CN214669224U - 一种新型探针测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种新型探针测试装置，包括连接头、探针座、腔体、探针座压块及连接器；连接头可拆卸地固定在探针座端面上，探针座用于固定探针组件，探针组件的一端伸出探针座插入连接头的插槽中；腔体的右端可拆卸地固定连接器，探针组件的部分置于腔体中，另一端与连接器连接；探针座的端面位于腔体的左端外部；探针座压块设置浮动环凹槽，浮动环凹槽中设置浮动环，当探针座压块固定在腔体上时，探针座压块内的浮动环把探针座压在腔体端面。本实用新型整个结构的紧凑性，探针、连接头集成到一体，外形美观，体积小，连接快速，探针模块采用分体式设计，便于加工制造，更换探针模块方便，探针座浮动式设计，对PCB起保护作用，不会损伤PCB。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种新型探针结构，属于半导体检测技术领域。
背景技术
由于导体行业的兴起，各种各样的PCB板需要导通测试，刷写程序等需求，市场上非标测试模块设计的五花八门。市面上设计的探针测试模块没有把探针、线束、Dusb连接头结合起来，导致整个设备内部布局杂乱无章，线束多且不易更换和维护，探针安装座大多采用一体式设计，加工难度大，组装困难，更换困难，探针没有采用隐藏式设计，无法保护探针头，连接头大多是硬连接，不能很好地补偿PCB连接头的差异，起不到PCB保护作用。
发明内容
本实用新型针对现有技术中探针测试模块存在的以上至少一个
方面的技术问题，提供一种新型探针测试装置。
本实用新型采用以下技术方案。本实用新型提供一种新型探针测试装置，包括连接头、探针座、腔体、探针座压块以及连接器；连接头可拆卸地固定在探针座端面上，探针座用于固定探针组件，所述探针组件的一端伸出探针座插入连接头的插槽中；所述腔体的右端可拆卸地固定连接器，探针组件的部分置于腔体中，另一端与连接器连接；所述探针座的端面位于腔体的左端外部；所述探针座压块设置浮动环凹槽，所述浮动环凹槽中设置浮动环，当探针座压块固定在腔体上时，探针座压块内的浮动环把探针座压在腔体端面。
进一步地，所述腔体包括上腔体和下腔体，所述上腔体和下腔体可拆卸地相互固定。
进一步地，所述探针座上的端面设置螺纹孔，所述连接头上设置与所述螺纹孔配合的通孔，所述探针座与所述连接头通过螺丝锁紧。
进一步地，所述探针座压块端面加工有凸台与腔体端面加工的凹槽实现卡合，可选地探针座压块用螺丝锁紧。
进一步地，所述连接器采用Dsub连接器，所诉Dsub连接器通过螺丝固定在腔体上。
再进一步地，所述上腔体和下腔体通过螺丝固定。
进一步地，所述探针组件包括测试探针、检测探针和到位检测探针，测试探针用于导通测试，检测探针用于检测连接头和探针座是否固定连接，到位探针用于检测连接头插入产品的位置是否正确，
本实用新型所取得的有益技术效果：
本实用新型的优点在于整个结构的紧凑性，探针、线缆、连接头集成到一体，外形美观，体积小，连接快速，探针模块采用分体式设计，便于加工制造，更换探针模块方便，探针座浮动式设计，对PCB起保护作用，不会损伤PCB。
附图说明
图1为本实用新型具体实施例提供的一种探针测试装置结构示意图；
图2为本实用新型具体实施例提供的一种探针测试装置装配后的结构示意图；
图3为本实用新型具体实施例提供的一种探针测试装置装配后的剖切示意图；
图4为本实用新型具体实施例提供的一种探针测试装置的探针座压块透视图；
图5为本实用新型具体实施例提供的一种探针测试装置的上腔体透视图；
图中标记：01.连接头；02.探针座压块； 03. 浮动环；04.测试探针；05.检测探针；06. 探针座； 07.到位检测探针；08.下腔体；09.上腔体；10.Dsub连接器；11.浮动环凹槽；12.压块定位凸台；13.上腔体前凹槽；14.上腔体下凹槽；15.下腔体上凸台。
具体实施方式
以下结合说明书附图和具体实施例对本实用新型做进一步说明。
实施例1：一种探针测试装置，包括连接头01可拆卸地固定在探针座06上，探针座06用于固定探针组件，可选地，本实施例中所述探针组件包括测试探针04、检测探针05和到位检测探针07，测试探针04用于导通测试，检测探针05用于检测连接头01和探针座06是否固定连接，到位探针用于检测连接头01插入产品的位置是否正确；探针组件（本实施例中测试探针04、检测探针05和到位检测探针07）的一端伸出探针座06插入连接头01的插槽中；所述探针测试装置还包括腔体，所述腔体的右端可拆卸地固定连接器，探针组件中所述测试探针04、检测探针05和到位检测探针07的部分置于腔体中，另一端均与连接器连接；所述探针座06的端面位于腔体的左端外部；所述探针测试装置还包括探针座压块02，所述探针座压块02设置浮动环凹槽11，所述浮动环凹槽11中设置浮动环03，当探针座压块02固定在腔体上时，探针座压块02内的浮动环03把探针座06压在腔体端面。
本实施例中腔体的作用是用来保护内部探针，并且把线束包裹在内部，使整个模块美观。本实施例中探针座06不和腔体固定连接，也不和探针座压块02固定连接，因此能够实现浮动。本实施例提供的新型探针测试模块完全避免了现有技术的缺点，探针、线束、连接头01完美的集成到一起，并且连接头01采用了浮动式设计，探针采用隐藏式设计，根据PCB针脚的数量，可以快速的变更连接头01，加工、安装和使用都很便捷。
实施例2：在实施例1的基础上，本实施例如图1~图4所示， 所述腔体包括上腔体09和下腔体08，所述上腔体09和下腔体08可拆卸地相互固定。本实施例中通过在上腔体09上设置上腔体下凹14槽（如图5所示），在下腔体08的对应位置上设置下腔体上凸台15，通过相互配合的上腔体下凹槽14和下腔体上凸台15实现上腔体09和下腔体08的卡合固定。可选地，具体实施例中，所述上腔体09和下腔体08也可以通过螺丝固定。
本实施例中，所述探针座06上的端面设置螺纹孔，所述连接头01上设置与所述螺纹孔配合的通孔，所述探针座06与所述连接头01通过螺丝锁紧。
如图1所示，可选地所述探针座压块02包括上压块和下压块，如图4所示所述探针座压块02端面加工有压块定位凸台12，腔体端面加工的腔体前凹槽（可选地包括上腔体前凹槽13和下腔体前凹槽），所述探针座压块02和所述腔体通过相互配合的压块定位凸台12与腔体前凹槽13（如图5所示）实现卡合。当探针座压块02固定在腔体上时，压块内的浮动环03把探针座06压在腔体端面。可选地，一个探针座压块02用一颗螺丝锁紧，
本实施例中连接头01起导向作用，与探针座06以螺丝固定的方式连接，工作时，连接头01先插入到产品接头中，产品针脚通过连接头01上的孔与探针接触，起到保护针脚及探针弯曲。
本实施例中浮动环03部件数量为4个，材质为软橡胶，具有一定的回弹能力，探针座压块02部件加工有浮动环凹槽11，浮动环03安装在浮动环凹槽11中，介于探针座压块02与腔体之间，其作用是把探针座06保持居中，当产品尺寸存在微小差异时，通过探针座06浮动补偿产品尺寸差异。弹性浮动环03对PCB Connect X/Y方向位置差异的补偿。
本实施例中测试探针04共40根探针，分上下两排，根据产品针脚尺寸排布，用于PCB板导通测试。
检测探针05的作用是检测连接头01是否与探针座06固定在一起，当连接头01与探针座06用螺丝锁紧时，检测探针05针头回缩，程序判断连接头01与探针座06连接正确，当连接头01与探针座06分离时，检测探针05针头回弹，程序判断连接头01与探针座06没有连接在一起，此时需要人工检查并处理问题。
探针座06用来固定探针，使探针在测试时针套不发生位移。
到位检测探针07的作用是检测连接头01插入产品的位置是否正确，当探针针头与产品接触时，内部弹簧压缩，针头开始回弹，运动机构停止时，如果到位检测探针07回弹深度在范围内，就会有信号传递给PLC，说明连接头01插入位置正确，如果到位检测探针07没有回弹或者回弹不到位，就没有信号传递给PLC，程序判定插入NG。
本实施例中连接器采用Dsub连接器10，此Dsub连接器10为50 PINS连接器，每根针脚与探针用线束连接，以焊线或者压合的方式固定线束。
本实用新型提供的探针测试装置装配后的结构示意图如图2所示，该装置的工作原理为：此新型探针测试装置安装在带导向的平台上，由气缸推动平台，平台带着连接头01插入待测试的PCB Connect中，测试探针04接触到针脚后，探针针头内部弹簧压缩，针头回缩，到位检测探针07检测连接头01插入产品的位置是否正确，当探针针头与产品接触时，内部弹簧压缩，针头开始回弹，运动机构停止时，如果到位检测探针07回弹深度在范围内，就会有信号传递给PLC，说明连接头01插入位置正确，导通程序开始执行，程序完成后，气缸缩回。
本实用新型的优点在于由连接头01，探针座压块02，弹性浮动环03，测试探针04，检测探针05，探针座06，到位检测探针07，下腔体08，上腔体09，Dsub连接器10，螺丝等部件组成，通过气缸或者电缸推动，连接头01插入待测试PCB Connect中进行程序烧入或测试，连接头01采用浮动设计，来满足PCB板Connect头的位置差异性，结构简单，体积小，便于组装加工。
整个结构的紧凑性，探针、线缆、Dusb连接头01集成到一体，外形美观，体积小，连接快速，探针模块采用分体式设计，便于加工制造，更换探针模块方便，探针浮动式设计，对PCB起保护作用，不会损伤PCB。
上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种新型探针测试装置，其特征在于，包括：连接头、探针座、腔体、探针座压块及连接器；所述连接头可拆卸地固定在探针座端面上，探针座用于固定探针组件，所述探针组件的一端伸出探针座插入连接头的插槽中；所述腔体的右端可拆卸地固定连接器，探针组件的部分置于腔体中，另一端与连接器连接；所述探针座的端面位于腔体的左端外部；所述探针座压块设置浮动环凹槽，所述浮动环凹槽中设置浮动环，当探针座压块固定在腔体上时，探针座压块内的浮动环把探针座压在腔体端面。
2.根据权利要求1所述的一种新型探针测试装置，其特征在于，所述腔体包括上腔体和下腔体，所述上腔体和下腔体可拆卸地相互固定。
3.根据权利要求2所述的一种新型探针测试装置，其特征在于，上腔体上设置上腔体下凹槽，下腔体的对应位置上设置下腔体上凸台，通过相互配合的上腔体下凹槽和下腔体上凸台实现上腔体和下腔体的卡合固定。
4.根据权利要求2所述的一种新型探针测试装置，其特征在于，所述上腔体和下腔体通过螺丝固定。
5.根据权利要求1所述的一种新型探针测试装置，其特征在于，
所述探针座上的端面设置螺纹孔，所述连接头上设置与所述螺纹孔配合的通孔，所述探针座与所述连接头通过螺丝锁紧。
6.根据权利要求1所述的一种新型探针测试装置，其特征在于，所述探针座压块端面加工有压块定位凸台，腔体端面加工的腔体前凹槽，所述探针座压块和所述腔体通过相互配合的压块定位凸台与腔体前凹槽实现卡合。
7.根据权利要求1所述的一种新型探针测试装置，其特征在于，所述探针组件包括测试探针，所述测试探针用于导通测试。
8.根据权利要求1所述的一种新型探针测试装置，其特征在于，所述探针组件还包括检测探针和到位检测探针，所述检测探针用于检测连接头和探针座是否固定连接，所述到位检测探针用于检测连接头插入产品的位置是否正确。
9.根据权利要求1所述的一种新型探针测试装置，其特征在于，用螺丝将探针座压块锁紧固定在所述腔体上。
10.根据权利要求1所述的一种新型探针测试装置，其特征在于，
所述连接器采用Dsub连接器。
Priority Applications (1)
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| CN202023244547.6U CN214669224U (zh) | 2020-12-29 | 2020-12-29 | 一种新型探针测试装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114814315A (zh) * | 2022-04-18 | 2022-07-29 | 苏州伊欧陆系统集成有限公司 | 一种高电流探针臂测试装置 |
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2020
- 2020-12-29 CN CN202023244547.6U patent/CN214669224U/zh active Active
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| CN114814315A (zh) * | 2022-04-18 | 2022-07-29 | 苏州伊欧陆系统集成有限公司 | 一种高电流探针臂测试装置 |
| CN114814315B (zh) * | 2022-04-18 | 2023-09-22 | 苏州伊欧陆系统集成有限公司 | 一种高电流探针臂测试装置 |
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