CN216432921U - 一种平面多点测量系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种平面多点测量系统，用于测量有多点位装配高度要求的待测结构，包括控制装置、测试台、第一限位板、第二限位板、第三连接板、基准支架和若干个测量单元，第一限位板、第二限位板和第三连接板连接于测试台的顶面，第一限位板和第三连接板分别连接于基准支架的左右两侧，第二限位板抵接于基准支架的后侧，第一限位板和第二限位板的顶端高于基准支架的顶面，基准支架的顶面设有若干个通孔；测量单元的一端贯穿于通孔、另一端连接于测试台的顶面，测量单元与控制装置电连接，测量单元用于承接待测结构并感应下压高度行程信号，控制装置用于接收下压高度行程信号并判断各个测量单元对应测量点的尺寸偏差是否合格，测量效率高。

Description

一种平面多点测量系统

技术领域

本实用新型属于测量工装技术领域，尤其涉及一种平面多点测量系统。

背景技术

在一些复杂产品中，存在着在同一个结构中有多点位装配高度要求的情况，即此结构与一个或者多个其他结构存在装配关系，且装配的接触面高低不一，每一个装配高度都影响着装配质量，如果装配高度出现偏差，则此结构与其他结构的装配就不紧密，很容易出现质量问题。

因此，对于此类具有多点位装配高度要求的结构，在装配前需要测量每个装配点的高度是否合适。在现有技术中，对待测结构进行多次单点测量，即在每次测量中，测量出一个装配点的高度，并将此数值与合理装配高度数值进行比较，以判断此待测结构是否合格，这种方式效率低下，操作复杂，且对操作人员的要求较高，准确度低。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种平面多点测量系统，主要用于解决现有技术中对待测结构进行多次单点测量所引起的效率低下、操作复杂、准确度低等问题。

为解决上述问题，本实用新型所采用的技术方案如下：

本实用新型提供一种平面多点测量系统，用于测量有多点位装配高度要求的待测结构，包括控制装置、测试台、第一限位板、第二限位板、第三连接板、基准支架和若干个测量单元，所述第一限位板、第二限位板和第三连接板连接于所述测试台的顶面，所述第一限位板和第三连接板分别连接于所述基准支架的左右两侧，所述第二限位板抵接于所述基准支架的后侧，所述第一限位板和第二限位板的顶端高于所述基准支架的顶面，所述基准支架的顶面设有若干个通孔；

所述测量单元的一端贯穿于所述通孔、另一端连接于所述测试台的顶面，所述测量单元与所述控制装置电连接，所述测量单元用于承接所述待测结构并感应下压高度行程信号，所述控制装置用于接收所述下压高度行程信号并判断各个所述测量单元对应测量点的尺寸偏差是否合格。

进一步地，所述基准支架与所述第一限位板、第三连接板的连接高度分别可调。

进一步地，所述第三连接板位置可调地连接于所述测试台的顶面。

进一步地，所述测量单元包括测量支座和测量导柱，所述测量导柱连接于所述测量支座，所述测量支座连接于所述测试台的顶面，所述测量导柱穿设于所述通孔。

进一步地，所述测量支座可调地连接于所述测试台的顶面。

进一步地，所述控制装置包括处理模块和显示模块，所述处理模块与所述显示模块电连接，若干个所述测量导柱与所述处理模块电连接。

相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：

将待测结构的左右其中一侧和后侧分别于第一限位板、第二限位板抵接，并向下压，使得待测结构上的测量点分别与对应的测量单元相接触，通过待测结构下压至其与基准支架顶面抵接时，达到最大下压行程，并通过测量单元记录每一个测量点的下压高度行程信号，以判断测量点的尺寸偏差是否合格，一次下压测量可测出多个测量点的尺寸偏差，效率高，操作简单，准确度高。

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。

附图说明

利用附图对本实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。

图1是本实用新型的一种平面多点测量系统在一个视角下的结构示意图。

图2是本实用新型的一种平面多点测量系统在另一个视角下的结构示意图。

图3是图2中A部的局部结构放大示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，当描述到特定器件位于第一器件和第二器件之间时，在该特定器件与第一器件或第二器件之间可以存在居间器件，也可以不存在居间器件。当描述到特定器件连接其它器件时，该特定器件可以与所述其它器件直接连接而不具有居间器件，也可以不与所述其它器件直接连接而具有居间器件。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

参照图1至图3，在本实施例公开了一种平面多点测量系统，用于测量有多点位装配高度要求的待测结构，包括控制装置、测试台1、第一限位板2、第二限位板3、第三连接板4、基准支架5和若干个测量单元6，第一限位板2、第二限位板3和第三连接板4连接于测试台1的顶面，基准支架5呈冂型，第一限位板2和第三连接板4分别连接于基准支架5的左右两侧，第一限位板2和第三连接板4可通过螺栓螺母与基准支架5实现固定，第二限位板3抵接于基准支架5的后侧，第二限位板3与基准支架5之间没有额外的固定连接件，直接通过第二限位板3与基准支架5之间的抵接来完成连接关系，第一限位板2和第二限位板3的顶端高于基准支架5的顶面，基准支架5的顶面设有若干个通孔；

测量单元6的一端贯穿于通孔、另一端连接于测试台1的顶面，测量单元6与控制装置电连接，测量单元6用于承接待测结构并感应下压高度行程信号，控制装置用于接收下压高度行程信号并判断各个测量单元6对应测量点的尺寸偏差是否合格。

将待测结构的右侧抵住第一限位板2，待测结构的后侧抵住第二限位板3，从两个方面实现限位作用，然后将待测结构从上往下压，下压过程中待测结构的各个测量点与对应的测量单元6的一端先接触，然后下压至基准支架5的顶面，由于基准支架5与自然状态下的测量单元6之间位置关系一定，测量单元6具有自动恢复的作用，当撤走待测结构后，测量单元6自动回弹并恢复初始位置，由此实现如果待测结构都是标准一致的话，每次下压时，测量单元6所产生的下压高度行程信号都是一样的，如果有个别待测结构的某个测量点尺寸出现偏差，对应的测量单元6所感应的下压高度行程信号就会超出预设范围，控制装置显示对应的结果。

具体地，在测量某种待测结构时，控制装置先对带有地址位置的测量单元6轮询采集数据，校正后设立数字平面；然后选出一个待测标准结构，这个待测标准结构的各个测量点都是符合装配尺寸要求的，将此待测标准结构下压至基准支架5顶面，记录保存各个测量单元6的下压高度行程信号，在通过控制装置对待地址位置的测量单元6轮询采集数据，标定后形成数字平面和待测标准结构之间的测量差值集，预设的每个测量点的允许公差，通过允许公差与测量差值集中具体数据的对比，可得出哪些测量点合格，哪些测量点不合格，在一次测量中即可完成多点的高度尺寸测量，效率高，操作简单，准确度高。

在本实施例中，基准支架5与第一限位板2、第三连接板4的连接高度分别可调，调整基准支架5与测试台1之间的高度，也即相当于调整测量单元6顶部伸出基准支架5的高度，以适应不同待测结构的测量点高度情况。其中实现高度可调的方式有很多，比如在第一限位板2、第三连接板4上开设有多个沿着竖直方向的连接孔，通过将基准支架5与不同高度的连接孔连接，实现基准支架5的高度调整。

在本实施例中，第三连接板4位置可调地连接于测试台1的顶面，可以根据实际待测结构的大小，更换对应的基准支架5，相应地由于第一限位板2、第二限位板3固定不动，第三连接板4可以相适应地调整固定位置。其中，可以通过在测试台1顶面处开设多个连接孔，将第三连接板4连接在不同连接孔中，以实现第三连接板4的位置调整。

结合图3，作为一种实施方式，测量单元6包括测量支座61和测量导柱62，测量导柱62连接于测量支座61，测量支座61连接于测试台1的顶面，测量导柱62穿设于通孔，测量导柱62在测量支座61中可以沿竖直方向移动，即当测量导柱62的顶部受到待测结构的下压时，测量导柱62可以向下移动，当撤走待测结构后，测量导柱62恢复初始位置。

在本实施例中，为了适应不同待测结构的不同测量点位置需求，测量支座61可调地连接于测试台1的顶面，相应地基准支架5上开设多个通孔，以满足测量导柱62的伸出。

在本实施例中，控制装置包括处理模块和显示模块，处理模块与显示模块电连接，若干个测量导柱62与处理模块电连接，显示模块中能显示出待测结构在测量时的高度数据，数字平面和测量差值集的数据也能在显示模块中显示，以便操作者更方便直观地看出测量结果，处理模块则负责接收各个下压高度行程信号和作出判断处理。

综上，相对于现有技术，上述实施例提供一种平面多点测量系统，将待测结构的左右其中一侧和后侧分别于第一限位板2、第二限位板3抵接，并向下压，使得待测结构上的测量点分别与对应的测量单元6相接触，通过待测结构下压至其与基准支架5顶面抵接时，达到最大下压行程，并通过测量单元6记录每一个测量点的下压高度行程信号，以判断测量点的尺寸偏差是否合格，一次下压测量可测出多个测量点的尺寸偏差，效率高，操作简单，准确度高。

上述实施方式仅为本实用新型的优选实施方式，不能以此来限定本实用新型保护的范围，本领域的技术人员在本实用新型的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本实用新型所要求保护的范围。

Claims (6)

1.一种平面多点测量系统，用于测量有多点位装配高度要求的待测结构，其特征在于，包括控制装置、测试台、第一限位板、第二限位板、第三连接板、基准支架和若干个测量单元，所述第一限位板、第二限位板和第三连接板连接于所述测试台的顶面，所述第一限位板和第三连接板分别连接于所述基准支架的左右两侧，所述第二限位板抵接于所述基准支架的后侧，所述第一限位板和第二限位板的顶端高于所述基准支架的顶面，所述基准支架的顶面设有若干个通孔；

所述测量单元的一端贯穿于所述通孔、另一端连接于所述测试台的顶面，所述测量单元与所述控制装置电连接，所述测量单元用于承接所述待测结构并感应下压高度行程信号，所述控制装置用于接收所述下压高度行程信号并判断各个所述测量单元对应测量点的尺寸偏差是否合格。

2.根据权利要求1所述的一种平面多点测量系统，其特征在于，所述基准支架与所述第一限位板、第三连接板的连接高度分别可调。

3.根据权利要求2所述的一种平面多点测量系统，其特征在于，所述第三连接板位置可调地连接于所述测试台的顶面。

4.根据权利要求1至3任一项所述的一种平面多点测量系统，其特征在于，所述测量单元包括测量支座和测量导柱，所述测量导柱连接于所述测量支座，所述测量支座连接于所述测试台的顶面，所述测量导柱穿设于所述通孔。

5.根据权利要求4所述的一种平面多点测量系统，其特征在于，所述测量支座可调地连接于所述测试台的顶面。

6.根据权利要求5所述的一种平面多点测量系统，其特征在于，所述控制装置包括处理模块和显示模块，所述处理模块与所述显示模块电连接，若干个所述测量导柱与所述处理模块电连接。

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