CN219039288U - 一种集成电路测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路测试装置，包括底座，还包括用于方便自动调整带动集成电路下料的调整下料机构，所述底座顶端设置有传送带，所述传送带顶端设置有夹持机构，所述传送带后方设置有支撑架，所述支撑架下端设置有测试机构，所述调整下料机构位于所述支撑架一侧。本实用新型通过夹持机构对集成电路进行简单夹持，通过测试机构对集成电路进行测试且对夹持机构进一步限位，通过电动推杆带动移动块移动，从而能够自动调整取消夹持机构对集成电路的夹持，进而带动集成电路移动到调整下料板顶端，通过调整块和第二弹簧配合作用下，带动调整下料板一端升降，在弹簧第三弹簧作用下方便调整集成电路下料。

Description

一种集成电路测试装置

技术领域

本实用新型属于集成电路测试设备领域，特别是涉及一种集成电路测试装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件。需要采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。在集成电路组装完成后，需要对集成电路进行性能测试，以方便后续使用。

经检索，公开号为CN217484453U的专利，公开了一种集成电路测试装置，包括有：防护框、支撑板、固定杆、电压检测器和导杆等；防护框底部内侧安装有支撑板，防护框前侧中部左右均开有第一导向槽，防护框内侧顶部连接有固定杆，固定杆下部连接有电压检测器，电压检测器中部左右两侧均滑动式设有导杆，导杆在第一导向槽上进行滑动，固定杆与电压检测器之间均左右对称式连接有弹簧，防护框顶部连接有显示器。

上述专利通过电风扇对集成电路进行散热和去尘，可以防止集成电路因过热和表面附有灰尘而影响集成电路检测数据的误差，通过扭动块转动双向螺纹杆对集成电路夹紧，而上述专利在对集成电路检测完成后，不方便对集成电路自动调整下料。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种集成电路测试装置。

本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的：

一种集成电路测试装置，包括底座，还包括用于方便自动调整带动集成电路下料的调整下料机构；

所述底座顶端设置有传送带，所述传送带顶端设置有夹持机构，所述传送带后方设置有支撑架，所述支撑架下端设置有测试机构，所述调整下料机构位于所述支撑架一侧；

所述调整下料机构包括电动推杆，所述电动推杆固定安装在所述底座顶端，所述电动推杆伸缩端固定连接有移动块，所述移动块下方设置有调整块，所述调整块一侧固定连接有第二弹簧，所述调整块另一侧连接有调整下料板，所述调整下料板下端固定连接有第三弹簧。

优选地，所述测试机构包括气缸，所述气缸固定安装在所述传送带顶端，所述气缸伸缩端固定连接有连接板，所述连接板下端设置有检测器，所述检测器两侧均设置有压板，所述压板与所述连接板之间连接有弹簧伸缩杆。

优选地，所述夹持机构包括支撑板，所述支撑板固定安装在所述传送带顶端，所述支撑板顶端连接有夹持板，所述夹持板内侧固定连接有第一弹簧。

优选地，所述移动块设置有两个，所述移动块两侧均为斜块，其中一个所述移动块一侧通过螺栓连接有压杆。

优选地，所述调整下料板与所述底座通过销轴连接，所述调整块一端为斜面，所述调整下料板与所述调整块斜面滑动连接。

优选地，所述底座顶端设置有移动槽，所述调整块与所述底座移动槽滑动连接。

优选地，所述支撑板顶端设置有滑动槽，所述夹持板与所述支撑板滑动槽滑动连接。

有益效果在于：本实用新型通过夹持机构对集成电路进行简单夹持，通过测试机构对集成电路进行测试且对夹持机构进一步限位，通过电动推杆带动移动块移动，从而能够自动调整取消夹持机构对集成电路的夹持，进而带动集成电路移动到调整下料板顶端，通过调整块和第二弹簧配合作用下，带动调整下料板一端升降，在弹簧第三弹簧作用下方便调整集成电路下料。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型所述一种集成电路测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型所述一种集成电路测试装置的测试机构结构示意图；

图3是本实用新型所述一种集成电路测试装置的夹持机构结构示意图；

图4是本实用新型所述一种集成电路测试装置的调整下料机构第一结构示意图；

图5是本实用新型所述一种集成电路测试装置的调整下料板内部结构示意图；

图6是本实用新型所述一种集成电路测试装置的调整下料机构第二结构示意图。

附图标记说明如下：

1、底座；2、传送带；3、支撑架；4、测试机构；401、气缸；402、连接板；403、压板；404、弹簧伸缩杆；405、检测器；5、夹持机构；501、支撑板；502、夹持板；503、第一弹簧；6、调整下料机构；601、电动推杆；602、移动块；6021、压杆；603、调整块；604、调整下料板；605、第二弹簧；606、第三弹簧。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

下面结合附图对本实用新型作进一步说明：

如图1-图6所示，一种集成电路测试装置，包括底座1，还包括用于方便自动调整带动集成电路下料的调整下料机构6；

底座1顶端设置有传送带2，传送带2顶端设置有夹持机构5，传送带2后方设置有支撑架3，支撑架3下端设置有测试机构4，调整下料机构6位于支撑架3一侧。

在本实施例中，如图2所示，测试机构4包括气缸401，气缸401通过螺栓安装在传送带2顶端，气缸401伸缩端通过螺纹连接有连接板402，连接板402下端设置有检测器405，检测器405两侧均设置有压板403，压板403与连接板402之间连接有弹簧伸缩杆404，气缸401通过连接板402带动检测器405和压板403向下移动，在弹簧伸缩杆404作用下调整压板403对夹持板502进一步限位，检测器405对集成电路进行测试。

在本实施例中，如图3所示，夹持机构5包括支撑板501，支撑板501通过螺栓安装在传送带2顶端，支撑板501顶端连接有夹持板502，夹持板502内侧焊接有第一弹簧503，支撑板501顶端设置有滑动槽，夹持板502与支撑板501滑动槽滑动连接，夹持板502和第一弹簧503，将集成电路放在两个夹持板502之间，在第一弹簧503作用下带动夹持板502对集成电路进行简单夹持。

在本实施例中，如图4-图6所示，调整下料机构6包括电动推杆601，电动推杆601通过螺栓安装在底座1顶端，电动推杆601伸缩端固定连接有移动块602，移动块602下方设置有调整块603，调整块603一侧焊接有第二弹簧605，调整块603另一侧连接有调整下料板604，调整下料板604下端焊接有第三弹簧606，移动块602设置有两个，移动块602两侧均为斜块，其中一个移动块602一侧通过螺栓连接有压杆6021，调整下料板604与底座1通过销轴连接，调整块603一端为斜面，调整下料板604与调整块603斜面滑动连接，底座1顶端设置有移动槽，调整块603与底座1移动槽滑动连接，电动推杆601带动移动块602移动，从而取消夹持板502对集成电路的夹持，带动集成电路移动到调整下料板604顶端，同时压杆6021带动调整块603向内压缩第二弹簧605，从而取消对调整下料板604的限位，在第三弹簧606作用下带动调整下料板604一端抬起，进而使集成电路分类自动出料，然后移动块602收回，在第二弹簧605作用下带动调整块603使调整下料板604一端抬起，方便下一次下料。

上述结构中，调整夹持板502和第一弹簧503，将集成电路放在两个夹持板502之间，在第一弹簧503作用下带动夹持板502对集成电路进行简单夹持，通过传送带2带动支撑板501移动到测试机构4下方，启动气缸401通过连接板402带动检测器405和压板403向下移动，在弹簧伸缩杆404作用下调整压板403对夹持板502进一步限位，检测器405对集成电路进行测试，测试完成后，检测器405将信号传递给电动推杆601，相应的电动推杆601带动移动块602移动，从而取消夹持板502对集成电路的夹持，带动集成电路移动到调整下料板604顶端，同时压杆6021带动调整块603向内压缩第二弹簧605，从而取消对调整下料板604的限位，在第三弹簧606作用下带动调整下料板604一端抬起，进而使集成电路分类自动出料，然后移动块602收回，在第二弹簧605作用下带动调整块603使调整下料板604一端抬起，方便下一次下料。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其效物界定。

Claims (7)

1.一种集成电路测试装置，包括底座(1)，其特征在于：还包括用于方便自动调整带动集成电路下料的调整下料机构(6)；

所述底座(1)顶端设置有传送带(2)，所述传送带(2)顶端设置有夹持机构(5)，所述传送带(2)后方设置有支撑架(3)，所述支撑架(3)下端设置有测试机构(4)，所述调整下料机构(6)位于所述支撑架(3)一侧；

所述调整下料机构(6)包括电动推杆(601)，所述电动推杆(601)固定安装在所述底座(1)顶端，所述电动推杆(601)伸缩端固定连接有移动块(602)，所述移动块(602)下方设置有调整块(603)，所述调整块(603)一侧固定连接有第二弹簧(605)，所述调整块(603)另一侧连接有调整下料板(604)，所述调整下料板(604)下端固定连接有第三弹簧(606)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述测试机构(4)包括气缸(401)，所述气缸(401)固定安装在所述传送带(2)顶端，所述气缸(401)伸缩端固定连接有连接板(402)，所述连接板(402)下端设置有检测器(405)，所述检测器(405)两侧均设置有压板(403)，所述压板(403)与所述连接板(402)之间连接有弹簧伸缩杆(404)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述夹持机构(5)包括支撑板(501)，所述支撑板(501)固定安装在所述传送带(2)顶端，所述支撑板(501)顶端连接有夹持板(502)，所述夹持板(502)内侧固定连接有第一弹簧(503)。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述移动块(602)设置有两个，所述移动块(602)两侧均为斜块，其中一个所述移动块(602)一侧通过螺栓连接有压杆(6021)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述调整下料板(604)与所述底座(1)通过销轴连接，所述调整块(603)一端为斜面，所述调整下料板(604)与所述调整块(603)斜面滑动连接。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述底座(1)顶端设置有移动槽，所述调整块(603)与所述底座(1)移动槽滑动连接。

7.根据权利要求3所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述支撑板(501)顶端设置有滑动槽，所述夹持板(502)与所述支撑板(501)滑动槽滑动连接。

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