CN218824570U - 芯片检测台结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了芯片检测台结构，涉及到芯片检测技术领域，包括检测板，检测板上表面的左侧固定连接有固定块，固定块右侧表面的上方固定连接有顶板，顶板下表面的右侧设置有检测探针，检测板上表面的右侧固定连接有第一固定盒，第一固定盒内壁的下方固定连接有第一电机，第一电机的输出端固定连接有第一转轴，第一转轴的上端贯穿第一固定盒内壁的上方并延伸至第一固定盒的上表面。本实用新型可以在检测探针对固定机构内的需要检测的芯片上方进行检测完毕后，通过翻转机构将固定机构内的芯片进行翻面，再进行检测，这样就不需要人工将芯片取下后翻转再放置对其进行检测了，省时省力，提高了设备的工作效率。

Description

芯片检测台结构

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，特别涉及芯片检测台结构。

背景技术

芯片在生产出来时，一般都会经过检测，而芯片检测一般是指将大量探针分子固定在支持物上，然后与标记的芯片样本进行接触，通过检测接触信号的强度以及分布对芯片的质量进行分析。

申请人经过检索发现中国专利公开了“一种芯片检测工装”，其公开(公告)号为“CN216646735U”，该专利主要通过两个所述连接板的下表面与检测台固定连接，两个所述连接板的表面均滑动插设有滑杆，所述滑杆远离检测台的一端固定连接有握把，所述滑杆远离握把的一端固定连接有夹板，所述滑杆的圆弧面滑动连接有第一弹簧，所述第一弹簧的两端分别与连接板和夹板固定连接，达到解决了传统的芯片检测工装对芯片的限位效果较差，在检测的过程中，很容易由于芯片的晃动，对芯片的检测造成影响问题的效果，但是这样设置在对芯片样品检测完一面之后，还要人工将其取下后，对其进行翻面，再放置在放置槽内对其进行检测，无异于多了一道工序，费时费力，降低了设备的工作效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供芯片检测台结构，以解决上述背景技术中提出的在对芯片样品检测完一面之后，还要人工将其取下后，对其进行翻面，再放置在放置槽内对其进行检测，无异于多了一道工序，费时费力，降低了设备的工作效率问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：芯片检测台结构，包括检测板，所述检测板上表面的左侧固定连接有固定块，所述固定块右侧表面的上方固定连接有顶板，所述顶板下表面的右侧设置有检测探针，所述检测板上表面的右侧固定连接有第一固定盒，所述第一固定盒内壁的下方固定连接有第一电机，所述第一电机的输出端固定连接有第一转轴，所述第一转轴的上端贯穿第一固定盒内壁的上方并延伸至第一固定盒的上表面，所述第一转轴的上端固定连接有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆的上端与顶板的下表面转动连接，所述第一螺纹杆的杆壁螺纹连接有移动板，所述移动板的内部开设有空腔，所述空腔内设置有翻转机构。

优选的，所述翻转机构包括第二固定盒，所述第二固定盒的上表面与移动板下表面的右侧固定连接，所述第二固定盒内壁的下方固定连接有第二电机，所述第二电机的输出端固定连接有圆轴，所述圆轴的上端贯穿移动板的下表面并延伸至空腔内，所述圆轴的上端与空腔内壁的上方转动连接，所述圆轴的轴壁固定连接有第一扇形齿轮，所述第一扇形齿轮的一侧表面啮合链接有第二扇形齿轮，所述第二扇形齿轮的右侧表面与空腔内壁的右侧转动连接，所述第二扇形齿轮右侧表面的中心处固定连接有第二转轴，所述移动板的右侧表面固定连接有转动块，所述第二转轴的右端贯穿空腔内壁的右侧并与转动块左侧表面的中心处固定连接，所述转动块右侧表面的上下方均固定连接有连接块，两个所述连接块的右侧表面共同固定连接有安装块，所述安装块的右侧表面固定连接有夹紧台，所述夹紧台的上表面开设有开口，所述开口的内部设置有固定机构。

优选的，所述固定机构包括两个第二螺纹杆，两个所述第二螺纹杆的杆壁分别与夹紧台内壁的前后两侧螺纹连接，两个所述第二螺纹杆的相对一侧均通过轴承转动连接有夹紧块。

优选的，所述固定块的右侧表面固定连接有导向块，所述移动板内壁的前后方分别与导向块的前后表面滑动连接。

优选的，两个所述夹紧块的相对一侧表面均开设有夹紧槽，两个所述夹紧槽内壁的相反一侧均固定连接有缓冲垫。

优选的，所述开口内壁前后两侧的左右方均开设有导向槽，多个所述导向槽的内壁均滑动连接有导向滑块，相对应一组导向滑块的一侧分别与其相对应的夹紧块一侧表面的左右方固定连接。

优选的，所述检测板上表面的四角处均设置有螺钉。

优选的，两个所述第二螺纹杆的相反一端均固定连接有转块。

优选的，所述夹紧台的材质为不锈钢。

优选的，所述顶板上表面的右侧开设有开孔，所述检测探针的上表面固定连接有固定板，所述固定板的下表面通过两个螺栓与顶板的上表面固定连接。

本实用新型的技术效果和优点：

1、通过设置检测板、固定块、顶板、第一固定盒、第一电机、第一螺纹杆、移动板、空腔、翻转机构、检测探针，可以在检测探针对固定机构内的需要检测的芯片上方进行检测完毕后，通过翻转机构将固定机构内的芯片进行翻面，再进行检测，这样就不需要人工将芯片取下后翻转再放置对其进行检测了，省时省力，提高了设备的工作效率。

2、通过设置第二螺纹杆和夹紧块，可以对待检测的芯片检测时，将其固定稳定，保证检测的准确性，设置夹紧槽和缓冲垫，可以在夹紧块对芯片夹紧时，对其进行缓冲保护，防止芯片发生损坏，设置转块，可以方便工作人员转动两个第二螺纹杆，将夹紧台设置为不锈钢，可以提高其耐磨性，进而提高设备的使用寿命，设置开孔和固定板，便于对检测探针进行拆卸更换，提高了设备的实用性。

3、通过设置导向块和移动板，可以对移动板的移动进行限位，防止其被第一螺纹杆带动进行旋转，影响设备正常运转，设置导向槽和导向滑块，可以对夹紧块的位置进行限位，不仅能有承重效果，而且可以保证设备的稳定性，设置螺钉，可以将设备通过螺钉与地面固定，保证设备整体的稳定性。

附图说明

图1为本实用新型的平面结构示意图。

图2为本实用新型的图1中的A结构放大示意图。

图3为本实用新型的检测板立体结构示意图。

图4为本实用新型的夹紧台立体结构示意图。

图5为本实用新型的图4中的B结构放大示意图。

图中：1、检测板；2、固定块；3、第一固定盒；4、第一电机；5、第一螺纹杆；6、移动板；7、导向块；8、顶板；9、检测探针；10、转动块；11、连接块；12、安装块；13、空腔；14、第二固定盒；15、第二电机；16、圆轴；17、第一扇形齿轮；18、第二扇形齿轮；19、夹紧台；20、开口；21、第二螺纹杆；22、夹紧块；23、夹紧槽；24、缓冲垫；25、导向槽；26、导向滑块；27、螺钉；28、转块；29、开孔；30、固定板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供了如图1-5所示的芯片检测台结构，包括检测板1，检测板1上表面的左侧固定连接有固定块2，固定块2右侧表面的上方固定连接有顶板8，顶板8下表面的右侧设置有检测探针9，该检测探针9为微电子测试探针，可对芯片IC进行检测，检测板1上表面的右侧固定连接有第一固定盒3，第一固定盒3内壁的下方固定连接有第一电机4，第一电机4的输出端固定连接有第一转轴，第一转轴的上端贯穿第一固定盒3内壁的上方并延伸至第一固定盒3的上表面，第一转轴的上端固定连接有第一螺纹杆5，第一螺纹杆5的上端与顶板8的下表面转动连接，第一螺纹杆5的杆壁螺纹连接有移动板6，移动板6的内部开设有空腔13，该空腔13是通过两块板材开槽合并而成，空腔13内设置有翻转机构，可以在检测探针9对固定机构内的需要检测的芯片上方进行检测完毕后，通过翻转机构将固定机构内的芯片进行翻面，再进行检测，这样就不需要人工将芯片取下后翻转再放置对其进行检测了，省时省力，提高了设备的工作效率。

如图1和2所示，检测板1上表面的四角处均设置有螺钉27，可以将设备通过螺钉27与地面固定，保证设备整体的稳定性，固定块2的右侧表面固定连接有导向块7，移动板6内壁的前后方分别与导向块7的前后表面滑动连接，可以对移动板6的移动进行限位，防止其被第一螺纹杆5带动进行旋转，影响设备正常运转，夹紧台19的材质为不锈钢，可以提高其耐磨性，进而提高设备的使用寿命。

如图3所示，顶板8上表面的右侧开设有开孔29，检测探针9的上表面固定连接有固定板30，固定板30的下表面通过两个螺栓与顶板8的上表面固定连接，便于对检测探针9进行拆卸更换，提高了设备的实用性。

如图4和5所示，固定机构包括两个第二螺纹杆21，两个第二螺纹杆21的杆壁分别与夹紧台19内壁的前后两侧螺纹连接，两个第二螺纹杆21的相对一侧均通过轴承转动连接有夹紧块22，可以对待检测的芯片检测时，将其固定稳定，保证检测的准确性，开口20内壁前后两侧的左右方均开设有导向槽25，多个导向槽25的内壁均滑动连接有导向滑块26，相对应一组导向滑块26的一侧分别与其相对应的夹紧块22一侧表面的左右方固定连接，可以对夹紧块22的位置进行限位，不仅能有承重效果，而且可以保证设备的稳定性，两个夹紧块22的相对一侧表面均开设有夹紧槽23，两个夹紧槽23内壁的相反一侧均固定连接有缓冲垫24，可以在夹紧块22对芯片夹紧时，对其进行缓冲保护，防止芯片发生损坏，两个第二螺纹杆21的相反一端均固定连接有转块28，可以方便工作人员转动两个第二螺纹杆21。

本实用新型工作原理：本装置所有电器设备均通过外接电源打开，使用时，先通过检测板1表面的多个螺钉27将设备固定在地面上，转动两个第二螺纹杆21，此时两个第二螺纹杆21在开口20内带动两个夹紧块22进行相对移动，相应的一组导向槽25内的导向滑块26，对其相对应的夹紧块22进行限位导向，将需要检测的芯片夹紧到两个夹紧槽23之间；

此时打开第一固定盒3内的第一电机4，第一电机4的输出端通过第一转轴带动第一螺纹杆5进行转动，第一螺纹杆5转动带动移动板6进行上下移动，固定块2上的导向块7对其进行限位导向，移动板6向上移动带动夹紧台19向上移动，使需要检测的芯片向上移动与上方的检测探针9接触进行检测，检测完毕后，使第一电机4的输出端反向转动，使夹紧台19向下移动到合适位置；

打开第二固定盒14内的第二电机15，第二电机15的输出端带动圆轴16转动，从而带动空腔13内的第一扇形齿轮17转动，然后带动第二扇形齿轮18转动，第二扇形齿轮18转动通过第二转轴带动转动块10转动，转动块10通过两个连接块11带动安装块12转动，对夹紧台19进行翻面，再通过控制第一电机4的输出端，使第一螺纹杆5转动带动夹紧台19向上移动，对芯片的另一面进行检测。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.芯片检测台结构，包括检测板(1)，其特征在于：所述检测板(1)上表面的左侧固定连接有固定块(2)，所述固定块(2)右侧表面的上方固定连接有顶板(8)，所述顶板(8)下表面的右侧设置有检测探针(9)，所述检测板(1)上表面的右侧固定连接有第一固定盒(3)，所述第一固定盒(3)内壁的下方固定连接有第一电机(4)，所述第一电机(4)的输出端固定连接有第一转轴，所述第一转轴的上端贯穿第一固定盒(3)内壁的上方并延伸至第一固定盒(3)的上表面，所述第一转轴的上端固定连接有第一螺纹杆(5)，所述第一螺纹杆(5)的上端与顶板(8)的下表面转动连接，所述第一螺纹杆(5)的杆壁螺纹连接有移动板(6)，所述移动板(6)的内部开设有空腔(13)，所述空腔(13)内设置有翻转机构。

2.根据权利要求1所述的芯片检测台结构，其特征在于：所述翻转机构包括第二固定盒(14)，所述第二固定盒(14)的上表面与移动板(6)下表面的右侧固定连接，所述第二固定盒(14)内壁的下方固定连接有第二电机(15)，所述第二电机(15)的输出端固定连接有圆轴(16)，所述圆轴(16)的上端贯穿移动板(6)的下表面并延伸至空腔(13)内，所述圆轴(16)的上端与空腔(13)内壁的上方转动连接，所述圆轴(16)的轴壁固定连接有第一扇形齿轮(17)，所述第一扇形齿轮(17)的一侧表面啮合链接有第二扇形齿轮(18)，所述第二扇形齿轮(18)的右侧表面与空腔(13)内壁的右侧转动连接，所述第二扇形齿轮(18)右侧表面的中心处固定连接有第二转轴，所述移动板(6)的右侧表面固定连接有转动块(10)，所述第二转轴的右端贯穿空腔(13)内壁的右侧并与转动块(10)左侧表面的中心处固定连接，所述转动块(10)右侧表面的上下方均固定连接有连接块(11)，两个所述连接块(11)的右侧表面共同固定连接有安装块(12)，所述安装块(12)的右侧表面固定连接有夹紧台(19)，所述夹紧台(19)的上表面开设有开口(20)，所述开口(20)的内部设置有固定机构。

3.根据权利要求2所述的芯片检测台结构，其特征在于：所述固定机构包括两个第二螺纹杆(21)，两个所述第二螺纹杆(21)的杆壁分别与夹紧台(19)内壁的前后两侧螺纹连接，两个所述第二螺纹杆(21)的相对一侧均通过轴承转动连接有夹紧块(22)。

4.根据权利要求1所述的芯片检测台结构，其特征在于：所述固定块(2)的右侧表面固定连接有导向块(7)，所述移动板(6)内壁的前后方分别与导向块(7)的前后表面滑动连接。

5.根据权利要求3所述的芯片检测台结构，其特征在于：两个所述夹紧块(22)的相对一侧表面均开设有夹紧槽(23)，两个所述夹紧槽(23)内壁的相反一侧均固定连接有缓冲垫(24)。

6.根据权利要求2所述的芯片检测台结构，其特征在于：所述开口(20)内壁前后两侧的左右方均开设有导向槽(25)，多个所述导向槽(25)的内壁均滑动连接有导向滑块(26)，相对应一组导向滑块(26)的一侧分别与其相对应的夹紧块(22)一侧表面的左右方固定连接。

7.根据权利要求1所述的芯片检测台结构，其特征在于：所述检测板(1)上表面的四角处均设置有螺钉(27)。

8.根据权利要求3所述的芯片检测台结构，其特征在于：两个所述第二螺纹杆(21)的相反一端均固定连接有转块(28)。

9.根据权利要求2所述的芯片检测台结构，其特征在于：所述夹紧台(19)的材质为不锈钢。

10.根据权利要求1所述的芯片检测台结构，其特征在于：所述顶板(8)上表面的右侧开设有开孔(29)，所述检测探针(9)的上表面固定连接有固定板(30)，所述固定板(30)的下表面通过两个螺栓与顶板(8)的上表面固定连接。

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