CN218340409U - 一种压测重力分选机 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种压测重力分选机，分选机包括设置斜面机架台，斜面机架台的斜面上设有进检测管道，进检测管道上方连接有入料管放置模块，进检测管道下方连接有压测模块，压测模块下方连接有分选模块，通过上述结构实现芯片的自带检测和分选，相对比人工检测，效率更高，利用斜面设计，使得芯片在重力的作用下向下移动，整体检测线由上至下设计，利用空间资源，占地面积小。

Description

一种压测重力分选机

技术领域

本实用新型涉及自动化设备技术领域，尤其涉及一种压测重力分选机。

背景技术

芯片在生产完成后，需要对芯片进行检测，从而保证出品的芯片的良品率，一般情况下，芯片的检测是通过芯片检测仪，由人工使用芯片检测仪的检测头，对芯片的触脚进行接触检测通断，并将检测完成的芯片根据检测结果进行分选，这样的方式耗费的人力成本较高，且检测的效率低，不利大规模的检测运用。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种自动检测并分选芯片的一种压测重力分选机。

为实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种压测重力分选机，分选机包括设置斜面机架台，斜面机架台的斜面上设有进检测管道，进检测管道上方连接有入料管放置模块，进检测管道下方连接有压测模块，压测模块下方连接有分选模块。所述压测模块包括压测通道、测试阻位气缸、压测气缸、压测触角和检测完成限位气缸，所述压测通道承接进检测管道，所述压测通道上方从上至下开设有测试进入阻位孔、压测孔和检测完成阻位孔，所述压测通道上或侧边设有测试阻位气缸、压测气缸和检测完成限位气缸，所述测试阻位气缸、压测气缸和检测完成限位气缸的输出轴分别通过阻位孔、压测孔和检测完成阻位孔朝向压测通道内，所述压测气缸的输出轴连接有压测触角。

借由上述结构，通过将芯片管插设在入料管放置模块上，由斜面机架台的斜面设计，在重力的作用下芯片管内的芯片滑落进入进检测管道，并沿着进检测管道到达压测模块，并进入压测通道，通过在压测通道前设有的红外检测仪检测到有芯片进入后，压测模块的测试阻位气缸的输出轴伸出，阻挡下一个芯片，进入的芯片在压测通道内滑动直到被检测完成限位气缸阻挡定位，继而压测气缸向下按压芯片。使得设有的压测触角与芯片的触脚相互接触，此处的压测触脚与芯片检测仪相接，检测完成后，压测气缸回收松开芯片，测完成限位气缸回收，芯片沿着压测通道进入分选模块进行分选，从而实现芯片的自带检测和分选，相对比人工检测，效率更高。

优选的，进检测管道上依次开设有第一阻位孔、第二阻位孔，并设有第一阻位气缸和第二阻位气缸，第一阻位气缸和第二阻位气缸的输出轴通过第一阻位孔、第二阻位孔朝向进检测管道内。

由此可见，通过设有第一阻位气缸来对芯片管内的芯片进入进检测管道进行阻位，在开始进行检测时，才打开此通道，放置还未安装完成芯片管，芯片就落入进检测管道中，影响检测的进行，同时设有的第二阻位气缸对中途的芯片进行阻位，防止一次进入多个芯片到达压测模块中，影响检测的正常进行。

优选的，分选模块包括分选导轨、承接车、NG通道和OK通道，分选导轨设置在压测通道下方，分选导轨上滑动连接有承接车，承接车下方开设有下料孔，承接车上设有下料气缸，下料气缸的输出轴连接有孔门并位于下料孔内，分选导轨下方设有NG通道和OK通道。

由此可见，通过承接车的方式，对压测通道的检测完成的芯片，进行承接，继而通过承接车相对分选导轨移动到NG通道和OK通道上方，通过下料气缸的输出轴伸出和回收，开启下料孔，使得芯片根据检测结果进入NG通道和OK通道，实现分选的目的，结构简单，且效率高。

优选的，所述自动下料模块包括下料承接台、下管气缸、下管推件和收集槽，所述下料承接台承接OK通道，所述下料承接台下方设有横行滑轨，并滑动连接有下管气缸，所述的下管气缸连接下管推件，所述下料承接台开设有下料孔道并与下管推件水平，所述下料承接台侧边还设有收集槽。

由此可见，通过在下料承接台放置芯片空管，承接ok通道的合格芯片，将其收集至芯片空管中，收集完成一管或预设值后，由下管气缸驱动下管推件将芯片管从下料承接台中推出至收集槽中，完成自动下料。

优选的，所述入料管放置模块包括设置平面、芯片管放置架、送管夹、入料管连接件、芯片管放置凹槽、旋转气缸、芯片管按压固定件、前推气缸和抖动件，所述设置平面上设有芯片管放置架，所述芯片管放置架下方开设有送管孔道，所述设置平面通过导轨滑块滑动连接有送管夹，所述送管夹与送管孔道水平对齐，所述芯片管放置架侧边还设有入料管连接件，所述入料管连接件上通过弹簧设有芯片管放置凹槽，所述入料管连接件侧边设有旋转气缸，所述旋转气缸的输出轴连接有芯片管按压固定件，所述设置平面在入料管连接件对侧边设有前推气缸，所述前推气缸与入料管连接件之间还设有放置在设置平面上的抖动件。

由此可见，通过设有芯片管放置架，操作人员将待检测芯片的承载，即芯片管放置在上方，通过送管夹将最下方的芯片管从送管孔道推出，送到入料管连接件和前推气缸之间，由前推气缸的输出轴向前，将芯片管推送到入料管连接件的芯片管放置凹槽上，旋转气缸驱动芯片管按压固定件向下按压固定芯片管，继而通过抖动件，使得芯片管抖动，实现抖动上料，整体配合从而实现自动上料，减少人力支出。

优选的，所述下料承接台下方均设有抖动件。

由此可见，通过设有抖动件辅助下料承接台的芯片管的芯片向下落，防止卡在中间，影响下料。

附图说明

图1是本实施例的整体结构示意图。

图2是本实施例的料管放置模块的结构示意图。

图3是本实施例的压测模块的结构示意图。

图4是本实施例的压测模块的左视图。

图5是图4的A-A剖视图。

图6是本实施例的自动下料模块的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。

如图1-图6所示，一种压测重力分选机，分选机包括设置斜面机架台100，斜面机架台的斜面上设有进检测管道1，进检测管道1上方连接有入料管放置模块2，进检测管道1下方连接有压测模块3，压测模块3下方连接有分选模块4。所述压测模块3包括压测通道301、测试阻位气缸302、压测气缸303、压测触角304和检测完成限位气缸305，所述压测通道301承接进检测管道1，所述压测通道301上方从上至下开设有测试进入阻位孔、压测孔和检测完成阻位孔，所述压测通道301上或侧边设有测试阻位气缸302、压测气缸303和检测完成限位气缸305，所述测试阻位气缸302、压测气缸303和检测完成限位气缸305的输出轴分别通过阻位孔、压测孔和检测完成阻位孔朝向压测通道内，所述压测气缸303的输出轴连接有压测触角304。

优选的，进检测管道1上依次开设有第一阻位孔、第二阻位孔，并设有第一阻位气缸101和第二阻位气缸102，第一阻位气缸101和第二阻位气缸102的输出轴通过第一阻位孔、第二阻位孔朝向进检测管道1内。

优选的，分选模块4包括分选导轨401、承接车402、NG通道403和OK通道404，分选导轨401设置在压测通道下方，分选导轨401上滑动连接有承接车402，承接车402下方开设有下料孔，承接车402上设有下料气缸，下料气缸的输出轴连接有孔门并位于下料孔内，分选导轨401下方设有NG通道403和OK通道404。

优选的，所述自动下料模块5包括下料承接台501、下管气缸502、下管推件503和收集槽504，所述下料承接台501承接OK通道404，所述下料承接台501下方设有横行滑轨，并滑动连接有下管气缸502，所述的下管气缸502连接下管推件503，所述下料承接台501开设有下料孔道并与下管推件503水平，所述下料承接台501侧边还设有收集槽504。

优选的，所述入料管放置模块2包括设置平面201、芯片管放置架202、送管夹203、入料管连接件204、芯片管放置凹槽205、旋转气缸206、芯片管按压固定件207、前推气缸208和抖动件209，所述设置平面201上设有芯片管放置架202，所述芯片管放置架202下方开设有送管孔道，所述设置平面201通过导轨滑块滑动连接有送管夹203，所述送管夹203与送管孔道水平对齐，所述芯片管放置架202侧边还设有入料管连接件204，所述入料管连接件204上通过弹簧设有芯片管放置凹槽205，所述入料管连接件204侧边设有旋转气缸206，所述旋转气缸206的输出轴连接有芯片管按压固定件207，所述设置平面201在入料管连接件204对侧边设有前推气缸208，所述前推气缸208与入料管连接件204之间还设有放置在设置平面201上的抖动件209。

优选的，所述下料承接台501下方均设有抖动件209。

本实施例中，设置斜面机架台100100上设有多组进检测管道11，夹持气缸的压测触角304连接芯片检测仪，每个气缸处均设有红外感应仪，用于感应芯片到达或者到位，工作人员通过将装有待检测芯片的芯片管放置在上料模块上，通过设有芯片管放置架202，操作人员将待检测芯片的承载，即芯片管放置在上方，通过送管夹203将最下方的芯片管从送管孔道推出，送到入料管连接件204和前推气缸208之间，由前推气缸208的输出轴向前，将芯片管推送到入料管连接件204的芯片管放置凹槽205上，旋转气缸206驱动芯片管按压固定件207向下按压固定芯片管，继而通过抖动件209，使得芯片管抖动，实现抖动上料，整体配合从而实现自动上料，减少人力支出，由斜面机架台的斜面设计，在重力的作用下芯片管内的芯片滑落进入进检测管道1，并沿着进检测管道1到达压测模块3，并进入压测通道301，通过在压测通道301前设有的红外检测仪检测到有芯片进入后，压测模块3的测试阻位气缸302的输出轴伸出，阻挡下一个芯片，进入的芯片在压测通道内滑动直到被检测完成限位气缸305阻挡定位，继而压测气缸303向下按压芯片。使得设有的压测触角与芯片的触脚相互接触，此处的压测触脚与芯片检测仪相接，检测完成后，压测气缸303回收松开芯片，测完成限位气缸回收，芯片沿着压测通道进入分选模块4进行分选，即通过承接车402的方式，对压测通道的检测完成的芯片，进行承接，继而通过承接车402相对分选导轨401移动到NG通道403和OK通道404上方，通过下料气缸的输出轴伸出和回收，开启下料孔，使得芯片根据检测结果进入NG通道403和OK通道404，实现分选的目的，进入OK通道404的芯片，通过在下料承接台501放置的芯片空管，承接OK通道404的合格芯片，将其收集至芯片空管中，收集完成一管或预设值后，由下管气缸502驱动下管推件503将芯片管从下料承接台501中推出至收集槽504中，完成自动下料。

以上是结合具体的实施例对本实用新型所作的详细说明，不能认定本发明的具体实施方式只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本实用新型由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。

Claims (6)

1.一种压测重力分选机，其特征在于：所述分选机包括设置斜面机架台，所述斜面机架台的斜面上设有进检测管道，所述进检测管道上方连接有入料管放置模块，所述进检测管道下方连接有压测模块，所述压测模块下方连接有分选模块；

所述压测模块包括压测通道、测试阻位气缸、压测气缸、压测触角和检测完成限位气缸；

所述压测通道承接进检测管道，所述压测通道上方从上至下开设有测试进入阻位孔、压测孔和检测完成阻位孔；

所述压测通道上或侧边设有测试阻位气缸、压测气缸和检测完成限位气缸；

所述测试阻位气缸、压测气缸和检测完成限位气缸的输出轴分别通过阻位孔、压测孔和检测完成阻位孔朝向压测通道内；

所述压测气缸的输出轴连接有压测触角。

2.根据权利要求1所述的一种压测重力分选机，其特征在于：所述进检测管道上依次开设有第一阻位孔、第二阻位孔，并设有第一阻位气缸和第二阻位气缸；

所述第一阻位气缸和第二阻位气缸的输出轴通过第一阻位孔、第二阻位孔朝向进检测管道内。

3.根据权利要求1所述的一种压测重力分选机，其特征在于：所述分选模块包括分选导轨、承接车、NG通道和OK通道；

所述分选导轨设置在压测通道下方，所述分选导轨上滑动连接有承接车；

所述承接车下方开设有下料孔，所述承接车上设有下料气缸，所述下料气缸的输出轴连接有孔门并位于下料孔内；

所述分选导轨下方设有NG通道和OK通道；

所述OK通道下方承接自动下料模块。

4.根据权利要求3所述的一种压测重力分选机，其特征在于：所述自动下料模块包括下料承接台、下管气缸、下管推件和收集槽；

所述下料承接台承接OK通道；

所述下料承接台下方设有横行滑轨，并滑动连接有下管气缸；

所述的下管气缸连接下管推件；

所述下料承接台开设有下料孔道并与下管推件水平；

所述下料承接台侧边还设有收集槽。

5.根据权利要求1所述的一种压测重力分选机，其特征在于：所述入料管放置模块包括设置平面、芯片管放置架、送管夹、入料管连接件、芯片管放置凹槽、旋转气缸、芯片管按压固定件、前推气缸和抖动件；

所述设置平面上设有芯片管放置架；

所述芯片管放置架下方开设有送管孔道；

所述设置平面通过导轨滑块滑动连接有送管夹；

所述送管夹与送管孔道水平对齐；

所述芯片管放置架侧边还设有入料管连接件；

所述入料管连接件上通过弹簧设有芯片管放置凹槽；

所述入料管连接件侧边设有旋转气缸；

所述旋转气缸的输出轴连接有芯片管按压固定件；

所述设置平面在入料管连接件对侧边设有前推气缸；

所述前推气缸与入料管连接件之间还设有放置在设置平面上的抖动件。

6.根据权利要求4所述的一种压测重力分选机，其特征在于：所述下料承接台下方均设有抖动件。

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