CN216718256U - 一种陶瓷底片外观检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及检测技术领域，公开了一种陶瓷底片外观检测设备，其用于对陶瓷底片进行检测，包括机架、两个纵向机构、两个托料盘、检测机构、横向机构和取料机构；两个所述纵向机构间隔设置于所述机架；两个所述托料盘一一对应设置于所述纵向机构；所述检测机构设置于所述机架，且其位于两个所述纵向机构之间；所述检测机构用于检测陶瓷底片的外观；所述横向机构设置于所述机架，且其位于所述检测机构上方；所述取料机构设置于所述横向机构。本实用新型用于解决现有的陶瓷底片检验效率低和容易误判的问题。

Description

一种陶瓷底片外观检测设备

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，特别是涉及一种陶瓷底片外观检测设备。

背景技术

现有陶瓷底片在包装出货前，需要人工通过显微镜对陶瓷底片的外观进行检验，判定产品质量，虽然该方法实施方便，但采用显微镜进行外观检验，人工需要频繁移动陶瓷底片，以便观察完整的产品面，因此效率低下，而且人工检验无法实时使用标尺对陶瓷底片上的缺陷进行测量，只能主观判定缺陷的尺寸是否合格，判定依据不客观，容易出现误判。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种陶瓷底片外观检测设备，其解决现有的陶瓷底片检验效率低和容易误判的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种陶瓷底片外观检测设备，其用于对陶瓷底片进行检测，包括机架、两个纵向机构、两个托料盘、检测机构、横向机构和取料机构；两个所述纵向机构间隔设置于所述机架；两个所述托料盘一一对应设置于所述纵向机构；其中一个所述托料盘用于存放待检测的陶瓷底片，另一个所述托料盘用于存放已检测的陶瓷底片；所述检测机构设置于所述机架，且其位于两个所述纵向机构之间；所述检测机构用于检测陶瓷底片的外观；所述横向机构设置于所述机架，且其位于所述检测机构上方；所述取料机构设置于所述横向机构；其中，所述纵向机构用于驱动所述托料盘纵向移动；所述横向机构用于驱动取料机构横向运动；所述取料机构用于将陶瓷底片抓取至所述检测机构或托料盘。

优选地，所述纵向机构包括纵向驱动电机、直线模组和滑块，所述纵向驱动电机和所述直线模组分别设置于所述机架，所述纵向驱动电机与所述直线模组连接；所述滑块设置于所述直线模组，所述托料盘设置于所述滑块。

优选地，所述托料盘设置有多个存放槽。

优选地，所述检测机构包括位于同一竖直线上且自上而下依次设置于所述机架的检测相机、第一检测光源、检测底座和第二检测光源。

优选地，所述检测底座设置有用于吸附陶瓷底片的吸附工位，所述吸附工位与外部的吸附设备连接。

优选地，所述横向机构包括横向导轨和横向驱动机构，所述横向导轨设置于所述机架，所述横向驱动机构设置于所述横向导轨，所述取料机构设置于所述横向驱动机构，所述横向驱动机构其用于驱动所述取料机构沿所述横向导轨滑动。

优选地，所述横向驱动机构包括第一横向驱动机构和第二横向驱动机构，所述取料机构包括第一取料机构和第二取料机构，所述第一取料机构设置于所述第一横向驱动机构，所述第二取料机构设置于所述第二横向驱动机构；其中，所述第一横向驱动机构用于驱动所述第一取料机构在其中一个所述托料盘和所述检测机构之间移动；所述第二横向驱动机构用于驱动所述第二取料机构在另一个所述托料盘和所述检测机构之间移动。

优选地，所述横向驱动机构包括横向皮带、连接块和横向驱动电机；所述横向皮带与所述横向导轨平行且间隔的设置于所述机架，所述横向皮带的一端连接所述横向驱动电机；所述连接块设置于所述横向皮带；所述横向驱动电机设置于所述机架；所述取料机构滑动设置于所述横向导轨，且其与所述连接块连接。

优选地，所述取料机构的底部设置有吸附头，其用于吸附陶瓷底片。

优选地，所述机架设置有透明的防护罩，所述防护罩开设有开关门。

本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型的陶瓷底片外观检测设备设置两个纵向机构和托料盘，通过将纵向机构带动托料盘纵向移动，将托料盘移动到取料机构的正下方，方便取料机构取料，其中一个托料盘用作存放待检测的陶瓷底片，另一个托料盘用作存放已检测的陶瓷底片；并且在两个托料盘之间设置检测机构，通过取料机构将托料盘上待检测陶瓷底片抓取至检测机构检测，检测完毕后，取料机构再将陶瓷底片抓取至另一托料盘上，完成检测。整体检测效率高，且避免人工主观误判，提高检测的精准度。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的陶瓷底片外观检测设备的结构示意图；

图2是图1的局部放大图；

图3是本实用新型实施例提供的陶瓷底片外观检测设备的俯视结构示意图。

附图标记：

1、机架；2、纵向机构；21、纵向驱动电机；22、直线模组；23、滑块；3、托料盘；4、检测机构；41、检测相机；42、第一检测光源；43、检测底座；44、第二检测光源；5、横向机构；51、横向导轨；52、横向驱动机构；521、横向皮带；522、横向驱动电机；6、取料机构；61、第一取料机构；62、第二取料机构。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

参见图1～3，本实用新型优选实施例提供一种陶瓷底片外观检测设备，其用于对陶瓷底片进行检测，包括机架1、两个纵向机构2、两个托料盘3、检测机构4、横向机构5和取料机构6；两个纵向机构2间隔设置于机架1；两个托料盘3一一对应设置于纵向机构2；其中一个托料盘3用于存放待检测的陶瓷底片，另一个托料盘3用于存放已检测的陶瓷底片；检测机构4设置于机架1，且其位于两个纵向机构2之间；检测机构4用于检测陶瓷底片的外观；横向机构5设置于机架1，且其位于检测机构4上方；取料机构6设置于横向机构5；其中，纵向机构2用于驱动托料盘3纵向移动；横向机构5用于驱动取料机构6横向运动；取料机构6用于将陶瓷底片抓取至检测机构4或托料盘3。

需要说明的，两个纵向机构2、检测机构4、横向机构5和取料机构6均与外部的控制机构电连接，控制机构可以为PC、平板或PLC。

本实用新型的一些优选实施例中，纵向机构2包括纵向驱动电机21、直线模组22和滑块23，纵向驱动电机21和直线模组22分别设置于机架1，纵向驱动电机21与直线模组22连接；滑块23设置于直线模组22，托料盘3设置于滑块23。具体的，纵向驱动电机21驱动直线模组22带动滑块23移动，从而实现托料盘3沿直线模组22移动，直线模组22为同步带直线模组22或由丝杆组成的直线模组22。

本实用新型的一些优选实施例中，托料盘3设置有多个存放槽。具体的，存放槽设置有8个，其中一个托料盘3存放8堆待检测的陶瓷底片；另一个托料盘3用于放置已检测的陶瓷底片，并且其中一个存放槽用于存放残次品。

本实用新型的一些优选实施例中，检测机构4包括位于同一竖直线上且自上而下依次设置于机架1的检测相机41、第一检测光源42、检测底座43和第二检测光源44。具体的，将待检测的陶瓷底片放置在检测底座43上，检测相机41将其拍摄后发送到外部的控制机构，控制机构显示相关的图片，操作人员或控制机构通过图片判断陶瓷底片的外观和尺寸。

本实用新型的一些优选实施例中，检测底座43设置有用于吸附陶瓷底片的吸附工位，吸附工位与外部的吸附设备连接。具体的，吸附工位可以将陶瓷底片吸附住，避免其在检测中错位，影响检测。

本实用新型的一些优选实施例中，横向机构5包括横向导轨51和横向驱动机构52，横向导轨51设置于机架1，横向驱动机构52设置于横向导轨51，取料机构6设置于横向驱动机构52，横向驱动机构52其用于驱动取料机构6沿横向导轨51滑动。

本实用新型的一些优选实施例中，横向驱动机构52包括第一横向驱动机构和第二横向驱动机构，取料机构6包括第一取料机构61和第二取料机构62，第一取料机构设置于第一横向驱动机构，第二取料机构62设置于第二横向驱动机构；其中，第一横向驱动机构用于驱动第一取料机构61在其中一个托料盘3和检测机构4之间移动；第二横向驱动机构用于驱动第二取料机构62在另一个托料盘3和检测机构4之间移动。具体的，两个横向驱动机构52共用一个横向导轨51，简化了设备的结构，并且保证两个取料机构始终在同一直线上移动，确保两个取料机构6在抓取陶瓷底片时的统一性和衔接性，提高设备运作的可靠性。

本实用新型的一些优选实施例中，横向驱动机构52包括横向皮带521、连接块和横向驱动电机522；横向皮带521与横向导轨51平行且间隔的设置于机架1，横向皮带521的一端连接横向驱动电机522；连接块设置于横向皮带521；横向驱动电机522设置于机架1；取料机构6滑动设置于横向导轨51，且其与连接块连接。

本实用新型的一些优选实施例中，取料机构6的底部设置有吸附头，其用于吸附陶瓷底片。

本实用新型的一些优选实施例中，机架1设置有透明的防护罩，防护罩开设有开关门。

本实用新型的工作原理：先将待检测的陶瓷底片放置到一侧的托料盘3上，纵向驱动机构将托料盘3移动到第一取料机构61下方，第一取料机构61将待检测陶瓷底片抓取至检测底座43，检测相机41检测完毕后，第二取料机构62将已检测的陶瓷底片抓取到另一个托料盘3上，完成检测。

综上，本实用新型优选实施例提供一种陶瓷底片外观检测设备，其与现有技术相比：

本实用新型的陶瓷底片外观检测设备设置两个纵向机构2和托料盘3，通过将纵向机构2带动托料盘3纵向移动，将托料盘3移动到取料机构6的正下方，方便取料机构6取料，其中一个托料盘3用作存放待检测的陶瓷底片，另一个托料盘3用作存放已检测的陶瓷底片；并且在两个托料盘3之间设置检测机构4，通过取料机构6将托料盘3上待检测陶瓷底片抓取至检测机构4检测，检测完毕后，取料机构6再将陶瓷底片抓取至另一托料盘3上，完成检测。整体检测效率高，且避免人工主观误判，提高检测的精准度。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种陶瓷底片外观检测设备，其用于对陶瓷底片进行检测，其特征在于，包括：

机架；

两个纵向机构，两个所述纵向机构间隔设置于所述机架；

两个托料盘，两个所述托料盘一一对应设置于所述纵向机构；其中一个所述托料盘用于存放待检测的陶瓷底片，另一个所述托料盘用于存放已检测的陶瓷底片；

检测机构，所述检测机构设置于所述机架，且其位于两个所述纵向机构之间；所述检测机构用于检测陶瓷底片的外观和尺寸；

横向机构，所述横向机构设置于所述机架，且其位于所述检测机构上方；

取料机构，所述取料机构设置于所述横向机构；

其中，所述纵向机构用于驱动所述托料盘纵向移动；所述横向机构用于驱动取料机构横向运动；所述取料机构用于将陶瓷底片抓取至所述检测机构或托料盘。

2.如权利要求1所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述纵向机构包括纵向驱动电机、直线模组和滑块，所述纵向驱动电机和所述直线模组分别设置于所述机架，所述纵向驱动电机与所述直线模组连接；所述滑块设置于所述直线模组，所述托料盘设置于所述滑块。

3.如权利要求2所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述托料盘设置有多个存放槽。

4.如权利要求1所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述检测机构包括位于同一竖直线上且自上而下依次设置于所述机架的检测相机、第一检测光源、检测底座和第二检测光源。

5.如权利要求4所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述检测底座设置有用于吸附陶瓷底片的吸附工位，所述吸附工位与外部的吸附设备连接。

6.如权利要求1所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述横向机构包括横向导轨和横向驱动机构，所述横向导轨设置于所述机架，所述横向驱动机构设置于所述横向导轨，所述取料机构设置于所述横向驱动机构，所述横向驱动机构其用于驱动所述取料机构沿所述横向导轨滑动。

7.如权利要求6所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述横向驱动机构包括第一横向驱动机构和第二横向驱动机构，所述取料机构包括第一取料机构和第二取料机构，所述第一取料机构设置于所述第一横向驱动机构，所述第二取料机构设置于所述第二横向驱动机构；其中，所述第一横向驱动机构用于驱动所述第一取料机构在其中一个所述托料盘和所述检测机构之间移动；所述第二横向驱动机构用于驱动所述第二取料机构在另一个所述托料盘和所述检测机构之间移动。

8.如权利要求6所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述横向驱动机构包括横向皮带、连接块和横向驱动电机；所述横向皮带与所述横向导轨平行且间隔的设置于所述机架，所述横向皮带的一端连接所述横向驱动电机；所述连接块设置于所述横向皮带；所述横向驱动电机设置于所述机架；所述取料机构滑动设置于所述横向导轨，且其与所述连接块连接。

9.如权利要求1所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述取料机构的底部设置有吸附头，其用于吸附陶瓷底片。

10.如权利要求1所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述机架设置有透明的防护罩，所述防护罩开设有开关门。

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