CN216052050U - 一种音频功放芯片的自动测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种音频功放芯片的自动测试装置，包括基座，所述基座顶端的边侧通过阻尼铰轴铰接有固定盖，所述基座顶端的中部开设有第一收纳槽，所述第一收纳槽底部内壁的中部开设有第二收纳槽，所述第二收纳槽底部内壁的中部开设有第三收纳槽，所述第一收纳槽、第二收纳槽和第三收纳槽底部内壁的边侧均设有多个测试结构，通过设置三个不同尺寸的收纳槽，使得测试装置可以对不同尺寸的芯片进行测试，收纳槽边侧的凹槽方便芯片的拿出，通过螺纹杆在螺纹槽内的旋转，使得固定块抵住芯片，将芯片在收纳槽内固定，芯片底端与将测试针抵住，使得测试针在弹簧弹力作用下与芯片紧贴，防止测试时接触不良。

Description

一种音频功放芯片的自动测试装置

技术领域

本实用新型涉及芯片测试装置，特别涉及一种音频功放芯片的自动测试装置，属于芯片测试技术领域。

背景技术

芯片是半导体元件产品的统称，在电子学中，是将电路小型化的方式，常常制造在半导体晶圆表面上，音频功放芯片可以将信号圆的微弱电信号放大，以驱动扬声器发出声音，芯片的测试分两个阶段，分别为封装前的CP测试和封装后的FT测试，以保证芯片的性能和质量。

例如申请号为“CN 113341299 A”名称为：“一种芯片的测试装置”的中国专利，其公开了一种芯片的测试装置，包括：基座；第一测试针和第二测试针，所述第一测试针和所述第二测试针安装于所述基座；其中，所述第一测试针与所述第二测试针的长度不同，且所述第一测试针用于测试芯片的第一待测试部，所述第二测试针用于测试芯片的第二待测试部。本申请中，通过在测试装置中设置长度不同的第一测试针和第二测试针，使得该测试装置能够通过两个测试针分别测试芯片中高度不同的第一待测试部和第二待测试部，即该测试装置能够同时测试芯片的第一待测试部和第二待测试部，提高测试的效率，并增大测试装置的应用范围，提高测试装置对芯片的测试结果的准确性。

现有的音频功放芯片的自动测试装置无法对不同尺寸芯片进行有效的测试，在音频功放芯片的测试过程中，一般利用测试底座上的测试针对芯片进行测试，而不同音频功放芯片的尺寸也有所不同，若是需要对不同型号芯片进行测试，需要不同的测试装置，使用起来十分麻烦。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种音频功放芯片的自动测试装置，以解决上述背景技术中提出的音频功放芯片的自动测试装置无法对不同尺寸芯片进行有效的测试的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种音频功放芯片的自动测试装置,包括基座，所述基座顶端的边侧通过阻尼铰轴铰接有固定盖，所述基座顶端的中部开设有第一收纳槽，所述第一收纳槽底部内壁的中部开设有第二收纳槽，所述第二收纳槽底部内壁的中部开设有第三收纳槽，所述第一收纳槽、第二收纳槽和第三收纳槽底部内壁的边侧均设有多个测试结构。

作为本实用新型的一种优选技术方案，多个所述测试结构包括活动套和测试针，多个所述活动套位于基座的内部，所述活动套的顶端与测试针穿插连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述活动套顶端的中部开设有滑槽，所述测试针与滑槽的两侧内壁滑动连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述第一收纳槽的内部设有芯片，多个所述测试针分别穿过第一收纳槽、第二收纳槽和第三收纳槽的内壁，且所述测试针与芯片接触连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述滑槽的内部固定设有弹簧，所述弹簧的顶端与测试针固定连接，所述弹簧的底端与滑槽的一侧内壁固定连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述固定盖顶端的中部开设有螺纹槽，所述螺纹槽的两侧内壁螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆的顶端固定连接有旋钮。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述螺纹杆的底端伸入基座的内部，且所述螺纹杆的底端固定连接有固定块，所述固定块的底端与芯片接触连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述第一收纳槽四个边侧的中部开设有第一凹槽，所述第二收纳槽四个边侧的中部开设有第二凹槽，所述第三收纳槽四个边侧的中部开设有第三凹槽。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型一种音频功放芯片的自动测试装置：

通过设置三个不同尺寸的收纳槽，使得测试装置可以对不同尺寸的芯片进行测试，收纳槽边侧的凹槽方便芯片的拿出，通过螺纹杆在螺纹槽内的旋转，使得固定块抵住芯片，将芯片在收纳槽内固定，芯片底端与将测试针抵住，使得测试针在弹簧弹力作用下与芯片紧贴，防止测试时接触不良。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的固定盖结构示意图；

图3为本实用新型的测试针结构示意图；

图4为本实用新型的芯片结构示意图。

图中：1、基座 ；2、第一收纳槽；3、第一凹槽；4、第二收纳槽；5、第二凹槽；6、第三收纳槽；7、第三凹槽；8、测试结构；9、活动套；10、滑槽；11、测试针；12、弹簧；13、固定盖；14、螺纹槽；15、螺纹杆；16、旋钮；17、固定块；18、芯片。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供了一种音频功放芯片的自动测试装置的技术方案：

一种音频功放芯片的自动测试装置,包括基座1，基座1顶端的边侧通过阻尼铰轴铰接有固定盖13，基座1顶端的中部开设有第一收纳槽2，第一收纳槽2底部内壁的中部开设有第二收纳槽4，第二收纳槽4底部内壁的中部开设有第三收纳槽6，第一收纳槽2、第二收纳槽4和第三收纳槽6底部内壁的边侧均设有多个测试结构8。

具体的，基座1内部的第一收纳槽2、第二收纳槽4和第三收纳槽6呈阶梯状排列，第一收纳槽2的面积大于第二收纳槽4，第二收纳槽4的面积大于第三收纳槽6，方便多种不同型号的芯片18进行测试，在测试时，将芯片18放入大小合适的收纳槽内，使得芯片18与测试结构8上的测试针11接触，盖上固定盖13，旋转旋钮16，使得与旋钮16固定连接的螺纹杆15在螺纹槽14内转动，使得螺纹杆15底端的固定块17向下移动，使得固定块17抵住芯片18，将芯片18与底端的测试针11紧贴，使得测试针11向下移动进入滑槽10内，滑槽10内部的弹簧12被压缩，弹簧12的弹力使得测试针11与芯片18紧贴，防止测试时接触不良。

优选的，多个测试结构8包括活动套9和测试针11，多个活动套9位于基座1的内部，活动套9的顶端与测试针11穿插连接，测试时，测试结构8上的测试针11与芯片18紧贴，对芯片18进行测试。

优选的，活动套9顶端的中部开设有滑槽10，测试针11与滑槽10的两侧内壁滑动连接，测试针11在滑槽10内的滑动，使得芯片18与测试针11接触时，测试针11随芯片18移动，使得芯片18与测试针11紧贴。

优选的，第一收纳槽2的内部设有芯片18，多个测试针11分别穿过第一收纳槽2、第二收纳槽4和第三收纳槽6的内壁，且测试针11与芯片18接触连接，基座1的顶端伸入收纳槽的内部与芯片18，可以与不同型号的芯片18接触。

优选的，滑槽10的内部固定设有弹簧12，弹簧12的顶端与测试针11固定连接，弹簧12的底端与滑槽10的一侧内壁固定连接，测试针11随芯片18移动时，弹簧12被压缩，弹簧12的弹力使得测试针11与芯片18紧贴。

优选的，固定盖13顶端的中部开设有螺纹槽14，螺纹槽14的两侧内壁螺纹连接有螺纹杆15，螺纹杆15的顶端固定连接有旋钮16，旋钮16的旋转能够带动螺纹杆15在螺纹槽14内旋转，使得螺纹杆15向下移动。

优选的，螺纹杆15的底端伸入基座1的内部，且螺纹杆15的底端固定连接有固定块17，固定块17的底端与芯片18接触连接，螺纹杆15向下移动时，带动螺纹杆15底端的固定块17与芯片18接触，使得芯片18带动测试针11移动，与测试针11紧贴。

优选的，第一收纳槽2四个边侧的中部开设有第一凹槽3，第二收纳槽4四个边侧的中部开设有第二凹槽5，第三收纳槽6四个边侧的中部开设有第三凹槽7，第一凹槽3、第二凹槽5和第三凹槽7可以方便芯片18从收纳槽内取出。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种音频功放芯片的自动测试装置，包括基座（1），其特征在于，所述基座（1）顶端的边侧通过阻尼铰轴铰接有固定盖（13），所述基座（1）顶端的中部开设有第一收纳槽（2），所述第一收纳槽（2）底部内壁的中部开设有第二收纳槽（4），所述第二收纳槽（4）底部内壁的中部开设有第三收纳槽（6），所述第一收纳槽（2）、第二收纳槽（4）和第三收纳槽（6）底部内壁的边侧均设有多个测试结构（8）。

2.根据权利要求1所述的一种音频功放芯片的自动测试装置，其特征在于：多个所述测试结构（8）包括活动套（9）和测试针（11），多个所述活动套（9）位于基座（1）的内部，所述活动套（9）的顶端与测试针（11）穿插连接。

3.根据权利要求2所述的一种音频功放芯片的自动测试装置，其特征在于：所述活动套（9）顶端的中部开设有滑槽（10），所述测试针（11）与滑槽（10）的两侧内壁滑动连接。

4.根据权利要求2所述的一种音频功放芯片的自动测试装置，其特征在于：所述第一收纳槽（2）的内部设有芯片（18），多个所述测试针（11）分别穿过第一收纳槽（2）、第二收纳槽（4）和第三收纳槽（6）的内壁，且所述测试针（11）与芯片（18）接触连接。

5.根据权利要求3所述的一种音频功放芯片的自动测试装置，其特征在于：所述滑槽（10）的内部固定设有弹簧（12），所述弹簧（12）的顶端与测试针（11）固定连接，所述弹簧（12）的底端与滑槽（10）的一侧内壁固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种音频功放芯片的自动测试装置，其特征在于：所述固定盖（13）顶端的中部开设有螺纹槽（14），所述螺纹槽（14）的两侧内壁螺纹连接有螺纹杆（15），所述螺纹杆（15）的顶端固定连接有旋钮（16）。

7.根据权利要求6所述的一种音频功放芯片的自动测试装置，其特征在于：所述螺纹杆（15）的底端伸入基座（1）的内部，且所述螺纹杆（15）的底端固定连接有固定块（17），所述固定块（17）的底端与芯片（18）接触连接。

8.根据权利要求1所述的一种音频功放芯片的自动测试装置，其特征在于：所述第一收纳槽（2）四个边侧的中部开设有第一凹槽（3），所述第二收纳槽（4）四个边侧的中部开设有第二凹槽（5），所述第三收纳槽（6）四个边侧的中部开设有第三凹槽（7）。

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