CN217655033U - 一种半导体材料检测工作台 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种半导体材料检测工作台，属于材料加工领域，具体包括：工作台主体，所述工作台主体的上端面靠近外侧位置固定安装有环形封闭式输送滑轨，所述环形封闭式输送滑轨上活动安装有若干组输送台，所述输送台上设置有用于改变半导体材料角度的调节组件和两组用于限定半导体材料放置器具的限位组件，所述工作台主体的上端面中间位置设置有驱动装置，若干组所述输送台均与驱动装置连接。本发明所述的一种半导体材料检测工作台，能够合理利用空间，使得工作台主体不会出现过长的情况，使用时需要的场地比较小，使用效果好，能够带动半导体材料放置器具转动，从而改变半导体材料的位置，检测效果更好，具有更好的使用前景。

Description

一种半导体材料检测工作台

技术领域

本发明涉及材料加工领域，特别涉及一种半导体材料检测工作台。

背景技术

半导体材料指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件；

随着社会的发展，人们对于半导体材料的需求量不断的提高，为了满足人们的需求，快速的生产半导体材料，人们发明了一些半导体材料生产加工设备，其中就有半导体材料检测工作台；

现有的半导体材料检测工作台在使用时存在一定的弊端，现有的半导体材料检测工作台通常为条状的工作台，其上方安装有各种各样的检测架，整体需要的空间比较大，需要成本比较高，不满足人们的使用要求，为此，我们提出一种半导体材料检测工作台。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种半导体材料检测工作台，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本发明采取的技术方案为：

一种半导体材料检测工作台，包括：

工作台主体，所述工作台主体的上端面靠近外侧位置固定安装有环形封闭式输送滑轨，所述环形封闭式输送滑轨上活动安装有若干组输送台，所述输送台上设置有用于改变半导体材料角度的调节组件和两组用于限定半导体材料放置器具的限位组件，所述工作台主体的上端面中间位置设置有驱动装置，若干组所述输送台均与驱动装置连接，所述工作台主体后端面靠近上端位置设置有用于安装上料设备和安装下料设备的两组支撑台；以及

若干组检测架，所述检测架固定安装在工作台主体的上端外表面，所述检测架上安装有检测组件，所述检测组件位于环形封闭式输送滑轨其中一段的正上方。

在一种可能的实现方式中，所述调节组件包括马达、限位圈和活动盘，所述限位圈固定安装在输送台的上端面，所述马达位于输送台的内部，所述活动盘通过轴承与限位圈活动连接，所述马达的输出轴与活动盘的下端面连接。

通过设置的调节组件，调节组件能够带动半导体材料放置器具转动，从而能够改变半导体材料的角度，从而更好的对半导体材料进行检测。

在一种可能的实现方式中，所述限位组件包括调节件、限位座和若干组限位件，所述限位座通过调节件与输送台的内侧壁固定连接，所述限位件安装在限位座的内部。

在一种可能的实现方式中，所述调节件包括若干组伸缩杆，所述伸缩杆的底端固定安装在输送台的侧壁上，所述伸缩杆的伸缩端头部与限位座的底端固定连接。

在一种可能的实现方式中，所述限位件包括夹持部、连接部和弹簧，所述夹持部设置在连接部的一端，所述弹簧安装在设置在连接部的另一端，所述限位座上开设有若干组安装槽，所述弹簧的另一端固定安装在安装槽的内底面，所述连接部和弹簧均位于安装槽的内部。

通过设置的限位组件，弹簧施加给连接部压力，从而使得夹持部与半导体材料放置器具的外侧贴合，从而能将半导体材料放置器具固定住。

在一种可能的实现方式中，所述驱动装置包括电机、驱动盘、传动盘和传动皮带，所述驱动盘和传动盘均活动安装在工作台主体的上端面，所述驱动盘通过传动皮带与传动盘连接，所述电机安装在工作台主体内部，所述电机的输出轴与驱动盘连接。

通过设置的驱动装置，电机驱动驱动盘转动，驱动盘通过摩擦力带动传动皮带转动，传动皮带运动带动连接件运动，从而驱动输送台运动，使用效果更好。

在一种可能的实现方式中，所述输送台的外表面固定安装有连接件，所述连接件与传动皮带的外表面固定连接。

在一种可能的实现方式中，所述检测组件包括检测盒、摄像组件和照明组件，所述摄像组件和照明组件均安装在检测架的内表面，所述检测盒安装在检测架的上端，所述摄像组件和照明组件均通过导线与检测盒内部的控制器连接。

与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：

1、本实用新型一种半导体材料检测工作台记载了环形封闭式输送滑轨，输送台沿着环形封闭式输送滑轨移动，移动过程中输送台经过检测架，检测架上的检测组件检测半导体材料的参数，环形封闭式输送滑轨能够合理利用空间，使得工作台主体不会出现过长的情况，使用时需要的场地比较小，使用效果好；

2、本实用新型一种半导体材料检测工作台记载了输送台，输送台上设置有调节组件和限位组件，限位组件中限位件之间不会干扰，多个限位件配合能够实现不同形状和体积半导体材料放置器具的固定，调节组件能够带动半导体材料放置器具转动，从而改变半导体材料的位置，检测效果更好，而且整个半导体材料检测工作台的结构简单，成本较低，实用性高。

附图说明

图1为本发明一种半导体材料检测工作台的整体结构图；

图2为本发明一种半导体材料检测工作台中输送台的局部结构图；

图3为本发明一种半导体材料检测工作台中输送台的局部结构图；

图4为本发明一种半导体材料检测工作台中限位组件的局部结构图；

图5为本发明一种半导体材料检测工作台中检测架的局部结构图。

图中：1、工作台主体；2、环形封闭式输送滑轨；3、输送台；4、支撑台；5、检测架；6、限位圈；7、活动盘；8、限位座；9、限位件；10、伸缩杆；11、驱动盘；12、传动盘；13、传动皮带。

具体实施方式

为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。

实施例一

一种半导体材料检测工作台，如图1-5所示，包括：

工作台主体1，工作台主体1的上端面靠近外侧位置固定安装有环形封闭式输送滑轨2，环形封闭式输送滑轨2上活动安装有若干组输送台3，输送台 3上设置有用于改变半导体材料角度的调节组件和两组用于限定半导体材料放置器具的限位组件，工作台主体1的上端面中间位置设置有驱动装置，若干组输送台3均与驱动装置连接，工作台主体1后端面靠近上端位置设置有用于安装上料设备和安装下料设备的两组支撑台4；以及

若干组检测架5，检测架5固定安装在工作台主体1的上端外表面，检测架5上安装有检测组件，检测组件位于环形封闭式输送滑轨2其中一段的正上方。

驱动装置包括电机、驱动盘11、传动盘12和传动皮带13，驱动盘11和传动盘12均活动安装在工作台主体1的上端面，驱动盘11通过传动皮带13 与传动盘12连接，电机安装在工作台主体1内部，电机的输出轴与驱动盘11 连接。

通过设置的驱动装置，电机驱动驱动盘11转动，驱动盘11通过摩擦力带动传动皮带13转动，传动皮带13运动带动连接件运动，从而驱动输送台3 运动，使用效果更好。

输送台3的外表面固定安装有连接件，连接件与传动皮带13的外表面固定连接。

连接件采用金属弹片，金属弹片能够自由弯曲和变直，从而能够暧昧只能满足连接的需求。

检测组件包括检测盒、摄像组件和照明组件，摄像组件和照明组件均安装在检测架5的内表面，检测盒安装在检测架5的上端，摄像组件和照明组件均通过导线与检测盒内部的控制器连接。

控制器控制摄像组件和照明组件启动进行外观检测，摄像组件采用高清摄像头，照明组件采用照明灯具。

检测组件还可以为现有的其他检测半导体材料参数的检测组件。

本实用新型一种半导体材料检测工作台记载了环形封闭式输送滑轨2，输送台3沿着环形封闭式输送滑轨2移动，移动过程中输送台3经过检测架5，检测架上5的检测组件检测半导体材料的参数，环形封闭式输送滑轨2能够合理利用空间，使得工作台主体1不会出现过长的情况，使用时需要的场地比较小，使用效果好。

实施例二

一种半导体材料检测工作台，如图1-5所示，相比较实施例一本实施例还记载了以下结构：

调节组件包括马达、限位圈6和活动盘7，限位圈6固定安装在输送台3 的上端面，马达位于输送台3的内部，活动盘7通过轴承与限位圈6活动连接，马达的输出轴与活动盘7的下端面连接。

通过设置的调节组件，调节组件能够带动半导体材料放置器具转动，从而能够改变半导体材料的角度，从而更好的对半导体材料进行检测，

限位组件包括调节件、限位座8和若干组限位件9，限位座8通过调节件与输送台3的内侧壁固定连接，限位件9安装在限位座8的内部。

通过设置的限位组件，弹簧施加给连接部压力，从而使得夹持部与半导体材料放置器具的外侧贴合，从而能将半导体材料放置器具固定住。

调节件包括若干组伸缩杆10，伸缩杆10的底端固定安装在输送台3的侧壁上，伸缩杆10的伸缩端头部与限位座8的底端固定连接。

通过设置的伸缩杆10，伸缩杆10改变限位座8的位置，使得限位座8上的限位件9与半导体材料放置器具接触，限定住半导体材料放置器具的位置。

限位件9包括夹持部、连接部和弹簧，夹持部设置在连接部的一端，弹簧安装在设置在连接部的另一端，限位座8上开设有若干组安装槽，弹簧的另一端固定安装在安装槽的内底面，连接部和弹簧均位于安装槽的内部。

本实用新型一种半导体材料检测工作台记载了输送台3，输送台3上设置有调节组件和限位组件，限位组件中限位件9之间不会干扰，多个限位件9 配合能够实现不同形状和体积半导体材料放置器具的固定，调节组件能够带动半导体材料放置器具转动，从而改变半导体材料的位置，检测效果更好，而且整个半导体材料检测工作台的结构简单，成本较低，实用性高。

需要说明的是，本实用新型一种半导体材料检测工作台，上料设备将装有半导体材料的半导体材料放置器具放置在输送台3上端的调节组件上，驱动装置能够带动输送台3移动，输送台3移动时经过检测架5，检测架5上的检测组件进行检测，运动到下料位置时，下料设备将其取走进行后续加工处理；

本实用新型一种半导体材料检测工作台记载了环形封闭式输送滑轨2，输送台3沿着环形封闭式输送滑轨2移动，移动过程中输送台3经过检测架5，检测架上5的检测组件检测半导体材料的参数，环形封闭式输送滑轨2能够合理利用空间，使得工作台主体1不会出现过长的情况，使用时需要的场地比较小，使用效果好；

本实用新型一种半导体材料检测工作台记载了输送台3，输送台3上设置有调节组件和限位组件，限位组件中限位件9之间不会干扰，多个限位件9 配合能够实现不同形状和体积半导体材料放置器具的固定，调节组件能够带动半导体材料放置器具转动，从而改变半导体材料的位置，检测效果更好，而且整个半导体材料检测工作台的结构简单，成本较低，实用性高。

以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (8)

1.一种半导体材料检测工作台，其特征在于，包括：

工作台主体(1)，所述工作台主体(1)的上端面靠近外侧位置固定安装有环形封闭式输送滑轨(2)，所述环形封闭式输送滑轨(2)上活动安装有若干组输送台(3)，所述输送台(3)上设置有用于改变半导体材料角度的调节组件和两组用于限定半导体材料放置器具的限位组件，所述工作台主体(1)的上端面中间位置设置有驱动装置，若干组所述输送台(3)均与驱动装置连接，所述工作台主体(1)后端面靠近上端位置设置有用于安装上料设备和安装下料设备的两组支撑台(4)；以及

若干组检测架(5)，所述检测架(5)固定安装在工作台主体(1)的上端外表面，所述检测架(5)上安装有检测组件，所述检测组件位于环形封闭式输送滑轨(2)其中一段的正上方。

2.根据权利要求1所述的一种半导体材料检测工作台，其特征在于：所述调节组件包括马达、限位圈(6)和活动盘(7)，所述限位圈(6)固定安装在输送台(3)的上端面，所述马达位于输送台(3)的内部，所述活动盘(7)通过轴承与限位圈(6)活动连接，所述马达的输出轴与活动盘(7)的下端面连接。

3.根据权利要求2所述的一种半导体材料检测工作台，其特征在于：所述限位组件包括调节件、限位座(8)和若干组限位件(9)，所述限位座(8)通过调节件与输送台(3)的内侧壁固定连接，所述限位件(9)安装在限位座(8)的内部。

4.根据权利要求3所述的一种半导体材料检测工作台，其特征在于：所述调节件包括若干组伸缩杆(10)，所述伸缩杆(10)的底端固定安装在输送台(3)的侧壁上，所述伸缩杆(10)的伸缩端头部与限位座(8)的底端固定连接。

5.根据权利要求4所述的一种半导体材料检测工作台，其特征在于：所述限位件(9)包括夹持部、连接部和弹簧，所述夹持部设置在连接部的一端，所述弹簧安装在设置在连接部的另一端，所述限位座(8)上开设有若干组安装槽，所述弹簧的另一端固定安装在安装槽的内底面，所述连接部和弹簧均位于安装槽的内部。

6.根据权利要求1所述的一种半导体材料检测工作台，其特征在于：所述驱动装置包括电机、驱动盘(11)、传动盘(12)和传动皮带(13)，所述驱动盘(11)和传动盘(12)均活动安装在工作台主体(1)的上端面，所述驱动盘(11)通过传动皮带(13)与传动盘(12)连接，所述电机安装在工作台主体(1)内部，所述电机的输出轴与驱动盘(11)连接。

7.根据权利要求6所述的一种半导体材料检测工作台，其特征在于：所述输送台(3)的外表面固定安装有连接件，所述连接件与传动皮带(13)的外表面固定连接。

8.根据权利要求1所述的一种半导体材料检测工作台，其特征在于：所述检测组件包括检测盒、摄像组件和照明组件，所述摄像组件和照明组件均安装在检测架(5)的内表面，所述检测盒安装在检测架(5)的上端，所述摄像组件和照明组件均通过导线与检测盒内部的控制器连接。

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