CN220128619U - 一种用于微波器件测试的夹持结构 - Google Patents
一种用于微波器件测试的夹持结构 Download PDFInfo
- Publication number
- CN220128619U CN220128619U CN202321639622.XU CN202321639622U CN220128619U CN 220128619 U CN220128619 U CN 220128619U CN 202321639622 U CN202321639622 U CN 202321639622U CN 220128619 U CN220128619 U CN 220128619U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- microwave device
- clamping plate
- plate
- clamping structure
- microwave
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 17
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 claims description 7
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 claims description 7
- -1 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 claims description 6
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 claims description 6
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 claims description 6
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 3
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 3
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 claims 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 19
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 16
- 230000006378 damage Effects 0.000 abstract description 11
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 abstract description 7
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 4
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 4
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 4
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 2
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003685 thermal hair damage Effects 0.000 description 1
Abstract
本实用新型公开了一种用于微波器件测试的夹持结构,包括上夹板与下夹板,所述下夹板的表面开设有微波器件放置槽,所述下夹板的底面开设有微波器件保护槽,下夹板的底面微波器件保护槽的两侧分别开设有安装槽,所述安装槽内安装有竖直设置的弹簧杆,所述弹簧杆的下端伸出安装槽底面且连接有水平压板。本实用新型的夹持结构,能够保证微波器件在测试过程中与微带线始终压紧,保证微波器件测试的稳定性和准确性,同时能够避免压紧过程中的硬接触,从而避免微波器件造成挤压受损。
Description
技术领域
本实用新型涉及微波技术领域,具体而言,涉及一种用于微波器件测试的夹持结构。
背景技术
目前微波器件的制作过程中,为了验证微波器件的直流及微波特性,需要对其进行测试。测试过程需要使用测试夹具,器件输入、输出端子与测试夹具微带线连接,实现直流及微波测试。器件测试的几项很重要的测试指标为稳定性、准确性、无损性,无损性指测试过程不能造成器件损伤。如果输入、输出端子与微带线连接不紧密,容易造成器件工作不稳定,测试参数不准确,甚至会造成器件自激而烧毁。
现有技术中常常采用两种方法实现微波器件输入、输出端子与微带线的连接。一种方法为使用焊锡焊接,这种方法测试完成后,需要使用烙铁熔融焊锡才能取下器件,操作十分不方便,如果器件需要多次测试,频繁的使用烙铁会造成测试夹具微带线可靠性下降,且对器件端子造成机械及热损伤。另一种方法为端子向微带线方向弯曲实现硬接触,此种方法容易造成器件端子机械损伤,而且随着弯曲应力的不断释放,导致端子与微带线之间的接触会越来越不紧密。微波器件是实现对微波信号进行放大的器件,在进行器件直流测试时,需要使用测试夹具对器件施加一定的直流工作电压,如果器件端子与微带线连接不紧密,会造成器件噪声系数大于真实值,增益、功率、效率测试值小于真实值,测试参数不准确,甚至会造成器件自激而烧毁。
有鉴于此,特提出本申请。
实用新型内容
现有技术存在的问题在于现有微波器件测试时与微带的连接方式为硬接触,容易造成机械及热损伤,导致测试参数不准,本实用新型目的在于提供一种用于微波器件测试的夹持结构,能够保证微波器件在测试过程中与微带线始终压紧,保证微波器件测试的稳定性和准确性,同时能够避免压紧过程中的硬接触,从而避免微波器件造成挤压受损。
本实用新型通过下述技术方案实现:
一种用于微波器件测试的夹持结构,包括上夹板与下夹板,所述下夹板的表面开设有微波器件放置槽,所述下夹板的底面开设有微波器件保护槽,下夹板的底面微波器件保护槽的两侧分别开设有安装槽,所述安装槽内安装有竖直设置的弹簧杆,所述弹簧杆的下端伸出安装槽底面且连接有水平压板。
本实用新型的夹持结构,能够保证微波器件在测试过程中与微带线始终压紧,保证微波器件测试的稳定性和准确性,同时能够避免压紧过程中的硬接触,从而避免微波器件造成挤压受损。
本实用新型的夹持结构在使用时,首先将微波器件放置在下夹板的放置槽上,然后使微波器件端脚与微带线连接,将上夹板罩在微波器件上方,使微波器件对齐保护槽,然后通过下压上夹板使得水平压板压在微波器件的端脚上,通过水平压板使微波器件的端脚与微带线紧密连接,且在进行压紧时弹簧杆上的弹簧处于一定的压缩状态,提供向下推力,保证微带线与微波器件的压紧效果,同时弹簧杆起到缓冲效果,避免微带线与微波器件硬接触,从而避免微波器件造成挤压受损。
进一步的,所述上夹板与下夹板的两端对应位置均开设有螺孔,螺栓的端部从下夹板的通孔底部伸入并从上夹板通孔的顶部伸出与螺母相连。通过拧动螺母使得上夹板向下运动带动水平压板下压,水平压板接触到微波器件的端脚时,继续拧动螺母使上夹板向下运动,此时弹簧杆的弹簧受压给水平压板提供向下的压力,当弹簧压缩到一定程度后停止拧动螺母,完成微波器件的夹持。
进一步的,所述上夹板与下夹板均采用绝缘材料制得,所述上夹板与下夹板均采用聚四氟乙烯制得,不会给微波测试带来影响。
进一步的,所述水平压板采用也采用聚四氟乙烯制得,避免压块对微波器件端子造成机械损伤。
进一步的,所述保护槽内设置有固定块,固定块的端面上覆盖有软垫,在保护槽内设置固定块和软垫,在上夹板覆盖在下夹板上方时,固定块能够对微波器件起到固定作用,避免水平压板在压紧微波器件的端脚和微带线的过程中微波器件发生移动,软垫这是对微波器件起着保护作用。
进一步的,所述软垫采用硅胶软垫。
进一步的,所述硅胶软垫内开设有散热通道,所述散热通道的端部依次贯穿固定块和上夹板顶面与外部连通,所述散热通道呈盘管结构,还包括冷却循环水箱,所述冷却水箱散热通道的外部端口相连。通过硅胶软垫的设置,不仅对微波器件起到保护固定作用,同时能够方便对微波器件进行降温散热,避免测试过程中对微波器件造成热损坏。
本实用新型与现有技术相比,具有如下的优点和有益效果,
本实用新型实施例提供的一种用于微波器件测试的夹持结构,能够保证微波器件在测试过程中与微带线始终压紧,保证微波器件测试的稳定性和准确性,同时能够避免压紧过程中的硬接触,从而避免微波器件造成挤压受损。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型示例性实施方式的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本实用新型实施例提供的夹持结构示意图;
图2为本实用新型实施例提供的保护槽放大结构示意图;
图3为本实用新型实施例提供的散热通道结构示意图。
附图标记及对应零部件名称:
1-上夹板,2-下夹板,3-放置槽,4-保护槽,5-安装槽,6-弹簧杆,7-水平压板,8-螺栓,9-螺母,10-固定块,11-软垫,12-散热通道。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合实施例和附图,对本实用新型作进一步的详细说明,本实用新型的示意性实施方式及其说明仅用于解释本实用新型,并不作为对本实用新型的限定。
在以下描述中,为了提供对本实用新型的透彻理解阐述了大量特定细节。然而,对于本领域普通技术人员显而易见的是:不必采用这些特定细节来实行本实用新型。在其他实施例中,为了避免混淆本本实用新型,未具体描述公知的结构。
在整个说明书中,对“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”或“示例”的提及意味着:结合该实施例或示例描述的特定特征、结构或特性被包含在本本实用新型至少一个实施例中。因此,在整个说明书的各个地方出现的短语“一个实施例”、“实施例”、“一个示例”或“示例”不一定都指同一实施例或示例。此外,可以以任何适当的组合和、或子组合将特定的特征、结构或特性组合在一个或多个实施例或示例中。此外,本领域普通技术人员应当理解,在此提供的示图都是为了说明的目的,并且示图不一定是按比例绘制的。这里使用的术语“和/或”包括一个或多个相关列出的项目的任何和所有组合。
在本实用新型的描述中,术语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”、“下”、“竖直”、“水平”、“高”、“低”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型保护范围的限制。
实施例1
如图1-图3所示,本实用新型实施例提供一种用于微波器件测试的夹持结构,包括上夹板1与下夹板2,所述下夹板2的表面开设有微波器件放置槽3,所述下夹板2的底面开设有微波器件保护槽4,下夹板2的底面微波器件保护槽4的两侧分别开设有安装槽5,所述安装槽5内安装有竖直设置的弹簧杆6,所述弹簧杆6的下端伸出安装槽5底面且连接有水平压板7。
本实用新型的夹持结构,能够保证微波器件在测试过程中与微带线始终压紧,保证微波器件测试的稳定性和准确性,同时能够避免压紧过程中的硬接触,从而避免微波器件造成挤压受损。
本实用新型的夹持结构在使用时,首先将微波器件放置在下夹板的安装槽上,然后使微波器件端脚与微带线连接,将上夹板罩在微波器件上方,使微波器件对齐保护槽,然后通过下压上夹板使得水平压板压在微波器件的端脚上,通过水平压板使微波器件的端脚与微带线紧密连接,且在进行压紧时弹簧杆上的弹簧处于一定的压缩状态,提供向下推力,保证微带线与微波器件的压紧效果,同时弹簧杆起到缓冲效果,避免微带线与微波器件硬接触,从而避免微波器件造成挤压受损。
优选的,所述上夹板1与下夹板2的两端对应位置均开设有螺孔,螺栓8的端部从下夹板2的通孔底部伸入并从上夹板1通孔的顶部伸出与螺母9相连。通过拧动螺母使得上夹板向下运动带动水平压板下压,水平压板接触到微波器件的端脚时,继续拧动螺母使上夹板向下运动,此时弹簧杆的弹簧受压给水平压板提供向下的压力,当弹簧压缩到一定程度后停止拧动螺母,完成微波器件的夹持。
优选的,所述上夹板1与下夹板2均采用绝缘材料制得,所述上夹板1与下夹板2均采用聚四氟乙烯制得,不会给微波测试带来影响。
优选的,所述水平压板7采用也采用聚四氟乙烯制得,避免压块对微波器件端子造成机械损伤。
优选的,所述保护槽4内设置有固定块10,固定块10的端面上覆盖有软垫11,在保护槽内设置固定块和软垫,在上夹板覆盖在下夹板上方时,固定块能够对微波器件起到固定作用,避免水平压板在压紧微波器件的端脚和微带线的过程中微波器件发生移动,软垫这是对微波器件起着保护作用。
优选的,所述软垫11采用硅胶软垫。
优选的,所述硅胶软垫内开设有散热通道12,所述散热通道12的端部依次贯穿固定块10和上夹板1顶面与外部连通,所述散热通道12呈盘管结构,还包括冷却循环水箱,所述冷却水箱散热通道12的外部端口相连。通过硅胶软垫的设置,不仅对微波器件起到保护固定作用,同时能够方便对微波器件进行降温散热,避免测试过程中对微波器件造成热损坏。
以上所述的具体实施方式,对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本实用新型的具体实施方式而已,并不用于限定本实用新型的保护范围,凡在本实用新型的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种用于微波器件测试的夹持结构,其特征在于,包括上夹板(1)与下夹板(2),所述下夹板(2)的表面开设有微波器件放置槽(3),所述下夹板(2)的底面开设有微波器件保护槽(4),下夹板(2)的底面微波器件保护槽(4)的两侧分别开设有安装槽(5),所述安装槽(5)内安装有竖直设置的弹簧杆(6),所述弹簧杆(6)的下端伸出安装槽(5)底面且连接有水平压板(7)。
2.根据权利要求1所述的用于微波器件测试的夹持结构,其特征在于,所述上夹板(1)与下夹板(2)的两端对应位置均开设有螺孔,螺栓(8)的端部从下夹板(2)的通孔底部伸入并从上夹板(1)通孔的顶部伸出与螺母(9)相连。
3.根据权利要求1所述的用于微波器件测试的夹持结构,其特征在于,所述上夹板(1)与下夹板(2)均采用绝缘材料制得。
4.根据权利要求3所述的用于微波器件测试的夹持结构,其特征在于,所述上夹板(1)与下夹板(2)均采用聚四氟乙烯制得。
5.根据权利要求1所述的用于微波器件测试的夹持结构,其特征在于,所述保护槽(4)内设置有固定块(10),固定块(10)的端面上覆盖有软垫(11)。
6.根据权利要求5所述的用于微波器件测试的夹持结构,其特征在于,所述软垫(11)采用硅胶软垫。
7.根据权利要求6所述的用于微波器件测试的夹持结构,其特征在于,所述硅胶软垫内开设有散热通道(12),所述散热通道(12)的端部依次贯穿固定块(10)和上夹板(1)顶面与外部连通。
8.根据权利要求7所述的用于微波器件测试的夹持结构,其特征在于,所述散热通道(12)呈盘管结构。
9.根据权利要求1所述的用于微波器件测试的夹持结构,其特征在于,所述水平压板(7)采用也采用聚四氟乙烯制得。
10.根据权利要求7所述的用于微波器件测试的夹持结构,其特征在于,还包括冷却循环水箱,所述冷却循环水箱与散热通道(12)的外部端口相连。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321639622.XU CN220128619U (zh) | 2023-06-26 | 2023-06-26 | 一种用于微波器件测试的夹持结构 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321639622.XU CN220128619U (zh) | 2023-06-26 | 2023-06-26 | 一种用于微波器件测试的夹持结构 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN220128619U true CN220128619U (zh) | 2023-12-05 |
Family
ID=88958000
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202321639622.XU Active CN220128619U (zh) | 2023-06-26 | 2023-06-26 | 一种用于微波器件测试的夹持结构 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN220128619U (zh) |
-
2023
- 2023-06-26 CN CN202321639622.XU patent/CN220128619U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102842409B (zh) | 一种变压器专用线夹 | |
CN213546789U (zh) | 一种应用于不同尺寸大功率激光器老化的夹具装置 | |
CN220128619U (zh) | 一种用于微波器件测试的夹持结构 | |
CN216285580U (zh) | 一种集成电路通电测试设备 | |
CN114678333A (zh) | 一种改进型引线框架及其使用方法 | |
CN211014488U (zh) | 一种微通道半导体激光器测试及老化夹具 | |
CN216957971U (zh) | 一种用于光发射器件双层软板的单面压接夹具 | |
CN206684194U (zh) | 大功率晶体管测试夹具 | |
CN204377314U (zh) | 一种新型控制器的绝缘散热结构 | |
CN212096171U (zh) | 一种接插件新型压合装置 | |
CN107481840A (zh) | 一种变压器绕组的压紧装置 | |
CN210604468U (zh) | 一种c型导热测试台 | |
CN112881898A (zh) | 一种集成电路高温老化测试装置 | |
CN210444698U (zh) | 一种应用于fct的高效散热模组 | |
CN111628405B (zh) | 一种大功率传导冷却封装结构巴条激光器烧结夹具及其烧结方法 | |
CN112782217A (zh) | 一种倒装焊芯片热阻测试夹具 | |
CN205194926U (zh) | 一种半导体激光器老化筛选插座 | |
CN218995432U (zh) | 一种下压式大功率测试夹具 | |
CN218098965U (zh) | 一种半导体制冷片测试用治具 | |
CN113866457A (zh) | 一种宏通道半导体激光器老化夹具及其工作方法 | |
CN110544870A (zh) | 一种大功率微通道结构巴条激光器烧结夹具及其烧结方法 | |
CN219245603U (zh) | 大电流测试夹具 | |
CN202196764U (zh) | 半导体三极管内部绝缘型to-220框架烧结夹具 | |
CN218917515U (zh) | 一种表贴电感的电感量通用测试工装 | |
CN212277108U (zh) | 一种开关端子加工冲压装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |