CN217210757U - 一种高精度拼接测量平台 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉制造测量技术领域,具体涉及一种高精度拼接测量平台,包括测量机台、平面驱动组件以及形貌测量仪,所述测量机台顶部设置有测量窗口,所述形貌测量仪倒置地设置在所述测量窗口下方,且所述形貌测量仪与所述测量机台之间设置有升降驱动组件,所述平面驱动组件架设在所述测量窗口的侧边并露出所述测量窗口,所述平面驱动组件上设置有工件固定组件;本实用新型可对大尺寸工件进行高精度形貌测量。

Description

一种高精度拼接测量平台
技术领域
本实用新型涉制造测量技术领域,具体涉及一种高精度拼接测量平台。
背景技术
在进行板状、片状、卷状材料,例如灯箱反光板、光学导光板、微结构薄膜等的加工时,通常需要对材料进行大面积的表面形貌测量,目前大部分测量仪器测量区域有限,测量平台面积有限,无法满足一次测量整个大面积区域或大尺寸工件,故而需要小区域测量后拼接形成整个大尺寸板材或卷材的测量数据,才能控制生产中整张材料的质量。
在传统的测量平台中,主要通过装载工件的移动平台改变与形貌测量仪的位置关系,形貌测量仪通常通过立柱等机构设置在工件的上方,形貌测量仪系统根据镜头测量数据和走位数据,完整的展现出产品形貌,方便工程人员获得相关的数据,例如在CN109813226A中所公开的一种三维形貌测量仪,包括光学平台和设置于光学平台上的XY直线运动装置和设置有固定板的Z轴升降装置,XY直线运动装置用于带动样品放置单元在XY平面内做直线运动,Z轴升降装置用于带动三维形貌检测装置上下运动,可获得零件表面粗糙度、平面度等表面特征信息,具有构简单、成本低且测量精度高的特点,但是对于拼接板材来说,其具有较大的尺寸,而工作台面上立柱、升降装置等结构限制了工件的移动范围,导致大尺寸工件难以一次性测量完成。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的是克服现有技术中的缺陷,提供一种高精度拼接测量平台,可对大尺寸工件进行高精度形貌测量。
本实用新型的一种高精度拼接测量平台,包括测量机台、平面驱动组件以及形貌测量仪,所述测量机台顶部设置有测量窗口,所述形貌测量仪倒置地设置在所述测量窗口下方,且所述形貌测量仪与所述测量机台之间设置有升降驱动组件,所述平面驱动组件架设在所述测量窗口的侧边并露出所述测量窗口,所述平面驱动组件上设置有工件固定组件。
进一步,所述工件固定组件为电磁载物台,所述电磁载物台通过与其配合的磁性件夹持工件。
进一步,所述平面驱动组件包括X轴运动单元,所述X轴运动单元包括直线模组以及由所述直线模组驱动的主滑台,所述电磁载物台设置在所述主滑台上,所述X轴直线运动单元为两个,平行地设置在所述测量窗口的两侧。
进一步,所述平面驱动组件还包括Y轴运动单元,所述Y轴运动单元包括设置在所述主滑台上的动力轮以及设置在所述电磁载物台上的侧移滑台,所述侧移滑台沿Y轴方向滑动设置,所述动力轮与所述侧移滑台驱动连接,所述主滑台上还设置有驱动所述动力轮的动力机构,所述动力轮绕X轴方向的轴转动,所述磁性件为在Y方向上具有长度的板件且横跨两个平面驱动组件。
进一步,所述X轴运动单元和Y轴运动单元均由直线电机驱动,且所述主滑台与所述侧移滑台均配合设置有光栅尺。
进一步,所述工件固定组件为真空吸附组件。
进一步,所述测量机台包括底座以及整体旋转台面,所述平面驱动组件设置在所述整体旋转台面上。
本实用新型的有益效果是:本实用新型公开的一种高精度拼接测量平台,采用倒置的方式,将形貌测量仪设置在测量机台的内部,通过设置的测量窗口对工件进行形貌测量,而工件通过测量机台上部的平面驱动组件进行移动,由于不存在额外的阻碍,因此工件的移动范围大,使得本实用新型公开的测量平台适用于大尺寸平面工件的形貌测量。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步描述:
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型的俯视图;
图3为本实用新型中平面驱动组件的结构示意图。
附图标记说明:测量机台1、测量窗口11、底座12、整体旋转台面13、平面驱动组件2、电磁载物台21、磁性件22、直线模组23、主滑台24、侧移滑台25、动力轮26、动力机构27、光栅尺28、形貌测量仪3、升降驱动组件31。
具体实施方式
下面将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
如图1-3所示,本实施例中的一种高精度拼接测量平台,适用于对大尺寸板状工件进行形貌测量,包括测量机台1、平面驱动组件2以及形貌测量仪3,所述测量机台1顶部设置有测量窗口11,所述形貌测量仪3倒置地设置在所述测量窗口11下方,且所述形貌测量仪3与所述测量机台1之间设置有升降驱动组件31,所述平面驱动组件2架设在所述测量窗口11的侧边并露出所述测量窗口11,所述平面驱动组件2上设置有电磁载物台21,所述电磁载物台21通过与其配合的磁性件22夹持工件,在工件普遍为板材或平面片状的情况,可以设置真空吸附组件用于工件固定。
在实际使用时,将工件倒扣置于电磁载物台21上,拼缝位置对准下方的测量窗口11,并将磁性件22置于工件上,启动电磁载物台21吸引磁性件22,对工件进行夹紧固定,在平面驱动组件2带动工件移动时,形貌测量仪3即可对工件进行高精度的形貌测量,由于测量机台1上部不存在其他阻碍,因此在工件可以获得较大的移动范围。
本实施例中,所述平面驱动组件2包括两个方向的移动机构,分别为X轴运动单元和Y轴运动单元,具有的所述X轴运动单元包括直线模组23以及由所述直线模组23驱动的主滑台24,所述电磁载物台21设置在所述主滑台24上,所述X轴直线运动单元为两个,平行地设置在所述测量窗口11的两侧,两个X轴运动单元上的主滑台24同步同向运动,带动工件在X轴方向上移动,为了确保工件测量角度正确,将平面驱动组件设置在一个整体旋转台面13上,用来调整工件角度,整体旋转台面13与下部的底座12共同构成测量机台1。
另一方面,所述Y轴运动单元设置在所述X轴运动单元上,具体包括设置在所述主滑台24上的动力轮26以及设置在所述电磁载物台21上的侧移滑台25,所述侧移滑台25沿Y轴方向滑动设置,所述动力轮26与所述侧移滑台25驱动连接,一种方式是采用摩擦的方式进行驱动,另一种方式是采用齿轮齿条的方式进行驱动连接,所述主滑台24上还设置有驱动所述动力轮26的动力机构27,所述动力轮26绕X轴方向的轴转动,所述磁性件22为在Y方向上具有长度的板件且横跨两个平面驱动组件2。在进行Y轴方向移动时,两个主滑台24上的动力机构27同时驱动动力轮26带动侧移滑台25同向移动。
为了进一步提高测量平台的测量精度,所述X轴运动单元和Y轴运动单元均由直线电机驱动,且所述主滑台24与所述侧移滑台25均配合设置有光栅尺28,光栅尺28通讯连接至形貌测量仪3的测量系统中,获得更为准确的走位数据。
当工件固定组件为真空吸附组件时,可将其直接设置在侧移滑台上。
最后说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的宗旨和范围,其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

Claims (7)

1.一种高精度拼接测量平台,其特征在于:包括测量机台、平面驱动组件以及形貌测量仪,所述测量机台顶部设置有测量窗口,所述形貌测量仪倒置地设置在所述测量窗口下方,且所述形貌测量仪与所述测量机台之间设置有升降驱动组件,所述平面驱动组件架设在所述测量窗口的侧边并露出所述测量窗口,所述平面驱动组件上设置有工件固定组件。
2.根据权利要求1所述的一种高精度拼接测量平台,其特征在于:所述工件固定组件为电磁载物台,所述电磁载物台通过与其配合的磁性件夹持工件。
3.根据权利要求2所述的一种高精度拼接测量平台,其特征在于:所述平面驱动组件包括X轴运动单元,所述X轴运动单元包括直线模组以及由所述直线模组驱动的主滑台,所述电磁载物台设置在所述主滑台上,所述X轴直线运动单元为两个,平行地设置在所述测量窗口的两侧。
4.根据权利要求3所述的一种高精度拼接测量平台,其特征在于:所述平面驱动组件还包括Y轴运动单元,所述Y轴运动单元包括设置在所述主滑台上的动力轮以及设置在所述电磁载物台上的侧移滑台,所述侧移滑台沿Y轴方向滑动设置,所述动力轮与所述侧移滑台驱动连接,所述主滑台上还设置有驱动所述动力轮的动力机构,所述动力轮绕X轴方向的轴转动,所述磁性件为在Y方向上具有长度的板件且横跨两个平面驱动组件。
5.根据权利要求4所述的一种高精度拼接测量平台,其特征在于:所述X轴运动单元和Y轴运动单元均由直线电机驱动,且所述主滑台与所述侧移滑台均配合设置有光栅尺。
6.根据权利要求1所述的一种高精度拼接测量平台,其特征在于:所述工件固定组件为真空吸附组件。
7.根据权利要求1-6中任一所述的一种高精度拼接测量平台,其特征在于:所述测量机台包括底座以及整体旋转台面,所述平面驱动组件设置在所述整体旋转台面上。
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