CN110987966A - 曲面基板的检测方法及检测系统 - Google Patents

曲面基板的检测方法及检测系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种曲面基板的检测方法及检测系统，涉及显示屏检测技术领域，检测方法包括通过面板参数获取装置获取曲面基板的实际参数值，将实际参数值发送至数据处理器；数据处理器通过实际参数值，计算曲面基板或采集装置的运动轨迹；当采集装置固定时，传动装置夹持曲面基板并根据其运动轨迹移动曲面基板，采集装置获取曲面基板的画面信息，并将画面信息发送至数据处理器；当曲面基板固定时，传动装置夹持采集装置并根据其运动轨迹移动采集装置，通过采集装置获取曲面基板的画面信息，并将画面信息发送至数据处理器；通过数据处理器根据画面信息计算得到曲面基板的光亮强度，并从光亮强度中选取异常值；有利于对曲面基板的产品良率进行检测。

Description

曲面基板的检测方法及检测系统
技术领域
本发明涉及显示屏检测技术领域，更具体地，涉及一种曲面基板的检测方法及检测系统。
背景技术
目前，对于LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示器)、OLED(OrganicLight-Emitting Diode,有机发光二极管)等进行检测所使用的AOI(Automated OpticalInspection,自动光学检测)系统，均是针对于平面屏进行拍摄定位画面，并对平面屏的画面进行检测的；现有AOI系统无法对曲面屏进行检测得到准确的检测结果，即目前市场上缺乏针对于曲面屏的检查方案，因此亟待一种能够用于对曲面屏进行检测的系统及检测方法。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种曲面基板的检测方法及检测系统，通过曲面基板的面板参数计算出曲面基板或采集装置的运动轨迹，通过固定曲面基板移动采集装置，或，通过固定采集装置移动曲面基板，从而通过采集装置采集其对应的曲面基板的画面信息，通过对画面信息进行计算得到曲面基板的光亮强度，选取光亮强度的异常值，以确定曲面基板上的瑕疵信息，有利于实现对曲面基板的面板良率进行检测。
第一方面，本申请提供一种曲面基板检测方法，应用于所述曲面基板的检测系统，所述检测系统包括面板参数获取装置、传动装置、采集装置和数据处理器，所述检测方法包括：
通过所述面板参数获取装置获取所述曲面基板的实际参数值，并将所述实际参数值发送至所述数据处理器；
所述数据处理器通过接收的所述实际参数值，计算所述曲面基板的运动轨迹；或，通过接收的所述实际参数值，计算所述采集装置的运动轨迹；
当所述采集装置的位置固定时，所述传动装置夹持所述曲面基板，并根据所述曲面基板的运动轨迹移动所述曲面基板，所述采集装置获取所述曲面基板的画面信息，并将所述画面信息发送至所述数据处理器；或当所述曲面基板的位置固定时，所述传动装置夹持所述采集装置，并根据所述采集装置的运动轨迹移动所述采集装置，同时通过所述采集装置获取所述曲面基板的画面信息，并将所述画面信息发送至所述数据处理器；
通过所述数据处理器根据所述画面信息计算得到所述曲面基板的光亮强度，并从所述光亮强度中选取异常值。
第二方面，本申请提供一种曲面基板检测系统，包括面板参数获取装置、传动装置、采集装置和数据处理器；
所述面板参数获取装置用于获取所述曲面基板的实际参数值，并将所述实际参数值发送至所述数据处理器中；
所述传动装置用于夹持所述曲面基板，并根据所述曲面基板的运动轨迹移动所述曲面基板；或，所述传动装置用于夹持所述采集装置，并根据所述采集装置的运动轨迹移动所述采集装置；
所述采集装置用于获取所述曲面基板的画面信息，并将所述画面信息发送至所述数据处理器；
所述数据处理器用于通过接收的所述实际参数值，计算所述曲面基板的运动轨迹；或，用于通过接收的所述实际参数值，计算所述采集装置的运动轨迹；所述数据处理器还用于根据所述画面信息计算得到所述曲面基板的光亮强度，并从所述光亮强度中选取异常值。
与现有技术相比，本发明提供的一种曲面基板的检测方法及检测系统，至少实现了如下的有益效果：
本申请通过待测曲面基板的实际参数值，计算曲面基板的运动轨迹或采集装置的运动轨迹；当采集装置位置固定时，根据运动轨迹移动曲面基板，当曲面基板位置固定时，根据运动轨迹移动采集装置，从而通过采集装置采集曲面基板的画面信息；进而通过对画面信息计算得到曲面基板的光亮强度，并从中选取异常值；其中异常值对应的位置即为曲面基板上的瑕疵所在，从而实现对于曲面基板上所存在的影响显示效果的问题进行确定，有利于实现对于曲面基板良率的检测。
当然，实施本发明的任一产品必不特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。
通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。
图1所示为本申请实施例提供的一种曲面基板检测方法；
图2所示为本申请实施例提供的曲面基板的一种示意图；
图3所示为本申请实施例提供的一种外光源照射曲面基板的示意图；
图4所示为本申请实施例提供的另一种曲面基板检测方法；
图5所示为本申请实施例提供的再一种曲面基板检测方法；
图6所示为本申请实施例提供的又一种曲面基板检测方法；
图7所示为本申请实施例提供的一种曲面基板检测系统模块图；
图8所示为本申请实施例提供的另一种曲面基板检测系统模块图；
图9所示为本申请实施例提供的再一种曲面基板检测系统模块图；
图10所示为本申请实施例提供的一种曲面基板检测系统示意图。
具体实施方式
现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。
以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。
对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
现有技术中，均是针对于平面屏进行拍摄定位画面，并对平面屏的画面进行检测的；现有AOI系统无法对曲面屏进行检测得到准确的检测结果，因此亟待一种能够用于对曲面屏进行检测的系统及检测方法。
有鉴于此，本发明提供了一种曲面基板的检测方法及检测系统，通过曲面基板的面板参数计算出曲面基板或采集装置的运动轨迹，通过固定曲面基板移动采集装置，或，通过固定采集装置移动曲面基板，从而通过采集装置采集其对应的曲面基板的画面信息，通过对画面信息进行计算得到曲面基板的光亮强度，选取光亮强度的异常值，以确定曲面基板上的瑕疵信息，有利于实现对曲面基板的面板良率进行检测。
图1所示为本申请实施例提供的一种曲面基板检测方法，图2所示为本申请实施例提供的曲面基板的一种示意图，请参照图1和图2，本申请提供了一种曲面基板10检测方法，应用于曲面基板10的检测系统，检测系统包括面板参数获取装置、传动装置、采集装置和数据处理器，检测方法包括：
步骤101、通过面板参数获取装置获取曲面基板10的实际参数值，并将实际参数值发送至数据处理器；
步骤102、数据处理器通过接收的实际参数值，计算曲面基板10的运动轨迹15；或，通过接收的实际参数值，计算采集装置的运动轨迹15；
步骤103、当采集装置的位置固定时，传动装置夹持曲面基板10，并根据曲面基板10的运动轨迹15移动曲面基板10，采集装置获取曲面基板10的画面信息，并将画面信息发送至数据处理器；或当曲面基板10的位置固定时，传动装置夹持采集装置，并根据采集装置的运动轨迹15移动采集装置，同时通过采集装置获取曲面基板10的画面信息，并将画面信息发送至数据处理器；
步骤104、通过数据处理器根据画面信息计算得到曲面基板10的光亮强度，并从光亮强度中选取异常值。
具体地，本申请提供了一种用于对曲面屏进行检测的曲面基板10检测方法，通过应用于曲面基板10的检测系统对曲面基板10进行检测，此曲面基板10检测系统至少包括面板参数获取装置、传动装置、采集装置和数据处理器；检测方法包括：步骤101中，通过面板参数获取装置对待测曲面基板10的实际参数值进行获取，面板参数获取装置将其所获取到的实际参数值发送到数据处理器；数据处理器通过步骤102接收曲面基板10的实际参数值，计算曲面基板10的运动轨迹15或是计算采集装置的运动轨迹15，上述曲面基板10的运动轨迹15和采集装置的运动轨迹15是相同的，也即，通过待测曲面基板10的实际参数计算出的运动轨迹15既可以是曲面基板10的运动轨迹也可以是采集装置的运动轨迹。步骤103中，对于曲面基板10的画面信息采集存在两种采集方式，其一，将采集装置的位置固定，使得采集装置不会发生移动，且使得采集装置的采集端口朝向待测曲面基板10设置，通过传动装置夹持待测曲面基板10，传动装置根据上述计算出的运动轨迹15来移动曲面基板10，随着曲面基板10的移动，采集装置获取曲面基板10的画面信息，并将所获取的画面信息发送至数据处理器；其二，将曲面基板10的位置固定，使得曲面基板10在对其显示画面进行采集的过程中不会发生移动，通过传动装置夹持采集装置，且使得采集装置的采集端口朝向待测曲面基板10设置，传动装置根据上述计算出的运动轨迹15来移动采集装置，采集装置随着自身的移动获取曲面基板10的画面信息，并将所获取的画面信息发送至数据处理器；步骤104中，数据处理器通过计算其所收到的采集装置发送的画面信息，得到曲面基板10的光亮强度，对整个曲面基板10进行区域划分，对每个区域中的光亮强度与参考光亮强度进行差值比较，当计算得到的差值大于预设差值时，即为整个曲面基板10光亮强度的异常值，此处的异常值即为曲面基板10上出现的较亮/较暗的点/区域；也即，通过上述步骤对曲面基板10的良率进行检测，以确定待测曲面基板10是否合格，有利于避免影响显示效果的曲面基板10流入到市场中。
需要说明的是，本申请中的采集装置可以是线扫相机，通过线扫相机对曲面基板10进行多次拍摄得到不同子图像，该不同的子图像可以为“条状”图像，再将所拍摄下来的多幅“条状”图像，合并成一张完整的图像，进而形成曲面基板10的整张拍摄画面。
图3所示为本申请实施例提供的一种外光源照射曲面基板的示意图，图4所示为本申请实施例提供的另一种曲面基板检测方法，请参照图2-图4，可选地，检测系统还包括外光源11，外光源11照射曲面基板10任一侧表面；
在计算曲面基板10或采集装置的运动轨迹15之后，检测方法还包括：步骤1021、点亮曲面基板10并打开采集装置，或，打开外光源11和采集装置。
具体地，对于曲面基板10进行检测时，曲面基板10可以存在两种状态，其一为曲面基板10的内光源被打开点亮，其二为曲面基板10的内光源不打开；当曲面基板10的内光源不打开时，若要对曲面基板10表面是否具有划痕等瑕疵进行检测时，检测系统可包括外光源11，通过在曲面基板10的外侧设置外光源11，外光源11打开后照射到曲面基板10的表面，通过采集装置对曲面基板10表面的光亮强度进行获取，若是存在异常值，则曲面基板10的表面存在瑕疵。
也就是说，在步骤102计算了曲面基板10/采集装置的运动轨迹15之后，对于曲面基板10的检测法方法还可包括步骤1021，在对曲面基板10内部电性瑕疵和表面物理瑕疵同时进行检测时，需要点亮曲面基板10并打开采集装置；当仅对曲面基板10表面的划痕或异物等瑕疵进行检测时，则需要打开外光源11和采集装置。
需要说明的是，本申请图3仅提供了一种外光源11位于曲面基板10朝向采集装置的一侧面设置的方式，但是本申请并不限定外光源11的设置位置，例如待测曲面基板10为透明基板时，外光源11也可于曲面基板10背离采集装置的一侧设置，只要外光源11能够将光打到曲面基板10的表面上，实现对于曲面基板10表面瑕疵的检测即可。
请继续参照图2，可选地，曲面基板10包括显示区13和围绕显示区13的非显示区12，显示区13内包括阵列排布的多个子像素14；
采集装置获取曲面基板10的画面信息，包括：采集装置在每帧拍摄时间段内采集显示区13内的一行或一列子像素14，根据一行或一列子像素14对应的曲面基板10发出的光亮得到画面信息。
具体地，本申请所要检测的曲面基板10包括显示区13和围绕显示区13的非显示区12，显示区13内包括阵列排布的多个子像素14；步骤103中通过采集装置获取曲面基板10的画面信息，包括采集装置(线扫相机)在每帧拍摄时间段内采集显示区13内的一行或一列子像素14，即采集装置在每帧拍摄时间段内仅拍摄一行或一列的子像素14，通过将采集装置拍摄的每行或每列子像素14对应的曲面基板10的光亮进行整合，得到整个曲面基板10的画面信息。
需要说明的是，上述采集装置在每帧拍摄时间段内采集显示区13内的一行或一列子像素14是本申请提供的一种优选的方式，本申请并不限定采集装置每帧拍摄时间段内采集的显示区13内的子像素14的行数或列数，即每帧拍摄时间段内可采集多行或多列子像素14，只要最终能够清晰完整地采集得到整个曲面基板10的画面信息，不影响对于曲面基板10上所存在瑕疵的检测即可。
请继续参照图2-图4，可选地，曲面基板10或采集装置在根据对应的运动轨迹15移动时，移动为匀速运动。
具体地，在步骤103中，曲面基板10或者采集装置通过传动装置的控制，根据预先计算得到的运动轨迹15控制传动装置的移动路线，此处传动装置的移动为匀速运动，以保证采集装置对曲面基板10上每行或每列子像素14进行拍摄的稳定性，避免漏拍或者拍摄结果不准确，从而提高对于曲面基板10进行检测的结果准确率。
图5所示为本申请实施例提供的再一种曲面基板检测方法，请参照图2和图5，可选地，检测系统还包括器件固定装置，检测方法还包括步骤1010、通过器件固定装置固定曲面基板10。
具体地，本申请中的检测系统还可以包括器件固定装置，在步骤101之间检测方法还可包括步骤1010、通过器件固定装置固定曲面基板10，以便于步骤101中的面板参数获取装置对曲面基板10的实际参数值进行准确获取。
此外，步骤1010中的器件固定装置在步骤103对曲面基板10的画面信息进行采集的过程中，还可将器件固定装置复用于固定曲面基板10或采集装置，即当传动装置夹持采集装置进行移动时，可通过器件固定装置来稳定曲面基板10的位置；当传动装置夹持曲面基板10进行移动时，可通过器件固定装置来稳定采集装置的位置。
图6所示为本申请实施例提供的又一种曲面基板检测方法，请参照图2和图6，可选地，在通过面板参数获取装置获取曲面基板10的实际参数值之前，检测方法还包括：步骤1011、面板参数获取装置接收曲面基板10的目标参数值，面板参数获取装置根据目标参数值调整面板参数获取装置检测曲面基板10的位置；
通过面板参数获取装置获取曲面基板10的实际参数值，包括：通过面板参数获取装置，获取固定于器件固定装置上的曲面基板10的实际参数值。
具体地，本申请中的步骤1010之前还可包括步骤1011，步骤1011中面板参数获取装置接收待测曲面基板10的目标参数值，此目标参数值包括待测曲面基板10的各种设计参数(目标参数值)，面板参数获取装置可以根据目标参数值近乎确定出待测曲面基板10的各种实际参数值，由于实际生产中，目标参数值和实际参数值之间往往会存在一些微小的差异，因此上述输入的曲面基板10的目标参数值仅是为面板参数获取装置测量曲面基板10的各种实际参数值时提供一个位置对照，方便参数获取装置能够快速定位出对于曲面基板10进行实际参数值测量的起始坐标(AA')、拐点坐标(BB')、终点坐标(CC')等。例如，通过从曲面基板10的起始坐标(AA')往其终点坐标(CC')进行逐步扫描来获取曲面基板10的各种实际参数值时，面板参数获取装置根据接收到的目标参数值能够快速定位到待测曲面基板10的实际起始坐标(AA')，当扫描待测曲面基板10的过程中快要到达曲面基板10发生弯曲的位置时，面板参数获取装置根据接收到的目标参数值中的目标拐点坐标(BB')也能够快速反应出已经接近要对弯曲的位置进行扫描，进而通过目标参数中的终点坐标(CC')也能够使得面板参数获取装置获悉已经接近曲面基板10实际参数值获取的终点位置，避免面板参数获取装置做大量无用功；又例如，仅需要对待测曲面基板10的拐点坐标(BB')进行实际参数值的测量时，面板参数获取装置可以根据输入其中的待测曲面基板的目标参数值快速定位到实际拐点坐标(BB')的相应位置，进而对其实际拐点坐标(BB')进行测量确认；有利于面板参数获取装置对于曲面基板10实际参数值的快速获取，也有利于避免面板参数获取装置在对曲面基板10的测量过程中对其造成损伤的可能性。
在步骤101通过面板参数获取装置获取曲面基板10的实际参数值，具体包括通过面板参数获取装置，获取稳定固定于器件固定装置上的待测曲面基板10的各种实际参数值。
在此，还需要补充的是，步骤102中对于曲面基板10或者采集装置的运动轨迹15进行计算，具体为：数据处理器对曲面基板10的目标参数值与实物的实际参数值进行校正后得到使采集装置相对于曲面基板10做径向运行的移动轨迹15，再与采集装置所设定的曝光时间与帧频参数合并计算出采集装置和曲面基板10的相对运行速度。
请参照图2和图6，可选地，曲面基板10的目标参数值和曲面基板10的实际参数值均包括曲面基板10的曲率半径和显示区13的起始坐标(AA')、拐点坐标(BB')、终点坐标(CC')。
具体地，上述步骤1011和步骤101中的曲面基板10的目标参数值和曲面基板10的实际参数值均包括曲面基板10的曲率半径、曲面基板10显示区13的起始坐标(AA')、曲面的拐点坐标(BB')、显示区13的终点坐标(CC')等。
可选地，曲面基板10和采集装置发生相对运动时的任一时刻，曲面基板10上被采集装置所采集的一行或一列子像素14对应的曲面基板10的表面与采集装置之间的距离相等。
具体地，在传动装置控制曲面基板10或采集装置，使得曲面基板10和采集装置发生相对运动时的任一时刻，曲面基板10上被采集装置所采集的一行或一列子像素14对应的曲面基板10的表面和采集装置之间的最短距离都是相等的，也可以说是采集装置或曲面基板10发生运动的路径即为曲面基板10表面所对应的曲线。
需要说明的是，对于采集装置对曲面基板10进行画面采集的过程中，曲面基板10或其所对应的采集装置的运动轨迹15也可以为一直线轨迹，根据画面采集过程中采集装置和曲面基板10之间的距离实时调整采集装置的焦距即可，此时所使用的采集装置需为可智能化变焦的采集装置。
图7所示为本申请实施例提供的一种曲面基板检测系统模块图，请参照图2和图7，基于同一发明构思，本申请还提供了一种曲面基板检测系统200，包括面板参数获取装置201、传动装置202、采集装置203和数据处理器204；
面板参数获取装置201用于获取曲面基板10的实际参数值，并将实际参数值发送至数据处理器204中；
传动装置202用于夹持曲面基板10，并根据曲面基板10的运动轨迹15移动曲面基板10；或，传动装置202用于夹持采集装置203，并根据采集装置203的运动轨迹15移动采集装置203；
采集装置203用于获取曲面基板10的画面信息，并将画面信息发送至数据处理器204；
数据处理器204用于通过接收的实际参数值，计算曲面基板10的运动轨迹15；或，用于通过接收的实际参数值，计算采集装置203的运动轨迹15；数据处理器204还用于根据画面信息计算得到曲面基板10的光亮强度，并从光亮强度中选取异常值。
具体地，本申请还提供了一种用于对曲面基板10进行显示良率检测的曲面基板检测系统200，此系统至少包括面板参数获取装置201、传动装置202、采集装置203和数据处理器204；面板参数获取装置201用于获取待测曲面基板10的实际参数值，并将其所获取的实际参数值发送给数据处理器204；传动装置202用于夹持待测曲面基板10或者采集装置203，曲面基板或者采集装置203通过传动装置202的运动进行相应的移动，传动装置202的移动路线为曲面基板10或采集装置203的运动轨迹15；采集装置203用于获取曲面基板10的画面信息，并将画面信息发送给数据处理器204；数据处理器204用于接收面板参数获取装置201获取的待测曲面基板10的实际参数值，并通过实际参数值计算采集装置203或曲面基板10的运动轨迹15；数据处理器204还可以用于根据采集装置203获取的曲面基板10的画面信息计算整个曲面基板10的光亮强度，通过提取曲面基板10光亮强度中的异常值，来确定曲面基板10上是否存在瑕疵，实现对曲面基板10的良率检测，以确定待测曲面基板10是否合格。
图8所示为本申请实施例提供的另一种曲面基板检测系统模块图，请参照图2和图8，可选地，检测系统还包括外光源205，外光源205用于照射曲面基板10的任一侧表面。
具体地，对于曲面基板10进行检测时，曲面基板10可以存在两种状态，其一为曲面基板10的内光源被打开点亮，其二为曲面基板10的内光源不打开；当曲面基板10的内光源不打开时，若要对曲面基板10表面是否具有划痕等瑕疵进行检测时，检测系统可包括外光源205，通过在曲面基板10的外侧设置外光源205，外光源205打开后照射到曲面基板10的表面，通过采集装置203对曲面基板10表面的光亮强度进行获取，若是存在异常值，则曲面基板10的表面存在瑕疵。
需要说明的是，本申请并不限定外光源205的设置位置，外光源205可以设置于曲面基板10靠近采集装置203的一侧，此外，例如待测曲面基板10为透明基板时，外光源205也可于曲面基板10背离采集装置203的一侧设置，只要外光源205能够将光打到曲面基板10的表面上，实现采集装置203对于曲面基板10表面瑕疵的检测即可。
图9所示为本申请实施例提供的再一种曲面基板检测系统模块图，请参照图2和图9，可选地，检测系统还包括器件固定装置206，器件固定装置206用于固定曲面基板10。
具体地，本申请中的检测系统还可以包括器件固定装置206，通过器件固定装置206稳定地固定待测曲面基板10，以便于面板参数获取装置201对曲面基板10的实际参数值进行准确获取。
图10所示为本申请实施例提供的一种曲面基板检测系统示意图，请参照图10，图10仅以简图示意出本申请的曲面基板检测系统200，并不代表实际生产中的系统结构；图10中的器件固定装置206可用于稳固待测曲面基板10，面板参数获取装置201来获取曲面基板10的实际参数值，并将实际参数值发送至数据处理器204中；数据处理器204用于通过接收的实际参数值，计算曲面基板10的运动轨迹15；或，计算采集装置203的运动轨迹15；传动装置202用于夹持采集装置203，并根据采集装置203的运动轨迹15移动采集装置203；采集装置203用于获取曲面基板10的画面信息，并将画面信息发送至数据处理器204；数据处理器204根据画面信息计算得到曲面基板10的光亮强度，并从光亮强度中选取异常值，异常值对应的曲面基板10上的区域，即为曲面基板10的表面存在瑕疵的位置。
需要说明的是，图10并未示出传动装置202夹持曲面基板10，并根据曲面基板10的运动轨迹15移动曲面基板10的示意图；相应地，即为传动装置202夹持曲面基板10，使得曲面基板10的出光面朝向采集装置203，随着曲面基板10的移动，采集装置203对其进行画面信息采集。
通过上述实施例可知，本发明提供的曲面基板的检测方法及检测系统，至少实现了如下的有益效果：
本申请通过待测曲面基板的实际参数值，计算曲面基板的运动轨迹或采集装置的运动轨迹；当采集装置位置固定时，根据运动轨迹移动曲面基板，当曲面基板位置固定时，根据运动轨迹移动采集装置，从而通过采集装置采集曲面基板的画面信息；进而通过对画面信息计算得到曲面基板的光亮强度，并从中选取异常值；其中异常值对应的位置即为曲面基板上的瑕疵所在，从而实现对于曲面基板上所存在的影响显示效果的问题进行确定，有利于实现对于曲面基板良率的检测。
虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (11)

1.一种曲面基板检测方法，其特征在于，应用于所述曲面基板的检测系统，所述检测系统包括面板参数获取装置、传动装置、采集装置和数据处理器，所述检测方法包括：
通过所述面板参数获取装置获取所述曲面基板的实际参数值，并将所述实际参数值发送至所述数据处理器；
所述数据处理器通过接收的所述实际参数值，计算所述曲面基板的运动轨迹；或，通过接收的所述实际参数值，计算所述采集装置的运动轨迹；
当所述采集装置的位置固定时，所述传动装置夹持所述曲面基板，并根据所述曲面基板的运动轨迹移动所述曲面基板，所述采集装置获取所述曲面基板的画面信息，并将所述画面信息发送至所述数据处理器；或当所述曲面基板的位置固定时，所述传动装置夹持所述采集装置，并根据所述采集装置的运动轨迹移动所述采集装置，同时通过所述采集装置获取所述曲面基板的画面信息，并将所述画面信息发送至所述数据处理器；
通过所述数据处理器根据所述画面信息计算得到所述曲面基板的光亮强度，并从所述光亮强度中选取异常值。
2.根据权利要求1所述的曲面基板检测方法，其特征在于，所述检测系统还包括外光源，所述外光源照射所述曲面基板任一侧表面；
在计算所述曲面基板或所述采集装置的运动轨迹之后，所述检测方法还包括：点亮所述曲面基板并打开所述采集装置，或，打开所述外光源和所述采集装置。
3.根据权利要求1所述的曲面基板检测方法，其特征在于，所述曲面基板包括显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述显示区内包括阵列排布的多个子像素；
所述采集装置获取所述曲面基板的画面信息，包括：所述采集装置在每帧拍摄时间段内采集所述显示区内的一行或一列所述子像素，根据所述一行或一列所述子像素对应的所述曲面基板发出的光亮得到所述画面信息。
4.根据权利要求1所述的曲面基板检测方法，其特征在于，所述曲面基板或所述采集装置在根据对应的所述运动轨迹移动时，所述移动为匀速运动。
5.根据权利要求1所述的曲面基板检测方法，其特征在于，所述检测系统还包括器件固定装置，所述检测方法还包括通过所述器件固定装置固定所述曲面基板。
6.根据权利要求5所述的曲面基板检测方法，其特征在于，在通过所述面板参数获取装置获取所述曲面基板的实际参数值之前，所述检测方法还包括：所述面板参数获取装置接收所述曲面基板的目标参数值，所述面板参数获取装置根据所述目标参数值调整所述面板参数获取装置检测所述曲面基板的位置；
所述通过所述面板参数获取装置获取所述曲面基板的实际参数值，包括：通过所述面板参数获取装置，获取固定于所述器件固定装置上的所述曲面基板的实际参数值。
7.根据权利要求6所述的曲面基板检测方法，其特征在于，所述曲面基板的目标参数值和所述曲面基板的实际参数值均包括所述曲面基板的曲率半径和所述显示区的起始坐标、拐点坐标、终点坐标。
8.根据权利要求1所述的曲面基板检测方法，其特征在于，所述曲面基板和所述采集装置发生相对运动时的任一时刻，所述曲面基板上被所述采集装置所采集的一行或一列所述子像素对应的所述曲面基板的表面与所述采集装置之间的距离相等。
9.一种曲面基板检测系统，其特征在于，包括面板参数获取装置、传动装置、采集装置和数据处理器；
所述面板参数获取装置用于获取所述曲面基板的实际参数值，并将所述实际参数值发送至所述数据处理器中；
所述传动装置用于夹持所述曲面基板，并根据所述曲面基板的运动轨迹移动所述曲面基板；或，所述传动装置用于夹持所述采集装置，并根据所述采集装置的运动轨迹移动所述采集装置；
所述采集装置用于获取所述曲面基板的画面信息，并将所述画面信息发送至所述数据处理器；
所述数据处理器用于通过接收的所述实际参数值，计算所述曲面基板的运动轨迹；或，用于通过接收的所述实际参数值，计算所述采集装置的运动轨迹；所述数据处理器还用于根据所述画面信息计算得到所述曲面基板的光亮强度，并从所述光亮强度中选取异常值。
10.根据权利要求9所述的曲面基板检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括外光源，所述外光源用于照射所述曲面基板的任一侧表面。
11.根据权利要求9所述的曲面基板检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括器件固定装置，所述器件固定装置用于固定所述曲面基板。
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