CN217304952U - 外观检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种外观检测装置，用于对工件的外观进行检测，所述外观检测装置包括：第一检测组件，所述第一检测组件用于在所述工件处于第一检测工位时检测所述工件的结构；第二检测组件，所述第二检测组件用于在所述工件处于第二检测工位时检测所述工件的结构；第三调节装置，所述工件设于所述第三调节装置上，所述第三调节装置能够带动所述工件移动至所述第一检测工位；且所述第三调节装置用于在第一检测组件检测出所述工件存在缺陷时带动所述工件由所述第一检测工位移动至所述第二检测工位。上述外观检测装置通过第一检测组件及第二检测组件能够提高对工件检测的准确性。

Description

外观检测装置

技术领域

本实用新型涉及外观检测技术领域，特别是涉及一种外观检测装置。

背景技术

随着医疗设备、军用工业设备以及航空航天设备等各种工业设备的发展，PCB的结构、工艺流程也随之愈发复杂。

由于PCB的结构及工艺流程愈发复杂，则不可避免的将导致产品上出现各种缺陷。现有技术中，通常通过人工操作显微镜检测的方式对PCB的结构缺陷进行检测。

然而，现有技术中通过人工操作显微镜的检测方式，不仅效率较低，耗费大量人力；同时由于包含了人的主观判断偏差，造成外观缺陷的定义没有那么分明，导致同样产品具有不同的判断标准，从而导致检测的准确性较低，使产品的质量不能得到保证。

实用新型内容

基于此，有必要针对如何保证对PCB结构进行检测时的效率及准确性问题，提供一种外观检测装置。

一种外观检测装置，用于对工件的外观进行检测，其特征在于，所述外观检测装置包括：

第一检测组件，所述第一检测组件用于在所述工件处于第一检测工位时检测所述工件的结构；

第二检测组件，所述第二检测组件用于在所述工件处于第二检测工位时检测所述工件的结构；

第三调节装置，所述工件设于所述第三调节装置上，所述第三调节装置能够带动所述工件移动至所述第一检测工位；且所述第三调节装置用于在第一检测组件检测出所述工件存在缺陷时带动所述工件由所述第一检测工位移动至所述第二检测工位。

在其中一个实施例中，所述外观检测装置还包括处理器，所述处理器与所述第一检测组件及所述第二检测组件电性连接。

在其中一个实施例中，所述第一检测组件包括线扫件，所述线扫件用于检测所述工件的结构，所述第一检测组件在检测所述工件时所述工件包括线扫第一位置及线扫第二位置，所述线扫第一位置与所述线扫第二位置分别位于所述第一检测工位的两侧。

在其中一个实施例中，所述第一检测组件还包括第一调节装置，所述线扫件设于所述第一调节装置上，所述第一调节装置用于调整所述线扫件与所述第一检测工位之间的距离。

在其中一个实施例中，所述第一调节装置包括第一滑轨以及与所述第一滑轨滑动配合的第一滑台，所述线扫件设于所述第一滑台上。

在其中一个实施例中，所述第一检测组件还包括多个第一光源，多个所述第一光源从不同角度对着所述第一检测工位。

在其中一个实施例中，多个所述第一光源包括同轴光源，所述同轴光源设于所述线扫件上靠近所述工件一端与所述第一检测工位连线上的任意位置。

在其中一个实施例中，所述第二检测组件包括第二调节装置以及设于所述第二调节装置上的复检件，所述复检件用于检测所述工件的结构，所述第二调节装置用于调整所述复检件与所述第二检测工位之间的距离。

在其中一个实施例中，所述第二检测组件还包括多个第二光源，多个所述第二光源从不同角度对着所述第二检测工位设置。

在其中一个实施例中，所述第二检测组件还包括光指示器，所述光指示器用于发射指示光，所述指示光指向第二检测工位以在所述第二检测工位上形成标记点。

在其中一个实施例中，所述外观检测装置还包括第四调节装置以及支撑架，所述第四调节装置与所述支撑架连接用于驱动所述支撑架移动，所述第一检测组件及所述第二检测组件均设于所述支撑架上。

在其中一个实施例中，所述第四调节装置包括第四驱动件、第四滑轨以及与所述第四滑轨滑动配合的第四滑台，所述支撑架设于所述第四滑台上，所述第四驱动件能够驱动所述支撑架随所述第四滑台相对所述第四滑轨滑动。

在其中一个实施例中，所述外观检测装置还包括扫码器，所述扫码器设于所述支撑架上，所述扫码器用于扫描所述工件上的标识码。

在其中一个实施例中，所述第三调节装置包括：第三驱动件、第三滑轨以及与所述第三滑轨滑动配合的承载台，所述工件设于所述承载台上，所述第三驱动件与所述承载台相连，用于驱动所述承载台沿着所述第三滑轨移动。

在其中一个实施例中，所述第三调节装置还包括真空发生器，所述承载台上开设有多个与所述真空发生器连通的吸附孔，所述工件能够覆盖多个所述吸附孔远离所述真空发生器的一端。

上述外观检测装置，通过第三调节装置能够自动的带动工件移动至第一检测工位。通过第一检测组件全面的检测工件上是否存在缺陷，如此提高了对工件检测的效率。并且，当第一检测组件检测工件上存在缺陷时，第三调节装置能够将工件移动至第二检测工位，通过第二检测组件对上述存在缺陷的区域进一步检测，以针对性的进一步确认该区域是否确实存在缺陷，以此提高了对工件检测的准确性。

附图说明

图1为实施例所提供的外观检测装置的轴侧示意图；

图2为图1所示外观检测装置中部分结构的轴侧示意图；

图3为图1所示外观检测装置中部分结构的轴侧示意图；

图4为图2所示外观检测装置部分结构当工件位于线扫第一位置时的结构示意图；

图5为图2所示外观检测装置部分结构当工件位于线扫第二位置时的结构示意图；

图6为图2所示外观检测装置中部分机构另一视角的轴侧示意图；

图7为图1中A处的局部放大图。

附图标记：10、外观检测装置；20、工件；100、第一检测组件；110、线扫件；111、线扫相机；112、线扫镜头；120、第一调节装置；121、第一滑轨；122、第一滑台；123、第一支撑架；124、第一导向轨；125、第一导向件；130、第一光源；131、同轴光源；131a、同轴光；132、第一线光源；132a、第一线光；133、第二线光源；133a、第二线光；140、线扫第一位置；150、线扫第二位置；200、第二检测组件；210、复检件；220、第二调节装置；221、第二滑轨；222、第二滑台；223、第二支撑架；230、第二光源；231、环形光源；232、条形光；240、光指示器；241、指示光；300、第三调节装置；310、第三驱动件；320、第三滑轨；330、承载台；400、第四调节装置；410、第四驱动件；420、第四滑轨；430、第四滑台；440、第四导向轨；450、第四导向件；460、第一立柱；470、第二立柱；480、连接桁架；500、下壳体；600、支撑架；700、扫码器。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施例的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

参阅图1，图1示出了本实用新型一实施例中的外观检测装置的轴侧示意图，图2为图1所示外观检测装置中部分结构的轴侧示意图，图3为图1所示外观检测装置中部分结构的轴侧示意图。

请参阅图1、图2，本实用新型一实施例提供了的外观检测装置10用于对工件20的外观进行检测。外观检测装置10包括第一检测组件100、第二检测组件200及第三调节装置300。第一检测组件100用于在工件20处于第一检测工位时检测工件20的结构。第二检测组件200用于在工件20处于第二检测工位时检测工件20的结构。工件20设于第三调节装置300上，第三调节装置300能够带动工件20移动至第一检测工位；且第三调节装置300用于在第一检测组件100检测出工件20存在缺陷时带动工件20由第一检测工位移动至第二检测工位。

结合图2，上述第一检测工位参阅图2中标号K，可以理解的是，此时第一检测组件100能够检测位于第一检测工位的工件20的结构。上述第二检测工位参阅图2中标号M，可以理解的是，此时第二检测组件200能够检测位于第二检测工位的工件20的结构。

上述外观检测装置10，通过第三调节装置300能够自动的带动工件20移动至第一检测工位。通过第一检测组件100全面的检测工件20上是否存在缺陷，如此提高了对工件20检测的效率。并且，当第一检测组件100检测工件20上某个区域存在缺陷时，第三调节装置300能够将工件20移动至第二检测工位，使上述存在缺陷的区域对着第二检测组件200。通过第二检测组件200对上述存在缺陷的区域进一步检测，以针对性的进一步确认该区域是否确实存在缺陷，以此提高了对工件20检测的准确性。可以理解的是，第三调节装置300将上述工件20上存在缺陷的区域移动至第二检测工位的方式可以为自动、半自动或手动，可根据实际需求设置，在此不进行限定。

在一个实施例中，外观检测装置10还包括下壳体500以及与下壳体500连接的上壳体(图未示，下同)。上壳体与下壳体500连接以围设形成一个相对隔离的检测空间(图未示，下同)。第一检测组件100、第二检测组件200及第三调节装置300均设于下壳体500上靠近上壳体的一端。即，第一检测组件100、第二检测组件200及第三调节装置300均设于上述检测空间内。如此，能够避免外界环境以及外界光线的变化影响检测结果。

可以理解的是，第一检测组件100所检测得到的“工件20上某个区域存在缺陷”的结论，仅表明第一检测组件100所得到的结论是上述某区域存在缺陷。而将上述工件20上存在“缺陷”的区域移动至第二检测工位进行进一步检测时，能够确定上述工件20上的“缺陷”是否确为瑕疵、缺陷。当然，对于某些在第一检测组件100检测下无法确定是否为缺陷，即疑似存在问题的区域，同样能够移动至第二检测工位以接受进一步的检测。

请参阅图1及图2，在一个实施例中，第三调节装置300包括：第三驱动件310、第三滑轨320以及与第三滑轨320滑动配合的承载台330。工件20设于承载台330上，第三驱动件310与承载台330相连，用于驱动承载台330沿着第三滑轨320移动。具体地，第三驱动件310能够驱动工件20随承载台330在X轴方向上移动，以使工件20移动至第一检测工位、第二检测工位、线扫第一位置140及线扫第二位置150。

在一个实施例中，第三调节装置300还包括真空发生器(图未示，下同)。承载台330上开设有多个与真空发生器连通的吸附孔(图未示，下同)，工件20能够覆盖多个吸附孔远离真空发生器的一端。如此，真空发生器通过吸附孔能够将工件20吸附于承载台330上，使工件20与承载台330保持相对固定。具体地，多个吸附孔间隔分布于承载台330上，工件20能够覆盖多个吸附孔远离真空发生器的一端。如此设置，工件20上各个部分均能够在真空发生器的作用下被吸附于承载台330上。从而，对于一些材质较软或具有翘曲变形的工件20，真空发生器能够通过多个吸附孔将其吸附至平面状，以便于第一检测组件100及第二检测组件200进行检测。

在某些实施例中，还可以通过透明的玻璃板(图未示，下同)压盖于工件20远离承载台330的一侧，以使工件20与承载台330保持相对固定。当然，还可以根据需求设置为工件20与承载台330之间具有其他的固定连接方式，在此不进行限定。

在一个实施例中，外观检测装置10还包括处理器(图未示，下同)，处理器与第一检测组件100及第二检测组件200电性连接。可以理解的是，第一检测组件100及第二检测组件200通过拍摄或扫描等方式获取位于第一检测工位或第二检测工位的工件20的外形结构。并将所获取到的工件20的外形结构传输至处理器，通过处理器分析、识别工件20上是否存在瑕疵、缺陷。可以理解的是，当第一检测组件100所传输至处理器的工件20的外形结构被工件20分析为某个区域存在缺陷。则处理器可以直接或间接控制第三调节装置300将上述工件20上存在缺陷的区域移动至第二检测工位以接受第二检测组件200的进一步地检测。如此，能够提高外观检测装置10检测的准确性。

请参阅图3并结合图4及图5，在一个实施例中，第一检测组件100包括线扫件110。所示线扫件110用于检测工件20的结构。第一检测组件100在检测工件20时工件20包括线扫第一位置140及线扫第二位置150，线扫第一位置140与线扫第二位置150分别位于第一检测工位的两侧。第一检测组件100包括线扫件110，即线扫件110通过线性扫描的方式扫描工件20的外形结构。结合图4及图5，可以理解的是，上述线扫第一位置140及线扫第二位置150指的均是工件20相对于第一检测组件100的位置。当工件20相对第一检测组件100自线扫第一位置140移动至线扫第二位置150时，第一检测组件100能够从工件20的一端扫描至工件20的另一端。如此，能够完成对工件20的全面扫描。即完成了对工件20的全面检测。线扫件110具体例如可以包括线扫相机111及线扫镜头112。

应当理解的是，在上述实施例中，第一检测工位指的是当前正在接受第一检测组件100检测的工件20上部分区域所处的位置。也可以理解为，第一检测工位为工件20所在平面上线扫件110能够有效扫描的范围。通过使线扫第一位置140与线扫第二位置150分别位于第一检测工位的两侧，能够确保线扫件110能够扫描工件20在第三调节装置300的移动方向，也即工件20在图4及图5中X轴方向上各个区域的结构，避免出现工件20边缘处结构没有被扫描到的情况。

应当强调的是，工件20自线扫第一位置140移动至线扫第二位置150的过程中，工件20上总有一部分区域位于第一检测工位上。换言之，本实施例中关于第一检测工位的说明与各实施例中所述的第一检测组件100用于在工件20处于第一检测工位时检测工件20的结构的说明并不矛盾。

请继续参阅图4及图5，在一个实施例中，第三调节装置300能够带动工件20在线扫第一位置140及线扫第二位置150之间匀速移动。结合上述实施例，通过使工件20在线扫第一位置140及线扫第二位置150之间匀速移动，能够保证第一检测组件100扫描工件20上各个区域的外形结构时具有相同的准确度。避免由于工件20移动速度不同而导致第一检测组件100所获取的检测图像存在局部失真的情况。同时通过使工件20匀速的运动于线扫第一位置140与线扫第二位置150之间，还能够使线扫件110扫描的图像中各个区域的清晰度更加均匀，便于针对各种不同结构的工件20。

请继续参阅图4及图5，在一个实施例中，工件20在线扫第一位置140与线扫第二位置150之间移动时，线扫件110靠近工件20的一端与工件20的最短距离不变。即，工件20相对线扫件110平行移动。如此，线扫件110扫描所得到的工件20上各个区域的清晰度、分辨率等参数趋于一致。以此，能够使工件20各个区域都能被较准确的检测，避免出现检测盲区或检测失真区。

请参阅图3并结合图2，在一个实施例中，第一检测组件100还包括第一调节装置120。线扫件110设于第一调节装置120上。第一调节装置120用于调整线扫件110与第一检测工位之间的距离。结合图2，通过第一调节装置120能够调节线扫件110与工件20在Z轴上的距离，以使线扫件110能够对不同厚度的工件20进行检测。以此，提高了外观检测装置10的适用性。并且，通过第一调节装置120调整线扫件110在Z轴方向上与工件20之间的距离使线扫件110更靠近工件20。如此，还能使线扫件110应用于结构相对复杂的工件20。

请参阅图3，在一个实施例中，第一调节装置120包括第一滑轨121以及与第一滑轨121滑动配合的第一滑台122，线扫件110设于第一滑台122上。通过第一滑台122相对第一滑轨121滑动能够调整线扫件110与工件20之间的距离。具体地，第一检测组件100还包括第一支撑架123，线扫件110通过第一支撑架123与第一滑台122连接。第一支撑架123用于承载线扫件110。第一调节装置120还包括第一导向件125及第一导向轨124，第一导向件125设于第一支撑架123上，第一导向轨124与第一滑轨121平行设置。第一导向件125与第一导向轨124滑动配合以避免在Z轴方向上调整线扫件110位置时线扫件110发生偏移，从而影响检测效果。

进一步地，第一滑台122上还可以设置第一手柄(图未示，下同)及第一夹紧件(图未示，下同)。可以通过第一手柄调节第一滑台122相对第一滑轨121的位置，通过第一夹紧件使第一滑台122与第一滑轨121的位置保持相对稳定，以稳定的检测工件20的外形。

请参阅图3并结合图6，在一个实施例中，第一检测组件100还包括多个第一光源130，多个第一光源130从不同角度对着第一检测工位。如此，当工件20在工件20调整装置的驱动下运动至第一检测工位时，多个光源能够从不同角度照亮工件20。如此能够更便于线扫件110检测工件20上的细节结构，便于使检测结果更加准确。

请继续参阅图3并结合图6，在一个实施例中，多个第一光源130包括同轴光源131，同轴光源131设于线扫件110上靠近工件20一端与第一检测工位连线上的任意位置。通过将同轴光源131设于线扫件110与第一检测工位连线上的任意位置，同轴光131a能够更加均匀的照亮工件20。如此线扫件110在扫描工件20时能够获得更清晰的图像，提高线扫检测的准确性。

进一步地，多个第一光源130还包括第一线光源132及第二线光源133。第一线光源132与第二线光源133从不同的角度对着处于第一检测工位的工件20。第一线光源132与第二线光源133向第一检测工位发射第一线光132a与第二线光133a，能够进一步照亮工件20上的细节结构，以提高线扫件110扫描效果。可以理解的是，图1至图7中所示的同轴光131a、第一线光132a及第二线光133a仅为示意，以便于说明各个光源提供光的方向，实际中并不存在名称为同轴光131a、第一线光132a及第二线光133a的结构。

请参阅图6，在一个实施例子中，第二检测组件200包括第二调节装置220以及设于第二调节装置220上的复检件210。复检件210用于检测工件20的结构，第二调节装置220用于调整复检件210与第二检测工位之间的距离。通过第二调节装置220能够调节复检件210与工件20在Z轴上的距离，以使复检件210能够对不同厚度的工件20进行检测。以此，提高了外观检测装置10的适用性。并且，通过第二调节装置220调整复检件210在Z轴方向上与工件20之间的距离使复检件210更靠近工件20。如此，还能使复检件210应用于结构相对复杂的工件20。复检件210具体例如可以为VRS复检件210，通过VRS复检件210能够准确检测工件20上指定区域的外形结构。可以理解的是，复检件210还可以根据需求设置为其他形式的复检件210，在此不进行限定。

请参阅图6，在一个实施例中，第二调节装置220包括的第二滑轨221以及与第二滑轨221滑动配合的第二滑台222。复检件210设于第二滑台222上。通过第二滑台222相对第二滑轨221滑动能够调整复检件210与工件20之间的距离。具体地，第二检测组件200还包括第二支撑架223，复检件210通过第二支撑架223与第二滑台222连接。第二支撑架223用于承载复检件210。

进二步地，第二滑台222上还可以设置第二手柄(图未示，下同)及第二夹紧件(图未示，下同)。可以通过第二手柄调节第二滑台222相对第二滑轨221的位置，通过第二夹紧件使第二滑台222与第二滑轨221的位置保持相对稳定，以稳定的检测工件20的外形。

请继续参阅图6，在一个实施例中，第二检测组件200还包括多个第二光源230。多个第二光源230从不同角度对着第二检测工位设置。通过多个第二光源230不同角度照亮位于第二检测工位的工件20，能够照亮工件20上各个结构的细节、缝隙或相关的细节。如此能够保证第二检测组件200检测的准确性。多个第二光源230具体例如可以包括环形光源231、条形光232，通过环形光源231及条形光232共同照亮第二检测工位，以提高复检件210的检测效果。

请再次参阅图6，在一个实施例中，第二检测组件200还包括光指示器240，光指示器240用于发射指示光241，指示光241指向第二检测工位以在第二检测工位上形成标记点(图未示，下同)。结合上述实施例可知，第二检测组件200用于进一步检测第一检测组件100所检测的缺陷、瑕疵。换言之，第二检测组件200的主要作用是针对性的对工件20上某个指定的区域。光指示器240能够发生指示光241以在第二工位上形成标记点，如此，能够便于获知第二检测组件200所检测的位置。从而，能够便于将上述工件20上的缺陷移动至第二检测工位，以便于复检件210能够对准工件20上的指定区域，以针对性的对工件20的指定区域进行检测。

请参阅图7并结合图1及图3，在一个实施例中，外观检测装置10还包括第四调节装置400以及支撑架600。第四调节装置400与支撑架600连接用于驱动支撑架600移动。第一检测组件100及第二检测组件200均设于支撑架600上。第一检测组件100及第二检测组件200均设于支撑架600上。如此，当第一检测组件100检测到工件20某个区域存在缺陷时，第三调节装置300能够直接控制工件20移动。以使上述工件20上存在缺陷的区域移动至第二检测工位接受第二检测组件200的进一步检测，无需拆装工件20并对工件20进行重复定位。减少工件20多次取放和位置移动引发对工件20检测的误判。

进一步地，多个第一光源130及多个第二光源230均设于支撑架600上。多个第一光源130及多个第二光源230于支撑架600上的位置可调，通过调整多个第一光源130及多个第二光源230相对支撑架600的位置能够调整上述光源提供光线的角度，以适用于规格的工件20。

更进一步地，第四调节装置400与支撑架600连接，第四调节装置400能够驱动支撑架600移动。具体地，第四调节装置400能够驱动支撑架600在Y轴方向上移动，即第四调节装置400能够驱动第一检测组件100及第二检测组件200在Y轴方向上移动。结合上述实施例，第三调节装置300能够驱动工件20在X轴方向上移动。如此，在行程范围内，通过第三调节装置300及第四调节装置400的共同作用，能够使第一检测组件100及第二检测组件200XOY平面上到达相对工件20的任意位置，从而能够对工件20在XOY平面上的所有区域进行检测。

请再次参阅图7，在一个实施例中，第四调节装置400包括第四驱动件410、第四滑轨420以及与第四滑轨420滑动配合的第四滑台430。支撑架600设于第四滑台430上，第四驱动件410能够驱动支撑架600随第四滑台430相对第四滑轨420滑动。如此，通过使第四驱动件410驱动支撑架600随第四滑台430相对第四滑轨420滑动能够改变第一检测组件100及第二检测组件200与Y轴方向上的位置，以全面检测工件20上各个区域的外形结构。结合图1，具体地，第四调节装置400还包括第一立柱460、第二立柱470及连接桁架480。第一立柱460的一端与下壳体500连接，另一端与连接桁架480连接；第二立柱470的一端与下壳体500连接，另一端与连接桁架480连接。换言之，连接桁架480的两端分别与第一立柱460及第二立柱470连接。第四滑轨420设于连接桁架480上。连接桁架480用于支撑第四调节装置400、第四调节装置400上所设置的支撑架600以及支撑架600上所设置的第一检测组件100及第二检测组件200。

进一步地，第四调节装置400还包括第四导向件450及第四导向轨440，第四导向件450设于支撑架600上，第四导向轨440与第四滑轨420平行设置。第四导向件450与第四导向轨440滑动配合以避免在Y轴方向上调整支撑架600位置时支撑架600发生偏移，从而影响检测效果。

请再次参阅图3，在一个实施例中，外观检测装置10还包括扫码器700，扫码器700设于支撑架600上，扫码器700用于扫描工件20上的标识码。扫码器700与处理器电性连接。如此设置，在对工件20进行检测之前通过扫码器700扫描工件20上的标识码，读取工件20的ID，以便于处理器针对不同的外形结构的工件20进行分析识别。

在一个实施例中，工件20具体例如可以为PCB板、液晶面板等类似的板状工件20。当然，工件20还可以是其他形状的结构，在此不进行限定。

在各个实施例中，上述外观检测装置10的检测过程包括：首先将工件20放置于承载台330上。具体地，承载台330上可以设置相关的定位组件以使工件20处于合适的待检测位置。

随后，驱动真空发生器将工件20吸附于承载台330上。在本步骤中，若工件20存在翘曲变形，则可以手动将工件20抚平再驱动真空发生器吸附。也可以直接启动真空发生器将工件20吸附平。

然后，驱动第三调节装置300将工件20移动至第一检测工位，进行线性扫描。在工件20移动的过程中，扫码器700可以对工件20进行扫码，以读取工件20的ID。若工件20的尺寸大于线扫件110的视野宽度(扫描范围)，则第一检测组件100完成一个方向上的线扫后，启动第四调节装置400使支撑架600在Y轴方向移动。之后再驱动第三调节装置300对工件20剩余区域再进行一次线性扫描。将两次扫描的结果通过图片拼接以得到工件20的完整图像。

之后，第一检测组件100将一次或多次线扫的结果传输给处理器，处理器分析线扫的图像是否存在缺陷或存在疑似的缺陷。若存在，则将上述区域的坐标传输给工控机。随后自动、半自动或手动通过第三调节装置300将上述区域移动至第二检测工位，进行进一步检测，并对第二检测工位所确定的缺陷进行标记。若不存在，则完成检测。

最后，当工件20其中一个面检测全部完成之后，将工件20翻面，对工件20的另一面重复上述步骤，最终完成检测。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (15)

1.一种外观检测装置，用于对工件的外观进行检测，其特征在于，所述外观检测装置包括：

第一检测组件，所述第一检测组件用于在所述工件处于第一检测工位时检测所述工件的结构；

第二检测组件，所述第二检测组件用于在所述工件处于第二检测工位时检测所述工件的结构；

第三调节装置，所述工件设于所述第三调节装置上，所述第三调节装置能够带动所述工件移动至所述第一检测工位；且所述第三调节装置用于在第一检测组件检测出所述工件存在缺陷时带动所述工件由所述第一检测工位移动至所述第二检测工位。

2.根据权利要求1所述的外观检测装置，其特征在于，所述外观检测装置还包括处理器，所述处理器与所述第一检测组件及所述第二检测组件电性连接。

3.根据权利要求1所述的外观检测装置，其特征在于，所述第一检测组件包括线扫件，所述线扫件用于检测所述工件的结构，所述第一检测组件在检测所述工件时所述工件包括线扫第一位置及线扫第二位置，所述线扫第一位置与所述线扫第二位置分别位于所述第一检测工位的两侧。

4.根据权利要求3所述的外观检测装置，其特征在于，所述第一检测组件还包括第一调节装置，所述线扫件设于所述第一调节装置上，所述第一调节装置用于调整所述线扫件与所述第一检测工位之间的距离。

5.根据权利要求4所述的外观检测装置，其特征在于，所述第一调节装置包括第一滑轨以及与所述第一滑轨滑动配合的第一滑台，所述线扫件设于所述第一滑台上。

6.根据权利要求3所述的外观检测装置，其特征在于，所述第一检测组件还包括多个第一光源，多个所述第一光源从不同角度对着所述第一检测工位。

7.根据权利要求6所述的外观检测装置，其特征在于，多个所述第一光源包括同轴光源，所述同轴光源设于所述线扫件上靠近所述工件一端与所述第一检测工位连线上的任意位置。

8.根据权利要求1所述的外观检测装置，其特征在于，所述第二检测组件包括第二调节装置以及设于所述第二调节装置上的复检件，所述复检件用于检测所述工件的结构，所述第二调节装置用于调整所述复检件与所述第二检测工位之间的距离。

9.根据权利要求1所述的外观检测装置，其特征在于，所述第二检测组件还包括多个第二光源，多个所述第二光源从不同角度对着所述第二检测工位设置。

10.根据权利要求1所述的外观检测装置，其特征在于，所述第二检测组件还包括光指示器，所述光指示器用于发射指示光，所述指示光指向第二检测工位以在所述第二检测工位上形成标记点。

11.根据权利要求1所述的外观检测装置，其特征在于，所述外观检测装置还包括第四调节装置以及支撑架，所述第四调节装置与所述支撑架连接用于驱动所述支撑架移动，所述第一检测组件及所述第二检测组件均设于所述支撑架上。

12.根据权利要求11所述的外观检测装置，其特征在于，所述第四调节装置包括第四驱动件、第四滑轨以及与所述第四滑轨滑动配合的第四滑台，所述支撑架设于所述第四滑台上，所述第四驱动件能够驱动所述支撑架随所述第四滑台相对所述第四滑轨滑动。

13.根据权利要求11所述的外观检测装置，其特征在于，所述外观检测装置还包括扫码器，所述扫码器设于所述支撑架上，所述扫码器用于扫描所述工件上的标识码。

14.根据权利要求1所述的外观检测装置，其特征在于，所述第三调节装置包括：第三驱动件、第三滑轨以及与所述第三滑轨滑动配合的承载台，所述工件设于所述承载台上，所述第三驱动件与所述承载台相连，用于驱动所述承载台沿着所述第三滑轨移动。

15.根据权利要求14所述的外观检测装置，其特征在于，所述第三调节装置还包括真空发生器，所述承载台上开设有多个与所述真空发生器连通的吸附孔，所述工件能够覆盖多个所述吸附孔远离所述真空发生器的一端。

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