CN217411572U - 一种分选机隐裂模块 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种分选机隐裂模块，包括硅片，所述硅片正上方设有相机，相机底部安装有焦距镜头，所述硅片斜上方设有隐裂光源，所述的焦距镜头选用长倍焦，所述的隐裂光源采用红外光源，所述隐裂光源侧面安装有遮光板，所述红外光源的照射角度与硅片的内角小于80度，红外光源与遮光板形成的夹角在30°～60°之间。本实用新型利用红外光源以一定的角度将红外光直射到硅片表面，再在上部安装一组线性相机对被检硅片进行图像抓拍，当硅片表面存在缺陷或者硬质点裂纹时，直射到硅片表面的红外光会被裂纹处的不规则面进行散发折射，从而导致图像表面灰比度发生变化，成像形成黑影检测出裂纹片，隐裂的漏检率得到改善，从而提升产品质量。

Description

一种分选机隐裂模块

技术领域

本实用新型涉及一种隐裂模块，尤其涉及一种分选机隐裂模块。

背景技术

Hennecke自动测试分选机拥有高端的电子技术，利用相机的成像原理、激光、红外线以及电容耦合的应用将硅片的厚度、表面平整度、脏污情况、尺寸大小、垂直度等准确地测量出来，提高了检测硅片质量的效率。其中测量系统为整台设备的核心部分，它包含了厚度模组、线痕模组、隐形裂纹模组、脏污模组、边缘模组和尺寸、翘曲模组。当硅片从上料台入片经过测量系统时，会被这6个模组分别检测、对比，是否达到设定的要求，然后根据所测量的数值分选到对应的仓盒里面，最终将硅片分选出不同的等级，随着光伏行业的紧俏发展形式及电池片电学性能的要求，市场逐步趋向于细线薄片大尺寸化，随即对分选机进行大尺寸改造。

随着各地同行的发展，光伏市场临近饱和状态，客户端的要求加严，产品的质量成为目前占据市场的唯一，对于最早一批分选机(HENNECKE-4)的部分硬件设施存在局限性(加装隐裂模块允许跑片上限规格为166，因此光源长度只能满足166规格以下的产品成像保证)在跑片182规格的硅片时隐裂光源由于长度有限导致成像两侧发暗误判及原相机均为短焦距镜头导致成像裂纹不清晰存在漏判的现象。同时，原隐裂光源为白色透光，光照强度及穿透度均存在一定的局限性。HENNECKE-4代分选机在加装隐裂模块时允许跑片的上限规格为166，改造182规格后，由于尺寸增大要想保证图像不出检测框，需要拉高相机的高度(近大远小)使得成像等比缩小，但原镜头均为短焦距镜头，拉高后导致相机焦距不够，像素不清晰，目前随着细线薄片化，裂纹占比随之上升，小裂纹、小烈点无法识别出。

实用新型内容

实用新型目的：本实用新型目的是提供一种分选机隐裂模块，使得隐裂的漏检率得到改善，从而提升产品质量。

技术方案：本实用新型包括硅片，所述硅片正上方设有相机，相机底部安装有焦距镜头，所述硅片斜上方设有隐裂光源，所述的焦距镜头选用长倍焦，所述的隐裂光源采用红外光源，所述隐裂光源侧面安装有遮光板，所述红外光源的照射角度与硅片的内角小于80度，红外光源与遮光板形成的夹角在30°～60°之间。

所述遮光板的其中一长边与红外光源固定连接，另一长边靠光源照射一面成偏锋式，目的是更好的反射红外光源。

所述的遮光板选用铁版，目的是调节图像的曝光度。

所述的相机为线性相机，皮带不宜太松弛，在旋转过程中必须保证足够的稳定性，避免存在抖动，导致图像扭曲，两条轨道必须保证平行，其作用主要是传送硅片通过各个检测模块。

所述线性相机的采图面在遮光板的背光面。

所述相机的竖支架与水平基面处于垂直状态，横向支架平行与水平基面。

所述的硅片放置在传送轨道上。

所述传送轨道一头为旋转的传动轴，另一头为旋转圆盘和滑轮，其中间靠皮带连接，皮带不宜太松弛，在旋转过程中必须保证足够的稳定性，避免存在抖动，导致图像扭曲，两条轨道必须保证平行，其作用主要是传送硅片通过各个检测模块。

所述隐裂光源位于焦距镜头下方。

有益效果：本实用新型利用红外光源以一定的角度将红外光直射到硅片表面，再在上部安装一组线性相机对被检硅片进行图像抓拍，当硅片表面存在缺陷或者硬质点裂纹时，直射到硅片表面的红外光会被裂纹处的不规则面进行散发折射，从而导致图像表面灰比度发生变化，成像形成黑影检测出裂纹片，隐裂的漏检率得到改善，从而提升产品质量。

附图说明

图1为本实用新型的未加遮光板时的结构示意图；

图2为本实用新型的侧视图；

图3为本实用新型的主视图；

图4为本实用新型改造前后的厚废对比图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

如图1至图3所示，本实用新型包括相机1、焦距镜头2、隐裂光源3、硅片4、传送轨道5和遮光板6，硅片4放置在传送轨道5上，传送轨道5主要是一头为旋转的传动轴，另一头为旋转圆盘和滑轮，其中间靠皮带连接的两条平行的轨道组成，其要求前后两头保持水平，皮带不宜太松弛，在旋转过程中必须保证足够的稳定性，避免存在抖动，导致图像扭曲，两条轨道必须保证平行，其作用主要是传送硅片通过各个检测模块。

硅片4正上方设有相机1，相机1为线性相机，安装位置位于传送轨道5左右两侧的正中心，其目的是保证成像位于检测框中心，避免出检测框导致误判、漏判现象，其作用是负责抓拍图像，相机1底部安装有焦距镜头2，焦距镜头2选用长倍焦，其目的第一是使像素更加清晰，成像更加清楚，第二是可以使得相机1有上下调整的空间，其作用是协同线性相机进行采图。焦距镜头2与线性相机安装时需保证镜头内外干净透亮，且接口处的丝扣需拧紧，避免机器在长时间运行过程中，长时间受震动的影响导致镜头位移。结合后相机需固定在传送轨道正上方，左右需在正中心，且相机竖支架与水平基面处于垂直状态，横向支架平行与水平基面，线性相机的采图面必须在遮光板的背光面。

硅片4斜上方设有隐裂光源3，其光源相比原光源在光源长度上做了加长，使其光照范围包裹性更强，同时光源采用红外光源，其目的第一增加其穿透性，使其成像灰比度更加的清晰，降低误判漏判的风险，第二可以降低目前金刚线切割下造成硅片表面色差的误判。隐裂光源3侧面安装有遮光板6，遮光板6是一块厚度约为3mm的黑色铁板，其中一长边与红外光源固定连接，另一长边靠光源照射一面成偏锋式，目的是更好的反射红外光源，此板的作用是调节图像的曝光度。红外光源的照射角度与硅片的内角小于80度，与遮光板形成的夹角在30°-60°之间(最佳反射红外线光角度)，可以根据现场的调试状况进行调整，原则是使得成像清晰，裂纹清楚即可。

如图4所示，采用本实用新型的隐裂模块后，厚废比例相比升级前提升约0.24％，相当于漏检的比例也提升约0.24％。

分选机由上料台进行上料，由传送轨道带动传送带沿上料台向下料台的方向循环匀速旋转，硅片由上料台开始由定速出片，后从E+H模块—Smark(线痕)模块—NVCD(隐裂)模块—Stain(脏污)模块—Edge(崩边)模块—Geometry(尺寸)模块—下料台(分选台)--下料盒的顺序逐一通过检测随即安装系统选用的菜单配置进入对应的下料盒完成分选分档，就NVCD(隐裂)模块而言，主要是由线性相机和红外光源组成，在正常检测区域，红外线会透射过硅片，由于晶向(晶粒)不同，会在图像中显示不同颜色(出现散射光)，和肉眼观察的硅片外观基本一致。如果硅片有裂纹，在红外线照射时在隐裂区红外光不会发生透射，而会大部向各个方向反射，从而使得隐裂区域呈现黑色。

本实用新型利用红外光源以一定的角度将红外光直射到硅片表面，再在上部安装一组线性相机对被检硅片进行图像抓拍，当硅片表面存在缺陷或者硬质点裂纹时，直射到硅片表面的红外光会被裂纹处的不规则面进行散发折射，从而导致图像表面灰比度发生变化，成像形成黑影检测出裂纹片。

Claims (9)

1.一种分选机隐裂模块，包括硅片(4)，所述硅片(4)上方设有相机(1)，相机(1)底部安装有焦距镜头(2)，所述硅片(4)斜上方设有隐裂光源(3)，其特征在于，所述的焦距镜头(2)选用长倍焦，所述的隐裂光源(3)采用红外光源，所述隐裂光源(3)侧面安装有遮光板(6)，所述红外光源的照射角度与硅片(4)的内角小于80度，红外光源与遮光板(6)形成的夹角在30°～60°之间。

2.根据权利要求1所述的一种分选机隐裂模块，其特征在于，所述遮光板(6)的其中一长边与红外光源固定连接，另一长边靠光源照射一面成偏锋式。

3.根据权利要求1或2所述的一种分选机隐裂模块，其特征在于，所述的遮光板(6)选用铁版。

4.根据权利要求1所述的一种分选机隐裂模块，其特征在于，所述的相机(1)为线性相机。

5.根据权利要求4所述的一种分选机隐裂模块，其特征在于，所述线性相机的采图面在遮光板(6)的背光面。

6.根据权利要求1或4所述的一种分选机隐裂模块，其特征在于，所述相机(1)的竖支架与水平基面处于垂直状态，横向支架平行与水平基面。

7.根据权利要求1所述的一种分选机隐裂模块，其特征在于，所述的硅片(4)放置在传送轨道(5)上。

8.根据权利要求7所述的一种分选机隐裂模块，其特征在于，所述传送轨道(5)一头为旋转的传动轴，另一头为旋转圆盘和滑轮，其中间靠皮带连接。

9.根据权利要求1所述的一种分选机隐裂模块，其特征在于，所述隐裂光源(3)位于焦距镜头(2)下方。

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