CN216285380U - 一种用于ic芯片检测的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及IC芯片检测技术领域，且公开了一种用于IC芯片检测的测试装置，包括测试台和IC芯片，所述IC芯片的上表面设置有金手指部分，所述测试台的上表面开设有测试槽，所述IC芯片安装在测试槽内，测试台的上方设置有下压架，所述下压架的顶部连接有电动推杆，所述测试台的后端连接有连接板，所述下压架的下表面连接有测试板。本实用新型通过设置下压架、电动推杆和测试板，从而当测试的时候，IC芯片放在测试槽内，然后通过电动推杆带动下压架向下移动，带动测试板向下移动，从而使测试板上的触点与IC芯片的触点接触，从而达到测试的作用，解决了现有技术的测试需要人工将测试装置卡在IC芯片上，容易损坏针脚的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及IC芯片检测技术领域，具体为一种用于IC芯片检测的测试装置。
背景技术
IC芯片(Integrated Circuit Chip)是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片。IC芯片包含晶圆芯片和封装芯片，相应IC芯片生产线由晶圆生产线和封装生产线两部分组成，IC芯片在出场之前都需要进行检测。
现有技术的手动测试需要人工一颗一颗地将IC放进手测板中测试，需要人员多，产能低，而且易造成弯脚。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于IC芯片检测的测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
(二)技术方案
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于IC芯片检测的测试装置，包括测试台和IC芯片，所述IC芯片的上表面设置有金手指部分，所述测试台的上表面开设有测试槽，所述IC芯片安装在测试槽内；
所述测试台的上方设置有下压架，所述下压架的顶部连接有电动推杆，所述测试台的后端连接有连接板，所述下压架的下表面连接有测试板。
优选的，所述测试槽的形状与IC芯片的大小形状匹配，所述测试槽的深度大于IC芯片的厚度，使IC芯片可以与测试槽匹配，不会出现晃动。
优选的，所述连接板的剖面形状为L形，所述电动推杆的顶部与连接板的外壁连接，通过电动推杆可以带动下压架向下移动。
优选的，所述测试板的位置与IC芯片的金手指部分对应，所述测试板的触点与金手指部分的触点匹配，从而可以对IC芯片进行检测。
优选的，所述下压架两端的下部连接有限位板，所述测试台的上表面开设有限位槽，所述限位槽的位置与限位板对应，所述限位槽和限位板的剖面形状为T形，所述限位板与限位槽滑动连接，所述限位板的外壁与限位槽的内壁接触，通过设置限位槽和限位板使下压架下压的时候可以在一条垂直线上，从而当测试板与IC芯片接触的不会偏移，从而不会对针脚造成损伤。
优选的，所述测试槽的前端开设有开放口，所述开放口与测试台的前端贯通，所述开放口的上方设置有压紧块，所述压紧块的顶部连接有连接架，所述压紧块靠近IC芯片的一侧设有斜面，所述斜面与IC芯片的前端接触，斜面可以将IC片压紧，让IC芯片在测试槽内不会晃动。
优选的，所述连接架两端的底部连接有限位柱，所述限位柱的底部连接有弹簧，所述测试台的上表面开设有限位孔，所述限位柱与限位孔滑动连接，所述弹簧的底部与限位孔的内壁底部连接，当IC芯片安装之前，可以将连接架提起，安装到位之后，再松手，让斜面与IC芯片的前端卡紧。
与现有技术相比，本实用新型提供了一种用于IC芯片检测的测试装置，具备以下有益效果：
1、本实用新型通过设置下压架、电动推杆和测试板，从而当测试的时候，IC芯片放在测试槽内，然后通过电动推杆带动下压架向下移动，带动测试板向下移动，从而使测试板上的触点与IC芯片的触点接触，从而达到测试的作用，解决了现有技术的测试需要人工将测试装置卡在IC芯片上，容易损坏针脚的问题。
2、本实用新型通过设置带有斜面的压紧块、连接架、限位柱和弹簧，从而当IC芯片安装在测试槽之后，通过斜面将IC芯片压紧，从而使IC芯片可以稳定地放置在测试槽内，保证正常测试。
附图说明
图1为本实用新型立体结构示意图；
图2为本实用新型爆炸示意图；
图3为本实用新型测试板的结构图；
图4为本实用新型压紧块的结构图。
图中：101测试台、102测试槽、103开放口、104压紧块、105连接架、106斜面、107限位柱、108弹簧、109限位孔、110下压架、111连接板、112电动推杆、113限位板、114测试板、2IC芯片、201金手指部分。
具体实施方式
请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种用于IC芯片检测的测试装置，包括测试台101和IC芯片2，IC芯片2的上表面设置有金手指部分201，测试台101的上表面开设有测试槽102，IC芯片2安装在测试槽102内；
测试台101的上方设置有下压架110，下压架110的顶部固定连接有电动推杆112，测试台101的后端固定连接有连接板111，下压架110的下表面固定连接有测试板114。
测试槽102的形状与IC芯片2的大小形状匹配，测试槽102的深度大于IC芯片2的厚度，使IC芯片2可以与测试槽102匹配，不会出现晃动。
连接板111的剖面形状为L形，电动推杆112的顶部与连接板111的外壁固定连接，通过设置下压架110、电动推杆112和测试板114，从而当测试的时候，IC芯片2放在测试槽102内，然后通过电动推杆112带动下压架110向下移动，带动测试板114向下移动，从而使测试板114上的触点与IC芯片2的触点接触，从而达到测试的作用，解决了现有技术的测试需要人工将测试装置卡在IC芯片2上，容易损坏针脚的问题。
测试板114的位置与IC芯片2的金手指部分201对应，测试板114的触点与金手指部分201的触点匹配，从而可以对IC芯片2进行检测。
下压架110两端的下部固定连接有限位板113，测试台101的上表面开设有限位槽116，限位槽116的位置与限位板113对应，限位槽116和限位板113的剖面形状为T形，限位板113与限位槽116滑动连接，限位板113的外壁与限位槽116的内壁接触，通过设置限位槽116和限位板113使下压架11下压的时候可以在一条垂直线上，从而当测试板114与IC芯片2接触的不会偏移，从而不会对针脚造成损伤。
测试槽102的前端开设有开放口103，开放口103与测试台101的前端贯通，开放口103的上方设置有压紧块104，压紧块104的顶部固定连接有连接架105，压紧块104靠近IC芯片2的一侧设有斜面106，斜面106与IC芯片2的前端接触，斜面106可以将IC片2压紧，让IC芯片2在测试槽102内不会晃动。
连接架105两端的底部固定连接有限位柱107，限位柱107的底部固定连接有弹簧108，测试台101的上表面开设有限位孔109，限位柱107与限位孔109滑动连接，弹簧108的底部与限位孔109的内壁底部固定连接，当IC芯片2安装之前，可以将连接架105提起，安装到位之后，再松手，让斜面106与IC芯片2的前端卡紧。
在使用时，将IC芯片2放在测试槽102内，当IC芯片2安装在测试槽102之后，通过斜面106将IC芯片2压紧，从而使IC芯片2可以稳定地放置在测试槽102内，保证正常测试，测试地时候通过电动推杆112带动下压架110向下移动，带动测试板114向下移动，从而使测试板114上的触点与IC芯片2的触点接触，从而达到测试的作用，解决了现有技术的测试需要人工将测试装置卡在IC芯片2上，容易损坏针脚的问题。
综上可得，本实用新型通过设置下压架110、电动推杆112和测试板114，从而当测试的时候，IC芯片2放在测试槽102内，然后通过电动推杆112带动下压架110向下移动，带动测试板114向下移动，从而使测试板114上的触点与IC芯片2的触点接触，从而达到测试的作用，解决了现有技术的测试需要人工将测试装置卡在IC芯片2上，容易损坏针脚的问题，通过设置带有斜面106的压紧块104、连接架105、限位柱107和弹簧108，从而当IC芯片2安装在测试槽102之后，通过斜面106将IC芯片2压紧，从而使IC芯片2可以稳定地放置在测试槽102内，保证正常测试。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (7)
1.一种用于IC芯片检测的测试装置，包括测试台(101)和IC芯片(2)，所述IC芯片(2)的上表面设置有金手指部分(201)，其特征在于：所述测试台(101)的上表面开设有测试槽(102)，所述IC芯片(2)安装在测试槽(102)内；
所述测试台(101)的上方设置有下压架(110)，所述下压架(110)的顶部连接有电动推杆(112)，所述测试台(101)的后端连接有连接板(111)，所述下压架(110)的下表面连接有测试板(114)。
2.根据权利要求1所述的一种用于IC芯片检测的测试装置，其特征在于：所述测试槽(102)的形状与IC芯片(2)的大小形状匹配，所述测试槽(102)的深度大于IC芯片(2)的厚度。
3.根据权利要求1所述的一种用于IC芯片检测的测试装置，其特征在于：所述连接板(111)的剖面形状为L形，所述电动推杆(112)的顶部与连接板(111)的外壁连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于IC芯片检测的测试装置，其特征在于：所述测试板(114)的位置与IC芯片(2)的金手指部分(201)对应，所述测试板(114)的触点与金手指部分(201)的触点匹配。
5.根据权利要求1所述的一种用于IC芯片检测的测试装置，其特征在于：所述下压架(110)两端的下部连接有限位板(113)，所述测试台(101)的上表面开设有限位槽(116)，所述限位槽(116)的位置与限位板(113)对应，所述限位槽(116)和限位板(113)的剖面形状为T形，所述限位板(113)与限位槽(116)滑动连接，所述限位板(113)的外壁与限位槽(116)的内壁接触。
6.根据权利要求1所述的一种用于IC芯片检测的测试装置，其特征在于：所述测试槽(102)的前端开设有开放口(103)，所述开放口(103)与测试台(101)的前端贯通，所述开放口(103)的上方设置有压紧块(104)，所述压紧块(104)的顶部连接有连接架(105)，所述压紧块(104)靠近IC芯片(2)的一侧设有斜面(106)，所述斜面(106)与IC芯片(2)的前端接触。
7.根据权利要求6所述的一种用于IC芯片检测的测试装置，其特征在于：所述连接架(105)两端的底部连接有限位柱(107)，所述限位柱(107)的底部连接有弹簧(108)，所述测试台(101)的上表面开设有限位孔(109)，所述限位柱(107)与限位孔(109)滑动连接，所述弹簧(108)的底部与限位孔(109)的内壁底部连接。
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| CN202122020549.5U CN216285380U (zh) | 2021-08-25 | 2021-08-25 | 一种用于ic芯片检测的测试装置 |
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