CN216209364U - 一种模组测试治具及模组测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种模组测试治具及模组测试系统，涉及电器模组测试技术领域，以解决在需要屏蔽电磁波的情况下，对待测模组进行测试时，测试效率较低的问题。所述模组测试治具，包括屏蔽件、测试组件和屏蔽组件，以及用于放置待测模组的模组安装组件。其中：屏蔽件可拆卸的设置于测试组件的第一侧，屏蔽组件连接于测试组件的第二侧。屏蔽组件与外部测试设备电连接。屏蔽件、测试组件以及屏蔽组件形成有第一腔体，第一腔体为电磁屏蔽腔体。模组安装组件可拆卸的设置于第一腔体内。所述模组测试系统包括上述技术方案所提的模组测试治具。本实用新型提供的模组测试治具用于电器模组测试。

Description

一种模组测试治具及模组测试系统

技术领域

本实用新型涉及电器模组测试领域，尤其涉及一种模组测试治具及模组测试系统。

背景技术

在测试部分模组的无线信号接收和发送时，需要屏蔽外界高频电磁波的干扰和辐射，避免影响待测模组的正常生产测试。

现有技术中，在屏蔽外界高频电磁波的干扰和辐射时，需要将待测模组安装在模组测试治具上，之后将模组测试治具整体安装在电磁屏蔽箱内，以实现准确测试无线信号的目的。但此种测试方式不仅需要对电磁屏蔽箱进行开关操作，在更换其他型号的待测模组时，还需要同时更换模组测试治具，并对更换的模组测试治具进行新一轮的调试，测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种模组测试治具及模组测试系统，以解决在需要屏蔽电磁波的情况下，对待测模组进行测试时，测试效率较低的问题。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

第一方面，本实用新型提供一种模组测试治具，包括屏蔽件、测试组件和屏蔽组件，以及用于放置待测模组的模组安装组件。其中：屏蔽件可拆卸的设置于测试组件的第一侧，屏蔽组件连接于测试组件的第二侧。屏蔽组件与外部测试设备电连接。屏蔽件、测试组件以及屏蔽组件形成有第一腔体，第一腔体为电磁屏蔽腔体。模组安装组件可拆卸的设置于第一腔体内。

与现有技术相比，本实用新型提供的一种模组测试治具中，屏蔽件、测试组件以及屏蔽组件形成有第一腔体，第一腔体为电磁屏蔽腔体。待测模组安装在模组安装组件上，模组安装组件可拆卸的设置于第一腔体内。基于此，在需要对待测模组进行测试时，无需使用电磁屏蔽箱，就可以实现屏蔽电磁波的目的，从而减少了开关电磁屏蔽箱的时间，提高了测试效率。此外，在需要更换待测模组的情况下，由于模组安装组件是可以拆卸的，在对不同的待测模组进行更换时，可以仅更换放置在模组安装组件上的待测模组，或者更换与待测模组相匹配的模组安装组件来实现更换待测模组的目的，因此，无需整体更换模组测试治具。如此举措可以节约更换模组测试治具的时间以及对更换后的模组测试治具进行调试的时间，同样提高了测试效率。

由上所述，本实用新型提供的模组测试治具能够解决在需要屏蔽电磁波的情况下，对待测模组进行测试时，测试效率较低的问题。

第二方面，本实用新型还提供一种模组测试系统，包括外部测试设备以及上述模组测试治具，外部测试设备与模组测试治具电连接。

与现有技术相比，本实用新型提供的模组测试系统的有益效果与上述技术方案所述模组测试治具的有益效果相同，此处不做赘述。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型实施例中提供的模组测试治具的整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例中提供的模组安装组件的结构示意图；

图3为本实用新型实施例中提供的屏蔽件的结构示意图；

图4为本实用新型实施例中提供的测试组件的结构示意图；

图5为本实用新型实施例中提供的屏蔽组件的结构示意图。

附图标记：

1-屏蔽件， 2-测试组件，

3-屏蔽组件， 4-模组安装组件，

41-待测模组， 42-托盘，

43-陪测转接板， 44-陪测转接板固定块，

421-第一凹槽， 11-第二凹槽，

21-测试盖板， 211-第二通孔，

22-测试台面， 31-下屏蔽盖，

311-第四凹槽， 32-测试转接板，

33-测试连接件。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。“若干”的含义是一个或一个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1，本实用新型实施例提供的一种模组测试治具包括：屏蔽件1、测试组件2和屏蔽组件3，以及用于放置待测模组41的模组安装组件4。屏蔽件1可拆卸的设置于测试组件2的第一侧，屏蔽组件3连接于测试组件2的第二侧。屏蔽组件3与外部测试设备电连接。屏蔽件1、测试组件2以及屏蔽组件3形成有第一腔体，第一腔体为电磁屏蔽腔体。模组安装组件4可拆卸的设置于第一腔体内。

具体实施时：在对待测模组41进行测试时，首先，取下屏蔽件1以及测试组件2；其次，将与待测模组41相匹配的模组安装组件4安装在第一腔体中，然后将测试组件2盖设在模组测试治具上；最后，将待测模组41放入模组安装组件4中，再将屏蔽件1盖设在模组测试治具上，连通外部测试设备，对待测模组41进行测试。

在对一组待测模组41进行测试后，首先，需要停止外部测试设备的测试模式，使模组测试治具处于安全可操作的状态；其次，依次取下屏蔽件1以及测试组件2，将安装在第一腔体中的模组安装组件4与待测模组41整体取出更换，或者仅取下屏蔽件1，将待测模组41取出更换；最后，将已完成测试的模组进行归类。

通过上述模组测试治具的结构和具体实施过程可知，屏蔽件1、测试组件2以及屏蔽组件3形成有第一腔体，第一腔体为电磁屏蔽腔体。待测模组41安装在模组安装组件4上，模组安装组件4可拆卸的设置于第一腔体内。基于此，在需要对待测模组41进行测试时，无需使用电磁屏蔽箱，就可以实现屏蔽电磁波的目的，从而减少了开关电磁屏蔽箱的时间，提高了测试效率。此外，在需要更换待测模组41的情况下，由于模组安装组件4是可以拆卸的，在对不同的待测模组41进行更换时，可以仅更换放置在模组安装组件4上的待测模组41，或者更换与待测模组41相匹配的模组安装组件4来实现更换待测模组41的目的，因此，无需整体更换模组测试治具。如此举措可以节约更换模组测试治具的时间以及对更换后的模组测试治具进行调试的时间，同样提高了测试效率。

由上所述，本实用新型提供的模组测试治具能够解决在需要屏蔽电磁波的情况下，对待测模组41进行测试时，测试效率较低的问题。

应注意，第一腔体可以是由铜、铝、钢等金属制成的金属屏蔽腔体，第一腔体还可以是表面喷涂或者涂覆了屏蔽导电漆的其他材质的屏蔽腔体，本实用新型实施例对此不作限定。

可以理解的是，待测模组41可以是无线射频模组，还可以是其他任何需要做电磁波屏蔽测试的无线电器模组，本实用新型实施例对此不作限定。

图2示例出了本实用新型实施例提供的模组安装组件4的结构示意图。

请参阅图2，在一种可能的实现方式中，模组安装组件4包括自上而下依次连接的托盘42、陪测转接板43以及陪测转接板固定块44。托盘42背离陪测转接板43的一侧具有第一凹槽421，第一凹槽421与待测模组41相匹配，用于承载待测模组41。第一凹槽内421设置有第一对插元件(图中未示出)，待测模组41通过第一对插元件与陪测转接板43电连接。陪测转接板43与陪测转接板固定块44接触的一侧通过第二对插元件(图中未示出)与屏蔽组件3电连接。陪测转接板固定块44具有能容纳第二对插元件通过的第一通孔。陪测转接板固定块44背离陪测转接板43的一侧与屏蔽组件3接触。

基于此，托盘42的第一侧具有可以容纳待测模组41的第一凹槽421，在对待测模组41进行测试时，需要根据待测模组41的尺寸以及形状选择相适配的模组安装组件4，并确认待测模组41与第一对插元件匹配，再将待测模组41安装在托盘42的第一凹槽421内。

陪测转接板43位于托盘42下方，并通过第二对插元件与屏蔽组件3电连接。陪测转接板43可以将待测模组41发送的信号以及接收的信号通过第二对插元件与屏蔽组件3进行数据传输。

陪测转接板固定块44具有能容纳第二对插元件通过的第一通孔，第一通孔的数量取决于第二对插元件的数量。

可以理解的是，第一对插元件以及第二对插元件可以是弹针、排针排母中的一种或多种，本实用新型实施例对此不作限定。

在实际应用中，在一组待测模组41测试完成后，可以根据实际情况判断是否需要对模组安装组件4进行更换。如果下一组需要进行测试的待测模组41尺寸与托盘42的第一凹槽421尺寸及第一对插元件位置(图中未示出)吻合，在保证测试效果的前提下，可以仅对待测模组41进行更换，而不必对模组安装组件4进行整体替换，以节约测试时间，有利于提高测试效率。

如图3所示，在一种可能的实现方式中，屏蔽件1为上屏蔽盖；上屏蔽盖与测试组件2接触的一侧具有第二凹槽11。当上屏蔽盖盖设在测试组件2上时，托盘42位于第二凹槽11中。

基于此，上屏蔽盖与测试组件2接触的一侧具有第二凹槽11，即第二凹槽11位于上屏蔽盖的下侧。由于上屏蔽盖与测试组件2为可拆卸连接，在移开上屏蔽盖时，可以很方便的将模组安装组件4安装在测试组件2中，待模组安装组件4调整好安装位置之后再将上屏蔽盖盖设在测试组件2上，接通外部测试设备，就可以对待测模组41进行测试。

在一组待测模组41测试完成后，将上屏蔽盖取下，可以根据实际情况判断更换待测模组41或者对待测模组41与模组安装组件4进行整体更换。

如图4所示，在一种可能的实现方式中，测试组件2包括测试盖板21以及测试台面22。测试盖板21可拆卸的设置于测试台面22上方。测试盖板21具有容纳托盘42的第二通孔211，测试台面22具有用于容纳陪测转接板固定块44的第三通孔(图中未示出)。

基于此，在安装模组安装组件4时，需要将测试盖板21取下，将模组安装组件4放入第二通孔211与第三通孔中，模组安装组件4的陪测转接板固定块44位于第三通孔内，陪测转接板固定块44的下方与屏蔽组件3接触。将测试盖板21盖设在测试台面22上方时，托盘42以及托盘42内的待测组件位于第二通孔211内。

可以理解的是，在测试完一组待测模组41之后，如果仅需要对待测模组41进行更换，可以只将模组测试治具的上屏蔽盖取下，可以很容易的将待测模组41取出更换下一组。如果需要更换的待测模组41与已经安装的模组安装组件4尺寸或者形状不匹配，需要将上屏蔽盖以及测试盖板21依次取下，取出模组安装组件4，更换与下一组待测模组41匹配的模组安装组件4，将测试盖板21盖设至原位，然后将待测模组41放入模组安装组件4的第一凹槽421内，最后再将上屏蔽盖盖设至原位，做好测试准备。

在一些实施例中，测试台面22还具有容纳测试盖板21的第三凹槽(图中未示出)，第三通孔贯穿第三凹槽。

基于此，测试盖板21位于第三凹槽处，有利于对测试盖板21进行限位，使得测试盖板21不会轻易移动或者脱落。第三通孔贯穿了第三凹槽，在测试盖板21盖设在第三凹槽内时，测试盖板21上的第二通孔211与第三通孔相对设置。

如图5所示，在一种可能的实现方式中，屏蔽组件3包括下屏蔽盖31、测试转接板32以及测试连接件33。下屏蔽盖31与测试组件2接触的一侧具有第四凹槽311，测试转接板32位于第四凹槽311中。测试连接件33穿过下屏蔽盖31后，与外部测试设备电连接。

基于此，测试转接板32位于第四凹槽311内，有利于对测试转接板32进行限位，使得测试转接板32不会轻易移动，便于模组安装组件4在安装的定位。

此外，陪测转接板固定块44的下方与位于第四凹槽311内的测试转接板32接触，第四凹槽311也用于承载模组安装组件4，并对其进行限位。

测试连接件33与外部测试设备电连接，用于将待测模组41的发送信号传递至外部测试设备，同时也用于将外部测试设备的发送信号传递至待测模组41，以实现对待测模组41发送信号以及接收信号的测试。

在一些实施例中，第二对插元件(图中未示出)设置于测试转接板32背离测试连接件33的一侧，测试转接板32通过第二对插元件与陪测转接板43电连接。

基于此，第二对插元件的一端设置在测试转接板32的第一侧，第二对插元件的另一端与陪测转接板43电连接。如此设置，陪测转接板43与测试转接板32可以通过第二对插元件实现数据传输。

测试连接件33与测试转接板32连接的一侧为测试转接板32的第二侧，测试转接板32通过测试连接件33与外部测试设备连接。测试转接板32可以通过测试连接件33与外部测试设备实现数据传输。

综上，在对待测模组41进行测试时，外部测试设备的输出信息可以通过测试连接件33传递至测试转接板32，测试转接板32通过第二对插元件将输出信息传递至陪测转接板43。由于陪测转接板43位于托盘42下方，托盘42上方的第一凹槽421内承载有待测模组41，第一凹槽421内设置有第一对插元件，待测模组41通过第一对插元件与陪测转接板43电连接，因此，待测模组41可以通过陪测转接板43接收到外部测试设备的输出信息。同理，待测模组41的输出信息也可以通过同样的路径传递至外部测试设备。如此，就可以完成一次对待测模组41接收信号以及发送信号的测试。

在一些实施例中，测试连接件33与测试转接板32可拆卸连接；或，测试连接件33与测试转接板32固定连接。

示例性的，测试连接件33可以通过USB接口、TYPE接口、PCIE接口等多种接口与测试转接板32连接。如此设置，有利于根据实际应用情况对连接件进行调整，同时，在测试连接件33损毁时，可以方便的对其进行更换。

示例性的，也可以将测试连接件33焊接在测试转接板32上。基于此，测试连接件33与测试转接板32固定连接，不易脱落，有利于保证数据传输的稳定性。

在一种可能的实现方式中，第二凹槽11、第二通孔211、第三通孔以及第四凹槽311共同形成第一腔体。

基于此，上屏蔽盖的第二凹槽11用于组成第一腔体的顶端，测试盖板21的第二通孔211以及测试台面22的第三通孔用于组成第一腔体的中段，下屏蔽盖31的第四凹槽311用于组成第一腔体的底端。

可以理解的是，上屏蔽盖、测试盖板21、测试台面22以及下屏蔽盖31可以是整体由铜、铝、钢等金属制成的元件，也可以是表面喷涂或者涂覆了屏蔽导电漆的其他材质制成的元件，本实用新型实施例对此不做限定。

下面将结合图1至图5，详细说明本实用新型实施例提供的模组测试治具的测试过程。

在一种实施例中，在对待测模组41进行测试时，首先，取下上屏蔽盖以及测试盖板21；其次，将与待测模组41尺寸与形状相匹配的模组安装组件4安装在第一腔体中，然后将测试盖板21盖设回原处；最后，将待测模组41放置在托盘42的第一凹槽421中，再将上屏蔽盖盖设回原处，并连通外部测试设备，对待测模组41进行测试。

外部测试设备的传输信号通过测试连接件33传递至测试转接板32，测试转接板32通过第二对插元件将传输信号传递至陪测转接板43，陪测转接板43通过第一对插元件将传输信号传递至待测模组41；待测模组41的发送信号也通过同样的路径传递至外部测试设备。

在对一组待测模组41进行测试后，首先，需要停止外部测试设备的测试模式，使模组测试治具处于安全可操作的状态；其次，依次取下上屏蔽盖以及测试盖板21，将模组安装组件4与待测模组41整体取出更换，或者仅取下上屏蔽盖，将待测模组41取出更换；最后，将已完成测试的模组进行归类。

第二方面，本实用新型实施例还提供一种模组测试系统，包括外部测试设备以及上述实施例中提供的模组测试治具，外部测试设备与模组测试治具电连接。

与现有技术相比，本实用新型实施例提供的模组测试系统的有益效果与上述实施例中提供的模组测试治具的有益效果相同，在此不做赘述。

在上述实施方式的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种模组测试治具，其特征在于，包括屏蔽件、测试组件和屏蔽组件，以及用于放置待测模组的模组安装组件，其中：

所述屏蔽件可拆卸的设置于所述测试组件的第一侧，所述屏蔽组件连接于所述测试组件的第二侧；

所述屏蔽组件与外部测试设备电连接；

所述屏蔽件、所述测试组件以及所述屏蔽组件形成有第一腔体，所述第一腔体为电磁屏蔽腔体；

所述模组安装组件可拆卸的设置于所述第一腔体内。

2.根据权利要求1所述的模组测试治具，其特征在于，所述模组安装组件包括自上而下依次连接的托盘、陪测转接板以及陪测转接板固定块，其中：

所述托盘背离所述陪测转接板的一侧具有第一凹槽，所述第一凹槽与所述待测模组相匹配，用于承载所述待测模组；

所述第一凹槽内设置有第一对插元件，所述待测模组通过所述第一对插元件与所述陪测转接板电连接；

所述陪测转接板与所述陪测转接板固定块接触的一侧通过第二对插元件与所述屏蔽组件电连接；

所述陪测转接板固定块具有能容纳所述第二对插元件通过的第一通孔；

所述陪测转接板固定块背离所述陪测转接板的一侧与所述屏蔽组件接触。

3.根据权利要求2所述的模组测试治具，其特征在于，所述屏蔽件为上屏蔽盖；所述上屏蔽盖与所述测试组件接触的一侧具有第二凹槽；

当所述上屏蔽盖盖设在所述测试组件上时，所述托盘位于所述第二凹槽中。

4.根据权利要求3所述的模组测试治具，其特征在于，所述测试组件包括测试盖板以及测试台面；其中：

所述测试盖板可拆卸的设置于所述测试台面上方；

所述测试盖板具有容纳托盘的第二通孔，所述测试台面具有用于容纳所述陪测转接板固定块的第三通孔。

5.根据权利要求4所述的模组测试治具，其特征在于，所述测试台面还具有容纳测试盖板的第三凹槽，所述第三通孔贯穿所述第三凹槽。

6.根据权利要求4所述的模组测试治具，其特征在于，所述屏蔽组件包括下屏蔽盖、测试转接板以及测试连接件；其中：

所述下屏蔽盖与所述测试组件接触的一侧具有第四凹槽，所述测试转接板位于所述第四凹槽中；

所述测试连接件穿过所述下屏蔽盖后，与所述外部测试设备电连接。

7.根据权利要求6所述的模组测试治具，其特征在于，所述第二对插元件设置于所述测试转接板背离所述测试连接件的一侧，所述测试转接板通过所述第二对插元件与所述陪测转接板电连接。

8.根据权利要求6所述的模组测试治具，其特征在于，所述测试连接件与所述测试转接板可拆卸连接；或，

所述测试连接件与所述测试转接板固定连接。

9.根据权利要求6所述的模组测试治具，其特征在于，所述第二凹槽、所述第二通孔、所述第三通孔以及所述第四凹槽共同形成所述第一腔体。

10.一种模组测试系统，其特征在于，包括外部测试设备以及权利要求1至9任一项所述的模组测试治具，所述外部测试设备与所述模组测试治具电连接。

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