CN211014488U - 一种微通道半导体激光器测试及老化夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，包括底座、支架、压紧装置和铜带，支架设置在底座上，支架的顶板上设置有压紧装置；底座中设置有凹槽，凹槽的底部设置有第一通孔和第二通孔；凹槽的上方自下到上依次设置有第一压块和第二压块，铜带设置在第一压块和第二压块之间，压紧装置位于第二压块的上方。本实用新型在测试过程中利用压紧装置将微通道半导体激光器压紧于底座上，避免了在测试过程中使用螺母固定微通道半导体激光器压紧的方法，提高了测试效率，并且也保证了测试的一致性。微通道半导体激光器是大电流测试，铜带可以解决了因接触不良引起发热，避免了电缆直接测试的扭曲力很大导致的测试效果不佳的问题。

Description

一种微通道半导体激光器测试及老化夹具

技术领域

本实用新型涉及半导体激光器制造技术领域，具体涉及一种微通道半导体激光器测试及老化夹具。

背景技术

半导体激光器由于体积小、重量轻、转换效率高等优异的特点，在显示、工业加工、医疗、泵浦等领域有着广泛的应用。

其中，微通道半导体激光器由于内置冷却液体通道，具有更高的散热效率，利用微通道封装的半导体激光器可工作在CW(连续波)以及高占空比的QCW(象限连续波)模式。对于封装完成的微通道半导体激光器需要进行可靠性的验证，一般是通过初测试及老化来进行，即在一定的电流下观测功率的变化，以此来排除存有缺陷的器件。

由于微通道冷却需要内置冷却液体通道，目前该测试及老化夹具主要利用螺栓将压块、微通道半导体激光器、底座固定在一起,存在测试一致性差；这样大大的增加了工作量和工作时间，满足不了高效率的要求，效率低，不适于批量生产，经济效益也差。此外，在测试过程中，采用电缆连接微通道半导体激光器直接测试，电缆的扭曲力很大会导致的测试效果不佳的问题。

发明内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供一种微通道半导体激光器测试及老化夹具。

本实用新型提供了一种实现快速精确装配、提高测试及老化效率的微通道半导体激光器测试及老化夹具。

本实用新型的技术方案为：

一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，包括底座、支架、压紧装置和铜带，所述支架设置在所述底座上，所述支架的顶板上设置有所述压紧装置；

所述底座中设置有凹槽，所述凹槽的底面开设有第一通孔和第二通孔；所述凹槽的上方自下到上依次设置有第一压块和第二压块，所述铜带设置在所述第一压块和第二压块之间，所述压紧装置位于所述第二压块的上方。

底座中开设的凹槽用来固定待测试的微通道半导体激光器，实现微通道半导体激光器在左右及前后的定位；凹槽底部开设的第一通孔和第二通孔用来为微通道半导体激光器提供冷却液体；第一压块和第二压块用于压紧凹槽中的微通道半导体激光器，同时起到固定铜带的作用；铜带主要起到电源线与夹具的过渡连接作用，利用铜带连接可缓解电源线的后拉力，消除对测试结果的影响；支架用来支撑压紧装置，压紧装置用来压紧第一压块和第二压块，将微通道半导体激光器、底座固定在一起，防止冷却液体流漏。

根据本实用新型优选的，所述夹具还包括绝缘块和第三压块，所述绝缘块、第三压块均位于底座的另一边，所述绝缘块和第三压块自下到上依次设置在所述底座上，且所述绝缘块和第三压块与所述第一压块和第二压块相对应设置；所述铜带的一端通过螺栓固定在所述第一压块上，所述铜带的另一端通过螺栓固定在绝缘块上。此设计的好处在于，绝缘块用于隔绝电源正负极，绝缘块与第三压块配合用来夹持固定铜带的另一端。

根据本实用新型优选的，所述压紧装置包括下压手臂、活动杆、套筒、调节杆、第一螺母和第二螺母，所述套筒贯穿固定在所述顶板上，所述套筒上设置有第一螺母，所述第一螺母将所述压紧装置固定在所述顶板上，所述第二螺母设置在所述套筒的上部，且所述第二螺母与所述套筒固定连接；

所述活动杆套装在所述套筒中，所述下压手臂通过第一连杆与所述活动杆相连接，所述下压手臂通过第二连杆与所述第二螺母相连接；

所述活动杆的下部设置有所述调节杆，所述调节杆与所述活动杆之间螺纹连接，所述调节杆上自上到下依次设置有第三螺母和第四螺母。此设计的好处在于，所述压紧装置通过第一螺母固定在顶板上；通过调节旋转下压手臂带动活动杆在套筒中上下运动，从而实现压紧装置施加和释放压力，从而实现第一压块和第二压块对微通道半导体激光器的压紧与释放；通过调节第三螺母控制调节杆的长短，可以调节第一压块对微通道半导体激光器施加压力的大小的微调，同时也保证了下压力度的一致性，消除了测试方面的影响。

根据本实用新型优选的，所述调节杆上还套装有铁片，且所述铁片设置在所述第四螺母的上方。此设计的好处在于，铁片主要对压紧装置产生的下压力的起到缓冲作用。

根据本实用新型优选的，所述调节杆上设置有刻度线。有利于保证了下压力度的一致性。

根据本实用新型优选的，所述第一通孔和所述第二通孔中均设置有O形圈。此设计的好处在于，O形圈能够防止冷却液体的流出。

根据本实用新型优选的，所述第一压块和第二压块的宽度均大于所述凹槽的宽度。此设计的好处在于，避免测试过程中对激光器的受力不均匀，造成激光器的损伤。

根据本实用新型优选的，第一通孔的内径、第二通孔的内径与微通道半导体激光器的冷却液体通道的内径相匹配。此设计的好处在于，防止测试过程中液体外渗，影响测试的效率。

根据本实用新型优选的，所述凹槽的宽度与微通道半导体激光器的宽度相匹配。此设计的好处在于，能够防止测试过程中微通道半导体激光器发生偏移，影响测试的效果。

上述一种微通道半导体激光器测试及老化夹具的工作方法，包括：

(1)先将O形圈放置于凹槽的第一通孔和第二通孔中，再将微通道半导体激光器放置到凹槽中，第一压块和第二压块依次放置在凹槽的上方；压紧装置通过第一螺母固定在顶板上，通过调节旋转下压手臂带动活动杆在套筒中向下运动，进而控制调节杆向下运动来施加压力；第三螺母对调节杆的位置进行固定，调节制调节杆的长短；测试电源的负极与所述底座相连接，待测试的微通道半导体激光器的底面与凹槽相连接，实现微通道半导体激光器与负极相连接；测试电源的正极与第三压块连接，铜带的两端均通过螺栓固定绝缘块和第一压块上，铜带实现了第一压块、第二压块和第三压块的连接，第一压块压在待测试的微通道半导体激光器的上面，实现待测试的微通道半导体激光器与正极相连接；并通过绝缘块绝缘了电源的正极和负极。

(2)将微通道半导体激光器在夹具中连接固定好之后，通入冷却液体，开启电源，进行测试。

(3)当测试结束后，调节下压手臂带动活动杆进而带动调节杆向上运动，释放对第一压块的压力。

本实用新型的有益效果为：

1.本实用新型提供的测试及老化夹具利用压紧装置将微通道半导体激光器压紧于底座上，避免了在测试过程中使用螺母固定微通道半导体激光器压紧的方法，提高了测试效率，并且也保证了测试的一致性。压紧装置利用手压式行程夹具，采用死点夹紧原理，压紧力稳定，装卸方便，提高了工作效率，且下压力度可调节。

2.微通道半导体激光器是大电流测试，本实用新型采用铜带实现电源线与夹具的过渡连接作用，避免了电缆直接测试的扭曲力很大导致的测试效果不佳的问题。

3.将微通道半导体激光器放置到凹槽中，由于凹槽的大小与微通道半导体激光器相匹配，从而实现其在左右及前后的定位。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图；

图2为本实用新型的侧视结构示意图；

图3为本实用新型的底座的仰视结构示意图；

图4为本实用新型的压紧装置的结构示意图；

1、凹槽，2、第一压块，3、第二压块，4、铜带，5、铁片，6、支架，71、下压手臂，72、活动杆，73、第二螺母，74、第一螺母，75、套筒，76、第三螺母，77、第四螺母，78、第一连杆，79、第二连杆，710、调节杆，8、顶板，9、底座，10、绝缘块，11、第三压块，12、第一通孔，13、第二通孔。

具体实施方式

下面结合实施例和说明书附图对本实用新型做进一步说明，但不限于此。

实施例1

一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，包括底座9、支架6、压紧装置和铜带4，支架6设置在底座9上，支架6的顶板8上设置有压紧装置；底座9中开设有凹槽1，凹槽1的底部设置有第一通孔12和第二通孔13；凹槽1的上方自下到上依次设置有第一压块2和第二压块3，铜带4设置在第一压块2和第二压块3之间，压紧装置位于第二压块3的上方。

底座9中开设的凹槽1用来固定待测试的微通道半导体激光器，实现微通道半导体激光器在左右及前后的定位；凹槽1底部设置的第一通孔12和第二通孔13用来为微通道半导体激光器提供冷却液体；第一压块2和第二压块3用于压紧凹槽1中的微通道半导体激光器，同时起到固定铜带4的作用；铜带4主要起到电源线与夹具的过渡连接作用，利用铜带4连接可缓解电源线的后拉力，消除对测试结果的影响；支架6用来支撑压紧装置，压紧装置用来压紧第一压块2和第二压块3，将微通道半导体激光器、底座9固定在一起，防止冷却液体流漏。

夹具还包括绝缘块10和第三压块11，绝缘块10、第三压块11均位于底座9的另一边，绝缘块10和第三压块11自下到上依次设置在底座9上，且绝缘块10和第三压块11与第一压块2和第二压块3相对应设置；铜带4的一端通过螺栓固定在第一压块2上，铜带4的另一端通过螺栓固定在绝缘块10上。此设计的好处在于，一方面，绝缘块10用于隔绝电源正负极，另一方面，利用第三压块11和绝缘块10夹持固定铜带4的另一端。

压紧装置包括下压手臂71、活动杆72、套筒75、调节杆710、第一螺母74和第二螺母73，套筒75贯穿固定在顶板8上，套筒75上设置有第一螺母74，第一螺母74将压紧装置固定在顶板8上，第二螺母73设置在套筒75的上部，且第二螺母73与套筒75固定连接；活动杆72套装在套筒75中，下压手臂71通过第一连杆78与活动杆72相连接，下压手臂71通过第二连杆79与第二螺母73相连接；

活动杆72的下部设置有调节杆710，调节杆710与活动杆72螺纹连接，调节杆710自上到下依次设置有第三螺母76和第四螺母77。此设计的好处在于，压紧装置通过第一螺母74固定在顶板8上；通过调节旋转下压手臂71带动活动杆72在套筒75中上下运动，从而实现压紧装置施加和释放压力，从而实现第一压块2和第二压块3对微通道半导体激光器的压紧与释放；第三螺母76对调节杆710的位置进行固定，调节制调节杆710的长短，可以微调第一压块2对微通道半导体激光器施加力的大小，同时也保证了下压力度的一致性，消除了测试方面的影响。

调节杆710上还套装有铁片5，且铁片5设置在第四螺母77的上方。铁片5主要对压紧装置产生的下压力的起到缓冲作用。

调节杆710上设置有刻度线。有利于保证了下压力度的一致性。

第一通孔12和第二通孔13中均设置有O形圈。此设计的好处在于，O形圈能够防止冷却液体的流出。

第一压块2和第二压块3的宽度大于凹槽1的宽度。此设计的好处在于，避免测试过程中对激光器的受力不均匀，造成激光器的损伤。

第一通孔12的内径、第二通孔13的内径与微通道半导体激光器的冷却液体通道的内径相匹配。此设计的好处在于，防止测试过程中液体外渗，影响测试的效率。

凹槽1的宽度与微通道半导体激光器的宽度相匹配。此设计的好处在于，能够防止测试过程中微通道半导体激光器发生偏移，影响测试的效果。

本实用新型的使用方法：测试前，将O形圈放置于凹槽1的第一通孔12和第二通孔13中，随后将微通道半导体激光器放置到凹槽1中，将第一压块2和第二压块3放置在凹槽1的上方；压紧装置通过第一螺母74固定在顶板8上，通过调节旋转下压手臂71带动活动杆72在套筒75中向下运动，进而控制调节杆710向下运动来施加压力，实现第一压块2对微通道半导体激光器的压紧；调节杆710和活动杆72螺纹连接，第三螺母76对调节杆710的位置进行固定，调节制调节杆710的长短，可以微调第一压块2对微通道半导体激光器施加力的大小，同时也保证了下压力度的一致性，消除了测试方面的影响。

测试电源的负极与本实用新型中的底座9相连接，待测试的微通道半导体激光器的底面与凹槽1相连接，实现微通道半导体激光器与负极相连接。测试电源的正极与第三压块11连接，铜带4的两端均通过螺栓固定绝缘块10和第一压块2上，铜带4连接了第三压块11和第一压块2、第二压块3，铜带4主要起到电源线与夹具的过渡连接作用，利用铜带4连接可缓解电源线的后拉力，并通过绝缘块10绝缘电源的正极和负极，第一压块2压在待测试的微通道半导体激光器的上面，实现待测试的微通道半导体激光器与正极相连接。

将微通道半导体激光器在夹具中连接固定好之后，通入冷却液体，开启电源，进行测试。

当测试结束后，调节下压手臂71带动活动杆72进而带动调节杆710向上运动，释放对第一压块2的压力。

Claims (9)

1.一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，其特征在于，包括底座、支架、压紧装置和铜带，所述支架设置在所述底座上，所述支架的顶板上设置有所述压紧装置；

所述底座中设置有凹槽，所述凹槽的底面开设有第一通孔和第二通孔；所述凹槽的上方自下到上依次设置有第一压块和第二压块，所述铜带设置在所述第一压块和第二压块之间，所述压紧装置位于所述第二压块的上方。

2.根据权利要求1所述的一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，其特征在于，所述夹具还包括绝缘块和第三压块，所述绝缘块、第三压块均位于底座的另一边，所述绝缘块和第三压块自下到上依次设置在所述底座上，且所述绝缘块和第三压块与所述第一压块和第二压块相对应设置；所述铜带的一端通过螺栓固定在所述第一压块上，所述铜带的另一端通过螺栓固定在绝缘块上。

3.根据权利要求1所述的一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，其特征在于，所述压紧装置包括下压手臂、活动杆、套筒、调节杆、第一螺母和第二螺母，所述套筒贯穿固定在所述顶板上，所述套筒上设置有第一螺母，所述第一螺母将所述压紧装置固定在所述顶板上，所述第二螺母设置在所述套筒的上部，且所述第二螺母与所述套筒固定连接；

所述活动杆套装在所述套筒中，所述下压手臂通过第一连杆与所述活动杆相连接，所述下压手臂通过第二连杆与所述第二螺母相连接；

所述活动杆的下部设置有所述调节杆，所述调节杆与所述活动杆之间螺纹连接，所述调节杆上自上到下依次设置有第三螺母和第四螺母。

4.根据权利要求3所述的一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，其特征在于，所述调节杆上还套装有铁片，且所述铁片设置在所述第四螺母的上方。

5.根据权利要求1所述的一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，其特征在于，所述第一通孔和所述第二通孔中均设置有O形圈。

6.根据权利要求3所述的一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，其特征在于，所述调节杆上设置有刻度线。

7.根据权利要求1所述的一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，其特征在于，所述第一压块和第二压块的宽度均大于所述凹槽的宽度。

8.根据权利要求1所述的一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，其特征在于，第一通孔的内径、第二通孔的内径与微通道半导体激光器的冷却液体通道的内径相匹配。

9.根据权利要求1-8任一项所述的一种微通道半导体激光器测试及老化夹具，其特征在于，所述凹槽的宽度与微通道半导体激光器的宽度相匹配。

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