CN218956723U - 一种半导体激光器阵列单巴测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提出一种半导体激光器阵列单巴测试装置，该装置包括：底板；液冷座，用于对微通道单巴通入冷却液；正极块，用于连接电源正极，将微通道单巴的正极导电；负极块，用于连接电源负极，将微通道单巴的负极导电；导电压块，用于将微通道单巴的正极和负极导通，并且与微通道单巴的密封圈密封；驱动单元，与导电压块连接，用于控制导电压块的移动速度和力度。本实用新型装置采用驱动单元控制导电压块的移动速度和力度，导电压块的按压力度可调节，进而密封圈的压缩量可以针对每一种微通道单巴产品进行适应性调整，避免现有技术中手工调节紧固件带来紧固力度不易控制而引发的微通道单巴形变问题和密封不良的问题。

Description

一种半导体激光器阵列单巴测试装置

技术领域

本实用新型涉及激光器技术领域，尤其涉及一种半导体激光器阵列单巴测试装置。

背景技术

半导体激光器作为高可靠光源，具有功耗低、重量轻、寿命长、体积小、价格低廉等特点，广泛应用于激光显示技术，光动力医疗、舞台灯光、激光照明等领域。半导体激光器阵列由多个巴条组成，具体可以为叠阵形式。每一个巴条都具有微通道结构。对微通道单巴有严格的评测标准，在满足标准之后才能达到使用要求。

在实现本实用新型过程中，发明人发现现有技术中至少存在以下问题：目前对微通道单巴的测试利用紧固件依序将负极块、微通道单巴以及正极块固定在一起完成密封，紧固件的紧固力度人工难以调节，密封圈的压缩量难以控制，如果紧固力度过大则可能微通道单巴的负极片扭曲变形，进而会对微通道单巴产生应力影响其光电性能，造成在测试过程中损坏，另外人工紧固的方式的测试效率低，存在改进空间。

实用新型内容

本实用新型旨至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本实用新型的目的在于提出一种半导体激光器阵列单巴测试装置及方法，结构简单，操作方便，生产效率高，避免对微通道单巴按压密封造成扭曲变形。

为达到上述目的，本实用新型的第一方面提出的一种半导体激光器阵列单巴测试装置，包括底板、液冷座、正极块和负极块，所述液冷座用于对微通道单巴通入冷却液，所述正极块连接电源正极，将所述微通道单巴的正极导电，所述负极块连接电源负极，将所述微通道单巴的负极导电，还包括；

导电压块，用于在受力作用下将所述微通道单巴的正极和负极导通，并且与所述微通道单巴的密封圈密封；

驱动单元，与所述导电压块连接，用于控制所述导电压块的移动速度和力度。

根据本实用新型的半导体激光器阵列单巴测试装置，通过导电压块将微通道单巴的正极和负极导通，导电压块还起到了与微通道单巴的密封圈密封的作用，实现了导电压块部件的多功能化。本实用新型装置采用驱动单元控制导电压块的移动和力度，导电压块的按压力度可调节，进而密封圈的压缩量可以针对每一种微通道单巴产品进行适应性调整，避免现有技术中手工调节紧固件带来紧固力度不易控制而引发的微通道单巴形变问题和密封不良的问题。本实用新型装置结构简单，操作方便，微通道单巴的测试效率得以提高。

根据本实用新型的一个实施例，所述负极块上设置有连接耳，连接耳与所述导电压块铰接。

根据本实用新型的一个实施例，所述液冷座的内部具有第一液冷管道，所述液冷座的第一面上设置有进液口和出液口，所述进液口和所述出液口与所述第一液冷管道相连通。

根据本实用新型的一个实施例，所述正极块设置在所述液冷座的第二面上，所述正极块具有贯穿的第二液冷管道，所述第二液冷管道与所述第一液冷管道相连通，所述微通道单巴具有进液孔和出液孔；在所述液冷座的第二面上，所述进液孔和所述出液孔与所述第二液冷管道相连通，所述进液孔和所述出液孔的外圈安装有所述密封圈。

根据本实用新型的一个实施例，所述正极块的第二面上开设有卡槽，所述微通道单巴设置在所述卡槽内。

根据本实用新型的一个实施例，所述负极块设置在所述液冷座的第二面上，所述负极块与所述正极块相离。

根据本实用新型的一个实施例，所述连接耳到所述导电压块的第一端的重量大于所述连接耳到所述导电压块的第二端的重量。

根据本实用新型的一个实施例，所述导电压块包括第一导电压块和第二导电压块，所述微通道单巴包括第一微通道单巴和第二微通道单巴，所述第一导电压块与所述第一微通道单巴相对设置，所述第二导电压块与所述第二微通道单巴相对设置。

根据本实用新型的一个实施例，所述驱动单元为升降台，所述升降台包括台座、开关、推杆和连接杆，所述台座安装在所述底板上，所述推杆的第一端位于所述台座内，所述推杆的第二端与所述连接杆铰接，所述连接杆用于对所述导电压块抵靠并施加外力；所述开关在接通的状态下，所述推杆以第一方向伸出，所述开关在断开的状态下，所述推杆以第一方向的反方向缩回。

根据本实用新型的一个实施例，还包括移动单元，所述移动单元包括滑轨和滑块，所述滑轨沿第二方向设置在所述底板上，所述滑块可滑动地设置在所述滑轨上，所述液冷座与所述滑块固定连接。

本实用新型的第二方面提供一种半导体激光器阵列单巴测试方法，采用上述第一方面所述的半导体激光器阵列单巴测试完成，包括：

将第一微通道单巴安装在正极块上；

开启开关，推杆以第一方向伸出，将第一导电压块的第一端抬起，同时第一导电压块的第二端下压，与第一微通道单巴的密封圈密封，将正极块和负极块连通；

对液冷座通入冷却液，对正极块接入电源的正极，对负极块接入电源的负极，开启电源测试第一微通道单巴；

测试完成后，关闭冷却液和电源的供给，关闭开关，推杆以第一方向的反方向缩回，第一导电压块的第二端远离第一微通道单巴。

根据本实用新型实施例提供的半导体激光器阵列单巴测试方法，利用导电压块完成导电和密封，密封圈的压缩量即按压力度可以针对每一种微通道单巴产品进行适应性调整，避免现有技术中手工调节紧固件带来紧固力度不易控制而引发的微通道单巴形变问题和密封不良的问题。本实用新型方法操作简便，相对于现有的手动拧紧固件的密封方式，能够提高效率。

根据本实用新型的一个实施例，还包括：

利用移动单元以第二方向移动液冷座，使第二导电压块与连接杆对齐；

利用第二导电压块将第二微通道单巴的正极和负极导通，并且与第二微通道单巴的密封圈密封。

本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本实用新型一实施例提出的半导体激光器阵列单巴测试装置的结构示意图。

图2是本实用新型一实施例提出的半导体激光器阵列单巴测试装置省略导电压块的结构示意图。

图3是本实用新型一实施例提出的半导体激光器阵列单巴测试装置的工作状态示意图。

图4是本实用新型一实施例提出的半导体激光器阵列单巴测试装置的第一微通道单巴的结构示意图。

图5是本实用新型一实施例提出的半导体激光器阵列单巴测试装置的第二微通道单巴的结构示意图。

图6是本实用新型一实施例提出的半导体激光器阵列单巴测试方法的流程示意图。

附图标记说明：

1-底板，2-滑轨，3-滑块，4-液冷座，5-正极块，6-负极块，7-导电压块，8-升降台，9-绝缘块，10-连接耳，11-螺栓，12-第一微通道单巴，13-第二微通道单巴，14-进液口，15-出液口，16-卡槽，17-插芯，18-密封圈，19-进液孔，20-出液孔，21-第一凹槽，22-绝缘垫，23-正极热沉，24-负极片，25-第二凹槽，26-开孔，71-第一导电压块，72-第二导电压块，81-台座，82-开关，83-推杆，84-连接杆，85-连接板。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。相反，本实用新型的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。

微通道单巴内置冷却液体通道，具有很高的散热效率。参照图4，常见的微通道单巴包括从下而上依次设置的正极热沉23、绝缘垫22和负极片24，微通道单巴上贯穿设置有进液孔14和出液孔15，进液孔和出液孔的外圈具有用于安装密封圈18的圆形槽。为了将微流道单巴与正极块、负极块固定，微流道单巴上需要开有至少一个固定孔。

现有技术固定微通道单巴时，普遍通过将紧固件穿过固定孔，比如使用螺钉来将负极块、微通道单巴和正极块固定，紧固件不利于整个负极片与负极块均匀的接触，容易出现点接触或虚接从而导致通电后微通道单巴烧毁。

下面参考附图描述根据本实用新型实施例的半导体激光器阵列单巴测试装置。图1是本实用新型一实施例提出的半导体激光器阵列单巴测试装置的结构示意图。

结合图1、图2所示，本实用新型实施例的第一方面提出一种半导体激光器阵列单巴测试装置，包括底板1、液冷座4、正极块5、负极块6、导电压块7和驱动单元等部件。

底板1主要起支撑作用，用于承载液冷座4、正极块5、负极块6、导电压块7和驱动单元等部件。

液冷座4用于对微通道单巴通入冷却液。在一个实施方式中，液冷座4的内部具有第一液冷管道(图中未示出)，液冷座4的第一面上设置有进液口14和出液口15，进液口14和出液口15与第一液冷管道相连通。进液口14和出液口15用来接入外部设备，外部设备能够控制冷却液的流量和温度，实现对微通道单巴通冷却液散热。

正极块5用于对微通道单巴的正极导电。正极块5与外部电源的正极连接。负极块6用于对微通道单巴的负极导电，负极块6与外部电源的负极连接。

导电压块7用于将微通道单巴的正极和负极导通，并且与微通道单巴的密封圈密封。导电压块的材质需要具有导电性，导电压块在与微通道单巴的密封圈相对的一面在尺寸上优选等于或者大于密封圈的外径。这样可以确保密封圈受力的均匀。

驱动单元与导电压块7连接，用于控制导电压块7的移动速度和力度。控制移动速度可以将微通道单巴的正极和负极导通或断开，控制移动力度可以将密封圈的压缩量控制在最佳状态，获得较好的密封效果。驱动单元可以与导电压块7以固定或者铰接的方式连接。驱动单元与导电压块可以采用多种形式的运动机构，例如杠杆、伸缩机构等。无论采用哪种运动机构，只要是能够控制导电压块的移动速度和力度的，都可以不再使用现有技术中需要人工拧紧紧固件的方式进行密封，都可以解决现有技术中的问题，并取得相应的效果。

驱动单元通常包括电机，例如常见的直流电机。驱动单元的输出力的大小由直流电机的输出转矩决定。在功率一定的情况下，直流电机的转速越高，直流电机的输出转矩越小。可以通过改变直流电机的输入电流来调节直流电机的转矩。因此，若直流电机的输入电流较大时，直流电机的输出转矩较大，若直流电机的输入电流较小时，直流电机的输出转矩较小。导电压块在驱动单元的不同的输出力的作用下，相应产生不同的按压力度。在优选实施方式中，可以预先设置电流和压力的对应查找表，这样就很容易根据不同的压力需要来调整电流从而达到想要的压力值。

根据本实用新型实施例的半导体激光器阵列单巴测试装置，通过导电压块将微通道单巴的正极和负极导通，导电压块还起到了与微通道单巴的密封圈密封的作用，实现了导电压块部件的多功能化。本实用新型实施例装置采用驱动单元控制导电压块的移动速度和力度，导电压块的按压力度可调节，进而密封圈的压缩量可以针对每一种微通道单巴产品进行适应性调整，避免现有技术中手工调节紧固件带来紧固力度不易控制而引发的微通道单巴形变问题和密封不良的问题。本实用新型实施例装置结构简单，操作方便，微通道单巴的测试效率得以提高。

在一些实施例中，参照图2，负极块6上设置有连接耳10，连接耳10上安装有螺栓11。连接耳10与导电压块7铰接。导电压块7和连接耳10形成杠杆结构。从图2可以看出，连接耳10到导电压块7两端的距离不一致。驱动单元这边的力臂更长，可以降低驱动单元输出力的大小。

在一些实施例中，结合图1、图2、图4、图5所示，正极块5设置在液冷座4的第二面上，正极块5具有贯穿的第二液冷管道(图中未示出)，第二液冷管道与第一液冷管道相连通，微通道单巴(12，13)具有进液孔19和出液孔20；在液冷座4的第二面上，进液孔19和出液孔20与第二液冷管道相连通，进液孔19和出液孔20的外圈安装有密封圈18。正极块5的第二面上开设有卡槽16，微通道单巴设置在卡槽16内。卡槽能够对微通道单巴限位，便于微通道单巴放入准确的位置。为了进一步提高微通道单巴的固定精度，在微通道单巴的两侧设置有第一凹槽21，在卡槽16上设置有可拆卸地插芯17，插芯17与第一凹槽21的外形相匹配。由于插芯17或会在正极块5的表面形成凸起，为了不影响导电压块7的密封，在导电压块7的两侧设有与插芯17适应的第二凹槽25。

在一个示例中，负极块6设置在液冷座4的第二面上，负极块6与正极块5相离。两者相离是为了绝缘。正极块5比负极块6更靠近导电压块7的第二端的位置。可选地，正极块5的顶面和负极块6的顶面位于同一水平面，便于导电压块7均匀分布按压力度。

在一些实施例中，结合图2-图5所示，导电压块7包括第一导电压块71和第二导电压块72，微通道单巴包括第一微通道单巴12和第二微通道单巴13，第一导电压块71与第一微通道单巴12相对设置，第二导电压块72与第二微通道单巴13相对设置。设置两个导电压块的目的是在测试一个微通道单巴的时候，可以拆卸安装另一个待测微通道单巴，提高测试效率。第一微通道单巴12和第二微通道单巴13的产品型号可以一致，也可以不一致。例如：第一微通道单巴12为两孔型，第二微通道单巴13为三孔型，第二微通道单巴13比第一微通道单巴12多了一个用于穿紧固件的开孔26。此外，第二微通道单巴13的进液孔或出液孔外围密封圈18的数量均为两个，具有更好地密封性能。可以看出，本实用新型实施例的测试装置能够测试不同型号大小的微通道单巴，相比现有一种微通道单巴对应一种测试夹具，适用性更广。

在一些实施例中，结合图1、图2所示，驱动单元为升降台8，升降台8包括台座81、开关82、推杆83和连接杆84，台座81安装在底板1上，推杆83的第一端位于台座81内，推杆83的第二端与连接杆84铰接，连接杆84用于对导电压块7抵靠并施加外力；开关82在接通的状态下，推杆83以第一方向伸出，开关82在断开的状态下，推杆83以第一方向的反方向缩回。第一方向为上下方向。推杆可以由直流电机驱动。升降台8由电源提供动力。推杆83推力大小的调节通过本领域技术人员已知的各种方法调节，比如调节直流电机的输入电流。相应的，密封圈的压缩量也随之改变。推杆的推进速度和推力成反比，推进速度越大推力越小，推进速度越小推力越大。直流电机的输入电流越大，推杆的力度越大，推进速度越小。可选地，连接耳10到导电压块7的第一端的重量大于连接耳10到导电压块7的第二端的重量，因此，当开关82在断开的状态下，导电压块7的第一端在重力作用下落下。

在一个示例中，连接杆84的顶端设置有绝缘块9，绝缘块9起到与第一导电压块71或第二导电压块72的绝缘隔离的作用。在一个示例中，台座81和底板1之间具有连接板85。连接板85上设有螺纹孔，可以通过紧固件将台座81固定在连接板85的上方，将底板1固定在连接板85的下方。底板1的面积大于连接板85的面积。

在一些实施例中，半导体激光器阵列单巴测试装置还包括移动单元，移动单元包括滑轨2和滑块3，滑轨2沿第二方向设置在底板1上，滑块3可滑动地设置在滑轨2上，液冷座4与滑块3固定连接。第二方向为图3中的前后方向。移动单元由伺服电机驱动，伺服电机能够精确控制滑块3的移动位置。移动单元能够在只利用一个升降台的前提下，完成多种型号微通道巴条的测试。例如需要测试某种型号的微通道单巴，利用移动单元将该微通道单巴配对的导电压块移动至升降台的顶部，然后完成测试。

参照图6，本实用新型实施例的第二方面提出一种半导体激光器阵列单巴测试方法，采用如上述实施例的第一方面的半导体激光器阵列单巴测试完成，结合图1-图6所示，包括以下步骤：

步骤S102，将第一微通道单巴12安装在正极块5上。

本实施例中，可以采用镊子夹取第一微通道单巴12放入相应的卡槽16中。

步骤S104，开启开关82，推杆83以第一方向伸出，将第一导电压块71的第一端抬起，同时第一导电压块71的第二端下压，与第一微通道单巴12的密封圈密封，将正极块5和负极块6连通。

本实施例中，第一导电压块71的下压力度可以根据实际需求来调节。第一导电压块71的第二端在下压过程中，先与密封圈抵靠，随着密封圈的压缩，之后第一导电压块71与第一微通道单巴12上的负极片24抵靠。

步骤S106，对液冷座4通入冷却液，对正极块5接入电源的正极，对负极块6接入电源的负极，开启电源测试第一微通道单巴12。

本实施例中，设置外部设备的冷却液温度、流量，并开启设备开关，对液冷座4提供冷却循环液。连接电源的正负极对应于测试装置的正极块、负极块，然后设置电源参数，开启电源并测试。

步骤S108，测试完成后，关闭冷却液和电源的供给，关闭开关82，推杆83以第一方向的反方向缩回，第一导电压块71的第二端远离第一微通道单巴12。

本实施例中，测试完成后，将电源关闭，冷却液循环关闭，然后通入压缩空气将冷却液道的冷却液吹出，然后关闭开关82，最后取出第一微通道单巴。

根据本实用新型实施例提供的半导体激光器阵列单巴测试方法，利用导电压块完成导电和密封，密封圈的压缩量可以针对每一种微通道单巴产品进行适应性调整，避免现有技术中手工调节紧固件带来紧固力度不易控制而引发的微通道单巴形变问题和密封不良的问题。本实用新型方法操作简便，相对于现有的手动拧紧固件的密封方式，能够提高效率。

在上述实施例的基础上，半导体激光器阵列单巴测试方法还包括：

步骤S110，利用移动单元以第二方向移动液冷座4，使第二导电压块72与连接杆84对齐。

本实施例中，升降台只有一个，需要测量另一个微通道单巴时，需要移动液冷座4。液冷座4的移动距离可以精确控制。

步骤S112，利用第二导电压块72将第二微通道单巴13的正极和负极导通，并且与第二微通道单巴13的密封圈密封。

本实施例中，确认第二微通道单巴13能通电和密封后，参照步骤S106至S108完成对第二微通道单巴13的测试。

本实施例测试装置能匹配两种微通道单巴的型号，适用性更广。

需要说明的是，在本实用新型的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接或彼此可通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本实用新型的描述中，术语“左”、“右”、“前”、“后”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本实用新型的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本实用新型的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种半导体激光器阵列单巴测试装置，包括底板(1)、液冷座(4)、正极块(5)和负极块(6)，所述液冷座(4)用于对微通道单巴通入冷却液，所述正极块(5)连接电源正极，将所述微通道单巴的正极导电，所述负极块(6)连接电源负极，将所述微通道单巴的负极导电，其特征在于，还包括：

导电压块(7)，用于将所述微通道单巴的正极和负极导通，并且与所述微通道单巴的密封圈(18)密封；

驱动单元，与所述导电压块(7)连接，用于控制所述导电压块(7)的移动速度和力度。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器阵列单巴测试装置，其特征在于，所述负极块(6)上设置有连接耳(10)，连接耳(10)与所述导电压块(7)铰接。

3.根据权利要求1所述的半导体激光器阵列单巴测试装置，其特征在于，所述液冷座(4)的内部具有第一液冷管道，所述液冷座(4)的第一面上设置有进液口(14)和出液口(15)，所述进液口(14)和所述出液口(15)与所述第一液冷管道相连通。

4.根据权利要求3所述的半导体激光器阵列单巴测试装置，其特征在于，所述正极块(5)设置在所述液冷座(4)的第二面上，所述正极块(5)具有贯穿的第二液冷管道，所述第二液冷管道与所述第一液冷管道相连通，所述微通道单巴具有进液孔(19)和出液孔(20)；在所述液冷座(4)的第二面上，所述进液孔(19)和所述出液孔(20)与所述第二液冷管道相连通，所述进液孔(19)和所述出液孔(20)的外圈安装有所述密封圈(18)。

5.根据权利要求4所述的半导体激光器阵列单巴测试装置，其特征在于，所述正极块(5)的第二面上开设有卡槽(16)，所述微通道单巴设置在所述卡槽(16)内。

6.根据权利要求4所述的半导体激光器阵列单巴测试装置，其特征在于，所述负极块(6)设置在所述液冷座(4)的第二面上，所述负极块(6)与所述正极块(5)相离。

7.根据权利要求2所述的半导体激光器阵列单巴测试装置，其特征在于，所述连接耳(10)到所述导电压块(7)的第一端的重量大于所述连接耳(10)到所述导电压块(7)的第二端的重量。

8.根据权利要求2所述的半导体激光器阵列单巴测试装置，其特征在于，所述导电压块(7)包括第一导电压块(71)和第二导电压块(72)，所述微通道单巴包括第一微通道单巴(12)和第二微通道单巴(13)，所述第一导电压块(71)与所述第一微通道单巴(12)相对设置，所述第二导电压块(72)与所述第二微通道单巴(13)相对设置。

9.根据权利要求7所述的半导体激光器阵列单巴测试装置，其特征在于，所述驱动单元为升降台(8)，所述升降台(8)包括台座(81)、开关(82)、推杆(83)和连接杆(84)，所述台座(81)安装在所述底板(1)上，所述推杆(83)的第一端位于所述台座(81)内，所述推杆(83)的第二端与所述连接杆(84)铰接，所述连接杆(84)用于对所述导电压块(7)抵靠并施加外力；所述开关(82)在接通的状态下，所述推杆(83)以第一方向伸出，所述开关(82)在断开的状态下，所述推杆(83)以第一方向的反方向缩回。

10.根据权利要求1至9任意一项所述的半导体激光器阵列单巴测试装置，其特征在于，还包括移动单元，所述移动单元包括滑轨(2)和滑块(3)，所述滑轨(2)沿第二方向设置在所述底板(1)上，所述滑块(3)可滑动地设置在所述滑轨(2)上，所述液冷座(4)与所述滑块(3)固定连接。

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