CN215180570U - 电容测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种电容测试装置,它包括工装、上接触组件、下接触组件和升降驱动机构,工装上设置有多个用于放置电容的放置穴;上接触组件包括上探针板和安装在上探针板上、并与放置穴一一对应的上探针;下接触组件包括下探针板和安装在下探针板上、并与放置穴一一对应的下探针,所述下探针与相应放置穴内的电容的朝下的电极接触;升降驱动机构与上探针板相连以驱动上探针板下降以使得上探针与相应放置穴内的电容的朝上的电极接触。本实用新型可以同时对多个电容进行测试,自动化程度高,测试效率高。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种电容测试装置。
背景技术
在电容生产的最终环节,需要对电容进行百分百测试,目前主要是靠人工一个一个测试,这种方式效率低下。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种电容测试装置,它可以同时对多个电容进行测试,自动化程度高,测试效率高。
为了解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:一种电容测试装置,它包括:
工装,其上设置有多个用于放置电容的放置穴;
上接触组件,其包括上探针板和安装在上探针板上、并与放置穴一一对应的上探针;
下接触组件,其包括下探针板和安装在下探针板上、并与放置穴一一对应的下探针,所述下探针与相应放置穴内的电容的朝下的电极接触;
升降驱动机构,其与上探针板相连以驱动上探针板下降以使得上探针与相应放置穴内的电容的朝上的电极接触。
进一步,电容测试装置还包括底座,所述下探针板固定在所述底座上,所述工装放置在所述底座上,并位于所述下探针的上方。
进一步为了方便工装放置到位,所述底座上设置有用于限制所述工装的位置的限位组件。
进一步提供了一种限位组件的具体结构,所述限位组件包括两个相对设置的推拉槽,所述工装插装在两个推拉槽内。
进一步,所述升降驱动机构包括至少一个气缸,所述气缸的缸体固定,气缸杆与所述上探针板相连。
进一步为了使得上探针板平稳升降,进而保证下上探针板下降到位后,上探针与电容的另一个电极良好接触,电容测试装置还包括设置在底座和上探针板之间、并用于导向所述上探针板的升降的导向机构。
进一步提供了一种导向机构的具体结构,所述导向机构包括至少一个固定在底座上的导柱和设置在上探针板上、并与所述导柱一一对应的导套,所述导套滑动套装在相应导柱上。
进一步为了防止上探针过压电容,电容测试装置还包括用于限制所述上探针板的下压行程的行程限制组件。
进一步提供了一种行程限制组件的具体结构,所述行程限制组件包括至少一个上端固定在所述上探针板上的限高柱,所述限高柱通过其下端与固定件的抵接来限制上探针板的下压行程。
进一步,所述上探针和下探针分别为弹簧探针。
采用了上述技术方案后,将放满电容的工装放置到位,此时,下探针与相应电容的朝下的电极接触,再通过升降驱动机构驱动上探针板下降到位,此时上探针与相应电容的朝上的电极接触,则完成测试机与相应电容的电性连接,从而方便同时对多个电容进行测试,提高了测试效率,并大大减轻了工人的劳动强度。
附图说明
图1为本实用新型的电容测试装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解,下面根据具体实施例并结合附图,对本实用新型作进一步详细的说明。
如图1所示,一种电容测试装置,它包括:
工装1,其上设置有多个用于放置电容的放置穴11;
上接触组件,其包括上探针板21和安装在上探针板21上、并与放置穴11一一对应的上探针22;
下接触组件,其包括下探针板31和安装在下探针板31上、并与放置穴11一一对应的下探针32,所述下探针32与相应放置穴11内的电容的朝下的电极接触;
升降驱动机构,其与上探针板21相连以驱动上探针板21下降以使得上探针22与相应放置穴11内的电容的朝上的电极接触。
在本实施例中,所述上探针22和下探针32分别为弹簧探针。外部的测试机与上探针22和下探针32电性连接以对电容进行测试。
工装1设置有十六个放置穴11,十六个放置穴11呈四乘四矩阵排列,放置穴11的个数不限于此,排列方式也不限于此。
具体地,将放满电容的工装1放置到位,此时,下探针32与相应电容的朝下的电极接触,再通过升降驱动机构驱动上探针板21下降到位,此时上探针22与相应电容的朝上的电极接触,则完成测试机与相应电容的电性连接,从而方便同时对多个电容进行测试,提高了测试效率,并大大减轻了工人的劳动强度。
如图1所示,电容测试装置还包括底座4,所述下探针板31固定在所述底座4上,所述工装1放置在所述底座4上,并位于所述下探针32的上方。
如图1所示,为了方便工装1放置到位,所述底座4上设置有用于限制所述工装1的位置的限位组件。
如图1所示,所述限位组件包括两个相对设置的推拉槽41,所述工装1插装在两个推拉槽41内。
在本实施例中,限位组件设置成推拉槽41的形式,也方便取放工装1。向前拉工装1,即可取出工装1,往后推工装1,即可将工装1放置在底座4上。
在实际工作过程中,完成对一个工装1内的电容的测试后,可以拉动工装1移动相应距离,进而方便取出工装1内的电容,并放置待测试电容,也可以将工装1完全拉出,并重新放入另一装满待测试电容的工装1。
如图1所示,所述升降驱动机构包括至少一个气缸5,所述气缸5的缸体固定,气缸杆与所述上探针板21相连。
在本实施例中,所述气缸5的缸体固定在底座4上。
如图1所示,为了使得上探针板21平稳升降,进而保证下上探针板21下降到位后,上探针22与电容的另一个电极良好接触,电容测试装置还包括设置在底座4和上探针板21之间、并用于导向所述上探针板21的升降的导向机构。
如图1所示,所述导向机构包括至少一个固定在底座4上的导柱61和设置在上探针板21上、并与所述导柱61一一对应的导套62,所述导套62滑动套装在相应导柱61上。
如图1所示,为了防止上探针22过压电容,电容测试装置还包括用于限制所述上探针板21的下压行程的行程限制组件。
如图1所示,所述行程限制组件包括至少一个上端固定在所述上探针板21上的限高柱7,所述限高柱7通过其下端与固定件的抵接来限制上探针板21的下压行程。
在本实施例中,选用底座4作为固定件,但不限于此。为了可以起到缓冲作用,所述限高柱7的下端设置有橡胶垫8。
以上所述的具体实施例,对本实用新型解决的技术问题、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种电容测试装置,其特征在于,
它包括:
工装(1),其上设置有多个用于放置电容的放置穴(11);
上接触组件,其包括上探针板(21)和安装在上探针板(21)上、并与放置穴(11)一一对应的上探针(22);
下接触组件,其包括下探针板(31)和安装在下探针板(31)上、并与放置穴(11)一一对应的下探针(32),所述下探针(32)与相应放置穴(11)内的电容的朝下的电极接触;
升降驱动机构,其与上探针板(21)相连以驱动上探针板(21)下降以使得上探针(22)与相应放置穴(11)内的电容的朝上的电极接触。
2.根据权利要求1所述的电容测试装置,其特征在于,
还包括底座(4),所述下探针板(31)固定在所述底座(4)上,所述工装(1)放置在所述底座(4)上,并位于所述下探针(32)的上方。
3.根据权利要求2所述的电容测试装置,其特征在于,
所述底座(4)上设置有用于限制所述工装(1)的位置的限位组件。
4.根据权利要求3所述的电容测试装置,其特征在于,
所述限位组件包括两个相对设置的推拉槽(41),所述工装(1)插装在两个推拉槽(41)内。
5.根据权利要求1所述的电容测试装置,其特征在于,
所述升降驱动机构包括至少一个气缸(5),所述气缸(5)的缸体固定,气缸杆与所述上探针板(21)相连。
6.根据权利要求2所述的电容测试装置,其特征在于,
还包括设置在底座(4)和上探针板(21)之间、并用于导向所述上探针板(21)的升降的导向机构。
7.根据权利要求6所述的电容测试装置,其特征在于,
所述导向机构包括至少一个固定在底座(4)上的导柱(61)和设置在上探针板(21)上、并与所述导柱(61)一一对应的导套(62),所述导套(62)滑动套装在相应导柱(61)上。
8.根据权利要求1所述的电容测试装置,其特征在于,
还包括用于限制所述上探针板(21)的下压行程的行程限制组件。
9.根据权利要求8所述的电容测试装置,其特征在于,
所述行程限制组件包括至少一个上端固定在所述上探针板(21)上的限高柱(7),所述限高柱(7)通过其下端与固定件的抵接来限制上探针板(21)的下压行程。
10.根据权利要求1所述的电容测试装置,其特征在于,
所述上探针(22)和下探针(32)分别为弹簧探针。
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