CN102608525B - 电压极限测试系统 - Google Patents

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Abstract

一种电压极限测试系统，用于连接一主板上的内存来对所述内存的极限电压进行测试，所述电压极限测试系统包括一电压极限测试治具及一第一辅助测试治具，所述电压极限测试治具包括一第一按钮，所述第一辅助测试治具包括一第一定时器、一第一继电器及一第二继电器，所述第一继电器用于接收主板的状态信号，并根据所述状态信号控制是否提供电压至所述第一定时器，所述第二继电器用于接收所述第一定时器输出的脉冲信号来以一参考时间间隔地触发所述第一按钮来调节所述内存的电源，当工作的主板停止工作时所述内存的电压为所述内存电压的第一极限电压值。本发明实现自动测试所述主板上的内存的电压的极限值，方便快捷。

Description

电压极限测试系统
技术领域
本发明涉及一种电压极限测试系统。
背景技术
电压极限测试治具是利用改变其上可变电阻来改变连接至所述电压极限测试治具的主板上的内存的电压值，当处于正常工作状态的主板不能正常工作时即为所述内存的极限电压。但是，在测试时，改变所述内存的电压值需要手动调节所述电压极限测试治具上的按钮来改变可变电阻的阻值，且每调节一次电压值均需要手动调节一次所述按钮，这样会花费大量时间及人力。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种电压极限测试系统，以自动调节所述电压测试治具上的可变电阻的阻值来改变所述内存的电压，方便快捷。
一种电压极限测试系统，用于连接一主板上的内存来对所述内存的极限电压进行测试，所述电压极限测试系统包括一电压极限测试治具及一连接至所述电压极限测试治具的第一辅助测试治具，所述电压极限测试治具包括一用于调节所述内存的电压的第一按钮，所述第一辅助测试治具包括一第一定时器、一第一继电器及一第二继电器，所述第一继电器用于接收所述主板的状态信号，并根据所述状态信号控制是否提供电压至所述第一定时器，所述第二继电器用于在所述第一定时器工作时接收所述第一定时器输出的脉冲信号来以一参考时间间隔地触发所述第一按钮来调节所述内存的电源，当处于工作的主板停止工作时所述内存的电压为所述内存电压的第一极限值。
本发明电压极限测试系统通过所述第一继电器接收所述主板的状态信号，并根据所述状态信号控制是否提供电压至所述第一定时器，并通过所述第二继电器在所述第一定时器工作时接收所述第一定时器输出的脉冲信号来以一参考时间间隔地触发所述第一按钮来调节所述内存的电源，当处于工作的主板停止工作时所述内存的电压为所述内存电压的第一极限值，方便快捷。
附图说明
图1是本发明电压极限测试系统较佳实施方式的框图。
图2是本发明电压极限测试系统中的第一辅助测试治具的电路图。
主要元件符号说明
主板1
内存2
电源端3
CPU4
第一定时器10
第一继电器20
第二继电器30
第二定时器40
第三继电器50
第四继电器60
电压极限测试系统100
电压极限测试治具200
第一按钮220
正极2202
负极2204
第二按钮240
第一辅助测试治具320
第二辅助测试治具340
切换开关400
三用表笔500
线圈L1、L2
第一触点A1、A2
第二触点B1、B2
控制端D1、D2
第一电容C1
第二电容C2
电源引脚VCC
复位引脚RES
放电引脚DIS
阈值引脚TH
触发引脚TR
控制电压引脚CV
接地引脚GND
具体实施方式
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：
请参考图1，本发明电压极限测试系统100用于连接一主板1上的内存2来测试所述内存2的极限电压。所述电压极限测试系统100较佳实施方式包括一电压极限测试治具200、一第一辅助测试治具320、一第二辅助测试治具340、一切换开关400及一连接至所述电压极限测试治具200的电压记录设备如一三用表笔500。所述第一及第二辅助测试治具320及340均与所述电压极限测试治具200连接。所述切换开关400连接所述主板1上的电源端3、所述第一辅助测试治具320及所述第二辅助测试治具340，以用于选择性地将所述第一或第二辅助测试治具320及340连接至所述电源端3。
所述电压极限测试治具200包括一第一按钮220及一第二按钮240。当所述电压极限测试治具200对所述内存2进行测试时，每触发一次所述第一按钮220，所述内存2的电压值在原来的基础上增加一参数电压值；每触发一下所述第二按钮240，所述内存2的电压值在原来的基础上减少所述参数电压值。所述三用表笔500用于记录所述内存2每一次进行电压调节后的电压值。所述第一辅助测试治具320连接至所述第一按钮220。所述第二辅助测试治具340连接至所述第二按钮240。
请参考图2，所述第一辅助测试治具320包括一第一定时器10、第一继电器20及一第二继电器30。所述第二辅助测试治具340包括一第二定时器40、一第三继电器50及一第四继电器60。所述第一及第二定时器10及40包括一接地引脚GND、一触发引脚TR、一输出引脚OUT、一复位引脚RES、一控制电压引脚CV、一阈值引脚TH、一放电引脚DIS及一电源引脚VCC。
在所述第一及第二辅助测试治具320及340的连接关系中，除了所述第一辅助测试治具320的第二继电器30连接至所述第一按钮220，所述第二辅助测试治具340的第四继电器60连接至所述第二按钮240外，其它的连接关系均相同，现以所述第一辅助测试治具320为例进行说明。所述第一定时器10的接地引脚GND接地。一第一电阻R1、一第二电阻R2及一第一电容C1串联在所述电源引脚VCC与地之间。所述触发引脚TR及所述阈值引脚TH均连接在所述第一电容C1与所述第二电阻R2之间的节点上。所述控制电压引脚CV通过一第二电容C2接地。所述放电引脚DIS连接在所述第一及第二电阻R1及R2之间的节点上。所述复位引脚RES连接所述电源引脚VCC。所述电源引脚VCC连接至所述第一继电器20的控制端D1。所述第一继电器20的线圈L1的第一端连接至所述主板1的CPU4以接收CPU4输出的表明所述主板1正常工作或不能正常工作的状态信号。所述第一继电器20的线圈L1的第二端接地。所述第一定时器10的输出引脚OUT连接至第二继电器30的线圈L2的第一端。所述线圈L2的第二端接地。所述第二继电器30的控制端D2连接至所述第一按钮220的正极2202。所述第二继电器30的第二触点B2连接至所述第一按钮220的负极2204。当所述第一及第二继电器20及30中未有电路流过时，所述控制端D1与所述第一继电器20的第一触点A1连接。所述第二继电器30的控制端D2与所述第二继电器30的第一触点A2连接。所述第一及第二继电器20及30的第一触点A1、A2均空置。
在所述第一辅助测试治具320中，所述第二继电器30的第二触点B2及控制端D2连接至所述电压极限测试治具200的第一按钮220的正极2202、负极2204。
在第二辅助测试治具340中，所述第二辅助测试治具340的第四继电器60的第二触点及控制端连接至所述电压极限测试治具200的第二按钮240的正、负极(未示出)。
所述切换开关400连接在所述第一辅助测试治具320的第一继电器20的第二触点B1与所述第二辅助测试治具340的第三继电器50的第二触点B2之间。所述切换开关400还连接至所述主板1上的电源端3以通过切换所述切换开关400来选择性地将所述第一辅助测试治具320或所述第二辅助测试治具340与所述电源端3连接。
所述内存2的电压上限值及电压下限值的测试过程是相同的，现以测试所述内存2的电压上限值为例进行说明。
利用所述切换开关400将所述第一辅助测试治具320连接至所述电源端3，使所述第二辅助测试治具340未连接至所述5V电源端3。所述主板1正常工作，所述主板1上的CPU4发出一高电平信号至所述第一继电器20的线圈L1的第一端。所述第一继电器20产生磁场，使得所述第一继电器20的控制端D1与所述第一继电器20的第二触点B1连接，则所述5V电源端提供一5V电压至所述第一辅助测试治具320的第一定时器10的电源引脚VCC使所述第一定时器10工作。所述第一定时器10的输出引脚OUT输出脉冲信号至所述第一辅助测试治具320的第二继电器30的线圈L2的第一端来每隔一参考时间触发所述第二继电器30一次，从而使得所述第二继电器30的控制端D2与所述第二触点B2每隔所述参考时间连接一次。即每隔所述参考时间所述电压极限测试治具200上的第一按钮220被触发一次，所述电压极限测试治具200上的可变电阻的阻值改变一次，从而使得所述主板1的内存2的电压值在原来的基础上增加所述参考电压值。所述内存2的电压值每增加一次，连接至所述电压极限测试治具200的三用表笔500记录一次电压值。当所述内存2的电压增加到一定程度，所述主板1停止工作。所述主板1上的CPU4输出一低电平信号至所述第一辅助测试治具320的第一继电器20的线圈L1的第一端。所述第一继电器20的第二触点B1与其控制端D1断开。所述第一辅助测试治具320的第一定时器10接收不到电压停止工作。所述第一辅助测试治具320的第二继电器30也停止工作。所述三用表笔500记录的电压值不再变化，所述电压值为所述主板1的内存2的上限电压值。所述电压极限测试治具200通过触发相应的第一及第二按钮220及240来改变所述电压极限测试治具200上的可变电阻的阻值从而改变所述内存2的电压是现有技术，故在此不再赘述。
当需要测试所述主板1上的内存2的下限电压值时，通过切换所述切换开关400将所述第二辅助测试治具340与所述5V电源端连接。具体测试所述内存2的下限值的过程与测试上限值的过程相同。在此不再赘述。
在其它实施方式中，若只需要测试所述内存2的上限值或下限值时，所述电压极限测试系统100可以只包括所述第一辅助测试治具320或所述第二辅助测试治具340，且可以省略所述切换开关400。
本发明电压极限测试系统100通过所述CPU4发出的信号来控制所述第一继电器20、所述第一定时器10及所述第二继电器30来实现自动测试所述主板上的内存2的电压的极限值，方便快捷。

Claims (3)

1.一种电压极限测试系统，用于连接一主板上的内存来对所述内存的极限电压进行测试，所述电压极限测试系统包括一电压极限测试治具及一连接至所述电压极限测试治具的第一辅助测试治具，所述电压极限测试治具包括一用于调节所述内存的电压的第一按钮，所述第一辅助测试治具包括一第一定时器、一第一继电器及一第二继电器，所述第一继电器用于接收所述主板的状态信号，并根据所述状态信号控制是否提供电压至所述第一定时器，所述第二继电器用于在所述第一定时器工作时接收所述第一定时器输出的脉冲信号来以一参考时间间隔地触发所述第一按钮来调节所述内存的电源，当处于工作的主板停止工作时所述内存的电压为所述内存电压的第一极限值。
2.如权利要求1所述的电压极限测试系统，其特征在于：所述第一继电器的控制端连接至所述第一定时器的电源引脚，所述第一继电器的线圈的第一端连接至所述主板上的CPU来接收所述状态信号，所述第一继电器的线圈的第二端接地，所述第一继电器的第一触点连接至所述主板的电源端以提供电压给所述第一定时器，所述第一继电器的第二触点空置，所述第一继电器的控制端还连接至所述第一继电器的第二触点，所述第一定时器的输出引脚连接至所述第二继电器的线圈的第一端，所述第二继电器的线圈的第二端接地，所述第二继电器的第一触点及控制端分别连接至所述第一按钮的正极及负极，所述第二继电器的第二触点空置，所述第二继电器的控制端还连接至所述第二继电器的第二触点，当所述第一继电器的线圈的第一端接收到所述状态信号为表明所述主板处于正常工作状态时，所述第一继电器的控制端与所述第一触点的连接断开，并与所述第一继电器的第二触点连接来将所述主板上的电源端输出的电压提供至所述第一定时器使得所述第一定时器输出脉冲信号来控制所述第二继电器以所述参考时间间隔地的触发所述第一按钮来调节所述内存的电源。
3.如权利要求1所述的电压极限测试系统，其特征在于：所述电压极限测试系统还包括一第二辅助测试治具及一连接所述第一及第二辅助测试治具的切换开关，所述切换开关还连接所述主板上的电源端，用于选择性地将所述第一或第二辅助测试治具连接至所述电源端，所述电压极限测试治具还包括一第二按钮，所述第一按钮用于调节所述内存的电压逐渐升高，所述第二按钮用于调节所述内存的电压逐渐减低，所述第一极限电压值为所述内存的上限电压值，所述第二辅助测试治具包括一第二定时器、一第三继电器及一第四继电器，当所述切换开关将所述第二辅助测试治具连接至所述主板的电源端时，所述第一辅助测试治具断开与所述主板的电源端的连接，所述第三继电器用于接收所述主板的状态信号，并根据所述状态信号控制是否提供电压至所述第二定时器，所述第四继电器用于在所述第二定时器工作时接收所述第二定时器输出的脉冲信号来以所述参考时间间隔地触发所述第二按钮来调节所述内存的电压逐渐降低，当工作的主板停止工作时所述内存的电压为所述内存电压的下限电压值。
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