CN218099484U - 一种带限位结构的芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种芯片测试装置，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。要解决的技术问题为：提供一种带限位结构的芯片测试装置。一种带限位结构的芯片测试装置，包括有支撑座、输送带、输送辊和电机等；支撑座内部右前侧安装有电机，支撑座内部前后两侧均转动式连接有输送辊，前侧的输送辊和电机的输出轴连接，两个输送辊上绕有输送带。本实用新型的限位杆可以对芯片进行限位，避免芯片移过头，使得芯片能够准确地移动到检测位置，检测精度更高，芯片检测器可以便利地对芯片进行检测。

Description

一种带限位结构的芯片测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试装置，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。

背景技术

芯片是半导体元件产品的统称，主要用于控制电子设备，芯片制造出来之后，需要进行质量检测，避免不良品流入市场。

公开号为CN212160008U的专利，公开了一种基于fpga的集成电路芯片测试机，包括上料传送带、驱动机构、检测机构、第一下料传送带、第二下料传送带以及装载有集成电路芯片的治具，所述检测机构包括检测支架，所述检测支架上设置有连接检测设备的fpga板卡，所述fpga板卡上连接有弹性探针，所述驱动机构可将所述治具从所述上料传送带移动到所述检测支架上，使得所述弹性探针通过所述治具上的探针母板与集成电路芯片电连接，进而对所述集成电路芯片进行检测。上述专利不具备对芯片进行限位的功能，芯片很难移动到准确的位置，导致检测结果难以保证。

因此，特别需要设计一种带限位结构的芯片测试装置。

实用新型内容

为了克服上述现有技术不具备对芯片进行限位的功能，芯片很难移动到准确的位置，导致检测结果难以保证的缺点，要解决的技术问题为：提供一种带限位结构的芯片测试装置。

本实用新型的技术方案为：一种带限位结构的芯片测试装置，包括有支撑座、输送带、芯片放置板、支撑柱、限位杆、第二弹簧、限位板、支架、警报灯和芯片检测器，输送带外侧连接有芯片放置板，支撑座内底部右侧连接有支撑柱和限位板，限位板位于支撑柱的左侧，限位板上部滑动式设有两根限位杆，限位杆滑动式贯穿支撑座，芯片放置板右侧的前后两侧均开有限位孔，限位杆能够卡入限位孔内，限位杆上均绕有第二弹簧，第二弹簧的两端分别与支撑座和限位板连接，支撑柱上部连接有支架，支架顶部连接有警报灯，支架底部连接有芯片检测器，芯片检测器和警报灯通过电性连接。

此外，特别优选的是，还包括有输送辊和电机，支撑座内部右前侧安装有电机，支撑座内部前后两侧均转动式连接有输送辊，前侧的输送辊和电机的输出轴连接，两个输送辊上绕有输送带。

此外，特别优选的是，还包括有夹杆和第一弹簧，芯片放置板前后两侧均滑动式设有用于将芯片夹住的夹杆，夹杆上均绕有第一弹簧，第一弹簧的两端分别与芯片放置板和夹杆连接。

此外，特别优选的是，还包括有橡胶块，夹杆内端均连接有橡胶块。

此外，特别优选的是，还包括有矫正板，支撑座内部左侧连接有矫正板。

此外，特别优选的是，还包括有照明灯，支撑座内部右后侧安装有照明灯。

与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：1、本实用新型的限位杆可以对芯片进行限位，避免芯片移过头，使得芯片能够准确地移动到检测位置，检测精度更高，芯片检测器可以对芯片进行检测，检测结果通过警报灯显示出来。

2、在夹杆、橡胶块和第一弹簧的作用下，可以对芯片进行夹紧，避免芯片在传送过程中发生偏移。

附图说明

图1为本实用新型的警报灯、限位板和支撑柱等零部件的立体结构示意图。

图2为本实用新型的芯片检测器和支撑柱等零部件的立体结构示意图。

图3为本实用新型的芯片放置板和橡胶块等零部件的部分立体结构示意图。

图4为本实用新型A部分的放大示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：1、支撑座，2、输送带，201、输送辊，3、电机，4、芯片放置板，401、夹杆，402、橡胶块，403、第一弹簧，5、支撑柱，6、限位杆，601、限位孔，7、第二弹簧，8、限位板，9、支架，10、警报灯，11、芯片检测器，12、矫正板，13、照明灯。

具体实施方式

尽管可关于特定应用或行业来描述本实用新型，但是本领域的技术人员将会认识到本实用新型的更广阔的适用性。本领域的普通技术人员将会认识到诸如：在上面、在下面、向上、向下等之类的术语是用于描述附图，而非表示对由所附权利要求限定的本实用新型范围的限制。诸如：第一或第二之类的任何数字标号仅为例示性的，而并非旨在以任何方式限制本实用新型的范围。

实施例1

一种带限位结构的芯片测试装置，如图1-3所示，包括有支撑座1、输送带2、输送辊201、电机3、芯片放置板4、支撑柱5、限位杆6、第二弹簧7、限位板8、支架9、警报灯10和芯片检测器11，支撑座1内部右前侧通过螺栓安装有电机3，支撑座1内部前后两侧均转动式连接有输送辊201，前侧的输送辊201和电机3的输出轴通过联轴器连接，两个输送辊201上绕有输送带2，输送带2外侧连接有三个芯片放置板4，支撑座1内底部右侧连接有支撑柱5和限位板8，限位板8位于支撑柱5的左侧，限位板8上部前后两侧均滑动式设有限位杆6，限位杆6滑动式贯穿支撑座1，芯片放置板4右侧的前后两侧均开有限位孔601，限位杆6能够卡入限位孔601内，限位杆6上均绕有第二弹簧7，第二弹簧7的一端和支撑座1连接，第二弹簧7的另一端和限位板8连接，支撑柱5上部通过螺钉连接有支架9，支架9顶部通过螺钉连接有警报灯10，支架9底部通过螺钉连接有芯片检测器11，芯片检测器11和警报灯10通过电性连接。

如图1-2所示，还包括有矫正板12，支撑座1内部左侧连接有矫正板12。

如图1所示，还包括有照明灯13，支撑座1内部右后侧通过螺栓安装有照明灯13。

人们将芯片放到芯片放置板4内，然后启动电机3，电机3通过输送辊201带动输送带2转动，输送带2带动芯片放置板4转动，从而带动芯片转动，当装有芯片的芯片放置板4和限位杆6接触时，会推动限位杆6向右移动，第二弹簧7被压缩，当限位孔601和限位杆6相对应时，限位杆6在第二弹簧7的作用下向左移动卡入限位孔601内，当两根限位杆6都卡入限位孔601内之后，说明芯片已经移动到位，人们关闭电机3，如此能够对芯片起到限位的作用，避免芯片移过头，使得芯片能够准确地移动到检测位置，检测精度更高，且矫正板12可以矫正芯片放置板4的位置，使芯片放置板4内的芯片和芯片检测器11平齐，此时，人们打开芯片检测器11，芯片检测器11对芯片进行检测，如果芯片为良品，则警报灯10不亮，如果芯片为不良品，则警报灯10亮起，方便人们判断芯片的质量，重复上述操作，继续对芯片进行检测，在光线不足的情况下，人们可以打开照明灯13，照明灯13可以照亮四周，方便人们工作，不需要照明时，关闭照明灯13。

实施例2

在实施例1的基础之上，如图3-4所示，还包括有夹杆401和第一弹簧403，芯片放置板4前后两侧均滑动式设有夹杆401，夹杆401用于将芯片夹住，夹杆401上均绕有第一弹簧403，第一弹簧403的一端和芯片放置板4连接，第一弹簧403的另一端和夹杆401连接。

如图4所示，还包括有橡胶块402，夹杆401内端均连接有橡胶块402。

人们可以向外拉动夹杆401，第一弹簧403被压缩，然后将芯片放到芯片放置板4内，再松开夹杆401，夹杆401在第一弹簧403的作用下向内移动，橡胶块402随之向内移动，橡胶块402将芯片夹住，避免芯片在传送过程中发生偏移，橡胶块402的材质比较软，不会将芯片刮坏。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (6)

1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括有支撑座(1)、输送带(2)和芯片放置板(4)，两个支撑座(1)之间设有输送带(2)，输送带(2)外侧连接有芯片放置板(4)，其特征在于：还包括有支撑柱(5)、限位杆(6)、第二弹簧(7)、限位板(8)、支架(9)、警报灯(10)和芯片检测器(11)，支撑座(1)内底部右侧连接有支撑柱(5)和限位板(8)，限位板(8)位于支撑柱(5)的左侧，限位板(8)上部滑动式设有两根限位杆(6)，限位杆(6)滑动式贯穿支撑座(1)，芯片放置板(4)右侧的前后两侧均开有限位孔(601)，限位杆(6)能够卡入限位孔(601)内，限位杆(6)上均绕有第二弹簧(7)，第二弹簧(7)的两端分别与支撑座(1)和限位板(8)连接，支撑柱(5)上部连接有支架(9)，支架(9)顶部连接有警报灯(10)，支架(9)底部连接有芯片检测器(11)，芯片检测器(11)和警报灯(10)通过电性连接。

2.如权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：还包括有输送辊(201)和电机(3)，支撑座(1)内部右前侧安装有电机(3)，支撑座(1)内部前后两侧均转动式连接有输送辊(201)，前侧的输送辊(201)和电机(3)的输出轴连接，两个输送辊(201)上绕有输送带(2)。

3.如权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：还包括有夹杆(401)和第一弹簧(403)，芯片放置板(4)前后两侧均滑动式设有用于将芯片夹住的夹杆(401)，夹杆(401)上均绕有第一弹簧(403)，第一弹簧(403)的两端分别与芯片放置板(4)和夹杆(401)连接。

4.如权利要求3所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：还包括有橡胶块(402)，夹杆(401)内端均连接有橡胶块(402)。

5.如权利要求4所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：还包括有矫正板(12)，支撑座(1)内部左侧连接有矫正板(12)。

6.如权利要求5所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：还包括有照明灯(13)，支撑座(1)内部右后侧安装有照明灯(13)。

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