CN220105099U - 一种smd贴片式电子元件电参数测试夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，包括第一柄壳、第二柄壳、探针和触头，探针数量与触头数量相等，并且探针与触头通过导线一一对应地连接在一起，第一柄壳与第二柄壳通过使用紧固件叠合在一起，并且使探针与导线的连接处包夹于第一柄壳与第二柄壳之间。采用本实用新型的技术方案，相邻两根探针间距尺寸很小，能够方便地与SMD贴片式电子元件的引脚电性连接，通过导线引出后，触头外形尺寸、相邻两个触头间距尺寸则可较大，第一柄壳与第二柄壳采用塑料材料制备，方便了操作人员手持本实用新型对SMD贴片式电子元件的各项电参数进行测试和读取，避免制备结构复杂的夹具，降低企业制造成本，提高企业经济效益。

Description

一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具

技术领域

本实用新型属于电子元件测试装备技术领域，尤其是一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具。

背景技术

如今，各种电子产品的应用非常广泛，这些电子产品中均包含若干电子元件，电子元件的产量和需求与日俱增，随着大规模集成电路的发展，电子元件外形尺寸日益减小，并且各种电子元件根据其封装形式的不同可划分为DIP双列直插式、SMD贴片式、QFP四侧引脚扁平封装等，这些电子元件在制造成形后，则需要对其电性能相关参数进行测试，由于电子元件外形尺寸很小，为了使上述封装形式的电子元件引脚与测试仪器接通，则需要制备各种夹具，使电子元件获得正确的定位位置或装夹稳定，以便于进行各种测试操作。

现有技术中，公开号为：“CN111044760A”的专利文献，公开了一种具有计数功能的SMD二端元件测试装置，包括两测试杆，两测试杆的测试端分别设有测试针，两测试针分别电性连有至少一根电缆，一根测试杆的测试端上还设有信号发生器，另一根测试杆的测试端上还设有与信号发生器相对的信号接收器，采用该专利文献提供的技术方案，所述测试杆上还设有与信号接收器电性相连的显示屏、电源开关和计数清零复位开关。节约了人力成本，能够适用于多种规格SMD二端元件的测试和计数。

然而，对于SMD贴片式电子元件而言，其外形尺寸本身很小，其引脚间距尺寸也很小，若采用测试杆与SMD贴片式电子元件引脚连接，则测试杆外径需要制作得很小，显然增加了测试杆的制备难度，并且相邻两根测试杆之间的间距也无法保证绝缘，避免出现短路，致使测试效率不高，此外，若制备专用夹具装夹SMD贴片式电子元件，则夹具结构也较为复杂，制造成本较高，不便于在中小型企业中推广应用。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具。

本实用新型通过以下技术方案得以实现。

本实用新型提供一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，包括第一柄壳、第二柄壳、探针和触头，所述探针数量与触头数量相等，并且所述探针与触头通过导线一一对应地连接在一起，所述第一柄壳与第二柄壳通过使用紧固件叠合在一起，并且使所述探针与导线的连接处包夹于所述第一柄壳与第二柄壳之间。

所述第一柄壳或第二柄壳表面设有容置沉槽，所述探针与导线的连接处搁置于该容置沉槽内。

所述容置沉槽在所述第一柄壳或第二柄壳表面的投影为至少经过两次折弯的折线形状。

所述SMD贴片式电子元件电参数测试夹具还包括绝缘护套，所述触头与导线的连接处包夹于该绝缘护套内。

所述探针还套装于绝缘针套内，并且该绝缘针套包夹于所述第一柄壳与第二柄壳之间。

所述探针可沿其长度方向伸缩。

所述触头可沿其径向方向膨胀或收缩。

所述第一柄壳与第二柄壳外形形状、外形尺寸均一致。

所述第一柄壳或第二柄壳为矩形薄板状。

所述紧固件为螺栓。

本实用新型的有益效果在于：采用本实用新型的技术方案，使探针与导线的连接处包夹于第一柄壳与第二柄壳之间，探针外形尺寸很小，其外径一般在2mm以下，并且相邻两根探针间距尺寸也很小，能够方便地与SMD贴片式电子元件的引脚电性连接，而通过导线引出后，触头外形尺寸则可较大，相邻两个触头间距也可较大，从而方便操作人员对SMD贴片式电子元件的各项电参数进行测试和读取，此外，第一柄壳与第二柄壳采用绝缘性良好的塑料材料制备，便于操作人员对第一柄壳、第二柄壳进行手持测试，从而避免制备结构复杂的夹具，降低企业制造成本，提高企业经济效益。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的俯视图。

图中：1-第一柄壳，2-第二柄壳，3-探针，4-触头，5-紧固件，6-容置沉槽，7-绝缘护套，8-绝缘针套。

具体实施方式

下面进一步描述本实用新型的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。

如图1、图2所示，本实用新型提供一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，包括第一柄壳1、第二柄壳2、探针3和触头4，探针3数量与触头4数量相等，并且探针3与触头4通过导线9一一对应地连接在一起，第一柄壳1与第二柄壳2通过使用紧固件5叠合在一起，并且使探针3与导线9的连接处包夹于第一柄壳1与第二柄壳2之间。

采用本实用新型的技术方案，使探针与导线的连接处包夹于第一柄壳与第二柄壳之间，探针外形尺寸很小，其外径一般在2mm以下，并且相邻两根探针间距尺寸也很小，能够方便地与SMD贴片式电子元件的引脚电性连接，而通过导线引出后，触头外形尺寸则可较大，相邻两个触头间距也可较大，从而方便操作人员对SMD贴片式电子元件的各项电参数进行测试和读取，此外，第一柄壳与第二柄壳采用绝缘性良好的塑料材料制备，便于操作人员对第一柄壳、第二柄壳进行手持测试，从而避免制备结构复杂的夹具，降低企业制造成本，提高企业经济效益。

具体的，第一柄壳1或第二柄壳2表面设有容置沉槽6，探针3与导线9的连接处搁置于该容置沉槽6内。容置沉槽6在第一柄壳1或第二柄壳2表面的投影为至少经过两次折弯的折线形状。通过将部分导线9和探针的一端搁置于容置沉槽6内，使导线9得以规整、定型放置，并且可使相邻两根探针3之间的间距与SMD贴片式电子元件相邻两个引脚之间的间距保持一致，而相邻两个触头4之间的间距较大，从而方便操作人员对SMD贴片式电子元件的各项电参数进行测试和读取，降低了本实用新型各个零部件的制造难度和制造成本。

另外，SMD贴片式电子元件电参数测试夹具还包括绝缘护套7，触头4与导线9的连接处包夹于该绝缘护套7内。从而方便操作者手持触头4，再将触头4插接于相应的测试仪器内，继而对SMD贴片式电子元件的各项电参数进行测试和读取。

此外，探针3还套装于绝缘针套8内，并且该绝缘针套8包夹于第一柄壳1与第二柄壳2之间。通过绝缘针套8的隔离作用，使相邻两根探针3保持足够间距，避免相邻两根探针3出现短路。

具体的，探针3可沿其长度方向伸缩。从而保证探针3与SMD贴片式电子元件相应的引脚保持可靠的电性接触连接，优选探针3的伸缩行程不小于12mm。触头4可沿其径向方向膨胀或收缩，触头4俗称为“萝卜头”或“香蕉头”，触头4外表面设有簧片，当将触头4插入对应的插孔内时，插孔对簧片产生挤压作用，使簧片产生形变，从而使触头4径向方向产生膨胀或收缩的形变，继而使触头4在其径向方向将对应的插孔胀紧，从而使触头4可靠地插接于相应的测试仪器内，继而对SMD贴片式电子元件的各项电参数进行测试和读取。

进一步地，第一柄壳1与第二柄壳2外形形状、外形尺寸均一致。第一柄壳1或第二柄壳2为矩形薄板状。紧固件5为螺栓。导线9宜采用耐高温硅胶材料包覆。

Claims (10)

1.一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，其特征在于：包括第一柄壳(1)、第二柄壳(2)、探针(3)和触头(4)，所述探针(3)数量与触头(4)数量相等，并且所述探针(3)与触头(4)通过导线(9)一一对应地连接在一起，所述第一柄壳(1)与第二柄壳(2)通过使用紧固件(5)叠合在一起，并且使所述探针(3)与导线(9)的连接处包夹于所述第一柄壳(1)与第二柄壳(2)之间。

2.如权利要求1所述的一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，其特征在于：所述第一柄壳(1)或第二柄壳(2)表面设有容置沉槽(6)，所述探针(3)与导线(9)的连接处搁置于该容置沉槽(6)内。

3.如权利要求2所述的一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，其特征在于：所述容置沉槽(6)在所述第一柄壳(1)或第二柄壳(2)表面的投影为至少经过两次折弯的折线形状。

4.如权利要求1所述的一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，其特征在于：所述SMD贴片式电子元件电参数测试夹具还包括绝缘护套(7)，所述触头(4)与导线(9)的连接处包夹于该绝缘护套(7)内。

5.如权利要求1或2所述的一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，其特征在于：所述探针(3)还套装于绝缘针套(8)内，并且该绝缘针套(8)包夹于所述第一柄壳(1)与第二柄壳(2)之间。

6.如权利要求5所述的一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，其特征在于：所述探针(3)可沿其长度方向伸缩。

7.如权利要求1或4所述的一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，其特征在于：所述触头(4)可沿其径向方向膨胀或收缩。

8.如权利要求1至3任一项所述的一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，其特征在于：所述第一柄壳(1)与第二柄壳(2)外形形状、外形尺寸均一致。

9.如权利要求8所述的一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，其特征在于：所述第一柄壳(1)或第二柄壳(2)为矩形薄板状。

10.如权利要求1所述的一种SMD贴片式电子元件电参数测试夹具，其特征在于：所述紧固件(5)为螺栓。