CN216646747U - 一种继电器检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种继电器检测装置,包括:光耦信号检测器、继电器驱动器和限流二极管、电源、处理器,所述继电器的触点一端接入所述限流二极管负极方向,所述继电器的触点另一端接入所述电源,所述限流二极管正极方向接入所述光耦信号检测器检测点一端,所述光耦信号检测器检测点另一端接入所述继电器接线端一端,所述光耦信号检测器的信号端接连所述处理器,所述继电器接线端另一端接入电源,所述继电器驱动器电性连接所述继电器。通过以上继电器检测装置,光耦信号检测器对所述继电器的触点的黏连情况进行检测,当检测到低电平就会判断出继电器粘连,主动向处理器报警,禁止该路干线PDU投入工作。
Description
技术领域
本实用新型涉及继电器技术领域,特别是涉及一种继电器检测装置。
背景技术
继电器是强电控制领域的常用器件,做到强电的通断,使得用电过程更加安全、方便。但继电器的触点容易损坏,存在黏连不良,如果接触不良接触电阻会变大,在大电流条件下触点会发热,导致事故发生,因此对关键部件继电器的工作状态需要实时检测,一般继电器异常现象主要分两种,一种为触点老化接触不良,另外一种为触点粘连不能分断,有必要针对触点粘连进行检测防止事故发生。
实用新型内容
基于此,本实用新型提供一种继电器检测装置,以检测解决现有的继电器触点粘连不能分断造成事故发生的问题。
为了解决上述问题,本实用新型提供了一种继电器检测装置,包括:光耦信号检测器、继电器驱动器和限流二极管、电源、处理器,所述继电器的触点一端接入所述限流二极管负极方向,所述继电器的触点另一端接入所述电源,所述限流二极管正极方向接入所述光耦信号检测器检测点一端,所述光耦信号检测器检测点另一端接入所述继电器接线端一端,所述光耦信号检测器的信号端接连所述处理器,所述继电器接线端另一端接入电源,所述继电器驱动器电性连接所述继电器。
进一步地,所述限流二极管至少为两个,并联后对应接入所述继电器的触点。
进一步地,所述装置还包括光耦旁路电阻,所述继电器检测装置还包括光耦旁路电阻,所述光耦信号检测器信号端连接所述处理器,所述处理器与所述光耦信号检测器之间旁路连接所述光耦旁路电阻后接入高电平,所述光耦信号检测器信号端另一端接入低电平。
进一步具体地,所述继电器驱动器包括依次连接的驱动电阻、三极管、二极管,所述驱动电阻一端接入高电平,所述驱动电阻与所述三极管之间旁路接入电阻后连接低电平,所述三极管一极接入低电平,所述二极管两端分别连接所述继电器的驱动端子,所述二极管负极方向接入高电平。
可选地,所述装置还包括限流电阻,所述继电器接入电源线路上接入所述限流电阻,所述限流电阻数目至少为2个。
进一步地,所述电源为充电模块,所述继电器用于控制所述充电模块通断。
进一步地,所述光耦信号检测器包括光耦和光信号检测器,所述光耦通路时放出光信号供光信号检测器接收。
可选地,所述处理器为Cortex-M3内核的STM32F103VCT6,所述电源为300V。
本实用新型的继电器检测装置,包括:光耦信号检测器、继电器驱动器和限流二极管、电源、处理器,所述继电器的触点一端接入所述限流二极管负极方向,所述继电器的触点另一端接入所述电源,所述限流二极管正极方向接入所述光耦信号检测器检测点一端,所述光耦信号检测器检测点另一端接入所述继电器接线端一端,所述光耦信号检测器的信号端接连所述处理器,所述继电器接线端另一端接入电源,所述继电器驱动器电性连接所述继电器。通过以上继电器检测装置,对所述继电器的触点的黏连情况进行检测,当检测到低电平就会判断出继电器粘连,主动向处理器报警,禁止该路干线PDU投入工作。
附图说明
图1为本实用新型继电器检测装置示意图。
具体实施方式
为了便于理解本实用新型,下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施例。但是,本实用新型可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。
图1展示了本实用新型继电器检测装置示意图。如图1所示,该一种继电器检测装置,包括:光耦信号检测器1、继电器驱动器2和限流二极管3、电源4、处理器5,所述继电器的触点6一端接入所述限流二极管3负极方向,所述继电器的触点6另一端接入所述电源4,所述限流二极管3正极方向接入所述光耦信号检测器1检测点一端,所述光耦信号检测器1检测点另一端接入所述继电器24接线端一端,所述光耦信号检测器1的信号端接连所述处理器5,所述继电器24接线端另一端接入电源4,所述继电器驱动器2电性连接所述继电器24,所述限流二极管3安装于所述继电器的触点6,光耦信号检测器1感应触点6的黏连情况,当检测到低电平就会判断出继电器24粘连,主动向处理器5报警,禁止该路干线PDU投入工作。
进一步地,所述限流二极管3至少为两个,并联后对应接入所述继电器的触点6,每个触点6接入所述限流二极管3,所述限流二极管3数量可以根据实际情况设置,所述限流二极管3具有限流作用多个并联后接入触点6防止电流过大损坏电路。
进一步地,所述装置还包括光耦旁路电阻11,所述光耦信号检测器1信号端连接所述处理器5之间旁路连接所述光耦旁路电阻11后接入高电平,所述光耦信号检测器1信号端另一端接入低电平,所述光耦信号检测器1具有抗干扰的特性传输电流信号,光耦旁路电阻11起到连接电压作用,所述光耦信号检测器1构建起一个信号电路,负责检测触点6的黏连情况,当检测到低电平就会判断出继电器粘连,触点6的没有黏连情况,则不会检测到电流变化情况,所述光耦信号检测器1不会检测到信号,若所述光耦信号检测器1检测到信号,主动向处理器5报警,禁止该路干线PDU投入工作,处理器5为处理信号的主机控制整个电路的通断。
进一步具体地,所述继电器驱动2包括依次连接的驱动电阻21、三极管22、二极管23,所述驱动电阻21一端接入高电平,所述驱动电阻21与所述三极管22之间旁路接入电阻后连接低电平,所述三极管22一极接入低电平,所述二极管23两端分别连接所述继电器24的驱动端子,所述二极管23负极方向接入高电平,驱动电阻21具有稳压作用,三极管22三个支架分别对应接入,所述继电器驱动2用于驱动所述继电器24开启或关闭,以使得所述继电器24的触点6能够黏连,对整个电路进行通断电操作。
可选地,所述装置还包括限流电阻8,所述继电器24接入电源线路上接入所述限流电阻8,限流电阻8起到防止电流过大损害电路,特别是保护接入电源线路上所述继电器24。
进一步地,所述电源4为充电模块,所述继电器24用于控制所述充电模块通断,充电模块就是充电电流的电源,所述继电器24用于该通电电源4强电的通断。
进一步地,所述光耦信号检测器1包括光耦、光信号检测器,光耦通电时会发光,所述光耦通路时放出光信号供光信号检测器接收,从而产生触点6黏连检测信号,供处理器5判断检测。
可选地,所述处理器5为Cortex-M3内核的STM32F103VCT6,所述电源4为300V,所述继电器24接入电源线路上接入所述限流电阻8,所述限流电阻数目至少为2个,从而构建起一个供电、限流、黏连信号检测装置。
本实用新型的继电器检测装置,包括:光耦信号检测器、继电器驱动器和限流二极管、电源、处理器,所述继电器的触点一端接入所述限流二极管负极方向,所述继电器的触点另一端接入所述电源,所述限流二极管正极方向接入所述光耦信号检测器检测点一端,所述光耦信号检测器检测点另一端接入所述继电器接线端一端,所述光耦信号检测器的信号端接连所述处理器,所述继电器接线端另一端接入电源,所述继电器驱动器电性连接所述继电器。通过以上继电器检测装置,对所述继电器的触点的黏连情况进行检测,当检测到低电平就会判断出继电器粘连,主动向处理器报警,禁止该路干线PDU投入工作。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本实用新型的优选的实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。因此,本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种继电器检测装置,用于继电器的检测,其特征在于,其包括:光耦信号检测器、继电器驱动器、限流二极管、电源和处理器,所述继电器的触点一端接入所述限流二极管负极方向,所述继电器的触点另一端连接所述电源,所述限流二极管正极方向接入所述光耦信号检测器检测点一端,所述光耦信号检测器检测点另一端接入所述继电器接线端一端,所述光耦信号检测器的信号端接连所述处理器,所述继电器接线端另一端接入电源,所述继电器驱动器电性连接所述继电器。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述限流二极管至少为两个,并联后对应接入所述继电器的触点。
3.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述继电器检测装置还包括光耦旁路电阻,所述光耦信号检测器信号端连接所述处理器,所述处理器与所述光耦信号检测器之间旁路连接所述光耦旁路电阻后接入高电平,所述光耦信号检测器信号端另一端接入低电平。
4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述继电器驱动器包括依次连接的驱动电阻、三极管、二极管,所述驱动电阻一端接入高电平,所述驱动电阻与所述三极管之间旁路接入电阻后连接低电平,所述三极管一极接入低电平,所述二极管两端分别连接所述继电器的驱动端子,所述二极管负极方向接入高电平。
5.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述继电器检测装置还包括限流电阻,所述继电器接入电源线路上接入所述限流电阻。
6.根据权利要求5所述的检测装置,其特征在于,所述限流电阻数目至少为2个。
7.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述电源为充电模块,所述继电器用于控制所述充电模块通断。
8.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述光耦信号检测器包括光耦和光信号检测器,所述光耦通路时放出光信号供光信号检测器接收。
9.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述处理器为Cortex-M3内核的STM32F103VCT6。
10.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述电源电压为300V。
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CN202122361547.2U Active CN216646747U (zh) | 2021-09-28 | 2021-09-28 | 一种继电器检测装置 |
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