试电路连接的通孔，即引脚之间通过金属测试盒之间隔离，确保引脚之间的辐射传导被隔离，而且保证引脚不会受到损伤。
附图说明
图1为本实用新型滤波器损耗测试夹具的结构图；
图2为本实用新型滤波器损耗测试夹具的分解图；
图3为本实用新型滤波器损耗测试夹具带屏蔽盖的结构图；
图4为本实用新型插入损耗测试原理图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
下面结合附图1-3对本实用新型做进一步的详细描述：
参照图1，本实用新型提供一种滤波器损耗测试夹具，包括测试盒1、测试电路2以及底座3，底座3顶面开设有卡槽31，测试电路2设于卡槽31内，测试盒1也设于卡槽31内且位于测试电路2上方；
其中，测试盒1和底座3均为金属材质，且测试盒1上开设有供滤波器4的引脚穿透与测试电路2连接的通孔12。
进一步地，测试盒1以及底座3的形状可以为多种形式，但是底座3开设的卡槽31一定与测试电路2以及测试盒1的形状相适配，且测试电路2和测试盒1均通过与卡槽31间隙配合与底座3连接。
参照图2，测试电路2包括PCB电路板23、RE射频连接头21以及弹簧探针22，弹簧探针22设于PCB电路板23的顶面且与滤波器4的引脚一一对应，PCB电路板23的相对两侧均设有RE射频连接头21。
进一步地，测试盒1的相对两侧均开设有一第一缺口13，底座3的相对两侧也均开设有一第二缺口31，且第一缺口13与第二缺口31形成放置RE射频连接头21的缺槽。在图2中，测试电路2成矩形状，测试盒1和底座3也呈矩形状，为了测试电路2和测试盒1方便放入底座3内的卡槽31中，在卡槽31的四角边开设有避让圆槽。
参照图1和3，测试盒1顶面向内凹陷形成供滤波器4放置的第一凹槽11，通孔12位于第一凹槽11内。
进一步地，本实施例还包括用于屏蔽滤波器4的屏蔽盖，屏蔽盖可拆卸设于测试盒1的顶端。屏蔽盖包括平盖以及设于平盖两侧的侧盖，且在底座3每个侧面之间均开设通槽，且与侧盖相对应位置的通槽与侧盖相配合。
在本实施例中，弹簧探针22位于通孔12内。或者在测试盒1底面向内凹陷形成供弹簧探针22放置的第二凹槽。这样设置是保证弹簧探针22不与测试盒1相接触，避免弹簧探针22损坏。
参照图4，插入损耗测试原理为：MI滤波器4插入损耗的测试方法可参照GJB1518A和GB7343。在标准测量法中规定，在50Ω～75Ω之间的任一阻值的系统内测试它的插入损耗特性。也就是说，在被测滤波器4的输出端接输入阻抗为50Ω～75Ω之间任一阻值的接收机，在它的输入端与接收机输入阻抗完全相同内阻的信号发生器，连接器和电缆的阻抗都应与上述系统匹配，在这种特定条件下来测量滤波器4插入损耗特性。左图为共模，右模为差模。滤波器4的插入损耗测试方式主要是通过网络分析仪或频谱分析仪进行测试，网络分析仪的一个端口输出测试信号，测试信号经过被测滤波器4后，从另一个端口接收测试信号。分析仪通过对信号进行对比计算得出被测滤波器4的插入损耗值，所以测试的准确性在于测试信号要完全通过滤波器4且无其干扰。将被测滤波器4安装在合适的测试夹具内，把外部的电磁耦合，滤波器4输入和输出端的电磁耦合的影响降到最低，测试夹具的尺寸视滤波器4的封装尺寸来定，对不同封装的滤波器4需要设计不同的测试夹具。
在本实施例中，滤波器4为插针式，滤波器4的输入输出引脚相当于高频信号的发射天线和接收天线，这使得在测试过程中，测试的高频信号不经过滤波器4内部，而是经过滤波器4引脚发射接收信号，造成测试误差。根据插入损耗的测试特点，为了让测试信号完全通过滤波器4而不被夹具或产品引脚耦合，对高频信号只能屏蔽或接地，但接地就失去了测试的意义，所以只能对滤波器4和测试夹具进行屏蔽处理。本测试夹具测试盒1和底座3全部采用金属制作，并对其表面进行导电氧化，其上部分为测试盒1，待测滤波器4放入盒内，中间部分为测试电路2，下部分为底座3。测试盒1内做有引脚通孔12，孔与孔之间与盒子本体金属隔离，确保引脚之间的辐射传导被隔离。测试电路2由RE射频连接头21、PCB板和弹簧探针22组成，测试信号经由射频连接头21传入滤波器4，被测滤波器4的引脚与弹簧探针22接触而接入测试电路2，弹簧探针22保证产品引脚不会受到损伤。
以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种滤波器损耗测试夹具，其特征在于，包括测试盒、测试电路以及底座，所述底座顶面开设有卡槽，所述测试电路设于所述卡槽内，所述测试盒也设于所述卡槽内且位于所述测试电路上方；
其中，所述测试盒和所述底座均为金属材质，且所述测试盒上开设有供滤波器的引脚穿透与所述测试电路连接的通孔。
2.根据权利要求1所述的滤波器损耗测试夹具，其特征在于，所述测试电路包括PCB电路板、RE射频连接头以及弹簧探针，所述弹簧探针设于所述PCB电路板的顶面且与所述滤波器的引脚一一对应，所述PCB电路板的相对两侧均设有所述RE射频连接头。
3.根据权利要求2所述的滤波器损耗测试夹具，其特征在于，所述测试盒顶面向内凹陷形成供所述滤波器放置的第一凹槽，所述通孔位于所述第一凹槽内。
4.根据权利要求2所述的滤波器损耗测试夹具，其特征在于，所述弹簧探针位于所述通孔内。
5.根据权利要求2所述的滤波器损耗测试夹具，其特征在于，所述测试盒底面向内凹陷形成供所述弹簧探针放置的第二凹槽。
6.根据权利要求2所述的滤波器损耗测试夹具，其特征在于，所述测试盒的相对两侧均开设有一第一缺口，所述底座的相对两侧也均开设有一第二缺口，且所述第一缺口与所述第二缺口形成放置所述RE射频连接头的缺槽。
7.根据权利要求1所述的滤波器损耗测试夹具，其特征在于，还包括用于屏蔽所述滤波器的屏蔽盖，所述屏蔽盖可拆卸设于所述测试盒的顶端。
Priority Applications (1)
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| CN202220857206.6U CN217359997U (zh) | 2022-04-13 | 2022-04-13 | 一种滤波器损耗测试夹具 |
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| CN202220857206.6U CN217359997U (zh) | 2022-04-13 | 2022-04-13 | 一种滤波器损耗测试夹具 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117420350A (zh) * | 2023-11-08 | 2024-01-19 | 广州市德珑电子器件有限公司 | 一种电源滤波器的损耗测试方法、系统、设备及介质 |
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2022
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