CN219456397U - 一种芯片测试限位机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试限位机构，包括两个固定座，两个所述固定座的内部均活动套接有安装轴，所述安装轴的外侧面均活动套接有延长架，两个所述延长架相对靠近的均固定安装有固定导轨，所述延长架位于固定导轨的中部。本实用新型通过导向块的导向使得两个夹块相对远离，此时固定套内部的限位弹簧被拉伸，两个活动板相对远离，且卡块相对固定导轨发生位移，直至芯片运动到两个夹块之间，即两个橡胶垫之间的位置上时，松开芯片，此时在限位弹簧的复位作用下即可带动两个活动板相对靠近并最终带动两个夹块相对靠近，完成芯片的装夹，拆卸时只需向上拿起芯片即可完成拆卸过程，实现芯片的快速装夹，提高测试效率。

Description

一种芯片测试限位机构

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试限位机构。

背景技术

芯片测试是在晶圆经过切割、减薄工序，成为一片片独立的片之后的测试，其一般是将芯片放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试，在芯片的测试过程中必须保持芯片的限位固定才能进行后续的测试过程，此时就需要使用到芯片的限位机构。

常见的用于芯片的测试的限位机构主要为限位夹具组成，常规的限位夹具为两个对称设计的夹板以及底板和丝杆组成，其中夹板可相对底板位移，且通过丝杆的旋转可带动两个夹板相对位移，这种夹持方式在夹持前需手动旋转丝杆以分开两个夹板，在夹持过程中也需要旋转丝杆实现两个夹板对芯片的夹持过程，整个夹持过程较为繁琐不适合批量测试芯片进行使用，同时针对双面的芯片测试则需要手动拆卸芯片并进行翻面后重新装夹再进行测试，测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片测试限位机构，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试限位机构，包括两个固定座，两个所述固定座的内部均活动套接有安装轴，所述安装轴的外侧面均活动套接有延长架，两个所述延长架相对靠近的均固定安装有固定导轨，所述延长架位于固定导轨的中部，两个所述固定导轨相对靠近一端的中部均固定安装有安装座，所述安装座的内侧面固定安装有调节组件，两个所述固定导轨的内部均对称活动卡接有卡块。

作为本技术方案的进一步优选的，所述安装轴相对延长架和固定座左右位移，所述安装轴相对固定座转动，两个所述卡块远离固定导轨的一端均固定安装有夹块。

作为本技术方案的进一步优选的，两个所述夹块相对靠近的一端均固定安装有橡胶垫，两个所述夹块的顶端均固定安装有导向块。

作为本技术方案的进一步优选的，所述调节组件包括固定套，所述固定套的外侧面与安装座的内侧面固定连接，所述固定套内侧面的左右两侧均活动套接有活动板，两个所述活动板相对远离的一端均固定安装有活动杆。

作为本技术方案的进一步优选的，两个所述活动杆相对远离的一端均贯穿固定套的左右两侧且与卡块的一端相连接，两个所述活动板相对靠近的一端固定安装有位于固定套内部的限位弹簧。

通过依据芯片的大致长度向两边分开两个固定导轨，此时两个固定导轨即可在导向杆的导向下向两端位移，且左右两端的安装轴可相对两个固定座发生位移，完成大致长度的调整后，通过将芯片的四角与四个夹块之间进行对应，并向下按压芯片，此时两个导向块首先可与芯片的两端相接触，并通过导向块的导向使得两个夹块相对远离，此时固定套内部的限位弹簧被拉伸，两个活动板相对远离，且卡块相对固定导轨发生位移，直至芯片运动到两个夹块之间，即两个橡胶垫之间的位置上时，松开芯片，此时在限位弹簧的复位作用下即可带动两个活动板相对靠近并最终带动两个夹块相对靠近，完成芯片的装夹，拆卸时只需向上拿起芯片即可完成拆卸过程，实现芯片的快速装夹，提高测试效率。

作为本技术方案的进一步优选的，两个所述固定导轨的左右两侧均固定安装有耳板，四个所述耳板的内部均开设有限位孔，每两个相互靠近限位孔的内部均活动套接有导向杆，所述导向杆相对限位孔左右位移。

作为本技术方案的进一步优选的，两个所述固定座的底端均固定安装有底板，两个所述底板底端的左右两侧均固定安装有吸盘。

通过利用底板底端的吸盘与地面之间进行固定，确保装置的稳定性，同时在使用时，当完成对芯片一面的测试后，无需拆卸芯片，通过旋转安装轴使得安装轴相对固定座发生转动，即可带动装置的旋转，当装置旋转一百八十度后即可完成芯片的翻面，此时即可对芯片的反面进行测试，可快速完成双面芯片的测试过程，提高测试速度。

本实用新型提供了一种芯片测试限位机构，具备以下有益效果：

(1)本实用新型通过依据芯片的大致长度向两边分开两个固定导轨，此时两个固定导轨即可在导向杆的导向下向两端位移，且左右两端的安装轴可相对两个固定座发生位移，完成大致长度的调整后，通过将芯片的四角与四个夹块之间进行对应，并向下按压芯片，此时两个导向块首先可与芯片的两端相接触，并通过导向块的导向使得两个夹块相对远离，此时固定套内部的限位弹簧被拉伸，两个活动板相对远离，且卡块相对固定导轨发生位移，直至芯片运动到两个夹块之间，即两个橡胶垫之间的位置上时，松开芯片，此时在限位弹簧的复位作用下即可带动两个活动板相对靠近并最终带动两个夹块相对靠近，完成芯片的装夹，拆卸时只需向上拿起芯片即可完成拆卸过程，实现芯片的快速装夹，提高测试效率。

(2)本实用新型通过利用底板底端的吸盘与地面之间进行固定，确保装置的稳定性，同时在使用时，当完成对芯片一面的测试后，无需拆卸芯片，通过旋转安装轴使得安装轴相对固定座发生转动，即可带动装置的旋转，当装置旋转一百八十度后即可完成芯片的翻面，此时即可对芯片的反面进行测试，可快速完成双面芯片的测试过程，提高测试速度。

附图说明

图1为本实用新型整体结构的示意图；

图2为本实用新型固定座以及导向杆结构的分解示意图；

图3为本实用新型夹块和调节组件结构的配合示意图；

图4为本实用新型固定导轨和卡块结构的分解示意图；

图5为本实用新型调节组件内部结构的剖视示意图。

图中：1、固定座；2、底板；3、吸盘；4、延长架；5、安装轴；6、固定导轨；7、耳板；8、限位孔；9、导向杆；10、安装座；11、调节组件；111、固定套；112、活动板；113、活动杆；114、限位弹簧；12、卡块；13、夹块；14、橡胶垫；15、导向块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

本实用新型提供技术方案：如图1至图5所示，本实施例中，一种芯片测试限位机构，包括两个固定座1，两个固定座1的内部均活动套接有安装轴5，安装轴5的外侧面均活动套接有延长架4，两个延长架4相对靠近的均固定安装有固定导轨6，延长架4位于固定导轨6的中部，两个固定导轨6相对靠近一端的中部均固定安装有安装座10，安装座10的内侧面固定安装有调节组件11，两个固定导轨6的内部均对称活动卡接有卡块12。

如图2和图3以及图4和图5所示，安装轴5相对延长架4和固定座1左右位移，安装轴5相对固定座1转动，两个卡块12远离固定导轨6的一端均固定安装有夹块13，两个夹块13相对靠近的一端均固定安装有橡胶垫14，两个夹块13的顶端均固定安装有导向块15，调节组件11包括固定套111，固定套111的外侧面与安装座10的内侧面固定连接，固定套111内侧面的左右两侧均活动套接有活动板112，两个活动板112相对远离的一端均固定安装有活动杆113，两个活动杆113相对远离的一端均贯穿固定套111的左右两侧且与卡块12的一端相连接，两个活动板112相对靠近的一端固定安装有位于固定套111内部的限位弹簧114。

通过依据芯片的大致长度向两边分开两个固定导轨6，此时两个固定导轨6即可在导向杆9的导向下向两端位移，且左右两端的安装轴5可相对两个固定座1发生位移，完成大致长度的调整后，通过将芯片的四角与四个夹块13之间进行对应，并向下按压芯片，此时两个导向块15首先可与芯片的两端相接触，并通过导向块15的导向使得两个夹块13相对远离，此时固定套111内部的限位弹簧114被拉伸，两个活动板112相对远离，且卡块12相对固定导轨6发生位移，直至芯片运动到两个夹块13之间，即两个橡胶垫14之间的位置上时，松开芯片，此时在限位弹簧114的复位作用下即可带动两个活动板112相对靠近并最终带动两个夹块13相对靠近，完成芯片的装夹，拆卸时只需向上拿起芯片即可完成拆卸过程，实现芯片的快速装夹，提高测试效率。

如图1和图2所示，两个固定导轨6的左右两侧均固定安装有耳板7，四个耳板7的内部均开设有限位孔8，每两个相互靠近限位孔8的内部均活动套接有导向杆9，导向杆9相对限位孔8左右位移，两个固定座1的底端均固定安装有底板2，两个底板2底端的左右两侧均固定安装有吸盘3。

通过利用底板2底端的吸盘3与地面之间进行固定，确保装置的稳定性，同时在使用时，当完成对芯片一面的测试后，无需拆卸芯片，通过旋转安装轴5使得安装轴5相对固定座1发生转动，即可带动装置的旋转，当装置旋转一百八十度后即可完成芯片的翻面，此时即可对芯片的反面进行测试，可快速完成双面芯片的测试过程，提高测试速度。

本实用新型提供一种芯片测试限位机构，具体工作原理如下：

在实际使用前，可利用底板2底端的吸盘3与地面之间进行固定，确保装置的稳定性，同时在使用时，当完成对芯片一面的测试后，无需拆卸芯片，通过旋转安装轴5使得安装轴5相对固定座1发生转动，即可带动装置的旋转，当装置旋转一百八十度后即可完成芯片的翻面，此时即可对芯片的反面进行测试，在对芯片进行装夹时，可依据芯片的大致长度向两边分开两个固定导轨6，此时两个固定导轨6即可在导向杆9的导向下向两端位移，且左右两端的安装轴5可相对两个固定座1发生位移，完成大致长度的调整后，通过将芯片的四角与四个夹块13之间进行对应，并向下按压芯片，此时两个导向块15首先可与芯片的两端相接触，并通过导向块15的导向使得两个夹块13相对远离，此时固定套111内部的限位弹簧114被拉伸，两个活动板112相对远离，且卡块12相对固定导轨6发生位移，直至芯片运动到两个夹块13之间，即两个橡胶垫14之间的位置上时，松开芯片，此时在限位弹簧114的复位作用下即可带动两个活动板112相对靠近并最终带动两个夹块13相对靠近，完成芯片的装夹，拆卸时只需向上拿起芯片即可完成拆卸过程。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种芯片测试限位机构，包括两个固定座(1)，其特征在于：两个所述固定座(1)的内部均活动套接有安装轴(5)，所述安装轴(5)的外侧面均活动套接有延长架(4)，两个所述延长架(4)相对靠近的均固定安装有固定导轨(6)，所述延长架(4)位于固定导轨(6)的中部，两个所述固定导轨(6)相对靠近一端的中部均固定安装有安装座(10)，所述安装座(10)的内侧面固定安装有调节组件(11)，两个所述固定导轨(6)的内部均对称活动卡接有卡块(12)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试限位机构，其特征在于：所述安装轴(5)相对延长架(4)和固定座(1)左右位移，所述安装轴(5)相对固定座(1)转动，两个所述卡块(12)远离固定导轨(6)的一端均固定安装有夹块(13)。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试限位机构，其特征在于：两个所述夹块(13)相对靠近的一端均固定安装有橡胶垫(14)，两个所述夹块(13)的顶端均固定安装有导向块(15)。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试限位机构，其特征在于：所述调节组件(11)包括固定套(111)，所述固定套(111)的外侧面与安装座(10)的内侧面固定连接，所述固定套(111)内侧面的左右两侧均活动套接有活动板(112)，两个所述活动板(112)相对远离的一端均固定安装有活动杆(113)。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试限位机构，其特征在于：两个所述活动杆(113)相对远离的一端均贯穿固定套(111)的左右两侧且与卡块(12)的一端相连接，两个所述活动板(112)相对靠近的一端固定安装有位于固定套(111)内部的限位弹簧(114)。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试限位机构，其特征在于：两个所述固定导轨(6)的左右两侧均固定安装有耳板(7)，四个所述耳板(7)的内部均开设有限位孔(8)，每两个相互靠近限位孔(8)的内部均活动套接有导向杆(9)，所述导向杆(9)相对限位孔(8)左右位移。

7.根据权利要求1所述的一种芯片测试限位机构，其特征在于：两个所述固定座(1)的底端均固定安装有底板(2)，两个所述底板(2)底端的左右两侧均固定安装有吸盘(3)。