CN216410600U - 模组测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种模组测试设备。模组测试设备包括：测试机架；转盘模块，转盘模块设置在测试机架上，转盘模块具有多个测试位，转盘模块具有转动轴，多个测试位绕转动轴间隔设置；测试模块，测试模块与测试机架连接，测试模块为多个，多个测试模块绕转动轴的周向间隔设置，且转盘模块转动预设角度后多个测试模块与测试位对应，以对对应的测试位测试。本实用新型解决了现有技术中结构光模组存在测试效率低的问题。

Description

模组测试设备

技术领域

本实用新型涉及光学检测设备技术领域，具体而言，涉及一种模组测试设备。

背景技术

结构光模组通常由RGB模组+IR(Infrared Spectroscopy)模组+投射器+接近光等组成。模块有多个模组组成，在测试时常规方式是需要多个测试环境来测试多个相应功能。而现有技术中对这种结构光模组的每个测试环境均需要对应的设备来提供，在测试时需要在多个设备上来回切换测试，需要频繁的切换设备，测试效率也比较低，同时多个设备也占据了较大的空间。

也就是说，现有技术中结构光模组存在测试效率低的问题。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种模组测试设备，以解决现有技术中结构光模组存在测试效率低的问题。

为了实现上述目的，根据本实用新型的一个方面，提供了一种模组测试设备，包括：测试机架；转盘模块，转盘模块设置在测试机架上，转盘模块具有多个测试位，转盘模块具有转动轴，多个测试位绕转动轴间隔设置；测试模块，测试模块与测试机架连接，测试模块为多个，多个测试模块绕转动轴的周向间隔设置，且转盘模块转动预设角度后多个测试模块与测试位对应，以对对应的测试位测试。

进一步地，转盘模块包括：调整组件，调整组件设置在测试机架上；转动组件，转动组件具有测试位，转动组件可滑动地设置在调整组件上，调整组件调整转动组件的位置。

进一步地，转动组件包括：支撑框架，支撑框架与调整组件滑动连接；旋转框，旋转框具有转动轴和测试位，转动轴与支撑框架连接；驱动组件，驱动组件与转动轴连接且驱动旋转框转动。

进一步地，测试机架具有支撑板，支撑板具有透视孔，转盘模块设置在支撑板上，转盘模块位于透视孔的上方，且测试位与透视孔对应，以使得位于支撑板下方的测试模块对测试位进行测试。

进一步地，至少另一个测试模块位于支撑板的上方；和/或至少另一个测试模块位于支撑板的一侧。

进一步地，调整组件包括：连接板，连接板与支撑板连接，且连接板具有与透视孔同轴设置的避让孔；调整轴，调整轴设置在连接板上，且转动组件与调整轴连接，以调整转动组件与避让孔的位置。

进一步地，支撑框架包括：板体，板体与调整组件连接，板体具有通孔，至少一个测试位与通孔对应；两个支撑耳，两个支撑耳由板体伸出且间隔设置，旋转框位于两个支撑耳之间，转动轴与支撑耳连接。

进一步地，多个测试模块至少包括3D面标板模块、结构光标定模块和深度测试标板。

进一步地，多个测试模块至少包括3D面标板模块，3D面标板模块位于转盘模块的下方。

进一步地，多个测试模块包括3D面标板模块，模组测试设备还包括微调模块，3D面标板模块设置在微调模块上。

应用本实用新型的技术方案，模组测试设备包括测试机架、转盘模块和测试模块，转盘模块设置在测试机架上，转盘模块具有多个测试位，转盘模块具有转动轴，多个测试位绕转动轴间隔设置；测试模块与测试机架连接，测试模块为多个，多个测试模块绕转动轴的周向间隔设置，且转盘模块转动预设角度后多个测试模块与测试位对应，以对对应的测试位测试。

多个测试模块均与测试机架连接，且多个测试模块将转盘模块围在多个测试模块的内侧，以使得转盘模块转动预设角度后，每个测试模块均能够与一个测试位对应，以使得该测试模块对对应的测试位进行相应的测试。或者说该测试模块为对应的测试位提供测试环境。而测试位上放置有结构光模组，以使得结构光模组处于对应的测试环境中。而在多个测试模块可以同时工作，使得一个模组测试设备能够同时对多个结构光模组进行测试，还能够对一个结构光模组提供多个测试环境，大大增加了结构光模组的测试效率。同时将多个测试模块集成在一个设备上，使得一个模组测试设备能够对一个结构光模组进行多种测试，而无需经常拆卸结构光模组，也无需到下一个工序上进行测试，降低了测试的难度。将多个测试模块集成在一个设备上与分体设备相比大大降低了测试工序占据的空间，有利于在有限的空间内增加产线的数量，大大提升了测试效率。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1示出本实用新型的一个可选实施例的模组测试设备的结构示意图；

图2示出了图1中模组测试设备的另一个角度的视图；

图3示出了图1中模组测试设备的另一个角度的视图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、测试机架；11、支撑板；111、透视孔；20、转盘模块；21、测试位；22、调整组件；221、连接板；222、调整轴；223、避让孔；23、转动组件；231、支撑框架；232、旋转框；233、驱动组件；234、板体；235、通孔；236、支撑耳；30、测试模块；31、3D面标板模块；32、结构光标定模块；33、深度测试标板；40、微调模块。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

需要指出的是，除非另有指明，本申请使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。

在本实用新型中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的，或者是针对部件本身在竖直、垂直或重力方向上而言的；同样地，为便于理解和描述，“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外，但上述方位词并不用于限制本实用新型。

为了解决现有技术中结构光模组存在测试效率低的问题，本实用新型提供了一种模组测试设备。

如图1至图3所示，模组测试设备包括测试机架10、转盘模块20和测试模块30，转盘模块20设置在测试机架10上，转盘模块20具有多个测试位21，转盘模块20具有转动轴，多个测试位21绕转动轴间隔设置；测试模块30与测试机架10连接，测试模块30为多个，多个测试模块30绕转动轴的周向间隔设置，且转盘模块20转动预设角度后多个测试模块30与测试位21对应，以对对应的测试位21测试。

多个测试模块30均与测试机架10连接，且多个测试模块30将转盘模块20围在多个测试模块30的内侧，以使得转盘模块20转动预设角度后，每个测试模块30均能够与一个测试位21对应，以使得该测试模块30对对应的测试位21进行相应的测试。或者说该测试模块30为对应的测试位21提供测试环境。而测试位21上放置有结构光模组，以使得结构光模组处于对应的测试环境中。而在多个测试模块30可以同时工作，使得一个模组测试设备能够同时对多个结构光模组进行测试，还能够对一个结构光模组提供多个测试环境，大大增加了结构光模组的测试效率。同时将多个测试模块30集成在一个设备上，使得一个模组测试设备能够对一个结构光模组进行多种测试，而无需经常拆卸结构光模组，也无需到下一个工序上进行测试，降低了测试的难度。将多个测试模块30集成在一个设备上与分体设备相比大大降低了测试工序占据的空间，有利于在有限的空间内增加产线的数量，大大提升了测试效率。

如图1所示，转盘模块20包括调整组件22和转动组件23，调整组件22设置在测试机架10上；转动组件23具有测试位21，转动组件23可滑动地设置在调整组件22上，调整组件22调整转动组件23的位置。调整组件22的设置能够调整转动组件23的位置，以使得测试位21在转动的过程中均能够与测试模块30对应进行测试。

如图1所示，转动组件23包括支撑框架231、旋转框232和驱动组件233，支撑框架231与调整组件22滑动连接；旋转框232具有转动轴和测试位21，转动轴与支撑框架231连接；驱动组件233与转动轴连接且驱动旋转框232转动。支撑框架231的设置能够对转动轴形成支撑，以保证转动轴能够带动旋转框232进行转动。同时支撑框架231与调整组件22滑动连接，使得支撑框架231能够在调整组件22上滑动以调整转动组件23的位置。旋转框232与驱动组件233连接，以使得驱动组件233能够驱动旋转框232转动预设角度，以使得转动预设角度后的多个测试模块30均能够有一个测试位21与其对应。

如图1所示，测试机架10具有支撑板11，支撑板11具有透视孔111，转盘模块20设置在支撑板11上，转盘模块20位于透视孔111的上方，且测试位21与透视孔111对应，以使得位于支撑板11下方的测试模块30对测试位21进行测试。支撑板11的设置能够对转盘模块20和测试模块30提供支撑，以保证转盘模块20与测试模块30之间的位置相对固定而不易改变，保证了测试模块30和转盘模块20工作的稳定性。在支撑板11上设置透视孔111能够将位于支撑板11下方的测试模块30裸露出来，以保证位于支撑板11下方的测试模块30能够对转盘模块20进行测试。

如图1至图3所示，至少另一个测试模块30位于支撑板11的上方。一个测试模块30位于支撑板11的上方，一个测试模块30位于支撑板11的下方，以使得转盘模块20的上下均能够进行测试，同时二者之间的串扰也比较小，能够保证两个测试模块30测试的准确性。

如图1至图3所示，至少另一个测试模块30位于支撑板11的一侧。一个测试模块30位于支撑板11的上方，一个测试模块30位于支撑板11的下方，而一个测试模块30位于支撑板11的一侧，这样就将转盘模块20围在三个测试模块30之间了，在转盘模块20每次转动时都有测试位21与测试模块30对应，以使得转盘模块20转动预设角度后测试位21能够进行不同的测试。

如图1所示，调整组件22包括连接板221和调整轴222，连接板221与支撑板11连接，且连接板221具有与透视孔111同轴设置的避让孔223；调整轴222设置在连接板221上，且转动组件23与调整轴222连接，以调整转动组件23与避让孔223的位置。连接板221与支撑板11固定连接，调整轴222与连接板221连接，且转动组件23能沿调整轴222运动，以改变转动组件23的位置，以使得测试位21能够被支撑板11下方的测试模块30检测到。

如图1所示，支撑框架231包括板体234和两个支撑耳236，板体234与调整组件22连接，板体234具有通孔235，至少一个测试位21与通孔235对应；两个支撑耳236由板体234伸出且间隔设置，旋转框232位于两个支撑耳236之间，转动轴与支撑耳236连接。板体234用于连接两个支撑耳236，使得板体234与两个支撑耳236连接在一起形成整体结构，旋转框232支撑在两个支撑耳236上，以使得旋转框232的测试位21悬空，以便于旋转框232转动。

如图1至图3所示，多个测试模块30至少包括3D面标板模块31、结构光标定模块32和深度测试标板33。结构光标定模块32包含结构测试特定标板与运动机构，标板完成结构光模组相应测试，运动机构完成标板中心对准模组的需求。3D面标板模块31主要测试RGB模组+IR模组性能。深度标定模块，要测试整个结构光模组标定完成后的功能性能。它包含上下调整机构以便调整不同结构光模组对标板距离变化的需求。

如图1至图3所示，多个测试模块30至少包括3D面标板模块31，3D面标板模块31位于转盘模块20的下方。3D面标板模块31的重量比较重，将3D面标板模块31设置在转盘模块20的下方可以保证模组测试设备重心的稳定性，保证模组测试设备稳定工作。

如图1至图3所示，多个测试模块30包括3D面标板模块31，模组测试设备还包括微调模块40，3D面标板模块31设置在微调模块40上。微调模块40为三轴运动机构，能够调整3D面标板模块31的位置，以完成3D面标板模块31的标板中心与结构光模组对准的需求。

在图1所示的具体实施例中，测试模块30为三个，具体为3D面标板模块31、结构光标定模块32和深度测试标板33，转盘模块20的测试位为四个，旋转框232为长方体，而测试位在长方体的四个面上，且四个测试位21上均具有一台模组治具，以便于安装结构光模组并对结构光模组进行测试。当测试时，旋转框232正对着操作者的面为上下料面，完成模组上下料，然后其余3个面分别与3D面标板模块31、结构光标定模块32和深度测试标板33对应测试，也就是说，在上下料时其他几个测试位21处的结构光模组可以继续测试，上下料不影响其他结构光模组进行测试。转盘模块20先顺时针转动三次90度，然后逆时针转动270度恢复，在保证各个测试位21上的结构光模组均能够被各个测试模块标定测试的同时还可以有效避免线路打结的问题，保证了模组测试设备工作的稳定性。

在图1所示的具体实施例中，转盘模块20的上方是深度测试标板33，转盘模块20的下方是3D面标板模块31，而转盘模块20的一侧是结构光标定模块32，而与结构光标定模块32相对的一侧用于上下料。模组治具具有触点开关，在测试位上料时结构光模组取放时要打开模组治具，此时触点开关断开就知道在上料，而模组治具关闭触点开关通电导通就证明此处的测试位21上结构光模组安装到位。

模组测试设备的运转流程如下：

如图1所示，转盘模块20旋转朝向左侧位置时候是上料位。

第一步：上料(假设此时测试位21是一号工位)

第二步：转盘逆时针旋转90度

第三步：一号工位朝下，3D面标板模块31对一号工位进行测试标定，二号工位上料

第四步：转盘逆时针旋转90度

第五步：三号工位上料，3D面标板模块31对二号工位进行测试标定，结构光标定模块32对一号工位测试标定。

第六步：转盘逆时针旋转90度

第七步：四号工位上料，3D面标板模块31对三号工位进行测试标定，结构光标定模块32对二号工位测试标定，深度测试标板33对一号工位测试标定。

第八步：转盘一次性顺时针旋转270度

第九步：一号工位上下料，3D面标板模块31对四号工位进行测试标定，结构光标定模块32对三号工位测试标定，深度测试标板33对二号工位测试标定。

第十步：后续依次循环(当转了第四个下也就是顺时针270度等价于逆时针转90度，相当于转盘又开始到最初的第一步的位置，这个时候一号工位先下料再上料，二号工位与深度测试标板33对应，三号工位与结构光标定模块32对应，四号工位与3D面标板模块31对应。)

本申请中的模组测试设备能够完成至少三种测试环境的测试，大大增加了结构光模组的测试效率，将一个模组测试设备具有多个测试模块30有利于产线的小型化。

从以上的描述中，可以看出，本实用新型上述的实施例实现了如下技术效果：

1、提高了设备测试效率UPH(Unit Per Hour)能增加100％以上。

2、节约了设备操作人员，一个人完成所有测试。

3、节约了设备数量，减少了占地面积。

显然，上述所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、工作、器件、组件和/或它们的组合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种模组测试设备，其特征在于，包括：

测试机架(10)；

转盘模块(20)，所述转盘模块(20)设置在所述测试机架(10)上，所述转盘模块(20)具有多个测试位(21)，所述转盘模块(20)具有转动轴，多个所述测试位(21)绕所述转动轴间隔设置；

测试模块(30)，所述测试模块(30)与所述测试机架(10)连接，所述测试模块(30)为多个，多个所述测试模块(30)绕所述转动轴的周向间隔设置，且所述转盘模块(20)转动预设角度后多个所述测试模块(30)与所述测试位(21)对应，以对对应的所述测试位(21)测试。

2.根据权利要求1所述的模组测试设备，其特征在于，所述转盘模块(20)包括：

调整组件(22)，所述调整组件(22)设置在所述测试机架(10)上；

转动组件(23)，所述转动组件(23)具有所述测试位(21)，所述转动组件(23)可滑动地设置在所述调整组件(22)上，所述调整组件(22)调整所述转动组件(23)的位置。

3.根据权利要求2所述的模组测试设备，其特征在于，所述转动组件(23)包括：

支撑框架(231)，所述支撑框架(231)与所述调整组件(22)滑动连接；

旋转框(232)，所述旋转框(232)具有所述转动轴和所述测试位(21)，所述转动轴与所述支撑框架(231)连接；

驱动组件(233)，所述驱动组件(233)与所述转动轴连接且驱动所述旋转框(232)转动。

4.根据权利要求3所述的模组测试设备，其特征在于，所述测试机架(10)具有支撑板(11)，所述支撑板(11)具有透视孔(111)，所述转盘模块(20)设置在所述支撑板(11)上，所述转盘模块(20)位于所述透视孔(111)的上方，且所述测试位(21)与所述透视孔(111)对应，以使得位于所述支撑板(11)下方的所述测试模块(30)对所述测试位(21)进行测试。

5.根据权利要求4所述的模组测试设备，其特征在于，

至少另一个所述测试模块(30)位于所述支撑板(11)的上方；和/或

至少另一个所述测试模块(30)位于所述支撑板(11)的一侧。

6.根据权利要求4所述的模组测试设备，其特征在于，所述调整组件(22)包括：

连接板(221)，所述连接板(221)与所述支撑板(11)连接，且所述连接板(221)具有与所述透视孔(111)同轴设置的避让孔(223)；

调整轴(222)，所述调整轴(222)设置在所述连接板(221)上，且所述转动组件(23)与所述调整轴(222)连接，以调整所述转动组件(23)与所述避让孔(223)的位置。

7.根据权利要求4所述的模组测试设备，其特征在于，所述支撑框架(231)包括：

板体(234)，所述板体(234)与所述调整组件(22)连接，所述板体(234)具有通孔(235)，至少一个所述测试位(21)与所述通孔(235)对应；

两个支撑耳(236)，两个所述支撑耳(236)由所述板体(234)伸出且间隔设置，所述旋转框(232)位于两个所述支撑耳(236)之间，所述转动轴与所述支撑耳(236)连接。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的模组测试设备，其特征在于，多个所述测试模块(30)至少包括3D面标板模块(31)、结构光标定模块(32)和深度测试标板(33)。

9.根据权利要求1至7中任一项所述的模组测试设备，其特征在于，多个所述测试模块(30)至少包括3D面标板模块(31)，所述3D面标板模块(31)位于所述转盘模块(20)的下方。

10.根据权利要求1至7中任一项所述的模组测试设备，其特征在于，多个所述测试模块(30)包括3D面标板模块(31)，所述模组测试设备还包括微调模块(40)，所述3D面标板模块(31)设置在所述微调模块(40)上。

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