CN219574192U - 一种标准单元库集成电路芯片用测试工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,包括机体,机体一端设有操控台,压力杆一端连接在固定板上,固定板一侧连接在机体内部,固定板表面对称连接有检测构件,机体两端开设有对称的孔洞,在机体内外加设传送装置,传送装置包括检测盘,传送装置内部设有传送带,传送带一端设有安置盒,传送装置中部经孔洞横穿机体,机体底部设有支撑腿,机体内部设有抗压杆,抗压杆一端设有检测顶板,检测顶板表面设有检测护板,满足批量测试,和测试自动化的要求,做到了减少人力的消耗,减少人力成本,提高工作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测工装技术领域,具体为一种标准单元库集成电路芯片用测试工装。
背景技术
如今,生产电子产品的厂家经常批量生产一些规格的电路板,这些电路板在应用于电子产品内之前通常都会进行参数测试,以测试电路板是否为参数符合预设值要求的电路板,进而筛选划分出合格的电路板和不合格的电路板。
电路板一般采用测试工装进行测试,在应用测试工装对电路板进行测试时,测试人员将待测试的电路板拿取至测试工装,并应用测试工装对待测试的电路板进行测试,测试完毕后将电路板取下测试工装,而后拿取另一电路板进行测试。测试完毕的电路板需要归纳整理,以便转运至下一工序,测试人员归纳整理测试完毕的电路板的过程需要耗费时间,不利于电路板批量测试效率的提升。
公开号:CN216387152U公开了电子元件测试工装虽然具备结构简单,设置夹紧组件可以将电子元件固定切便于取出和安装,加快了测试速度,设置有检测组件,可以实时的显示出电子元件的工作状态,设置有散热组件,可以防止不合格的电子元件将测试装置损坏,但是无法满足批量测试,和测试自动化的要求。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,包括机体,机体一端设有操控台,操控台一端设有信息显示屏,信息显示屏在工作时显示测试组件信息和被测试设备信息,机体内设有压力杆,压力杆电性连接检测头,当压力杆检测到芯片后会停止下降,并开始检测和检测完成后自动上升,压力杆一端连接在固定板上,固定板一侧连接在机体内部,固定板表面对称连接有检测构件,检测构件包括检测杆,检测杆一端设有检测头,检测杆中部连接有检测板,检测板与检测盘相适配,检测板表面中间设有扫描装置,可扫描传送装置上的传送盒位置,确认检测盘的位置和检测板位置垂直,机体两端开设有对称的孔洞,在机体内外加设传送装置,传送装置包括检测盘,传送装置内部设有传送带,传送带一端设有安置盒,传送装置中部经孔洞横穿机体,机体底部设有支撑腿,机体内部设有抗压杆,抗压杆一端设有检测顶板,检测顶板表面设有检测护板;
优选的,在机体两端开设孔洞,加设传送装置,在传送装置上设有安置盒,将被检测芯片放置在检测盘内,通过操控台控制传送装置将检测盘传送至检测板下,经扫描装置确认后,开始检测,检测完成后,控制传送装置将芯片送至安置盒内,经上述设备配合满足批量测试,和测试自动化的需求。
优选的,在机体前端加设操控台,操控台上设有信息显示屏,可查看芯片情况和机体的情况,快速分辨芯片是否合格。
优选的,在检测板中间设有扫描装置,在检测盘通过传送装置时,扫描装置检测检测盘位置,确认位置与检测板位置垂直,提高检测过程的精准性。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
(1)通过加装传送装置,在芯片生产完成后放置在独立的检测盘内,在检测时,检测人仅需要将生产完成的检测盘放置传送装置上,扫描装置会自动控制传送带将检测盘运输至与检测顶板相对应的位置,进行检测,并传送装置一端为弯曲至操控台的,在使用人使用时,可以随手检测盘放置在传送装置上,传送至检测顶板下,通过扫描装置确定位置,来完成精准定位检测,完成检测后,使用传送装置将检测盘传送至安置盒内,完成检测,通过上述结构的配合满足批量测试,和测试自动化的要求,做到了减少人力的消耗,减少人力成本,提高工作效率;
(2)通过在固定板上安装接触式压力杆,使在检测过程时,固定板下降过程中,检测头触碰到芯片时,停止固定板下降,减少下降时对芯片的破坏,接触式压力杆的设计增加了工作时的安全性,和对芯片成品的功效。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种标准单元库集成电路芯片用测试工装的结构示意图;
图2为本实用新型提出的一种标准单元库集成电路芯片用测试工装的结构示意图;
图3为本实用新型提出的一种标准单元库集成电路芯片用测试工装中的固定板与检测构件结构示意图;
图4为本实用新型提出的一种标准单元库集成电路芯片用测试工装中的传送装置结构示意图。
图中:1、机体;2、传送装置;3、安置盒;4、信息显示屏;5、操控台;6、压力杆;7、检测构件;8、液压固定板;9、固定板;10、检测盘;11、抗压杆;12、传送带;13、支撑腿;14、检测顶板;15、检测护板;16、检测板;701、检测杆;702、扫描装置;703、检测头。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4,一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,包括机体1,机体1一端设有操控台5,操控台5一端设有信息显示屏4,时刻显示机体1的信息,机体1内设有压力杆6,压力杆6在检测时下降使检测头703触碰待检测芯片,压力杆6电性连接检测头703,压力杆6一端连接固定板9,压力杆6一端连接在液压固定板8上,液压固定板8一侧连接在机体1内部,固定板9表面对称连接有检测构件7,检测构件7包括检测杆701,检测杆701一端设有检测头703,检测杆701中部连接有检测板16,检测板16与检测盘10相适配,检测板16表面中间设有扫描装置702,机体1两端开设有对称的孔洞,在机体1内外加设传送装置2,传送装置2包括检测盘10,传送装置2内部设有传送带12,传送带12一端设有安置盒3,传送装置2中部经孔洞横穿机体1,机体1底部设有支撑腿13,机体1内部设有抗压杆11,抗压杆11一端设有检测顶板14,检测顶板14表面设有检测护板15,传送装置2的设有使检测工装具备自动传送运输的功能,并且信息显示屏4的设有可以让使用人更快速的完成对检测芯片的情况分析,将检测完成的芯片统一运输至安置盒3内,使芯片的检测更加快速,达到满足批量测试的要求,使检测时间缩短。
请参阅图1-4,一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,在使用时,使用人处于操控台5前方,将待检测芯片放入检测盘10内,检测盘10内设有固定夹板,可固定芯片位置不进行移动,将放入芯片的检测盘10放在传送带12上,使用操控台5将检测盘10传送至扫描装置702下方,待扫描装置702调整好检测盘10的位置后,压力杆6开始下降,推动检测杆701下降,当检测杆701一端的检测头703触碰至芯片时,压力杆6停止下降,并且检测台703开始检测芯片,在检测完成后,压力杆6上升,使检测头离开芯片,并且此时信息显示屏4汇报芯片合格情况,并且将检测盘10传送至安置盒3内,并且可在安置盒3内加设挡板,分别划分合格和不合格的芯片,加快批量检测速度。
对于本领域技术人员而言,显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (6)
1.一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,包括机体(1),其特征在于:所述机体(1)一端设有操控台(5),所述操控台(5)一端设有信息显示屏(4),所述机体(1)内设有压力杆(6),所述压力杆(6)一端连接固定板(9),所述固定板(9)表面对称连接有检测构件(7),所述机体(1)底部设有支撑腿(13),所述机体(1)内部设有抗压杆(11),所述抗压杆(11)一端设有检测顶板(14),所述检测顶板(14)表面设有检测护板(15);
所述检测构件(7)包括检测杆(701),所述检测杆(701)一端设有检测头(703),所述检测杆(701)中部连接有检测板(16),所述检测板(16)表面中间设有扫描装置(702)。
2.根据权利要求1所述的一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,其特征在于:所述机体(1)两端开设有对称的孔洞,在机体(1)内外加设传送装置(2),所述传送装置(2)中部经孔洞横穿机体(1)。
3.根据权利要求2所述的一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,其特征在于:所述传送装置(2)包括检测盘(10),所述传送装置(2)内部设有传送带(12),所述传送带(12)一端设有安置盒(3)。
4.根据权利要求3所述的一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,其特征在于:所述检测板(16)与检测盘(10)相适配。
5.根据权利要求4所述的一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,其特征在于:所述压力杆(6)电性连接检测头(703)。
6.根据权利要求5所述的一种标准单元库集成电路芯片用测试工装,其特征在于:所述压力杆(6)一端连接在液压固定板(8)上,所述液压固定板(8)一侧连接在机体(1)内部。
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