CN219715668U - 一种集成电路测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种集成电路测试装置，属于集成电路测试技术领域，该一种集成电路测试装置包括底座、测试台、至少两个承载顶板、至少两个测试仪器、至少两个移动组件和驱动组件，测试台设于所述底座上，至少两个承载顶板沿所述测试台对称分布；至少两个测试仪器各自独立的装于所述承载台上，至少两个移动组件各自独立的与所述承载顶板连接，驱动组件将所述至少两个移动组件连接，以使所述至少两个移动组件沿测试台相向或相离线性运动。将集成电路元件置于测试台上之后，驱动组件使两个承载顶板相向线性移动，可无法人工推动两个承载顶板相向线性移动，进而能够减少劳动强度。

Description

一种集成电路测试装置

技术领域

本实用新型属于集成电路测试技术领域，具体而言，涉及一种集成电路测试装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件，把一定数量的常用电子元件，如电阻、电容、晶体管等，以及这些元件之间的连线，通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。

目前，集成电路测试装置在测试时，通常将集成电路元件置于测试台，并由操作者推动两个测试仪器沿测试台运动，直至集成电路元件的针脚插入测试仪器中实现检测；完成后再由操作者拉动两个测试仪器远离测试台运动，并更换集成电路元件。

然而，对于此种方式，反复持续性的操作提高了操作者的劳动强度；并且，长时间运动也容易导致操作者的胳膊、肩膀酸疼，长期以往，不仅对操作者的胳膊、肩膀不利，而且逐步降低了工作效率。

实用新型内容

为了弥补以上不足，本实用新型提供了一种集成电路测试装置，旨在解决现有的人工移动测试仪器的方式提高了操作者的劳动强度，降低了工作效率的问题。

本实用新型是这样实现的：

一种集成电路测试装置，包括：

底座；

测试台，其设于所述底座上；

至少两个承载顶板，其沿所述测试台对称分布；

至少两个测试仪器，其各自独立的装于所述至少两个承载顶板上；

至少两个移动组件，其各自独立的与所述承载顶板连接；

驱动组件，其将所述至少两个移动组件连接，以使所述至少两个移动组件沿测试台相向或相离线性运动。

在本实用新型的一种实施例中，所述底座包括相互平行的第一竖板以及第二竖板，所述至少两个移动组件各自独立的包括分别设于所述第一竖板和所述第二竖板上的导轨、可线性移动地设于每个所述导轨上的滑块以及与所述承载顶板固定的螺母座。

在本实用新型的一种实施例中，所述至少两个承载顶板上各自独立的至少设有两个朝向所述测试台的至少两个液压阻尼支杆，所述测试台上设有与每个所述液压阻尼支杆相对应的挡块。

在本实用新型的一种实施例中，所述至少两个测试仪器上各自独立的设有朝向所述测试台的测试端口。

在本实用新型的一种实施例中，每个所述滑块上至少设有两个对称分布的黄油弯接头。

在本实用新型的一种实施例中，所述驱动组件包括与两个所述螺母座连接的丝杆以及与所述丝杆的一端连接的驱动装置。

在本实用新型的一种实施例中，所述丝杆为双向丝杆。

在本实用新型的一种实施例中，还包括至少两个压紧组件，所述至少两个压紧组件各自独立的设于所述测试台上并形成对称分布，所述至少两个压紧组件各自独立的包括与所述测试台固定的侧板、与所述侧板相对的夹块、与所述侧板固定的至少两个连杆以及设于所述至少两个连杆与所述夹块之间的弹性件。

在本实用新型的一种实施例中，所述夹块包括供所述至少两个连杆各自独立的可线性移动的收容腔，所述至少两个连杆各自独立的位于所述收容腔的杆部上具有凸起，所述弹性件的两端分别抵接于所述凸起和所述收容腔远离所述侧板的侧壁。

在本实用新型的一种实施例中，所述至少两个压紧组件各自独立的还包括推板，所述推板设于所述夹块上。

相较于现有技术，本实用新型的有益效果是：将集成电路元件置于测试台上之后，驱动组件使两个承载顶板相向线性移动，可无法人工推动两个承载顶板相向线性移动，进而能够减少劳动强度。进一步地，两个承载顶板持续相向线性移动直至集成电路元件的针脚完全插入测试仪器的测试端口中，经过测试仪器对集成电路元件检测，有利于提高良品率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本实用新型实施方式提供的一种集成电路测试装置的立体图；

图2是本实用新型实施方式提供的一种集成电路测试装置的另一视角的立体图；

图3是本实用新型实施方式提供的一种集成电路测试装置的底座的结构示意图；

图4是本实用新型实施方式提供的一种集成电路测试装置的压紧组件的结构示意图；

图5是本实用新型实施方式提供的一种集成电路测试装置的压紧组件的立剖图。

附图标记说明：10、底座；11、第一竖板；12、第二竖板；20、测试台；21、挡块；30、承载顶板；31、液压阻尼支杆；40、测试仪器；41、测试端口；50、移动组件；51、导轨；52、滑块；521、黄油弯接头；53、螺母座；60、驱动组件；61、丝杆；611、第一端；62、驱动装置；63、轴承支座；70、压紧组件；71、侧板；72、夹块；721、收容腔；73、连杆；731、凸起；74、弹性件；75、推板。

具体实施方式

为使本实用新型实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施方式中的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本实用新型一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

实施例

参照附图1-5所示，本实用新型提供一种技术方案：一种集成电路测试装置，包括底座10、测试台20、至少两个承载顶板30、至少两个测试仪器40、至少两个移动组件50和驱动组件60，测试台20设于底座10上，至少两个承载顶板30沿测试台20对称分布；至少两个测试仪器40各自独立的装于至少两个承载顶板30上，至少两个移动组件50各自独立的与承载顶板30连接，驱动组件60将至少两个移动组件50连接，以使至少两个移动组件50沿测试台20相向或相离线性运动；在本实施例中，至少两个测试仪器40上各自独立的设有朝向测试台20的测试端口41。例如，测试台20可通过螺栓的方式与底座10拆卸连接。

示例性的，移动组件50可以是滑动凸起731与滑槽之间的配合；例如，在承载顶板30相对于底座10的一侧设置滑动凸起731，在第一竖板11和第二竖板12上开设与滑动凸起731相适配的滑槽，以实现承载顶板30的线性移动。

根据该实施例中，将集成电路元件置于测试台20上之后，驱动组件60使两个承载顶板30相向线性移动，可无法人工推动两个承载顶板30相向线性移动，进而能够减少劳动强度。进一步地，两个承载顶板30持续相向线性移动直至集成电路元件的针脚完全插入测试仪器40的测试端口41中，经过测试仪器40对集成电路元件检测，有利于提高良品率。

参照附图1-3所示，在一些实施例中，底座10包括相互平行的第一竖板11以及第二竖板12，至少两个移动组件50各自独立的包括分别设于第一竖板11和第二竖板12上的导轨51、可线性移动地设于每个导轨51上的滑块52以及与承载顶板30固定的螺母座53。例如，滑块52与导轨51滑动连接，螺母座53可通过螺栓的方式与承载顶板30进行固定。

根据该实施例中，当驱动组件60提供动力时，螺母座53可带动承载顶板30以使滑块52沿导轨51上线性移动，从而使测试仪器40能够实现位移。

参照附图1-3所示，在一些实施例中，至少两个承载顶板30上各自独立的至少设有两个朝向测试台20的至少两个液压阻尼支杆31，测试台20上设有与每个液压阻尼支杆31相对应的挡块21。例如，液压阻尼支杆31可通过螺丝与承载顶板30固定；挡块21可以焊接于测试台20上，也可以一体成型。

根据该实施例中，两个承载顶板30在沿测试台20线性移动的过程中，为了防止承载顶板30与测试台20发生碰撞，从而导致集成电路元件的针脚损坏。因此，通过液压阻尼支杆31与挡块21之间的配合，能对承载顶板30起到缓冲作用，进一步阻止滑块52持续沿导轨51上线性移动。

参照附图2所示，在一些实施例中，每个滑块52上至少设有两个对称分布的黄油弯接头521。

根据该实施例中，在进行保养维护时，将黄油分配器与黄油弯接头521连接滑块52注入润滑油，能够使部件之间保持工作流畅。

参照附图1-2所示，在一些实施例中，驱动组件60包括与两个螺母座53连接的丝杆61以及与丝杆61的一端连接的驱动装置62；在本实施例中，丝杆61为双向丝杆。例如，驱动装置62为直流电机、异步电机、同步电机、步进电机、伺服电动机或减速电机等；丝杆61与螺母座53螺纹连接；驱动装置62的输出端与丝杆61通过联轴器(图中未示出)等方式固定。

根据该实施例中，使用时，驱动装置62被固定安装在某个位置，驱动装置62通电之后能够带动丝杆61向两个螺母座53传动，通过双向丝杆61的螺纹形成反向设置，从而能够实现两个螺母座53能够相向或相离线性运动。

参照附图1、4-5所示，在一些实施例中，还包括至少两个压紧组件70，至少两个压紧组件70各自独立的设于测试台20上并形成对称分布，至少两个压紧组件70各自独立的包括与测试台20固定的侧板71、与侧板71相对的夹块72、与侧板71固定的至少两个连杆73以及设于至少两个连杆73与夹块72之间的弹性件74；在本实施例中，夹块72包括供至少两个连杆73各自独立的可线性移动的收容腔721，至少两个连杆73各自独立的位于收容腔721的杆部上具有凸起731，弹性件74的两端分别抵接于凸起731和收容腔721远离侧板71的侧壁。例如，侧板71可通过螺栓或焊接的方式与测试台20固定，弹性件74为弹簧等。

根据该实施例中，集成电路元件安装时，通过两个夹块72沿连杆73上相离线性运动，同时夹块72挤压弹性件74发生形变。当集成电路元件安装完毕之后，松动夹块72借助弹性件74的复位运动使两个夹块72沿连杆73上相向线性运动，以将集成电路元件夹持，从而避免针脚插入测试端口41的过程中集成电路元件受力发生位移。

参照附图1、4-5所示，在一些实施例中，至少两个压紧组件70各自独立的还包括推板75，推板75设于夹块72上。例如，推板75可焊接于夹块72上。通过推板75的设置，有利于操作者使两个夹块72发生相离运动。

具体的，该一种集成电路测试装置的工作原理：使用时，通过推动推板75使两个夹块72发生相离运动，同时夹块72挤压弹性件74发生形变，并将集成电路元件置于两个夹块72之间。当集成电路元件安装完毕之后，松动夹块72借助弹性件74的复位运动使两个夹块72沿连杆73上相向线性运动，以将集成电路元件夹持。紧接着，驱动装置62使丝杆61发生旋转向两个螺母座53传动，带动滑块52沿导轨51上线性移动，使得两个承载顶板30沿测试台20方向移动，直至集成电路元件的针脚完全插入测试仪器40的测试端口41中，经过测试仪器40对集成电路元件检测。

需要说明的是，测试仪器40的型号规格需根据该装置的实际规格等进行选型确定，具体选型计算方法采用本领域现有技术，故不再详细赘述。

测试仪器40的供电及其原理对本领域技术人员来说是清楚的，在此不予详细说明。

以上仅为本实用新型的优选实施方式而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种集成电路测试装置，其特征在于，包括：

底座(10)；

测试台(20)，其设于所述底座(10)上；

至少两个承载顶板(30)，其沿所述测试台(20)对称分布；

至少两个测试仪器(40)，其各自独立的装于所述至少两个承载顶板(30)上；

至少两个移动组件(50)，其各自独立的与所述承载顶板(30)连接；

驱动组件(60)，其将所述至少两个移动组件(50)连接，以使所述至少两个移动组件(50)沿测试台(20)相向或相离线性运动。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述底座(10)包括相互平行的第一竖板(11)以及第二竖板(12)，所述至少两个移动组件(50)各自独立的包括分别设于所述第一竖板(11)和所述第二竖板(12)上的导轨(51)、可线性移动地设于每个所述导轨(51)上的滑块(52)以及与所述承载顶板(30)固定的螺母座(53)。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述至少两个承载顶板(30)上各自独立的至少设有两个朝向所述测试台(20)的至少两个液压阻尼支杆(31)，所述测试台(20)上设有与每个所述液压阻尼支杆(31)相对应的挡块(21)。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述至少两个测试仪器(40)上各自独立的设有朝向所述测试台(20)的测试端口(41)。

5.根据权利要求2所述的集成电路测试装置，其特征在于，每个所述滑块(52)上至少设有两个对称分布的黄油弯接头(521)。

6.根据权利要求2所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述驱动组件(60)包括与两个所述螺母座(53)连接的丝杆(61)以及与所述丝杆(61)的一端连接的驱动装置(62)。

7.根据权利要求6所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述丝杆(61)为双向丝杆(61)。

8.根据权利要求1所述的集成电路测试装置，其特征在于，还包括至少两个压紧组件(70)，所述至少两个压紧组件(70)各自独立的设于所述测试台(20)上并形成对称分布，所述至少两个压紧组件(70)各自独立的包括与所述测试台(20)固定的侧板(71)、与所述侧板(71)相对的夹块(72)、与所述侧板(71)固定的至少两个连杆(73)以及设于所述至少两个连杆(73)与所述夹块(72)之间的弹性件(74)。

9.根据权利要求8所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述夹块(72)包括供所述至少两个连杆(73)各自独立的可线性移动的收容腔(721)，所述至少两个连杆(73)各自独立的位于所述收容腔(721)的杆部上具有凸起(731)，所述弹性件(74)的两端分别抵接于所述凸起(731)和所述收容腔(721)远离所述侧板(71)的侧壁。

10.根据权利要求8所述的集成电路测试装置，其特征在于，所述至少两个压紧组件(70)各自独立的还包括推板(75)，所述推板(75)设于所述夹块(72)上。