CN219179809U - 一种测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种测试系统，包括CAN模块、MCU模块、开路控制模块、短路控制模块和信号处理模块；CAN模块分别耦合电子设备、MCU模块和待测ECU，MCU模块分别耦合开路控制模块、短路控制模块和信号处理模块，开路控制模块分别耦合信号处理模块、短路控制模块和待测ECU；电子设备根据测试用例通过CAN模块向MCU模块发送控制信号；MCU模块根据控制信号控制开路控制模块和短路控制模块，通过信号处理模块检测待测ECU中的待测信号线的待测信号信息，通过CAN模块向电子设备发送待测信号信息；电子设备根据待测信号信息和预设信息确定待测ECU的功能是否正常。本实用新型实施例，可以提高测试灵活性。

Description

一种测试系统

技术领域

本实用新型实施例涉及汽车技术领域，尤其涉及一种测试系统。

背景技术

在汽车电气化和智能化趋势下，车载电子控制单元(electronic control unit，ECU)的数量越来越多，同时随着国产汽车技术的越发完善，对车载ECU零部件的可靠性和安全性的要求也越来越高。ECU信号线的开路短路测试是车载ECU零部件开发过程中必不可少的重要测试，该测试可以模拟整车线束磨损破皮后信号线出现开路或短路的情况下，ECU能够自我保护不被烧毁，同时对于重要信号可以发出故障诊断，报告相关故障。

CN206671879U公开一种车身控制器网络通信信号自动化测试装置，该装置包括程控电源、稳压电源、网络示波器、总线数据采集设备、总线干扰仪、测试主机、测试控制板卡和总线测试板卡，可以实现对ECU的自动化测试。然而，上述测试装置仅能进行总线测试，以致测试灵活性较差。

实用新型内容

本实用新型实施例公开了一种ECU测试系统，用于提高测试灵活性。

第一方面公开一种ECU测试系统，包括电子设备、控制局域网(controller areanetwork，CAN)模块、微控制单元(micro control unit，MCU)模块、开路控制模块、短路控制模块和信号处理模块；

所述CAN模块分别耦合所述电子设备、所述MCU模块和待测电子控制单元ECU，所述MCU模块分别耦合所述开路控制模块、所述短路控制模块和所述信号处理模块，所述开路控制模块分别耦合所述信号处理模块、所述短路控制模块和所述待测ECU；

所述电子设备，用于根据测试用例通过所述CAN模块向所述MCU模块发送控制信号；

所述MCU模块，用于根据所述控制信号控制所述开路控制模块和所述短路控制模块，通过所述信号处理模块检测所述待测ECU中的待测信号线的待测信号信息，通过所述CAN模块向所述电子设备发送所述待测信号信息；

所述电子设备，还用于根据所述待测信号信息和预设信息，确定所述待测ECU的功能是否正常。

作为一种可能的实施方式，所述MCU模块，还用于根据所述控制信号控制所述信号处理模块，使所述待测信号线对应的待测信号上拉。

作为一种可能的实施方式，其特征在于，所述系统还包括保险丝，所述保险丝分别耦合所述开路控制模块和所述待测ECU。

作为一种可能的实施方式，所述控制信号包括开路控制信号、开路恢复信号、短路控制信号和短路恢复信号；

所述MCU模块，具体用于根据所述开路控制信号控制所述开路控制模块，使所述待测信号线开路；根据所述开路恢复信号控制所述开路控制模块，使所述待测信号线由开路切换到正常；根据所述短路控制信号控制所述短路控制模块，使所述待测信号线短路；根据所述短路恢复信号控制所述短路控制模块，使所述待测信号线由短路切换到正常；

所述电子设备，具体用于根据所述待测信号信息和所述预设信息，确定所述待测ECU的开路检测功能和短路检测功能是否正常。

作为一种可能的实施方式，所述电子设备，还用于通过所述CAN模块接收来自所述待测ECU的故障报文；

所述电子设备根据所述待测信号信息和所述预设信息，确定所述待测ECU的开路检测功能和短路检测功能是否正常包括：

所述电子设备根据所述故障报文、预设故障报文、所述待测信号信息和所述预设信息，确定所述待测ECU的开路检测功能和短路检测功能是否正常。

作为一种可能的实施方式，所述开路控制模块包括第一继电器、第一开关器件和第一电阻，其中：

所述第一继电器的公共引脚耦合所述待测ECU，所述第一继电器的常闭引脚分别耦合所述短路控制模块和所述信号处理模块，所述第一继电器的常开引脚悬空，所述第一继电器的一个线圈控制引脚耦合第一电源，所述第一继电器的另一个线圈控制引脚耦合所述第一开关器件的第一端，所述第一开关器件的第二端通过所述第一电阻耦合所述MCU模块的第一端，所述第一开关器件的第三端耦合地端。

作为一种可能的实施方式，所述MCU模块，用于通过控制所述第一开关器件导通，使所述待测信号线开路。

作为一种可能的实施方式，所述开路控制模块还包括第二电阻，其中：

所述第二电阻的一端通过所述第一电阻耦合所述第一开关器件的第二端，所述第二电阻的另一端耦合地端。

作为一种可能的实施方式，所述开路控制模块还包括第一电容，其中：

所述第一电容的一端通过所述第一电阻耦合所述第一开关器件的第二端，所述第一电容的另一端耦合地端。

作为一种可能的实施方式，所述短路控制模块包括第二继电器、第三继电器、第二开关器件、第三开关器件、第三电阻和第四电阻；

所述第二继电器的公共引脚分别耦合所述开路控制模块和所述信号处理模块，所述第二继电器的常闭引脚悬空，所述第二继电器的常开引脚耦合所述第三继电器的公共引脚，所述第二继电器的一个线圈控制引脚耦合第一电源，所述第二继电器的另一个线圈控制引脚耦合所述第二开关器件的第一端，所述第二开关器件的第二端通过所述第三电阻耦合所述MCU模块的第二端，所述第二开关器件的第三端耦合地端；

所述第三继电器的常闭引脚耦合第二电源，所述第三继电器的常开引脚耦合地端，所述第三继电器的一个线圈控制引脚耦合所述第一电源，所述第三继电器的另一个线圈控制引脚耦合所述第三开关器件的第一端，所述第三开关器件的第二端通过所述第四电阻耦合所述MCU模块的第三端，所述第三开关器件的第三端耦合地端。

作为一种可能的实施方式，所述短路包括短电源和短地；

所述MCU模块，用于通过控制所述第二开关器件导通，使所述待测信号线短电源；

所述MCU模块，用于通过控制所述第二开关器件和所述第三开关器件导通，使所述待测信号线短地。

作为一种可能的实施方式，所述开路控制模块还包括第五电阻和第六电阻，其中：

所述第五电阻的一端通过所述第三电阻耦合所述第二开关器件的第二端，所述第五电阻的另一端耦合地端；

所述第六电阻的一端通过所述第四电阻耦合所述第三开关器件的第二端，所述第六电阻的另一端耦合地端。

作为一种可能的实施方式，所述开路控制模块还包括第二电容和第三电容，其中：

所述第二电容的一端通过所述第三电阻耦合所述第二开关器件的第二端，所述第二电容的另一端耦合地端；

所述第三电容的一端通过所述第四电阻耦合所述第三开关器件的第二端，所述第三电容的另一端耦合地端。

作为一种可能的实施方式，所述信号处理模块包括检测电路，所述检测电路包括第四开关器件、第七电阻、第八电阻和第九电阻；

所述第四开关器件的第一端通过所述第八电阻耦合第三电源，所述第四开关器件的第二端通过所述第七电阻分别耦合所述开路控制模块和所述短路控制模块，所述第四开关器件的第三端耦合地端，所述第九电阻的两端分别耦合所述第四开关器件的第一端和所述MCU模块的第四端。

作为一种可能的实施方式，所述检测电路还包括第十电阻，所述第十电阻的两端分别耦合所述第四开关器件的第二端和地端。

作为一种可能的实施方式，所述检测电路还包括第四电容，所述第四电容的一端通过所述第七电阻耦合所述第四开关器件的第二端，所述第四电容的另一端耦合地端。

作为一种可能的实施方式，所述信号处理模块还包括上拉电路，所述上拉电路包括第四继电器、第五继电器、第五开关器件、第六开关器件、第十一电阻、第十二电阻和第十三电阻；

所述第四继电器的公共引脚通过所述第十一电阻分别耦合所述检测电路、所述开路控制模块和所述短路控制模块，所述第四继电器的常闭引脚悬空，所述第四继电器的常开引脚耦合所述第五继电器的公共引脚，所述第四继电器的一个线圈控制引脚耦合第一电源，所述第四继电器的另一个线圈控制引脚耦合所述第五开关器件的第一端，所述第五开关器件的第二端通过所述第十二电阻耦合所述MCU模块的第五端，所述第五开关器件的第三端耦合地端；

所述第五继电器的常闭引脚耦合第四电源，所述第五继电器的常开引脚耦合第五电源，所述第五继电器的一个线圈控制引脚耦合所述第一电源，所述第五继电器的另一个线圈控制引脚耦合所述第六开关器件的第一端，所述第六开关器件的第二端通过所述第十三电阻耦合所述MCU模块的第六端，所述第六开关器件的第三端耦合地端。

作为一种可能的实施方式，所述MCU模块，用于通过控制所述第五开关器件导通，使所述待测信号上拉到所述第四电源；

所述MCU模块，用于通过控制所述第五开关器件和所述第六开关器件导通，使所述待测信号上拉到所述第五电源。

作为一种可能的实施方式，所述上拉电路还包括第十四电阻和第十五电阻，其中：

所述第十四电阻的一端通过所述第十二电阻耦合所述第五开关器件的第二端，所述第十四电阻的另一端耦合地端；

所述第十五电阻的一端通过所述第十三电阻耦合所述第六开关器件的第二端，所述第十五电阻的另一端耦合地端。

作为一种可能的实施方式，所述上拉电路还包括第五电容和第六电容，其中：

所述第五电容的一端通过所述第十二电阻耦合所述第五开关器件的第二端，所述第五电容的另一端耦合地端；

所述第六电容的一端通过所述第十三电阻耦合所述第六开关器件的第二端，所述第六电容的另一端耦合地端。

本实用新型实施例中，电子设备根据测试用例通过CAN模块向MCU模块发送控制信号；MCU模块根据控制信号控制开路控制模块和短路控制模块，通过信号处理模块检测待测ECU中的待测信号线的待测信号信息；电子设备根据待测信号信息和预设信息确定待测ECU的功能是否正常。可见，在ECU测试过程中，测试系统即可以进行总线测试，又可以进行硬件测试，可以提高测试灵活性。

此外，该测试系统可以根据测试用例自动制造故障并恢复故障，不需要人工制造故障或恢复故障，可以实现ECU测试的自动化。

附图说明

图1是本实用新型实施例公开的一种测试系统的结构示意图；

图2是本实用新型实施例公开的另一种测试系统的结构示意图；

图3是本实用新型实施例公开的又一种测试系统的结构示意图；

图4是本实用新型实施例公开的又一种测试系统的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本申请实施例中的技术方案进行清楚、详尽地描述。

以下，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为暗示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征，在本申请实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

“耦合”和“连接”用于表示电性连接，包括通过导线或连接端直接相连或通过其他器件(如本申请实施例中的电感、电容或电阻等)间接相连。因此“耦合”和“连接”应被视为是一种广义上的电子通信连接。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或连接可以是通过一些接口，装置、单元或器件的间接耦合或连接，可以是通信、电性或其它的形式。

本实用新型实施例公开了一种测试系统，用于提高测试灵活性。以下分别进行详细说明。

请参阅图1，图1是本实用新型实施例公开的一种测试系统的结构示意图。如图1所示，该测试系统可以包括电子设备、CAN模块、MCU模块、开路控制模块、短路控制模块和信号处理模块。

CAN模块分别耦合电子设备、MCU模块和待测ECU，MCU模块分别耦合开路控制模块、短路控制模块和信号处理模块，开路控制模块分别耦合信号处理模块、短路控制模块和待测ECU。

电子设备与CAN模块之间通过通用串行总线(universal serial bus，USB)接口耦合。电子设备与CAN模块，以及电子设备与待测ECU之间通过CAN总线(BUS)耦合。

可以在电子设备中预先加载测试用例和待测ECU的功能指标，测试用例可以包括不同测试用例，不同测试用例的功能不同。电子设备可以为个人计算机(personalcomputer，PC)，也可以为其他可以通过USB接口与CAN模块、MCU模块连接且能够运行计算机程序的设备。

在进行待测ECU测试时，电子设备可以根据测试用例通过CAN模块向MCU模块发送控制信号。MCU模块接收到控制信号之后，可以根据控制信号控制开路控制模块和短路控制模块，可以通过信号处理模块检测待测ECU中的待测信号线的待测信号信息，可以通过CAN模块向电子设备发送待测信号信息。电子设备接收到待测信号信息之后，可以根据待测信号信息和预设信息确定待测ECU的功能是否正常。

上述控制信号可以包括开路控制信号、开路恢复信号、短路控制信号和短路恢复信号。

在需要进行待测ECU中待测信号线开路测试的情况下，电子设备可以根据测试用例通过CAN模块向MCU模块发送开路控制信号。MCU模块通过CAN模块接收到来自电子设备的开路控制信号之后，可以根据开路控制信号控制开路控制模块，使待测ECU中的待测信号线开路。MCU模块使待测信号线开路之后，可以通过信号处理模块检测第一待测信号信息，之后可以通过CAN模块向电子设备发送第一待测信号信息。电子设备通过CAN模块接收到来自MCU模块的第一待测信号信息之后，可以根据第一待测信号信息和第一预设信息确定待测信号线是否开路成功，在确定待测信号线开路成功的情况下，可以通过CAN模块向MCU模块发送开路恢复信号。MCU模块通过CAN模块接收到来自电子设备的开路恢复信号之后，可以根据开路恢复信号控制开路控制模块，使待测信号线由开路切换到正常，之后可以通过信号处理模块采集第二待测信号信息，可以通过CAN模块向电子设备发送第二待测信号信息。电子设备通过CAN模块接收到来自MCU模块的第二待测信号信息之后，可以根据第二待测信号信息和第二预设信息确定待测信号线是否由开路恢复为正常。

在需要进行待测ECU中待测信号线短路测试的情况下，电子设备可以根据编程通过CAN模块向MCU模块发送短路控制信号。MCU模块可以通过CAN模块接收到来自电子设备的短路控制信号之后，可以根据短路控制信号控制短路控制模块，使待测信号线短路。MCU模块使待测信号线短路之后，可以通过信号处理模块采集第三待测信号信息，可以通过CAN模块向电子设备发送第三待测信号信息。电子设备通过CAN模块接收到来自MCU模块的第三待测信号信息之后，可以根据第三待测信号信息和第三预设信息确定待测信号线是否短路成功，在确定待测信号线短路成功的情况下，可以通过CAN模块向MCU模块发送短路恢复信号。MCU模块通过CAN模块接收到来自电子设备的短路恢复信号之后，可以根据短路恢复信号控制短路控制模块，使待测信号线由短路切换到正常，之后可以通过信号处理模块采集第四待测信号信息，可以通过CAN模块向电子设备发送第四待测信号信息。电子设备通过CAN模块接收到来自MCU模块的第四待测信号信息之后，可以根据第四待测信号信息和第四预设信息确定待测信号线是否由短路恢复为正常。

待测ECU具有检测故障的功能，待测ECU可以根据检测的故障生成故障报文，之后可以通过CAN模块向电子设备发送故障报文。

应理解，待测ECU可以在检测到故障报文之后，立即将故障报文发送给电子设备。此时，待测ECU检测到几个故障，可以向电子设备发送几个故障报文。待测ECU也可以在全部测试完之后，再将故障报文发送给电子设备。此时，故障报文的数量可以为一个，也可以为多个。

电子设备接收到来自待测ECU的故障报文之后，可以根据故障报文、预设故障报文、待测信号信息和预设信息确定待测ECU的功能是否正常。

电子设备可以故障报文、预设故障报文、第一待测信号信息、第二待测信号信息、第一预设信息和第二预设信息确定待测ECU的开路检测功能是否正常。在确定待测信号线由开路恢复为正常，且预设故障报文中的开路故障包括故障报文中的开路故障的情况下，电子设备可以确定待测ECU的开路检测功能正常。在待测信号线开路失败，待测信号线没有由开路恢复为正常，或预设故障报文中的开路故障不包括故障报文中的开路故障的情况下，电子设备可以确定待测ECU的开路检测功能异常。

电子设备可以根据故障报文、预设故障报文、第三待测信号信息、第四待测信号信息、第三预设信息和第四预设信息确定待测ECU的短路检测功能是否正常。在确定待测信号线由短路恢复为正常，且预设故障报文中的短路故障包括故障报文中的短路故障的情况下，电子设备可以确定待测ECU的短路检测功能正常。在待测信号线短路失败，待测信号线没有由短路恢复为正常，或预设故障报文中的短路故障不包括故障报文中的短路故障的情况下，电子设备可以确定待测ECU的短路检测异常。

此外，电子设备还可以根据上述结果生成测试报告。电子设备还可以输出测试报告。电子设备可以在显示屏上显示测试报告，也可以将测试报告发送给其他电子设备、邮箱等。

待测信号可以脉冲宽度调制(pulse width modulation，PWM)信号，也可以为其他信号。

在待测信号为PWM信号的情况下，MCU模块还可以根据控制信号控制信号处理模块，使待测信号线对应的待测信号上拉。

在待测ECU输出的PWM信号包括高电平和低电平的情况下，MCU模块仅需要通过信号处理模块检测待测信号的频率和占空比。在待测ECU输出的PWM信号仅包括高电平或低电平的情况下，MCU模块不仅需要通过信号处理模块检测频率和占空比，还需要控制信号处理模块使待测信号线对应的待测信号上拉。

在待测信号为PWM信号的情况下，待测信号信息可以包括待测信号的频率和占空比。

示例性的，第二待测信息包括第二占空比和第二频率，电子设备可以确定第二占空比与第二预设占空比之间的差值的绝对值是否小于或等于第一阈值，以及第二频率与第二预设频率之间的差值的绝对值是否小于或等于第二阈值。在第二占空比与第二预设占空比之间的差值的绝对值小于或等于第一阈值，以及第二频率与第二预设频率之间的差值的绝对值小于或等于第二阈值的情况下，可以确定待测信号线由开路恢复为正常。在第二占空比与第二预设占空比之间的差值的绝对值大于第一阈值，或第二频率与第二预设频率之间的差值的绝对值大于第二阈值的情况下，可以确定待测信号线没由开路恢复为正常。第二预设占空比为待测ECU输出的PWM信号的占空比，第二预设频率为待测ECU输出的PWM信号的频率。第二预设占空比和第二预设频率可以设置在电子设备中，也可以由待测ECU通过CAN模块发送给电子设备。

示例性的，第四待测信息包括第四占空比和第四频率，电子设备可以确定第四占空比与第四预设占空比之间的差值的绝对值是否小于或等于第一阈值，以及第四频率与第四预设频率之间的差值的绝对值是否小于或等于第二阈值。在第四占空比与第四预设占空比之间的差值的绝对值小于或等于第一阈值，以及第四频率与第四预设频率之间的差值的绝对值小于或等于第二阈值的情况下，可以确定待测信号线由短路恢复为正常。在第四占空比与第四预设占空比之间的差值的绝对值大于第一阈值，或第四频率与第四预设频率之间的差值的绝对值大于第二阈值的情况下，可以确定待测信号线没由短路恢复为正常。第四占空比与第二占空比相同，第四频率与第二频率相同。

请参阅图2，图2是本实用新型实施例公开的另一种测试系统的结构示意图。其中，图2是由图1优化得到的。如图2所示，该测试系统还可以包括保险丝，保险丝分别耦合开路控制模块和待测ECU。

保险丝可以在被测ECU被短路时进行过流及异常保护。

请参阅图3，图3是本实用新型实施例公开的又一种测试系统的结构示意图。其中，图3是由图1优化得到的。如图3所示，开路控制模块可以包括第一继电器K1、第一开关器件Q1和第一电阻R1。

第一继电器K1的公共引脚耦合待测ECU，第一继电器K1的常闭引脚分别耦合短路控制模块和信号处理模块，第一继电器K1的常开引脚悬空，第一继电器K1的一个线圈控制引脚耦合第一电源VCC1，第一继电器K1的另一个线圈控制引脚耦合第一开关器件Q1的第一端，第一开关器件Q1的第二端通过第一电阻R1耦合MCU模块的第一端，第一开关器件Q1的第三端耦合地端。

MCU模块可以通过控制第一开关器件导通，使待测信号线开路。

MCU模块通过CAN模块接收到来自电子设备的开路控制信号之后，MCU模块的第一端可以输出高电平(即1)，第一开关器件Q1导通，第一继电器K1吸合，待测ECU通过第一继电器K1的常开引脚悬空，实现开路控制，即待测信号线开路。MCU模块没有通过CAN模块接收到来自电子设备的开路控制信号，或通过CAN模块接收到来自电子设备的开路恢复信号的情况下，MCU模块的第一端可以输出低电平(即0)，第一开关器件Q1关断，待测ECU通过第一继电器K1的常闭引脚耦合信号处理模块和短路控制模块，待测信号线正常连接。

如图3所示，开路控制模块还可以包括第二电阻R2。

第二电阻R2的一端可以通过第一电阻R1耦合第一开关器件Q1的第二端，第二电阻R2的另一端可以耦合地端。

如图3所示，开路控制模块可以还包括第一电容C1。第一电容C1的一端可以通过第一电阻R1耦合第一开关器件Q1的第二端，第一电容C1的另一端可以耦合地端。

如图3所示，短路控制模块可以包括第二继电器K2、第三继电器K3、第二开关器件Q2、第三开关器件Q3、第三电阻R3和第四电阻R4。

第二继电器K2的公共引脚分别耦合开路控制模块和信号处理模块，第二继电器K2的常闭引脚悬空，第二继电器K2的常开引脚耦合第三继电器K3的公共引脚，第二继电器K2的一个线圈控制引脚耦合第一电源VCC1，第二继电器K2的另一个线圈控制引脚耦合第二开关器件Q2的第一端，第二开关器件Q2的第二端通过第三电阻R3耦合MCU模块的第二端，第二开关器件Q2的第三端耦合地端。

第三继电器K3的常闭引脚耦合第二电源VCC2，第三继电器K3的常开引脚耦合地端，第三继电器K3的一个线圈控制引脚耦合第一电源VCC1，第三继电器K3的另一个线圈控制引脚耦合第三开关器件Q3的第一端，第三开关器件Q3的第二端通过第四电阻R4耦合MCU模块的第三端，第三开关器件Q3的第三端耦合地端。

上述短路可以包括短电源和短地。MCU模块可以通过控制第二开关器件Q2导通和第三开关器件Q3关断，使待测信号线短电源。MCU模块可以通过控制第二开关器件Q2导通和第三开关器件Q3导通，使待测信号线短地。

短路控制信号可以包括短地控制信号和短电源控制信号。短路恢复信号可以包括短地恢复信号和短电源恢复信号。

MCU模块通过CAN模块接收到来自电子设备的短电源控制信号之后，MCU模块的第一端和第三端输出低电平，MCU模块的第二端输出高电平，第一开关器件Q1和第三开关器件Q3关断，第二开关器件Q2导通，第二继电器K2吸合，待测ECU通过第一继电器K1的常闭引脚、第二继电器K2的常开引脚和第三继电器K3的常闭引脚实现短电源控制，即待测信号线短电源。

MCU模块通过CAN模块接收到来自电子设备的短地控制信号之后，MCU模块的第一端输出低电平，MCU模块的第二端和第三端输出高电平，第一开关器件Q1关断，第二开关器件Q2导通，第二继电器K2吸合，第三开关器件Q3导通，第三继电器K3吸合，待测ECU通过第一继电器K1的常闭引脚、第二继电器K2的常开引脚和第三继电器K3的常开引脚实现短地控制，即待测信号线短地。

MCU模块没有通过CAN模块接收到来自电子设备的短路控制信号，或通过CAN模块接收到来自电子设备的短电源恢复信号或短地恢复信号的情况下，MCU模块的第二端输出低电平，第二开关器件Q2关断。

如图3所示，开路控制模块还可以包括第五电阻R5和第六电阻R6。

第五电阻R5的一端通过第三电阻R3耦合第二开关器件Q2的第二端，第五电阻R5的另一端耦合地端。

第六电阻R6的一端通过第四电阻R4耦合第三开关器件Q3的第二端，第六电阻R6的另一端耦合地端。

如图3所示，开路控制模块还可以包括第二电容C2和第三电容C3。

第二电容C3的一端通过第三电阻R3耦合第二开关器件Q2的第二端，第二电容C2的另一端耦合地端。

第三电容C3的一端通过第四电阻R4耦合第三开关器件Q3的第二端，第三电容C3的另一端耦合地端。

如图3所示，信号处理模块可以包括检测电路，检测电路可以包括第四开关器件Q4、第七电阻R7、第八电阻R8和第九电阻R9。

第四开关器件Q4的第一端通过第八电阻R8耦合第三电源，第四开关器件Q4的第二端通过第七电阻R7分别耦合开路控制模块和短路控制模块，第四开关器件Q4的第三端耦合地端，第九电阻R9的两端分别耦合第四开关器件Q4的第一端和MCU模块的第四端。

检测电路还可以包括第十电阻R10，第十电阻R10的两端分别耦合第四开关器件Q4的第二端和地端。

检测电路还可以包括第四电容C4，第四电容C4的一端通过第七电阻R7耦合第四开关器件Q4的第二端，第四电容C4的另一端耦合地端。

示例性的，假设待测ECU正常输出的PWM的频率10K，占空比为50％。未进行开路短路故障测试时，MCU模块通过信号处理模块采集到的信号的频率为10K，占空比为50％。在电子设备向MCU发送开路控制信号的情况下，MCU模块控制开路控制模块对待测信号线进行开路处理，MCU模块通过信号处理模块采集到信号的信息为频率0、占空比0和持续高电平。电子设备接收到来自MCU模块的信号的信息之后，可以根据该信息确定待测信号线开路成功，可以向MCU模块发送开路恢复信号，MCU模块可以控制开路控制模块使待测信号线恢复正常连接，可以通过信号处理模块采集到的信号的信息为频率10K和占空比50％。电子设备接收到来自MCU模块的该信号的信息之后，可以根据该信息确定待测信号线开路恢复成功。

在电子设备发送短电源控制信号的情况下，MCU模块可以控制短路控制模块使待测信号线短接VCC2处理，可以通过信号处理模块采集到的信号的信息为频率0、占空比0和持续低电平。电子设备接收到来自MCU模块的该信息之后，可以根据该信息确定待测信号线短接电源成功，可以向MCU模块发送短接电源恢复信号。MCU模块可以根据短接电源恢复信号控制短路控制模块使待测信号线恢复正常连接，之后可以通过信号处理模块采集到信号的信息为频率10K、占空比50％。电子设备接收到来自MCU模块的该信号的信息之后，可以根据该信息确定待测信号线短电源恢复成功。

在电子设备发送短地控制信号的情况下，MCU模块可以控制短路控制模块使待测信号线短接地处理，可以通过信号处理模块采集到信号的信息为频率0、占空比0和持续高电平。电子设备接收到来自MCU模块的该信息之后，可以根据该信息确定待测信号线短接地成功，可以向MCU模块发送短地恢复信号。MCU模块可以根据短地恢复信号控制短路控制模块使待测信号线恢复正常连接，之后可以通过信号处理模块采集信号的信息为频率10K、占空比50％。电子设备接收到来自MCU模块的该信号的信息之后，可以根据该信息确定待测信号线短地恢复成功。

在待测信号线连接状态不同的情况下，MCU模块通过信号处理模块采集到的信号的信息可以如表1所示：

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表1

请参阅图4，图4是本实用新型实施例公开的又一种测试系统的结构示意图。其中，图4由图3优化得到。如图4所示，信号处理模块还可以包括上拉电路，上拉电路可以包括第四继电器K4、第五继电器K5、第五开关器件Q5、第六开关器件Q6、第十一电阻R11、第十二电阻R12和第十三电阻R13。

第四继电器K4的公共引脚通过第十一电阻R11分别耦合检测电路、开路控制模块和短路控制模块，第四继电器K4的常闭引脚悬空，第四继电器K4的常开引脚耦合第五继电器K5的公共引脚，第四继电器K4的一个线圈控制引脚耦合第一电源VCC1，第四继电器K4的另一个线圈控制引脚耦合第五开关器件Q5的第一端，第五开关器件Q5的第二端通过第十二电阻R12耦合MCU模块的第五端，第五开关器件Q5的第三端耦合地端。

第五继电器K5的常闭引脚耦合第四电源VCC4，第五继电器K5的常开引脚耦合第五电源VCC5，第五继电器K5的一个线圈控制引脚耦合第一电源VCC1，第五继电器K5的另一个线圈控制引脚耦合第六开关器件Q6的第一端，第六开关器件Q6的第二端通过第十三电阻R13耦合MCU模块的第六端，第六开关器件Q6的第三端耦合地端。

MCU模块，用于通过控制第五开关器件Q5导通，使待测信号上拉到第四电源；

MCU模块，用于通过控制第五开关器件Q5和第六开关器件Q6导通，使待测信号上拉到第五电源。

在待测ECU输出的PWM信号仅为高电平或低电平的情况下，如果待测信号线正常连接，则MCU模块通过信号处理模块中的检测电路检测到的信号的信息为频率0、占空比0，电子设备无法根据MCU模块通过信号处理模块检测的信号的信息确定开路连接、短电源连接、短地连接等中的一种或多种。

因此，在待测ECU输出的PWM信号仅为高电平或低电平的情况下，信号处理模块还可以包括上拉电路，电子设备中的测试程序还可以包括此情况下如何控制上拉电路工作的测试用例。

信号处理模块可以通过两个继电器及控制电路实现待测信号线的上拉控制，模拟待测信号线外部的上拉情况，第四继电器K4为上拉使能继电器，可以控制待测信号是否上拉，第五继电器K5为上拉选择继电器，可以控制待测信号上拉到第四电源VCC4或第五电源VCC5。默认状态下，MCU模块的第五端输出低电平，无论MCU模块的第六端输出高电平还是低电平，待测信号都不会上拉，在MCU模块的第五端输出高电平的情况下，打开待测信号的上拉使能，MCU模块的第六端输出低电平时，待测信号被上拉到第四电源VCC4，MCU模块的第六端输出高电平时，待测信号被上拉到第五电源VCC4。

如图4所示，上拉电路还可以包括第十四电阻R14和第十五电阻R15，其中：

第十四电阻R14的一端通过第十二电阻R12耦合第五开关器件Q5的第二端，第十四电阻R14的另一端耦合地端；

第十五电阻R15的一端通过第十三电阻R13耦合第六开关器件Q5的第二端，第十五电阻R15的另一端耦合地端。

如图4所示，上拉电路还可以包括第五电容C5和第六电容C6，其中：

第五电容C5的一端通过第十二电阻R12耦合第五开关器件Q5的第二端，第五电容C5的另一端耦合地端；

第六电容C6的一端通过第十三电阻R13耦合第六开关器件Q6的第二端，第六电容C6的另一端耦合地端。

应理解，上述开关器件可以为N型金属氧化物半导体(metal oxidesemiconductor，MOS)管，也可以为NPN三极管，还可以为其他具有同等功能的开关器件。图3和图4中的开关器件以N型MOS管为例。

示例性的，保险丝可以为500mA的自恢复保险丝，封装为1812，继电器K1-K5型号可以为HFD23，控制电压可以为12V，触点输出电流可以为1A。在开关器件为MOS管的情况下，开关器件的型号可以为FDN5632N。电阻R11可以为4.7K，±5％精度，1206封装。电阻R1-R10.R12-R15为限流分压电阻，阻值可以2.2K，0402封装，电容C1-C6可以为陶瓷滤波电容，100nF，0402封装。第一电源VCC1、第二电源VCC2、第四电源VCC4可以为12V，但它们的来源不同。第三电源VCC3和第五电源VCC5可以为5V，但它们的来源不同。

应理解，上面是对保险丝、继电器、开关器件、电阻、电容、电源的示例性说明，并不对其构成限定。例如，开关器件的信号可以不同。再例如，电容也可以为云母电容、纸质电容、薄膜电容、电解电容等。

以上所述的具体实施方式，对本申请的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本申请的具体实施方式而已，并不用于限定本申请的保护范围，凡在本申请的技术方案的基础之上，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包括在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试系统，其特征在于，包括电子设备、控制局域网CAN模块、微控制单元MCU模块、开路控制模块、短路控制模块和信号处理模块；

所述CAN模块分别耦合所述电子设备、所述MCU模块和待测ECU，所述MCU模块分别耦合所述开路控制模块、所述短路控制模块和所述信号处理模块，所述开路控制模块分别耦合所述信号处理模块、所述短路控制模块和所述待测ECU；

所述电子设备，用于根据测试用例通过所述CAN模块向所述MCU模块发送控制信号；

所述MCU模块，用于根据所述控制信号控制所述开路控制模块和所述短路控制模块，通过所述信号处理模块检测所述待测ECU中的待测信号线的待测信号信息，通过所述CAN模块向所述电子设备发送所述待测信号信息；

所述电子设备，还用于根据所述待测信号信息和预设信息，确定所述待测ECU的功能是否正常。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述MCU模块，还用于根据所述控制信号控制所述信号处理模块，使所述待测信号线对应的待测信号上拉。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统还包括保险丝，所述保险丝分别耦合所述开路控制模块和所述待测ECU。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制信号包括开路控制信号、开路恢复信号、短路控制信号和短路恢复信号；

所述MCU模块，具体用于根据所述开路控制信号控制所述开路控制模块，使所述待测信号线开路；根据所述开路恢复信号控制所述开路控制模块，使所述待测信号线由开路切换到正常；根据所述短路控制信号控制所述短路控制模块，使所述待测信号线短路；根据所述短路恢复信号控制所述短路控制模块，使所述待测信号线由短路切换到正常；

所述电子设备，具体用于根据所述待测信号信息和所述预设信息，确定所述待测ECU的开路检测功能和短路检测功能是否正常。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述电子设备，还用于通过所述CAN模块接收来自所述待测ECU的故障报文；

所述电子设备根据所述待测信号信息和所述预设信息，确定所述待测ECU的开路检测功能和短路检测功能是否正常包括：

所述电子设备根据所述故障报文、预设故障报文、所述待测信号信息和所述预设信息，确定所述待测ECU的开路检测功能和短路检测功能是否正常。

6.根据权利要求1-5任一项所述的系统，其特征在于，所述开路控制模块包括第一继电器、第一开关器件和第一电阻，其中：

所述第一继电器的公共引脚耦合所述待测ECU，所述第一继电器的常闭引脚分别耦合所述短路控制模块和所述信号处理模块，所述第一继电器的常开引脚悬空，所述第一继电器的一个线圈控制引脚耦合第一电源，所述第一继电器的另一个线圈控制引脚耦合所述第一开关器件的第一端，所述第一开关器件的第二端通过所述第一电阻耦合所述MCU模块的第一端，所述第一开关器件的第三端耦合地端。

7.根据权利要求1-5任一项所述的系统，其特征在于，所述短路控制模块包括第二继电器、第三继电器、第二开关器件、第三开关器件、第三电阻和第四电阻；

所述第二继电器的公共引脚分别耦合所述开路控制模块和所述信号处理模块，所述第二继电器的常闭引脚悬空，所述第二继电器的常开引脚耦合所述第三继电器的公共引脚，所述第二继电器的一个线圈控制引脚耦合第一电源，所述第二继电器的另一个线圈控制引脚耦合所述第二开关器件的第一端，所述第二开关器件的第二端通过所述第三电阻耦合所述MCU模块的第二端，所述第二开关器件的第三端耦合地端；

所述第三继电器的常闭引脚耦合第二电源，所述第三继电器的常开引脚耦合地端，所述第三继电器的一个线圈控制引脚耦合所述第一电源，所述第三继电器的另一个线圈控制引脚耦合所述第三开关器件的第一端，所述第三开关器件的第二端通过所述第四电阻耦合所述MCU模块的第三端，所述第三开关器件的第三端耦合地端。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述开路控制模块还包括第五电阻和第六电阻，其中：

所述第五电阻的一端通过所述第三电阻耦合所述第二开关器件的第二端，所述第五电阻的另一端耦合地端；

所述第六电阻的一端通过所述第四电阻耦合所述第三开关器件的第二端，所述第六电阻的另一端耦合地端。

9.根据权利要求1-5任一项所述的系统，其特征在于，所述信号处理模块包括检测电路，所述检测电路包括第四开关器件、第七电阻、第八电阻和第九电阻；

所述第四开关器件的第一端通过所述第八电阻耦合第三电源，所述第四开关器件的第二端通过所述第七电阻分别耦合所述开路控制模块和所述短路控制模块，所述第四开关器件的第三端耦合地端，所述第九电阻的两端分别耦合所述第四开关器件的第一端和所述MCU模块的第四端。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述信号处理模块还包括上拉电路，所述上拉电路包括第四继电器、第五继电器、第五开关器件、第六开关器件、第十一电阻、第十二电阻和第十三电阻；

所述第四继电器的公共引脚通过所述第十一电阻分别耦合所述检测电路、所述开路控制模块和所述短路控制模块，所述第四继电器的常闭引脚悬空，所述第四继电器的常开引脚耦合所述第五继电器的公共引脚，所述第四继电器的一个线圈控制引脚耦合第一电源，所述第四继电器的另一个线圈控制引脚耦合所述第五开关器件的第一端，所述第五开关器件的第二端通过所述第十二电阻耦合所述MCU模块的第五端，所述第五开关器件的第三端耦合地端；

所述第五继电器的常闭引脚耦合第四电源，所述第五继电器的常开引脚耦合第五电源，所述第五继电器的一个线圈控制引脚耦合所述第一电源，所述第五继电器的另一个线圈控制引脚耦合所述第六开关器件的第一端，所述第六开关器件的第二端通过所述第十三电阻耦合所述MCU模块的第六端，所述第六开关器件的第三端耦合地端。

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