CN212723214U - Pcba通电测试电路及装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种PCBA通电测试电路及装置，所述电路包括电源模块以及与电源模块连接的测试工装，测试工装包括开关模块、切换模块及工装压盖；开关模块与电源模块以及切换模块连接，切换模块与电源模块以及待测主板连接，待测主板与电源模块连接；工装压盖用于下压固定待测主板；开关模块用于在工装压盖下压时导通，在工装压盖上升时断开；切换模块，用于将开关模块与待测主板或电源模块连接；待测主板用于发送开机信号至电源模块；电源模块用于输出电源电压至待测主板。本实用新型能够在工装压盖的升降过程中控制开关模块通断，从而实现电源开关操作，还能够对于不同供电方式的待测主板进行连接切换，降低了探针的维护成本，提升了测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及电路电子领域，尤其涉及PCBA通电测试电路及装置。
背景技术
PCBA主板为PCB空板完成SMT及DIP工序后的成品电路板。对于生产完成的PCBA主板，通常需要对其进行通电测试来确定是否为良品。
目前，对于未集成电源的PCBA主板，通常采用测试工装的探针将PCBA主板与电源连接，电源模块可以将待机信号发送至PCBA主板，PCBA主板在接收到待机信号时向电源模块发送开机信号，电源模块接收到开机信号后即可向PCBA主板提供供电电压完成PCBA主板开机。而对于部分不包含待机信号输入脚的PCBA主板，则需要将电源模块的待机信号端与开机信号端短接，以强制使电源模块启动并输出供电电压至PCBA主板。即，对于不同测试连接方式的PCBA主板，需要不断调整测试工装的探针，在探针的不断调整过程中，将会极大增加测试工装的使用成本和维护成本。
由于PCBA主板需要放入测试工装内以后进行固定，并在固定完成后通过测试人员手动开启电源模块的开关实现待机信号的输出。在长期测试过程中，若测试人员在完成上一PCBA主板的通电测试以后未按照正常操作工序关闭电源模块，则PCBA主板接触测试工装的探针的一瞬间电源已经开始供电，从而容易产生浪涌打火现象，导致PCBA主板上的元器件损坏。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种PCBA通电测试电路及装置，旨在解决现有的主板通电测试操作工序复杂、测试成本较高的问题。
为了实现上述目的，本实用新型提供一种PCBA通电测试电路，包括电源模块以及与所述电源模块连接的测试工装，所述测试工装包括开关模块、切换模块及工装压盖；
所述开关模块的第一端与所述电源模块的待机信号输出端连接，所述开关模块的第二端与所述切换模块的输入端连接，所述切换模块的第一输出端与所述电源模块的开机信号输入端连接，所述切换模块的第二输出端与待测主板的待机信号输入端连接，所述待测主板的开机信号输出端与所述电源模块的开机信号输入端连接；
所述工装压盖，用于在所述待测主板设置于所述测试工装上时下压固定所述待测主板；所述开关模块，用于在所述工装压盖下压固定所述待测主板时导通，在所述工装压盖上升释放所述待测主板时断开；所述切换模块，用于将输入端与第一输出端连接或将输入端与第二输出端连接；
所述待测主板，用于在接收到所述电源模块发送的待机信号时，发送开机信号至所述电源模块；所述电源模块，用于在接收到所述待测主板发送的开机信号时，输出电源电压至所述待测主板。
可选地，所述开关模块包括限位开关及继电器，所述限位开关的第一端与所述电源模块的待机信号输出端连接，所述限位开关的第二端与所述继电器的供电端连接，所述继电器的第一端与所述电源模块的待机信号输出端连接，所述继电器的第二端与所述切换模块的输入端连接；
所述限位开关，用于在所述工装压盖下压固定所述待测主板时导通，在所述工装压盖上升释放所述待测主板时断开；
所述继电器，用于在接收到所述电源模块的待机信号输出端输出的电压信号时导通。
可选地，所述继电器为延时继电器，所述延时继电器用于在接收到所述电源模块的待机信号输出端输出的电压信号时，经过预设延时时长后导通。
可选地，所述开关模块还包括第一电阻，所述限位开关的第一端通过所述第一电阻与所述电源模块的待机信号输出端连接。
可选地，所述开关模块还包括第一电容，所述限位开关的第二端还通过所述第一电容接地。
可选地，所述切换模块包括双刀双掷开关，所述双刀双掷开关的第一公共端与所述继电器的第二端连接，所述双刀双掷开关的第二公共端与所述电源模块的开机信号输入端连接，所述双刀双掷开关的第一触点与所述待测主板的待机信号输入端连接，所述双刀双掷开关的第三触点与所述待测主板的开机信号输出端连接；
所述双刀双掷开关的第一公共端和第二公共端分别与第一触点和第三触点连接；
所述待测主板，用于在所述待机信号输入端接收到待机信号时，通过所述开机信号输出端输出开机信号。
可选地，所述双刀双掷开关的第二触点与所述双刀双掷开关的第四触点连接，所述双刀双掷开关的第一公共端和第二公共端分别与第二触点和第四触点连接。
可选地，所述切换模块还包括第二电阻，所述双刀双掷开关的第二触点通过所述第二电阻与所述双刀双掷开关的第四触点连接。
此外，为实现上述目的，本实用新型还提供一种PCBA通电测试装置，所述PCBA通电测试装置包括与单相市电连接的PCBA通电测试电路，所述PCBA通电测试电路被配置为如上所述的PCBA通电测试电路。
本实用新型通过设置开关模块和切换模块，能够在工装压盖下压固定住待测主板后控制开关模块导通，即相当于工装压盖的下降和上升过程中进行电源模块的开启和关闭，取代了测试人员在待测主板的安装和取出时的电源开关操作，减少了开关操作的消耗时间，提升了测试效率，还能够避免测试人员因电源开关操作不规范而导致主板损坏。切换模块能够对不同供电方式的待测主板进行开机模式的切换，不需要调整测试工装的探针以进行配套，降低了探针的测试损耗，减少了测试时的探针调整时间和探针损耗成本，提升了测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本实用新型PCBA通电测试电路一实施例的模块示意图；
图2为图1实施例的电路结构示意图。
本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
附图标号说明：
| 标号 | 名称 | 标号 | 名称 |
| 10 | 电源模块 | DPDT | 双刀双掷开关 |
| 20 | 测试工装 | R1 | 第一电阻 |
| 21 | 开关模块 | R2 | 第二电阻 |
| 22 | 切换模块 | C1 | 第一电容 |
| 30 | 待测主板 | REL | 继电器 |
| K1 | 限位开关 |
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。
本实用新型提供一种PCBA通电测试电路，应用于PCBA通电测试装置中，该PCBA通电测试装置可以对PCBA主板进行通电测试。
参见图1，在一实施例中，所述PCBA通电测试电路包括电源模块10以及与所述电源模块10连接的测试工装20，测试工装20包括开关模块21、切换模块22及工装压盖(未图示)。开关模块21的第一端与电源模块10的待机信号输出端连接，开关模块21的第二端与切换模块22的输入端连接，切换模块22的第一输出端与电源模块10的开机信号输入端连接，切换模块22的第二输出端与待测主板30的待机信号输入端连接，待测主板30的开机信号输出端与电源模块10的开机信号输入端连接。
在每个待测主板30在放入测试工装20之后，测试人员可以通过控制工装压盖下压对待测主板30进行固定。在工装压盖固定待测主板30时，开关模块21切换为导通状态，而在工装压盖上升以释放待测主板30时，开关模块21则切换为断开状态。
在待测主板30不具有待机信号输入端时，切换模块22设置为输入端与第一输出端连接，电源模块10的待机信号输出端发出的待机信号经过开关模块21和切换模块22后输出至电源模块10的开机信号输入端，电源模块10在接收到该待机信号时正常开机，将电源电压通过连接线以及测试工装20输出至待测主板30，待测主板30接收到该电源电压后可以激活主板内的相关供电模块，实现主板的点亮，即完成主板的开机测试。
而在待测主板30具有待机信号输入端时，切换模块22设置为输入端与第二输出端连接，电源模块10的待机信号输出端发出的待机信号经过开关模块21和切换模块22后输出至待测主板30的待机信号输入端。待测主板30在接收到该待机信号时，可以发出开机信号指令至电源模块10的开机信号输入端，电源模块10在接收到该开机信号时正常开机，将电源电压通过连接线以及测试工装20输出至待测主板30，待测主板30接收到该电源电压后可以激活主板内的相关供电模块，实现主板的点亮，即完成主板的开机测试。
在完成待测主板30的开机测试后，测试人员可以升起工装压盖，此时开关模块21断开，电源模块10的开机信号输入端不在接收到开机信号，从而停止输出电源电压，待测主板30即可从测试工装20上取下。
可以理解的是，上述电源模块10的待机信号输出端可以输入5V直流电压，待测主板30的待机信号输入端在接收到该5V电压后可以通过开机信号输出端输出3.3V的开机信号，电源模块10在接收到该开机信号后即可输出12V或24V电源电压至待测主板30，以实现待测主板30的开机测试。
在本实施例中，通过设置开关模块21和切换模块22，能够在工装压盖下压固定住待测主板30后控制开关模块21导通，即相当于工装压盖的下降和上升过程中进行电源模块10的开启和关闭，取代了测试人员在待测主板30的安装和取出时的电源开关操作，减少了开关操作的消耗时间，提升了测试效率，还能够避免测试人员因电源开关操作不规范而导致主板损坏。切换模块22能够对不同供电方式的待测主板30进行开机模式的切换，不需要调整测试工装20的探针以进行配套，降低了探针的测试损耗，减少了测试时的探针调整时间和探针损耗成本，提升了测试效率。
进一步地，上述开关模块21可以包括限位开关K1及继电器REL，限位开关K1的第一端与电源模块10的待机信号输出端连接，限位开关K1的第二端与继电器REL的供电端连接，继电器REL的第一端与电源模块10的待机信号输出端连接，继电器REL的第二端与切换模块22的输入端连接。在工装压盖下压固定待测主板30时，可以触动限位开关K1以使限位开关K1导通，在工装压盖上升释放待测主板30时触动限位开关K1断开。
继电器REL通常为断开状态，即继电器REL的第二端悬空。在工装压盖下压固定待测主板30使得限位开关K1导通时，电源模块10输出的待机信号通过限位开关K1发送至继电器REL的控制脚，继电器REL的控制脚在接收到该待机信号时将第一端与第二端连通。此时电源模块10输出的待机信号可以通过导通的继电器REL发送至切换模块22。在工装压盖上升释放待测主板30使得限位开关K1断开时，继电器REL的第二端悬空，电源模块10与切换模块22断开。通过工装压盖的上升与下降控制继电器REL的断开与导通，能够减少测试人员的操作步骤，节约操作时间，从而提升测试效率。
进一步地，上述继电器REL可以为延时继电器，延时继电器可以在控制脚接收到待机信号时，经过一定的延时后导通，从而确保在工装压盖完全固定待测主板30，待测主板30与测试工装20的探针完全接触到位后延时继电器才导通，避免在待测主板30以测试工装20的探针瞬间接触时产生浪涌打火现象而损坏待测主板30。其中，延时继电器的延时时长可以为2秒。
上述开关模块21还可以包括第一电阻R1和第一电容C1，限位开关K1的第一端通过第一电阻R1与电源模块10的待机信号输出端连接，限位开关K1的第二端还通过第一电容C1接地。第一电阻R1为限流电阻，能够避免继电器REL因电流过大而损坏，第一电容C1为滤波电容，能够将待机信号中的交流干扰信号进行过滤，避免交流信号影响到继电器REL的导通状态。
进一步地，上述切换模块22可以包括双刀双掷开关DPDT，双刀双掷开关DPDT的第一公共端与继电器REL的第二端连接，双刀双掷开关DPDT的第二公共端与电源模块10的开机信号输入端连接。
双刀双掷开关DPDT可以在两种连接方式中进行切换，第一种连接方式为双刀双掷开关DPDT的第一公共端和第二公共端分别与第一触点和第三触点连接。第二种连接方式为双刀双掷开关DPDT的第一公共端和第二公共端分别与第二触点和第四触点连接。
在第一种连接方式中，双刀双掷开关DPDT的第一触点与待测主板30的待机信号输入端连接，双刀双掷开关DPDT的第三触点与待测主板30的开机信号输出端连接。在继电器REL导通时，电源模块10输出的待机信号通过双刀双掷开关DPDT的第一公共端、第一触点发送至待测主板30的待机信号输入端，待测主板30的开机信号输出端输出的开机信号则通过双刀双掷开关DPDT的第三触点、第二公共端输出至电源模块10的开机信号输入端。可以理解的是，在待测主板30具有待机信号输入端时，可以采用第一种连接方式。
在第二种连接方式中，双刀双掷开关DPDT的第二触点与双刀双掷开关DPDT的第四触点连接。在继电器REL导通时，电源模块10输出的待机信号通过双刀双掷开关DPDT的第一公共端、第二触点、第四触点、第二公共端后发送至电源模块10的开机信号输入端。可以理解的是，在待测主板30不具有待机信号输入端时，可以采用第二种连接方式，将待机信号直接发送至电源模块10的开机信号输入端实现强制开机。
需要说明的是，在上述实施例中，开关模块21的继电器REL在工装压盖下压固定待测主板30时才导通。即，电源模块10的待机信号输出端虽然持续输出待机信号，但在测试工装20上固定有待测主板30时，电源模块10的开机信号输入端才能够接收到该待机信号。
上述切换模块22中还可以包括第二电阻R2，双刀双掷开关DPDT的第二触点通过第二电阻R2与双刀双掷开关DPDT的第四触点连接。第二电阻R2为限流电阻，能够避免电源模块10因电流过大而损坏。
本实用新型还提供一种PCBA通电测试装置，该PCBA通电测试装置包括与单相市电连接的PCBA通电测试电路，该PCBA通电测试电路的结构可参照上述实施例，在此不再赘述。理所应当地，由于本实施例的PCBA通电测试装置采用了上述PCBA通电测试电路的技术方案，因此该PCBA通电测试装置具有上述PCBA通电测试电路所有的有益效果。
以上仅为本实用新型的可选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (9)
1.一种PCBA通电测试电路，其特征在于，包括电源模块以及与所述电源模块连接的测试工装，所述测试工装包括开关模块、切换模块及工装压盖；
所述开关模块的第一端与所述电源模块的待机信号输出端连接，所述开关模块的第二端与所述切换模块的输入端连接，所述切换模块的第一输出端与所述电源模块的开机信号输入端连接，所述切换模块的第二输出端与待测主板的待机信号输入端连接，所述待测主板的开机信号输出端与所述电源模块的开机信号输入端连接；
所述工装压盖，用于在所述待测主板设置于所述测试工装上时下压固定所述待测主板；所述开关模块，用于在所述工装压盖下压固定所述待测主板时导通，在所述工装压盖上升释放所述待测主板时断开；所述切换模块，用于将输入端与第一输出端连接或将输入端与第二输出端连接；
所述待测主板，用于在接收到所述电源模块发送的待机信号时，发送开机信号至所述电源模块；所述电源模块，用于在接收到所述待测主板发送的开机信号时，输出电源电压至所述待测主板。
2.如权利要求1所述的PCBA通电测试电路，其特征在于，所述开关模块包括限位开关及继电器，所述限位开关的第一端与所述电源模块的待机信号输出端连接，所述限位开关的第二端与所述继电器的供电端连接，所述继电器的第一端与所述电源模块的待机信号输出端连接，所述继电器的第二端与所述切换模块的输入端连接；
所述限位开关，用于在所述工装压盖下压固定所述待测主板时导通，在所述工装压盖上升释放所述待测主板时断开；
所述继电器，用于在接收到所述电源模块的待机信号输出端输出的电压信号时导通。
3.如权利要求2所述的PCBA通电测试电路，其特征在于，所述继电器为延时继电器，所述延时继电器用于在接收到所述电源模块的待机信号输出端输出的电压信号时，经过预设延时时长后导通。
4.如权利要求2所述的PCBA通电测试电路，其特征在于，所述开关模块还包括第一电阻，所述限位开关的第一端通过所述第一电阻与所述电源模块的待机信号输出端连接。
5.如权利要求4所述的PCBA通电测试电路，其特征在于，所述开关模块还包括第一电容，所述限位开关的第二端还通过所述第一电容接地。
6.如权利要求2所述的PCBA通电测试电路，其特征在于，所述切换模块包括双刀双掷开关，所述双刀双掷开关的第一公共端与所述继电器的第二端连接，所述双刀双掷开关的第二公共端与所述电源模块的开机信号输入端连接，所述双刀双掷开关的第一触点与所述待测主板的待机信号输入端连接，所述双刀双掷开关的第三触点与所述待测主板的开机信号输出端连接；
所述双刀双掷开关的第一公共端和第二公共端分别与第一触点和第三触点连接；
所述待测主板，用于在所述待机信号输入端接收到待机信号时，通过所述开机信号输出端输出开机信号。
7.如权利要求6所述的PCBA通电测试电路，其特征在于，所述双刀双掷开关的第二触点与所述双刀双掷开关的第四触点连接，所述双刀双掷开关的第一公共端和第二公共端分别与第二触点和第四触点连接。
8.如权利要求7所述的PCBA通电测试电路，其特征在于，所述切换模块还包括第二电阻，所述双刀双掷开关的第二触点通过所述第二电阻与所述双刀双掷开关的第四触点连接。
9.一种PCBA通电测试装置，其特征在于，所述PCBA通电测试装置包括与单相市电连接的PCBA通电测试电路，所述PCBA通电测试电路被配置为如权利要求1～8任一项所述的PCBA通电测试电路。
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| CN115587001A (zh) * | 2022-12-12 | 2023-01-10 | 深圳华北工控软件技术有限公司 | 自动开关机测试方法及系统 |
| CN115856588A (zh) * | 2023-02-22 | 2023-03-28 | 长鑫存储技术有限公司 | 芯片测试板及测试方法 |
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|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
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Granted publication date: 20210316 |