CN219475437U - 晶体管自动化光学检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种晶体管自动化光学检测装置，包括上料部、转运部及检测部；上料部设置有供转运部夹持料管的上料工位，检测部分别从料管透明的第一表面、第二表面和第三表面检测料管内部晶体管的三个待检测面；转运部包括平移机构、旋转机构及夹持机构；夹持机构夹持位于上料工位的料管，平移机构带动夹持机构在上料部与检测部之间平移，旋转机构带动夹持机构在水平面与垂直面切换；平移机构与旋转机构相配合使料管的第一表面、第二表面和第三表面依次被送至检测部。通过平移机构与旋转机构相配合，使夹持机构夹持的料管的第一表面、第二表面和第三表面连续性地依次被送至检测部，从而节省了检测的准备时间，提高了工作效率。

Description

晶体管自动化光学检测装置

技术领域

本实用新型涉及晶体管缺陷检测设备，具体地说是一种晶体管自动化光学检测装置。

背景技术

自动光学检测(英文全称：Automated Optical Inspection，英文缩写为AOI)，是基于光学原理来对产品外观的常见缺陷进行检测的技术。AOI设备通过摄像头自动扫描产品，采集图像，将产品上待检测的区域与数据库中的合格参数进行比较，经过图像处理，检查出产品的缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示或标示出来，供维修人员修整。

利用AOI技术检测晶体管时，晶体管带引脚的一端的端面及正反两个表面都是需要检测缺陷的。现有技术中，会采用旋转夹持组件将晶体管夹持并依次旋转两次，将三个待检测面分别送至同一检测工位，完成晶体管的缺陷检测。这样虽然也能实现自动化光学检测，但是每次都需要先将检测完的晶体管送至下料工位后，才会继续抓取新的晶体管，存在工作效率低的问题。

实用新型内容

本实用新型针对现有的AOI设备工作效率低的问题，提供一种工作效率高的晶体管自动化光学检测装置。

本实用新型的技术方案如下：一种晶体管自动化光学检测装置，用于对晶体管的三个待检测面进行检测，该晶体管自动化光学检测装置包括上料部、转运部及检测部；其中：

上料部被配置为存储堆叠的多根料管，料管内并排装有待检测的晶体管，料管的第一表面、第二表面和第三表面均透明且分别与料管内晶体管的三个待检测面相对；

上料部设置有供转运部夹持料管的上料工位，检测部被配置为分别从料管透明的第一表面、第二表面和第三表面检测料管内部晶体管的三个待检测面；

转运部包括平移机构、旋转机构及夹持机构，夹持机构安装在旋转机构的活动端，旋转机构安装在平移机构的活动端；夹持机构被配置为夹持位于上料工位的料管，平移机构被配置为带动夹持机构在上料部与检测部之间平移，旋转机构被配置为带动夹持机构在水平面与垂直面切换；

平移机构与旋转机构相配合使料管的第一表面、第二表面和第三表面依次被送至检测部。

通过配置包括平移机构、旋转机构及夹持机构的转运部，平移机构与旋转机构相配合，使夹持机构夹持的料管的第一表面、第二表面和第三表面连续性地依次被送至检测部，从而节省了检测的准备时间，提高了工作效率。

可选地，检测部包括第一检测组件和第二检测组件，第一检测组件用于分别检测料管的第一表面和第三表面，第二检测组件用于检测料管的第二表面。

检测部包括两个检测组件，可使处于相同高度位置的料管的第一表面和第三表面由第一检测组件检测，使处于另一高度位置的料管的第二表面由第二检测组件检测，两个检测组件的位置在检测前可分别调整固定，在检测时不用重新调整，可节约检测时间。

可选地，料管的第一表面与第三表面相对，夹持机构包括背向安装在旋转机构活动端的第一夹持组件和第二夹持组件，第一夹持组件和第二夹持组件分别用于单独夹持一根料管；

第一夹持组件夹持的料管在被检测第三表面时，第二夹持组件从上料工位夹持另一根料管；

第二夹持组件夹持的料管在被检测第三表面时，第一夹持组件从上料工位夹持另一根料管。

夹持机构包括两个夹持组件，其中的一个夹持组件夹持的料管位于检测工位时，另一个夹持组件从上料工位夹持另一根料管，实现了两根料管的同步进给，提高了工作效率。

可选地，晶体管自动化光学检测装置还包括位于检测部后道的打标部，打标部被配置为在不合格晶体管对应的料管表面打上标记，打标部设置有用于接收检测后料管的转运工位；

第一夹持组件夹持的料管在被检测第一表面时，第二夹持组件夹持的料管处于转运工位；

第二夹持组件夹持的料管在被检测第一表面时，第一夹持组件夹持的料管处于转运工位。

通过配置打标部，可在不合格晶体管对应的料管表面打上标记，便于不合格晶体管的后续处理。

可选地，第一检测组件和第二检测组件间隔设置在平移机构的平移路径上方；

第一夹持组件夹持的料管平移至第一检测组件下方时，第一检测组件检测料管的第一表面或第三表面；

旋转机构用于带动第一夹持组件翻转90°，使料管的第二表面转动至第二检测组件的下方，第二检测组件用于检测料管的第二表面。

通过间隔设置第一检测组件和第二检测组件，使两个检测组件的位置分别与旋转前后的每个夹持组件的夹持位置相对应，便于检测部检测料管的相邻两个表面，即第一表面与第二表面或者第二表面与第三表面。

可选地，上料部包括规整组件、缓存组件和移载组件，其中，

缓存组件用于存放多根堆叠放置的料管；

移载组件用于从缓存组件取出料管并放入规整组件；

规整组件用于接收料管并使料管处于上料工位。

通过缓存组件暂存料管，可降低移载组件的等待时间，提高移载组件的移载效率；通过规整组件规整料管，使料管能精确地位于上料位置，可避免移载组件的转运误差，降低故障率。

可选地，规整组件设置有位于上料工位两侧的两个承载座，两个承载座沿着平移机构平移方向的第一侧设置有定位台阶，两个承载座沿着平移机构平移方向的第二侧设置有可相对定位台阶移动的顶块；

规整组件还包括基准板、规整板及规整板驱动件，基准板与规整板分别位于两个承载座沿着垂直于平移机构平移方向的外侧，规整板安装在规整板驱动件上，规整板驱动件带动规整板相对于基准板移动。

通过定位台阶与基准板作为基准，通过顶块与规整板的移动来规整料管，使料管在水平面上定位，方便转运部准确地抓取。

可选地，打标部包括打标器组、打标器平移模组、料管运输线、托料组件及抬升组件；

抬升组件安装于料管运输线外，托料组件安装于料管运输线上方；料管运输线被配置为接收及输送从转运部传输来的料管，转运工位设置在料管运输线的进料端，抬升组件被配置为将料管从料管运输线抬升至托料组件，托料组件被配置为托住并定位料管；

打标器平移模组安装于托料组件上方；打标器组安装在打标器平移模组的活动端，打标器平移模组被配置为带动打标器组移动到托料组件上方；打标器组包括多个打标器及打标器升降件，打标器安装在打标器升降件的活动端，打标器升降件带动各自的打标器升降并在料管上打标。

通过抬升组件将料管从料管运输线抬升至托料组件，通过打标器平移模组将打标器组移动到托料组件上方，并由打标器升降件带动打标器升降而实现在料管上打标；打标时，料管不会偏移，可实现打标器的正常打标。

可选地，晶体管自动化光学检测装置还包括收料部，收料部安装在打标部的后道工位，收料部被配置为按照检测部检测的结果分类收集料管。

通过收料部对打标后的料管进行分类收集，可实现检测后的料管的及时分类，提高工作效率。

可选地，收料部包括吸附组件、吸附组件升降件、吸附组件平移件、良品收料箱及NG品收料箱；

吸附组件安装在吸附组件升降件的活动端，吸附组件升降件安装在吸附组件平移件的活动端；吸附组件平移件被配置为带动吸附组件升降件平移至良品收料箱或者NG品收料箱上方，吸附组件升降件被配置为带动吸附组件升降；

吸附组件包括多个吸盘组及吸盘组升降件，每个吸盘组在各自的吸盘组升降件的带动下升降。

通过吸附组件吸附料管，通过吸附组件升降件与吸附组件平移件带动吸附组件移动至至良品收料箱或者NG品收料箱上方，然后将检测后的料管分类收集在相对应的收料箱内，实现料管的分类收集。

可选地，料管的长度方向两端分别设置有用于封闭料管的插销，料管内的相邻两个晶体管相互抵接，料管的第一表面和第三表面分别向内形成有限位凸起，两个限位凸起卡住晶体管的主体部分。

通过限位凸起可将晶体管可靠地固定在料管内。

可选地，第一检测组件包括沿料管长度方向间隔设置的若干第一相机，每个第一相机用于检测料管内至少一个晶体管；

第二检测组件包括沿料管长度方向间隔设置的若干第二相机，每个第二相机用于检测料管内至少一个晶体管。

每个检测组件包括多个相机，可同时检测多个晶体管，提高检测效率。

附图说明

图1为料管的立体结构示意图，该料管用于装载需要本实用新型检测的晶体管。

图2为本实用新型的一种可选实施例的立体结构示意图。

图3为图2所示实施例中的规整组件的立体结构示意图。

图4为图2所示实施例中的上料部的立体结构示意图。

图5为图4所示上料部另一视角的立体结构示意图，其中去除了移载组件。

图6为图4所示上料部中的料框更换组件的立体结构示意图。

图7为图6中的底座与滑板组装后的立体结构示意图。

图8为图7中的A处放大图。

图9为图2所示实施例中的转运部的立体结构示意图。

图10为图2所示实施例中的规整组件、转运部、检测部与料管运输线4相对位置的立体结构示意图。

图11为图12的主视图。

图12为图2所示实施例中的打标部的立体结构示意图。

图13为图12所示打标部另一视角的立体结构示意图，其中去除了打标器组与打标器平移模组。

图14为图2所示实施例中的收料部的立体结构示意图。

图1～图14中，包括：

晶体管自动化光学检测装置1；

上料部10、上料工位11、规整组件12、承载座121、定位台阶122、顶块123、基准板124、规整板125、规整板驱动件126、承载座气缸127、顶块气缸128、顶块滑轨129、缓存组件13、缓存框131、定料板132、定料板平移部133、隔板134、定料板升降部135、导向组件136、移载组件14、移载平移部141、吸附升降部142、吸附部143、吸附安装板144、吸附件145、料框更换组件15、底座151、滑板152、滑轨153、定位轮154、定位组件155、插块156、插座157、钢球158、弹簧159、顶升组件16、顶升板161、顶升板升降部162；

转运部20、平移机构21、旋转机构22、转运板221、转轴222、轴承座223、转轴驱动件224、固定框225、夹持机构23、第一夹持组件231、第二夹持组件232、第一夹爪233、第一夹爪驱动件234、第二夹爪235、第二夹爪驱动件236、转运工位24；

检测部30、第一检测组件31、第一相机311、第二检测组件32、第二相机321；

打标部40、打标器组41、打标器411、打标器升降件412、打标器平移模组42、料管运输线43、输送带431、基准块432、导向板433、吹气件434、托料组件44、托架441、托架平移件442、规整板443、推块驱动件444、推块445、抬升组件45、抬升板451、抬升板升降件452、止挡块453；

收料部50、吸附组件51、吸盘组511、吸盘组升降件512、吸附组件升降件52、吸附组件平移件53、良品收料箱54、NG品收料箱55、良品导料框56、NG品导料框57；

料管100、第一表面101、第二表面102、第三表面103、插销104、限位凸起105；

料框200、定位槽201、垫块202、隔板203。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。

如图1所示，一种料管100，该料管100用于装载需要本实用新型检测的晶体管。料管100内并排装有待检测的晶体管，料管100的第一表面101、第二表面102和第三表面103均透明且分别与料管100内晶体管的三个待检测面相对。可选地，料管100的第一表面101与第三表面103相对。

可选地，料管100的长度方向两端分别设置有用于封闭料管100的插销104；料管100内的相邻两个晶体管相互抵接，料管100的第一表面101和第三表面103分别向内形成有限位凸起105；两个限位凸起105沿着料管100的长度方向延伸，两个限位凸起105卡住晶体管的主体部分。

通过限位凸起105可将晶体管可靠地固定在料管100内。

图2所示是一种晶体管自动化光学检测装置1，用于对如图1所示料管100中装载的晶体管的三个待检测面进行检测。该晶体管自动化光学检测装置1主要包括上料部10、转运部20及检测部30。

其中：上料部10被配置为存储堆叠的多根料管100；

上料部10设置有供转运部20夹持料管100的上料工位11，检测部30被配置为分别从料管100透明的第一表面101、第二表面102和第三表面103检测料管100内部晶体管的三个待检测面；

转运部20包括平移机构21、旋转机构22及夹持机构23，夹持机构23安装在旋转机构22的活动端，旋转机构22安装在平移机构21的活动端；夹持机构23被配置为夹持位于上料工位11的料管100，平移机构21被配置为带动夹持机构23在上料部10与检测部30之间平移，旋转机构22被配置为带动夹持机构23在水平面与垂直面切换；

平移机构21与旋转机构22相配合使料管100的第一表面101、第二表面102和第三表面103依次被送至检测部30进行检测。

通过配置包括平移机构21、旋转机构22及夹持机构23的转运部20，平移机构21与旋转机构22相配合，使夹持机构23夹持的料管100的第一表面101、第二表面102和第三表面103连续性地依次被送至检测部30，从而节省了检测的准备时间，提高了工作效率。

下面对本实用新型的各个组成部分作进一步详细的说明。

如图2所示，上料部10的作用是将料管100上料至转运部20。作为一种可选的实施方式，上料部10包括规整组件12、缓存组件13和移载组件14。

其中，缓存组件13用于存放多根堆叠放置的料管100；

移载组件14用于从缓存组件13取出料管100并放入规整组件12；

规整组件12用于接收料管100并使料管100处于上料工位11。

通过缓存组件13暂存料管100，可降低移载组件14的等待时间，提高移载组件14的移载效率；通过规整组件12规整料管100，使料管100能精确地位于上料位置，可避免移载组件14的转运误差，降低故障率。

在该实施方式中，如图3所示，可选地，规整组件12设置有位于上料工位11两侧的两个承载座121，两个承载座121沿着平移机构21平移方向的第一侧(即靠近转运部20的一侧)设置有定位台阶122，两个承载座121沿着平移机构21平移方向的第二侧(即远离转运部20的一侧)设置有可相对定位台阶122移动的顶块123。

规整组件12还包括基准板124、规整板125及规整板驱动件126，基准板124与规整板125分别位于两个承载座121沿着垂直于平移机构21平移方向的外侧，规整板125安装在规整板驱动件126的活动端上，规整板驱动件126带动规整板125相对于基准板124移动。可选地，规整板驱动件126采用气缸。

通过定位台阶122与基准板124作为基准，通过顶块123与规整板125的移动来规整料管100，使料管100在被抓取前处于恒定的位置，方便转运部20准确地抓取。

在其中的一个实施例中，两个承载座121分别安装在承载座气缸127上，承载座气缸127可带动相应的承载座121升降。

在另一个实施例中，两个顶块123分别安装在顶块气缸128的活动端，顶块气缸安装在承载座121上，每个顶块123与相应的承载座121之间还安装有顶块滑轨129。顶块气缸128带动相应的顶块123沿着顶块滑轨129滑动，可相对应定位台阶122靠近或者远离。

如图4、图5所示，可选地，缓存组件13包括缓存框131、定料板132和定料板平移部133。

两块定料板132布置于缓存框131的相对两侧，每块定料板132安装在一个定料板平移部133的活动端，两块定料板132被配置为在定料板平移部133的带动下插入或者移出缓存框131。可选地，定料板平移部133采用气缸。

通过定料板平移部133带动定料板132插入缓存框131，可以实现将顶升组件16顶升到缓存框131内的料管100托举在缓存框131内，使顶升组件16撤出料框200，从而方便更换料框更换组件15内的料框200。

可选地，缓存框131内竖向安装有多块隔板134，多块隔板134将缓存框131分隔为多个并列的缓存空间。

缓存框131内设置有多个缓存空间，可同时存储多列料管100，可减少移载组件14的等待时间，提高移载效率。

在其中的一个实施例中，可选地，缓存组件13还包括定料板升降部135，定料板平移部133安装在定料板升降部135的活动端，定料板升降部135用于带动定料板平移部133升降，以使缓存框131中最上方的料管100处于恒定位置。可选地，定料板升降部135采用丝杆电机，其步进式顶升定料板132及定料板平移部133，每次抬升一个料管100的高度，使缓存组件13中最上方的料管100一直处于同一位置，方便移载组件14抓取。

通过定料板升降部135带动定料板132升降到缓存组件13内的预定位置，使缓存框131中最上方的料管100始终处于恒定位置，方便移载组件14移载料管100。

在其中的一个实施例中，定料板升降部135还包括导向组件136，导向组件136被配置为在定料板升降部135升降时对定料板升降部135导向。可选地，导向组件136采用导向杆。通过导向组件136对定料板升降部135的导向，可防止缓存框131发生晃动。

如图4、图5所示，可选地，移载组件14包括移载平移部141、吸附升降部142及吸附部143，吸附部143安装在吸附升降部142上，吸附升降部142安装在移载平移部141上；吸附部143用于吸附缓存组件13中的料管100，吸附升降部142用于带动吸附部143升降，移载平移部141用于带动吸附升降部142平移。可选地，移载平移部141与吸附升降部142分别采用直线模组。

通过吸附部143吸附缓存组件13中的料管100，通过吸附升降部142与移载平移部141带动吸附部143移动到上料位置，实现料管100的顺利上料。

在该实施方式中，可选地，吸附部143包括吸附安装板144及多个吸附件145，多个吸附件145安装在吸附安装板144的下方。可选地，吸附件145采用吸盘。

吸附部143配置有多个吸附件145，通过多个吸附件145来可靠地吸附料管100，从而可防止料管100掉落而损坏晶体管。

如图4、图5所示，可选地，上料部10还包括料框更换组件15。作为一种可选的实施方式，料框更换组件15包括底座151、滑板152及滑轨153，滑板152通过滑轨153活动安装在底座151上，滑板152用于承载料框200。

料框更换组件15采用滑板152与滑轨153，抽拉顺滑，方便更换料框200。

如图6所示，可选地，滑板152上安装有定位轮154，料框200的底部设置有供定位轮154贴合卡入的定位槽201。

通过定位轮154与定位槽201的配合，可将料框200定位在滑板152上，防止料框200晃动。

如图7、图8所示，可选地，料框更换组件15还包括定位组件155，定位组件155安装于底座151与滑板152之间，定位组件155用于将滑板152定位在底座151上。

通过定位组件155将滑板152定位在底座151上，可确保料框200处于预定的位置，便于顶升组件16顶升料管100。

具体地，定位组件155包括插块156与插座157，插块156安装在滑板152上，插座157安装在底座151上，插座157上设置有供插块156插入的槽，槽的两侧安装有钢球158，钢球158由弹簧159抵接在插块156上。

如图4、图5所示，可选地，顶升组件16包括顶升板161及顶升板升降部162，顶升板161安装在顶升板升降部162的活动部件上，顶升板升降部162带动顶升板161沿竖直方向升降，料框200底部形成供顶升板161插入至料管100下方的空腔。可选地，顶升板升降部162采用直线模组。

料框200底部设置有空腔，方便顶升组件16的顶升板161插入料框200，不会产生干涉。

具体地，料框200由多块隔板203分隔成多个存放空间，每个存放空间的下部安装有垫块202，料管100被摆放在垫块202上，料管100下方就形成供顶升板161插入的空腔。

如图2所示，转运部20的作用是检测料管100中的晶体管。转运部20包括平移机构21、旋转机构22及夹持机构23。

如图9所示，可选地，平移机构21采用直线模组。

如图9所示，作为一种可选的实施方式，旋转机构22包括转运板221、转轴222、轴承座223及转轴驱动件224，转轴222通过两个轴承座223可转动地安装在转运板221上，转运板221安装在平移机构21的活动端上。转轴驱动件224的活动端连接在转轴222上；转轴驱动件224驱动转轴222旋转。可选地，转轴驱动件224采用皮带轮传动机构。

如图9所示，作为一种可选的实施方式，夹持机构23包括背向安装在旋转机构22活动端的第一夹持组件231和第二夹持组件232，第一夹持组件231和第二夹持组件232分别用于单独夹持一根料管100。

第一夹持组件231夹持的料管100在被检测第三表面103时，第二夹持组件232从上料工位11夹持另一根料管100；

第二夹持组件232夹持的料管100在被检测第三表面103时，第一夹持组件231从上料工位11夹持另一根料管100。

夹持机构23包括两个夹持组件，其中的一个夹持组件夹持的料管100位于检测工位时，另一个夹持组件从上料工位11夹持另一根料管100，实现了两根料管100的同步进给，提高了工作效率。

可选地，第一夹持组件231包括两对第一夹爪233及两个第一夹爪驱动件234，每对第一夹爪233安装在一个第一夹爪驱动件234上；两个第一夹爪驱动件234分别固定安装在转轴222的一端，第一夹爪驱动件234驱动第一夹爪233开合。可选地，第一夹爪驱动件234采用双头气缸。

第二夹持组件232与第一夹持组件231对称安装于转轴222上。第二夹持组件232包括两对第二夹爪235及两个第二夹爪驱动件236，第二夹爪235安装在第二夹爪驱动件236上；第二夹爪驱动件236驱动第二夹爪235开合。可选地，第二夹爪驱动件236采用双头气缸。

可选地，转轴222上安装有两个固定框225，每个固定框225上对称安装有一个第一夹爪233和一个第二夹爪235。

如图2所示，检测部30的作用是检测料管100中的晶体管。

作为一种可选的实施方式，检测部30包括第一检测组件31和第二检测组件32，第一检测组件31用于分别检测料管100的第一表面101和第三表面103，第二检测组件32用于检测料管100的第二表面102。

检测部30包括两个检测组件，可使处于相同高度位置的料管100的第一表面101和第三表面103由第一检测组件31检测，使处于另一高度位置的料管100的第二表面102由第二检测组件32检测，两个检测组件的位置在检测前可分别调整固定，在检测时不用重新调整，可节约检测时间。

可选地，第一检测组件31包括沿料管100长度方向间隔设置的若干第一相机311，每个第一相机311用于检测料管100内至少一个晶体管；

第二检测组件32包括沿料管100长度方向间隔设置的若干第二相机321，每个第二相机321用于检测料管100内至少一个晶体管。

每个检测组件包括多个相机，可同时检测一根料管100内的所有晶体管，提高检测效率。

如图10、图11所示，可选地，第一检测组件31和第二检测组件32间隔设置在平移机构21的平移路径上方；

第一夹持组件231夹持的料管100平移至第一检测组件31下方时，第一检测组件31检测料管100的第一表面101或第三表面103；

旋转机构22用于带动第一夹持组件231翻转90°，使料管100的第二表面102转动至第二检测组件32的下方，第二检测组件32用于检测料管100的第二表面102。

通过间隔设置第一检测组件31和第二检测组件32，使两个检测组件的位置分别与旋转前后的每个夹持组件的夹持位置相对应，便于检测部30检测料管100的相邻两个表面，即第一表面101与第二表面102或者第二表面102与第三表面103。

如图2所示，本实用新型还可以包括位于检测部30后道的打标部40，打标部40被配置为在不合格晶体管对应的料管100表面打上标记，打标部40设置有用于接收检测后料管100的转运工位24。

第一夹持组件231夹持的料管100在被检测第一表面101时，第二夹持组件232夹持的料管100处于转运工位24；

第二夹持组件232夹持的料管100在被检测第一表面101时，第一夹持组件231夹持的料管100处于转运工位24。

通过配置打标部40，可在不合格晶体管对应的料管100表面打上标记，便于不合格晶体管的后续处理。

如图12、图13所示，作为一种可选的实施方式，打标部40包括打标器组41、打标器平移模组42、料管运输线43、托料组件44及抬升组件45。

抬升组件45安装于料管运输线43外，托料组件44安装于料管运输线43上方；料管运输线43被配置为接收及输送从转运部20传输来的料管100，转运工位24设置在料管运输线43的进料端，抬升组件45被配置为将料管100从料管运输线43抬升至托料组件44，托料组件44被配置为托住并定位料管100。

打标器平移模组42安装于托料组件44上方；打标器组41安装在打标器平移模组42的活动端，打标器平移模组42被配置为带动打标器组41移动到托料组件44上方；打标器组41包括多个打标器411及打标器升降件412，打标器411安装在打标器升降件412的活动端，打标器升降件412带动各自的打标器411升降并在料管100上打标。

通过抬升组件45将料管100从料管运输线43抬升至托料组件44，通过打标器平移模组42将打标器组41移动到托料组件44上方，并由打标器升降件412带动打标器411升降而实现在料管100上打标；打标时，料管100不会偏移，可实现打标器411的正常打标。

在其中的一个实施例中，可选地，料管运输线43包括两根平行间隔布置的输送带431，输送带431的出料端安装有用于阻挡料管100的基准块432，和/或输送带431的进料端安装有用于对料管100导向的导向板433。

通过在输送带431的出料端设置基准块432，使料管100在料管运输线43上的位置恒定，方便抬升组件45准确抬升；通过设置导向板433对料管100进行导向，可使料管100能顺利地进入料管运输线43。

在另一个实施例中，可选地，两块导向板433对称安装于两根输送带431进料端的外侧，两块导向板433的进料端的间距顺着进料方向逐渐减小。

通过将导向板433设置成弧形，使料管100能稳定平滑地规整到料管运输线43上正中的位置。

在其中的一个实施例中，可选地，料管运输线43的进料端还安装有用于将待接收的料管100吹向输送带431的吹气件434。

通过吹气件434可使料管100能快速地落在料管运输线43上，提高生产效率。

如图13所示，在其中的一个实施例中，可选地，托料组件44包括两个托架441及托架平移件442，两个托架441对称安装在料管运输线43输送方向的外侧，托架平移件442带动两个托架441靠近或者远离。可选地，托架平移件442采用气缸。

通过托架平移件442带动两个托架441远离，以便有空间使抬升组件45将料管100抬升到超过托架441的上表面；通过托架平移件442带动两个托架441靠近，在抬升组件45下降时可将料管100搁置在托架441上。

可选地，托料组件44还包括规整板443，两块规整板443分别对称安装在两个托架441上，两块规整板443用于规整承载于两个托架441上的料管100，两块规整板443在托架441的带动下抵接或远离料管100长度方向的两端。

通过规整板443可在长度方向上规整料管100的整齐度。

可选地，每块规整板443与其相应的托架441一体成型，呈L型。规整板443与托架441一体成型，方便制造。

在其中的一个实施例中，可选地，基准块432高于托架441，托料组件44还包括安装在每个托架441上的推块驱动件444，推块驱动件444位于托架441靠近输送带431进料端的一端，推块驱动件444的活动部件上安装有推块445，推块驱动件444被配置为驱动推块445抵接料管100，使多根料管100沿着料管运输线43输送方向归拢。可选地，推块驱动件444采用气缸。

基准块432高于托架441的位置，可以作为打标时料管100的基准面；通过推块驱动件444驱动推块445抵接料管100，可使多根料管100沿着料管运输线43输送方向归拢。

在其中的一个实施例中，可选地，抬升组件45包括抬升板451及抬升板升降件452，抬升板451安装于抬升板升降件452的活动部件上，抬升板升降件452被配置为带动抬升板451升降。可选地，抬升板升降件452采用气缸。

通过抬升板升降件452带动抬升板451升降实现料管100向托料组件44转移。

在另一个实施例中，可选地，抬升组件45还包括止挡块453，止挡块453安装于抬升板451靠近料管运输线43的进料端的一端；止挡块453被配置为当抬升板451升起时用于阻挡料管运输线43上输送的位于后道的料管100。

通过止挡块453将后续送入料管运输线43的料管100挡在抬升组件45外，可避免料管100和抬升板451干涉。

如图2所示，本实用新型还可以包括收料部50，收料部50安装在打标部40的后道工位，收料部50被配置为按照检测部30检测的结果分类收集料管100。

通过收料部50对打标后的料管100进行分类收集，可实现检测后的料管100的及时分类，提高工作效率。

如图14所示，作为一种可选的实施方式，收料部50包括吸附组件51、吸附组件升降件52、吸附组件平移件53、良品收料箱54及NG品收料箱55。

吸附组件51安装在吸附组件升降件52的活动端，吸附组件升降件52安装在吸附组件平移件53的活动端；吸附组件平移件53被配置为带动吸附组件升降件52平移至良品收料箱54或者NG品收料箱55上方，吸附组件升降件52被配置为带动吸附组件51升降。可选地，吸附组件升降件52采用气缸，吸附组件平移件53采用直线模组。

可选地，吸附组件51包括多个吸盘组511及吸盘组升降件512，每个吸盘组511在各自的吸盘组升降件512的带动下升降。可选地，吸盘组升降件512采用气缸，

通过吸附组件51一次性吸附打标部40托料组件44上的打标过的料管100，通过吸附组件升降件52与吸附组件平移件53带动吸附组件51移动至至良品收料箱54或者NG品收料箱55上方，然后将检测后的料管100分类收集在相对应的收料箱内，实现料管100的分类收集。

在其中的一个实施例中，良品收料箱54的上方安装有良品导料框56，NG品收料箱55的上方安装有NG品导料框57，良品导料框56与NG品导料框57分别起到导向作用。

如图2所示，本实用新型的工作过程如下：

上料部10的缓存组件13从缓存框131内取出一根料管100，并送至规整组件12处；

转运部20滑移到规整组件12处夹取料管100，再回到检测部30进行光学检测，检测完的料管100由转运部20送至打标部40；

打标部40将有缺陷的晶体管标记后，由收料部50的吸附组件51抓取料管100并送入对应的收料箱内。

上文对本实用新型进行了足够详细的具有一定特殊性的描述。所属领域内的普通技术人员应该理解，实施例中的描述仅仅是示例性的，在不偏离本实用新型的真实精神和范围的前提下做出所有改变都应该属于本实用新型的保护范围。本实用新型所要求保护的范围是由所述的权利要求书进行限定的，而不是由实施例中的上述描述来限定的。

Claims (12)

1.一种晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，用于对晶体管的三个待检测面进行检测，所述晶体管自动化光学检测装置包括上料部、转运部及检测部；其中：

所述上料部被配置为存储堆叠的多根料管，所述料管内并排装有待检测的晶体管，所述料管的第一表面、第二表面和第三表面均透明且分别与所述料管内晶体管的三个待检测面相对；

所述上料部设置有供所述转运部夹持所述料管的上料工位，所述检测部被配置为分别从所述料管透明的第一表面、第二表面和第三表面检测所述料管内部晶体管的三个待检测面；

所述转运部包括平移机构、旋转机构及夹持机构，所述夹持机构安装在所述旋转机构的活动端，所述旋转机构安装在所述平移机构的活动端；所述夹持机构被配置为夹持位于所述上料工位的所述料管，所述平移机构被配置为带动所述夹持机构在所述上料部与所述检测部之间平移，所述旋转机构被配置为带动所述夹持机构在水平面与垂直面切换；

所述平移机构与所述旋转机构相配合使所述料管的第一表面、第二表面和第三表面依次被送至所述检测部。

2.根据权利要求1所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述检测部包括第一检测组件和第二检测组件，所述第一检测组件用于分别检测所述料管的第一表面和第三表面，所述第二检测组件用于检测所述料管的第二表面。

3.根据权利要求2所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述料管的第一表面与第三表面相对，所述夹持机构包括背向安装在所述旋转机构活动端的第一夹持组件和第二夹持组件，所述第一夹持组件和第二夹持组件分别用于单独夹持一根料管；

所述第一夹持组件夹持的料管在被检测第三表面时，所述第二夹持组件从所述上料工位夹持另一根料管；

所述第二夹持组件夹持的料管在被检测第三表面时，所述第一夹持组件从所述上料工位夹持另一根料管。

4.根据权利要求3所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述晶体管自动化光学检测装置还包括位于所述检测部后道的打标部，所述打标部被配置为在不合格晶体管对应的料管表面打上标记，所述打标部设置有用于接收检测后所述料管的转运工位；

所述第一夹持组件夹持的料管在被检测第一表面时，所述第二夹持组件夹持的料管处于所述转运工位；

所述第二夹持组件夹持的料管在被检测第一表面时，所述第一夹持组件夹持的料管处于所述转运工位。

5.根据权利要求3所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述第一检测组件和第二检测组件间隔设置在所述平移机构的平移路径上方；

所述第一夹持组件夹持的所述料管平移至所述第一检测组件下方时，所述第一检测组件检测所述料管的第一表面或第三表面；

所述旋转机构用于带动所述第一夹持组件翻转90°，使所述料管的第二表面转动至所述第二检测组件的下方，所述第二检测组件用于检测所述料管的第二表面。

6.根据权利要求1所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述上料部包括规整组件、缓存组件和移载组件，其中，

所述缓存组件用于存放多根堆叠放置的所述料管；

所述移载组件用于从所述缓存组件取出所述料管并放入所述规整组件；

所述规整组件用于接收所述料管并使所述料管处于上料工位。

7.根据权利要求6所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述规整组件设置有位于所述上料工位两侧的两个承载座，两个所述承载座沿着所述平移机构平移方向的第一侧设置有定位台阶，两个所述承载座沿着所述平移机构平移方向的第二侧设置有可相对所述定位台阶移动的顶块；

所述规整组件还包括基准板、规整板及规整板驱动件，所述基准板与所述规整板分别位于两个所述承载座沿着垂直于所述平移机构平移方向的外侧，所述规整板安装在所述规整板驱动件上，所述规整板驱动件带动所述规整板相对于所述基准板移动。

8.根据权利要求4所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述打标部包括打标器组、打标器平移模组、料管运输线、托料组件及抬升组件；

所述抬升组件安装于所述料管运输线外，所述托料组件安装于所述料管运输线上方；所述料管运输线被配置为接收及输送从所述转运部传输来的料管，所述转运工位设置在所述料管运输线的进料端，所述抬升组件被配置为将所述料管从所述料管运输线抬升至所述托料组件，所述托料组件被配置为托住并定位所述料管；

所述打标器平移模组安装于所述托料组件上方；所述打标器组安装在所述打标器平移模组的活动端，所述打标器平移模组被配置为带动所述打标器组移动到所述托料组件上方；所述打标器组包括多个打标器及打标器升降件，所述打标器安装在打标器升降件的活动端，所述打标器升降件带动各自的打标器升降并在所述料管上打标。

9.根据权利要求4所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述晶体管自动化光学检测装置还包括收料部，所述收料部安装在所述打标部的后道工位，所述收料部被配置为按照所述检测部检测的结果分类收集所述料管。

10.根据权利要求9所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述收料部包括吸附组件、吸附组件升降件、吸附组件平移件、良品收料箱及NG品收料箱；

所述吸附组件安装在所述吸附组件升降件的活动端，所述吸附组件升降件安装在所述吸附组件平移件的活动端；所述吸附组件平移件被配置为带动所述吸附组件升降件平移至所述良品收料箱或者所述NG品收料箱上方，所述吸附组件升降件被配置为带动所述吸附组件升降；

所述吸附组件包括多个吸盘组及吸盘组升降件，每个吸盘组在各自的吸盘组升降件的带动下升降。

11.根据权利要求1所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述料管的长度方向两端分别设置有用于封闭所述料管的插销，所述料管内的相邻两个晶体管相互抵接，所述料管的第一表面和第三表面分别向内形成有限位凸起，两个所述限位凸起卡住所述晶体管的主体部分。

12.根据权利要求2所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述第一检测组件包括沿所述料管长度方向间隔设置的若干第一相机，每个所述第一相机用于检测所述料管内至少一个所述晶体管；

所述第二检测组件包括沿所述料管长度方向间隔设置的若干第二相机，每个所述第二相机用于检测所述料管内至少一个所述晶体管。